CN109520425B - 一种精跟踪误差测试装置及测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种精跟踪误差测试装置，其包括扰动光源、扰动镜、激光光源、快速反射镜、探测器、控制器，其中，扰动镜用于将扰动光源发出的扰动光按照第一预设偏转值进行偏转并射向快速反射镜；快速反射镜用于将激光光源发出的激光按照第二预设偏转值进行偏转并射向扰动镜；探测器用于接受经快速反射镜反射后的扰动光并测量该扰动光在该探测器上的第一脱靶量，以及用于接受经扰动镜反射后的激光并测量该激光在该探测器上的第二脱靶量；控制器与扰动镜、快速反射镜以及探测器均相连，并用于控制扰动镜的偏转、用于根据第一脱靶量计算第二预设偏转值、用于控制快速反射镜的偏转。
Description
技术领域
本发明涉及精跟踪技术领域，具体涉及一种精跟踪误差测试装置及测试方法。
背景技术
精跟踪是复合轴跟踪系统中的一部分，具有工作范围小，但频带宽，响应快，精度高的特点，已经被广泛应用于星间光通信、激光装备复合轴精密跟踪等领域。
随着光电技术的飞速发展，精跟踪误差越来越小，目前对于精跟踪误差的测试采用以下两种方式：
1、通过精跟踪相机获取脱靶量这一间接量作为精跟踪误差，该方式测得的精跟踪误差为间接量，精跟踪相机获取目标脱靶量的精度未纳入考虑，使得测得的精跟踪误差不够准确；
2、在远场采用靶斑仪进行测试，该方式能够获取准确的精跟踪误差，但是仅能测得跟踪静态目标的精跟踪误差，若需测得跟踪动态目标的精跟踪误差，需要粗跟踪配合，使得该测试方式复杂费时。
目前并没有一种能够在不具备粗跟踪、靶斑仪等条件的情况下，直接精确地测量精跟踪误差的装置，这使得精跟踪误差的测量变得复杂费时且不够准确，不利于精跟踪误差的优化。
发明内容
针对现有技术中存在的缺陷，本发明的目的在于提供一种精跟踪误差测试装置及测试方法，能够在不具备粗跟踪、靶斑仪等条件的情况下，直接精确地测量精跟踪误差。
为达到以上目的，本发明采取的技术方案是：
一种精跟踪误差测试装置，其包括：
扰动光源、扰动镜、激光光源、快速反射镜、探测器、控制器，其中，
所述扰动镜用于将所述扰动光源发出的扰动光按照第一预设偏转值进行偏转并射向所述快速反射镜；
所述快速反射镜用于将所述激光光源发出的激光按照第二预设偏转值进行偏转并射向所述扰动镜；
所述探测器用于接受经所述快速反射镜反射后的扰动光并测量该扰动光在该探测器上的第一脱靶量，以及用于接受经所述扰动镜反射后的激光并测量该激光在该探测器上的第二脱靶量；
所述控制器与所述扰动镜、快速反射镜以及探测器均相连，并用于控制所述扰动镜的偏转、用于根据所述第一脱靶量计算第二预设偏转值、用于控制所述快速反射镜的偏转。
在上述技术方案的基础上，所述精跟踪误差测试装置还包括第一分光镜，所述第一分光镜位于所述扰动光源与所述扰动镜之间，且所述第一分光镜具有第一透射面和第一反射面，所述第一透射面用于将所述扰动光源发出的扰动光透射至所述扰动镜，所述第一反射面用于将扰动镜反射后的激光反射至所述探测器。
在上述技术方案的基础上，所述精跟踪误差测试装置还包括望远镜，所述望远镜位于所述扰动镜和所述快速反射镜之间，所述望远镜包括主镜和次镜，所述主镜用于将扰动镜反射的扰动光反射至所述次镜，所述次镜用于将所述主镜反射的扰动光反射至所述快速反射镜；且所述次镜还用于将所述快速反射镜反射的激光反射至所述主镜，所述主镜还用于将所述次镜反射的激光反射至所述扰动镜。
在上述技术方案的基础上，所述精跟踪误差测试装置还包括第二分光镜，所述第二分光镜位于所述快速反射镜与所述探测器之间，且所述第二分光镜具有第二透射面和第二反射面，所述第二透射面用于将所述快速反射镜反射的扰动光透射至所述探测器，所述第二反射面用于将所述激光光源发出的激光反射至所述快速反射镜。
