CN109490669A - 一种电插锁测试装置及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种电插锁测试装置及测试方法，测试装置包括处理器单元、显示单元、输入单元、启动单元和电源单元，所述电源单元为测试装置供电，所述处理器单元分别连接显示单元、输入单元和启动单元；所述输入单元包括电插锁信号输入模块和电插锁检测模块，电插锁依次通过电插锁信号输入模块和电插锁检测模块连接处理器单元。本发明通过输入单元控制并输入电插锁的状态，处理器单元获取电插锁状态并处理，通过显示单元显示测试结果，测试开启后，不需要人为参与测试过程，提高测试效率。

Description

一种电插锁测试装置及测试方法

技术领域

本发明涉及电插锁技术领域,具体地说是一种电插锁测试装置及测试方法。

背景技术

电插锁包括电控开锁和钥匙开锁两种方式。电控开锁方式是通过控制锁舌的线圈电流，实现锁舌伸出或缩回已达到开门或关门的目的。电插锁有通电开锁和断电开锁两种电控方式，以便应用于不同场合。譬如消防门禁采用断电开锁方式居多，想库房不希望断电就开锁，采用通电开锁电控方式。

常见的电插锁有5线锁、6线锁和8线锁。5线锁包含电源正极、电源负极、开门信号、门磁检测状态点和公共点，利用门磁信号检测并判断门的开关状态；6线锁包含电源正极、电源负极、开门信号、锁舌检测状态常开、锁舌状态检测常闭和公共点，利用锁舌状态信号检测并判断门的开关状态；8线锁包括电源正极、电源负极、开门信号、门磁检测状态点和公共点，以及锁舌状态检测常开、锁舌检测状态常闭和公共点，具有关门信号检测和锁舌状态信号两路检测，可实现逻辑判断们的状态和非法开门或关门。

为保证电插锁的质量，电插锁在出厂时需要进行测试。电插锁的测试主要采用手工夹线简单的进行测试或者装配到产品上进行测试，一旦发现不良，需要反复的拆装，影响生产效率。

发明内容

本发明实施例中提供了一种电插锁测试装置及测试方法，以解决现有技术中电插锁测试效率低的问题。

为了解决上述技术问题，本发明实施例公开了如下技术方案：

本发明第一方面提供了一种电插锁测试装置，包括处理器单元、显示单元、输入单元、启动单元和电源单元，所述电源单元为测试装置供电，所述处理器单元分别连接显示单元、输入单元和启动单元；所述输入单元包括电插锁信号输入模块和电插锁检测模块，电插锁依次通过电插锁信号输入模块和电插锁检测模块连接处理器单元。

进一步地，所述启动单元包括启动开关，所述启动开关的一端分别连接处理器单元和电阻R13的一端，电阻R13的另一端接电源VDD，启动开关的另一端接地。

进一步地，所述启动单元包括通讯电路，所述通讯电路通过处理器单元与上位机通讯。

进一步地，所述电插锁检测模块包括门锁控制电路、门磁状态检测电路和锁舌状态检测电路，所述门磁状态检测电路和锁舌状态检测电路的信号输入端均连接电插锁信号输入模块，信号输出端均连接处理器单元，所述门锁控制电路的信号输入端连接处理器单元，信号输出端连接电插锁信号输入模块。

进一步地，所述门锁控制电路包括光耦U15，光耦U15的1管脚通过电阻R30连接电源VDD，2管脚连接处理器单元，4管脚通过电阻R36连接直流电源，3管脚分别连接电容C21的一端、电阻R39的一端和三极管Q5的基极，电容C21的另一端、电阻R39的另一端和三极管Q5的发射极均接地，三极管Q5的集电极分别连接二极管D5的正极和继电器JDQ5线圈的一端，继电器JDQ5线圈的另一端分别连接二极管D5的负极和电容C19的一端，电容C19的一端接直流电源，另一端接地，继电器JDQ5触点端分别连接电插锁信号输入模块和地。

进一步地，所述门磁状态检测电路包括光耦U14，所述光耦U14的2管脚连接电插锁信号输入模块，1管脚通过电阻R37接直流电源，3管脚接地，4管脚分别连接电阻R38的一端和电容C20的一端，电阻R38的另一端连接电源VDD，电容C20的另一端接地，光耦U14的4管脚还连接处理器单元；所述锁舌状态检测电路包括第一锁舌状态检测电路和第二锁舌状态检测电路；所述第一锁舌状态检测电路包括光耦U18，所述光耦U18的2管脚连接电插锁信号输入模块，1管脚通过电阻R19接直流电源，3管脚接地，4管脚分别连接电阻R17的一端和电容C28的一端，电阻R17的另一端连接电源VDD，电容C28的另一端接地，光耦U18的4管脚还连接处理器单元；所述第二锁舌状态检测电路包括光耦U19，所述光耦U19的2管脚连接电插锁信号输入模块，1管脚通过电阻R20接直流电源，3管脚接地，4管脚分别连接电阻