在上述技术方案的基础上，所述探测器包括精跟踪探测器和光斑探测器，所述精跟踪探测器用于接受扰动光并测量该扰动光在该精跟踪探测器上的第一脱靶量，所述光斑探测器用于接受激光并测量该激光在该光斑探测器上的第二脱靶量。
本发明还提供一种使用如上述所述的精跟踪误差测试装置测试精跟踪误差的方法，其包括如下步骤：
所述扰动光源朝扰动镜发出扰动光；
所述控制器控制扰动镜偏转，使得所述扰动光偏转第一预设偏转值后射向快速反射镜；
所述探测器接受扰动光并测量第一脱靶量；
所述激光光源朝快速反射镜发出激光；
所述控制器根据所述第一脱靶量计算第二预设偏转值，控制快速反射镜偏转，使得所述激光偏转第二预设偏转值后射向扰动镜；
所述探测器接受激光并测量第二脱靶量。
在上述技术方案的基础上，所述精跟踪误差测试装置还包括第一分光镜，所述第一分光镜位于所述扰动光源与所述扰动镜之间，且所述第一分光镜具有第一透射面和第一反射面，所述第一透射面将所述扰动光源发出的扰动光透射向所述扰动镜，所述反射面将扰动镜反射后的激光反射向所述探测器。
在上述技术方案的基础上，所述探测器包括精跟踪探测器和光斑探测器，所述精跟踪探测器用于接受扰动光并测量该扰动光在该精跟踪探测器上的第一脱靶量，所述光斑探测器用于接受激光并测量该激光在该光斑探测器上的第二脱靶量。
在上述技术方案的基础上，所述第二脱靶量中的瞄准误差值按照如下公式计算：
式中，Δθp,x为瞄准误差的x分量，Δθp,y为瞄准误差的y分量，xc为积分光斑质心的x向分量，yc为积分光斑质心的y向分量，x0为光斑探测器中心位置的x分量，y0为光斑探测器中心位置的y分量，L为激光从激光光源到光斑探测器的光程，Δθp为瞄准误差。
在上述技术方案的基础上，所述第二脱靶量中的跟踪误差值按照如下公式计算：
式中，ΔθT,x为跟踪误差的x分量，ΔθT,y为跟踪误差的y分量，Δθj,x、Δθj,y为第j组数据中短曝光光斑质心相对于长曝光光斑质心角度偏差值的x、y向分量，ΔθT为跟踪误差。
与现有技术相比，本发明的优点在于：
本发明的一种精跟踪误差测试装置，包括扰动光源、扰动镜、激光光源、快速反射镜、探测器、控制器，当扰动镜与快速反射镜在零位时，激光在探测器成像的中心，当快速反射镜的偏转来抑制扰动镜的偏转时，探测器上测得的激光的光斑位置即为精跟踪误差，本发明的一种精跟踪误差测试装置，能够在不具备粗跟踪、靶斑仪等条件的情况下，直接精确地测量精跟踪误差。
附图说明
图1为本发明实施例中精跟踪误差测试装置的结构示意图。
图中：10-扰动光源，11-扰动镜，12-第一分光镜，13-望远镜，130-主镜，131-次镜，2-扰动光，30-激光光源，31-快速反射镜，32-第二分光镜，4-激光，5-探测器，50-精跟踪探测器，51-光斑探测器，6-控制器。
具体实施方式
以下结合附图及实施例对本发明作进一步详细说明。
实施例1：
参见图1所示，本发明实施例1提供一种精跟踪误差测试装置，无需配置粗跟踪、远场靶斑仪等设备，其包括：
扰动光源10、扰动镜11、激光光源30、快速反射镜31、探测器5、控制器6，其中，
扰动镜11用于将扰动光源10发出的扰动光2按照第一预设偏转值进行偏转并射向快速反射镜31；
快速反射镜31用于将激光光源30发出的激光4按照第二预设偏转值进行偏转并射向扰动镜11；
探测器5用于接受经快速反射镜31反射后的扰动光2并测量该扰动光2在该探测器5上的第一脱靶量，以及用于接受经扰动镜11反射后的激光4并测量该激光4在该探测器5上的第二脱靶量；
控制器6与扰动镜11、快速反射镜31以及探测器5均相连，并用于控制扰动镜11的偏转、用于根据第一脱靶量计算第二预设偏转值、用于控制快速反射镜31的偏转。
本发明实施例1的精跟踪误差测试装置的电气连接为：首先，控制器6与扰动镜11、探测器5连接，用于控制扰动镜11偏转，使得扰动光2按照第一预设偏转值偏转，第一预设偏转值可根据粗跟踪残差数据对扰动镜11进行控制，也可以根据正弦信号、方波信号、随机信号等信号对扰动镜11进行控制，其中粗跟踪残差数据根据以往试验测得，将试验数据导入至控制器6，使得扰动镜11可以按照该试验数据运动，或者将正弦信号、方波信号、随机信号等信号数据导入至控制器6，控制器6按照该数据控制扰动镜11的偏转，其中，粗跟踪残差可以与正弦、方波、随机信号等效，其次，控制器6与快速反射镜31连接，用于控制快速反射镜31按照探测器5测得的第一脱靶量进行运动，第一脱靶量为扰动光2偏离探测器5中心的值。
扰动光2的传输路径为：扰动光源10朝扰动镜11发出扰动光2，控制器6控制扰动镜11偏转，使得扰动光2偏转第一预设偏转值后射向快速反射镜31，探测器5接受经快速反射镜31反射的扰动光2并测量第一脱靶量。
激光4的传输路径为：激光光源30朝快速反射镜31发出激光4，控制器6根据第一脱靶量计算第二预设偏转值，控制快速反射镜31偏转，使得激光4偏转第二预设偏转值后射向扰动镜11，探测器5接受经扰动镜11反射的激光4并测量第二脱靶量。
当扰动镜11与快速反射镜在31零位时，激光4在探测器5成像的中心，当快速反射镜31的偏转来抑制扰动镜11的偏转时，探测器5上测得的激光4的光斑位置即为精跟踪误差。
其中扰动镜11的偏转大部分被快速反射镜31的偏转抵消，因此激光4偏离探测器5中心的值为第二脱靶量即为精跟踪误差。本发明实施例1提供的一种精跟踪误差测试装置，能够在不具备粗跟踪、靶斑仪等条件的情况下，直接精确地测量精跟踪误差。
进一步的，精跟踪误差测试装置还包括第一分光镜12，第一分光镜12位于扰动光源10与扰动镜11之间，且第一分光镜12具有第一透射面和第一反射面，第一透射面用于将扰动光源10发出的扰动光2透射至扰动镜11，第一反射面用于将扰动镜11反射后的激光4反射至探测器5。第一分光镜12具有反射激光4的作用，以及透射扰动光2的作用，第一分光镜12将扰动光2与激光4分成两个方向，对精跟踪误差测试装置起到了分光与便于测试的作用。
扰动光2的传输路径为：扰动光源10朝第一分光镜12发出扰动光2，第一分光镜12的第一透射面将扰动光源10发出的扰动光2透射至扰动镜11，控制器6控制扰动镜11偏转，使得扰动光2偏转第一预设偏转值后射向快速反射镜31，探测器5接受经快速反射镜31反射的扰动光2并测量第一脱靶量。
激光4的传输路径为：激光光源30朝快速反射镜31发出激光4，控制器6根据第一脱靶量计算第二预设偏转值，控制快速反射镜31偏转，使得激光4偏转第二预设偏转值后射向扰动镜11，第一分光镜12的第一反射面将经过扰动镜11反射的激光4反射至探测器5，探测器5接受经第一分光镜12反射的激光4并测量第二脱靶量。
进一步的，精跟踪误差测试装置还包括望远镜13，望远镜13位于扰动镜11和快速反射镜31之间，望远镜13包括主镜130和次镜131，主镜130用于将扰动镜11反射的扰动光2反射至次镜131，次镜131用于将主镜130反射的扰动光2反射至快速反射镜31；且次镜131还用于将快速反射镜31反射的激光4反射至主镜130，主镜130还用于将次镜131反射的激光4反射至扰动镜11。实际使用过程中，扰动光源10和激光光源30之间的距离很远，从扰动光源10发出的扰动光2，经过扰动镜11，扰动镜11将扰动光2发射至主镜130，主镜130将扰动光2会聚发射至次镜131，次镜131将扰动光2发散并反射至快速反射镜31，实现远距离的光线传输。
扰动光2的传输路径为：扰动光源10朝扰动镜11发出扰动光2，控制器6控制扰动镜11偏转，使得扰动光2偏转第一预设偏转值后射向主镜130，主镜130将扰动光2会聚并反射至次镜131，次镜131将扰动光2发散并反射至快速反射镜31，探测器5接受经快速反射镜31反射的扰动光2并测量第一脱靶量。
激光4的传输路径为：激光光源30朝快速反射镜31发出激光4，控制器6根据第一脱靶量计算第二预设偏转值，控制快速反射镜31偏转，使得激光4偏转第二预设偏转值后射向次镜131，次镜131将激光4发散并反射至主镜130，主镜130将激光4会聚并反射至扰动镜11，探测器5接受经扰动镜11反射的激光4并测量第二脱靶量。
进一步的，精跟踪误差测试装置还包括第二分光镜32，第二分光镜32位于快速反射镜31与探测器5之间，且第二分光镜32具有第二透射面和第二反射面，第二透射面用于将快速反射镜31反射的扰动光2透射至探测器5，第二反射面用于将激光光源30发出的激光4反射至快速反射镜31。第二分光镜32具有反射激光4的作用，以及透射扰动光2的作用，第二分光镜32将扰动光2与激光4分成两个方向，对精跟踪误差测试装置起到了分光与便于测试的作用。
扰动光2的传输路径为：扰动光源10朝扰动镜11发出扰动光2，控制器6控制扰动镜11偏转，使得扰动光2偏转第一预设偏转值后射向快速反射镜31，第二分光镜32的第二透射面将经过快速反射镜31反射的扰动光2透射至探测器5，探测器5接受经第二分光镜32透射的扰动光2并测量第一脱靶量。
激光4的传输路径为：激光光源30朝第二分光镜32发出激光4，第二分光镜32的第二反射面将激光4反射至快速反射镜31，控制器6根据第一脱靶量计算第二预设偏转值，控制快速反射镜31偏转，使得激光4偏转第二预设偏转值后射向扰动镜11，探测器5接受经扰动镜11反射的激光4并测量第二脱靶量。
进一步的，探测器5包括精跟踪探测器50和光斑探测器51，精跟踪探测器50用于接受扰动光2并测量该扰动光2在该精跟踪探测器50上的第一脱靶量，光斑探测器51用于接受激光4并测量该激光4在该光斑探测器51上的第二脱靶量。
扰动光2的传输路径为：扰动光源10朝扰动镜11发出扰动光2，控制器6控制扰动镜11偏转，使得扰动光2偏转第一预设偏转值后射向快速反射镜31，精跟踪探测器50接受经快速反射镜31反射的扰动光2并测量第一脱靶量。
激光4的传输路径为：激光光源30朝快速反射镜31发出激光4，控制器6根据第一脱靶量计算第二预设偏转值，控制快速反射镜31偏转，使得激光4偏转第二预设偏转值后射向扰动镜11，光斑探测器51接受经扰动镜11反射的激光4并测量第二脱靶量。光斑探测器51上测得的激光4的光斑位置即精跟踪误差。
实施例2：
一种使用精跟踪误差测试装置测试精跟踪误差的方法，其中精跟踪误差测试装置包括：
扰动光源10、扰动镜11、激光光源30、快速反射镜31、探测器5、控制器6，其中，
扰动镜11用于将扰动光源10发出的扰动光2按照第一预设偏转值进行偏转并射向快速反射镜31；
快速反射镜31用于将激光光源30发出的激光4按照第二预设偏转值进行偏转并射向扰动镜11；
探测器5用于接受经快速反射镜31反射后的扰动光2并测量该扰动光2在该探测器5上的第一脱靶量，以及用于接受经扰动镜11反射后的激光4并测量该激光4在该探测器5上的第二脱靶量；
控制器6与扰动镜11、快速反射镜31以及探测器5均相连，并用于控制扰动镜11的偏转、用于根据第一脱靶量计算第二预设偏转值、用于控制快速反射镜31的偏转。能够在不具备粗跟踪、靶斑仪等条件的情况下，直接精确地测量精跟踪误差。
具体的，使用精跟踪误差测试装置测试精跟踪误差的方法，包括如下步骤：
扰动光源10朝扰动镜11发出扰动光2；
控制器6控制扰动镜11偏转，使得扰动光2偏转第一预设偏转值后射向快速反射镜31；
探测器5接受扰动光2并测量第一脱靶量；
激光光源30朝快速反射镜31发出激光4；
控制器6根据第一脱靶量计算第二预设偏转值，控制快速反射镜31偏转，使得激光4偏转第二预设偏转值后射向扰动镜11；
探测器5接受激光4并测量第二脱靶量。
进一步的，精跟踪误差测试装置还包括第一分光镜12，第一分光镜12位于扰动光源10与扰动镜11之间，且第一分光镜12具有第一透射面和第一反射面，第一透射面将扰动光源10发出的扰动光2透射向扰动镜11，反射面将扰动镜11反射后的激光4反射向探测器5。测试精跟踪误差的方法，包括如下步骤：
扰动光源10朝第一分光镜12发出扰动光2，第一分光镜12的第一透射面将扰动光源10发出的扰动光2透射至扰动镜11，控制器6控制扰动镜11偏转，使得扰动光2偏转第一预设偏转值后射向快速反射镜31，探测器5接受经快速反射镜31反射的扰动光2并测量
第一脱靶量；
激光光源30朝快速反射镜31发出激光4，控制器6根据第一脱靶量计算第二预设偏转值，控制快速反射镜31偏转，使得激光4偏转第二预设偏转值后射向扰动镜11，第一分光镜12的第一反射面将经过扰动镜11反射的激光4反射至探测器5，探测器5接受经第一分光镜12反射的激光4并测量第二脱靶量。
进一步的，探测器5包括精跟踪探测器50和光斑探测器51，精跟踪探测器50用于接受扰动光2并测量该扰动光2在该精跟踪探测器50上的第一脱靶量，光斑探测器51用于接受激光4并测量该激光4在该光斑探测器51上的第二脱靶量。测试精跟踪误差的方法，包括如下步骤：
扰动光源10朝扰动镜11发出扰动光2，控制器6控制扰动镜11偏转，使得扰动光2偏转第一预设偏转值后射向快速反射镜31，精跟踪探测器50接受经快速反射镜31反射的扰动光2并测量第一脱靶量；
激光光源30朝快速反射镜31发出激光4，控制器6根据第一脱靶量计算第二预设偏转值，控制快速反射镜31偏转，使得激光4偏转第二预设偏转值后射向扰动镜11，光斑探测器51接受经扰动镜11反射的激光4并测量第二脱靶量。光斑探测器51上测得的激光4的光斑位置即精跟踪误差。
第二脱靶量包括瞄准误差值和跟踪误差值，其中，第二脱靶量中的瞄准误差值按照如下公式计算：
式中，Δθp,x为瞄准误差的x分量，Δθp,y为瞄准误差的y分量，xc为积分光斑质心的x向分量，yc为积分光斑质心的y向分量，x0为光斑探测器中心位置的x分量，y0为光斑探测器中心位置的y分量，L为激光从激光光源到光斑探测器的光程，Δθp为瞄准误差。
第二脱靶量中的跟踪误差值按照如下公式计算：
式中，ΔθT,x为跟踪误差的x分量，ΔθT,y为跟踪误差的y分量，Δθj,x、Δθj,y为第j组数据中短曝光光斑质心相对于长曝光光斑质心角度偏差值的x、y向分量，ΔθT为跟踪误差。
根据光斑探测器51上测得的激光4的光斑位置的数据计算得到瞄准误差值和跟踪误差值，即得到精跟踪误差。本发明实施例2的测试精跟踪误差的方法能够快速有效测得精跟踪误差，并且具有较高的准确性。
本发明不局限于上述实施方式，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本发明的保护范围之内。本说明书中未作详细描述的内容属于本领域专业技术人员公知的现有技术。
Claims (8)
1.一种精跟踪误差测试装置，其特征在于，其包括：
扰动光源(10)、扰动镜(11)、激光光源(30)、快速反射镜(31)、探测器(5)、控制器(6)，其中，
所述扰动镜(11)用于将所述扰动光源(10)发出的扰动光(2)按照第一预设偏转值进行偏转并射向所述快速反射镜(31)；
所述快速反射镜(31)用于将所述激光光源(30)发出的激光(4)按照第二预设偏转值进行偏转并射向所述扰动镜(11)；
所述探测器(5)用于接受经所述快速反射镜(31)反射后的扰动光(2)并测量该扰动光(2)在该探测器(5)上的第一脱靶量，以及用于接受经所述扰动镜(11)反射后的激光(4)并测量该激光(4)在该探测器(5)上的第二脱靶量；
所述控制器(6)与所述扰动镜(11)、快速反射镜(31)以及探测器(5)均相连，并用于控制所述扰动镜(11)的偏转、用于根据所述第一脱靶量计算第二预设偏转值、用于控制所述快速反射镜(31)的偏转；
所述精跟踪误差测试装置还包括第一分光镜(12)，所述第一分光镜(12)位于所述扰动光源(10)与所述扰动镜(11)之间，且所述第一分光镜(12)具有第一透射面和第一反射面，所述第一透射面用于将所述扰动光源(10)发出的扰动光(2)透射至所述扰动镜(11)，所述第一反射面用于将扰动镜(11)反射后的激光(4)反射至所述探测器(5)；
所述精跟踪误差测试装置还包括第二分光镜(32)，所述第二分光镜(32)位于所述快速反射镜(31)与所述探测器(5)之间，且所述第二分光镜(32)具有第二透射面和第二反射面，所述第二透射面用于将所述快速反射镜(31)反射的扰动光(2)透射至所述探测器(5)，所述第二反射面用于将所述激光光源(30)发出的激光(4)反射至所述快速反射镜(31)。
2.如权利要求1所述的精跟踪误差测试装置，其特征在于，所述精跟踪误差测试装置还包括望远镜(13)，所述望远镜(13)位于所述扰动镜(11)和所述快速反射镜(31)之间，所述望远镜(13)包括主镜(130)和次镜(131)，所述主镜(130)用于将扰动镜(11)反射的扰动光(2)反射至所述次镜(131)，所述次镜(131)用于将所述主镜(130)反射的扰动光(2)反射至所述快速反射镜(31)；且所述次镜(131)还用于将所述快速反射镜(31)反射的激光(4)反射至所述主镜(130)，所述主镜(130)还用于将所述次镜(131)反射的激光(4)反射至所述扰动镜(11)。
3.如权利要求1所述的精跟踪误差测试装置，其特征在于，所述探测器(5)包括精跟踪探测器(50)和光斑探测器(51)，所述精跟踪探测器(50)用于接受扰动光(2)并测量该扰动光(2)在该精跟踪探测器(50)上的第一脱靶量，所述光斑探测器(51)用于接受激光(4)并测量该激光(4)在该光斑探测器(51)上的第二脱靶量。
4.一种精跟踪误差测试方法，所述精跟踪误差测试方法是基于权利要求1所述的精跟踪误差测试装置，其特征在于，其包括如下步骤：
所述扰动光源(10)朝扰动镜(11)发出扰动光(2)；
所述控制器(6)控制扰动镜(11)偏转，使得所述扰动光(2)偏转第一预设偏转值后射向快速反射镜(31)；
所述探测器(5)接受扰动光(2)并测量第一脱靶量；
所述激光光源(30)朝快速反射镜(31)发出激光(4)；
所述控制器(6)根据所述第一脱靶量计算第二预设偏转值，控制快速反射镜(31)偏转，使得所述激光(4)偏转第二预设偏转值后射向扰动镜(11)；
所述探测器(5)接受激光(4)并测量第二脱靶量。
5.如权利要求4所述的精跟踪误差测试方法，其特征在于，所述精跟踪误差测试装置还包括第一分光镜(12)，所述第一分光镜(12)位于所述扰动光源(10)与所述扰动镜(11)之间，且所述第一分光镜(12)具有第一透射面和第一反射面，所述第一透射面将所述扰动光源(10)发出的扰动光(2)透射向所述扰动镜(11)，所述反射面将扰动镜(11)反射后的激光(4)反射向所述探测器(5)。
6.如权利要求5所述的精跟踪误差测试方法，其特征在于，所述探测器(5)包括精跟踪探测器(50)和光斑探测器(51)，所述精跟踪探测器(50)用于接受扰动光(2)并测量该扰动光(2)在该精跟踪探测器(50)上的第一脱靶量，所述光斑探测器(51)用于接受激光(4)并测量该激光(4)在该光斑探测器(51)上的第二脱靶量。
7.如权利要求6所述的精跟踪误差测试方法，其特征在于，所述第二脱靶量中的瞄准误差值按照如下公式计算：
式中，Δθp,x为瞄准误差的x分量，Δθp,y为瞄准误差的y分量，xc为积分光斑质心的x向分量，yc为积分光斑质心的y向分量，x0为光斑探测器中心位置的x分量，y0为光斑探测器中心位置的y分量，L为激光从激光光源到光斑探测器的光程，Δθp为瞄准误差。
8.如权利要求6所述的精跟踪误差测试方法，其特征在于，所述第二脱靶量中的跟踪误差值按照如下公式计算：
式中，ΔθT,x为跟踪误差的x分量，ΔθT,y为跟踪误差的y分量，Δθj,x、Δθj,y为第j组数据中短曝光光斑质心相对于长曝光光斑质心角度偏差值的x、y向分量，ΔθT为跟踪误差。
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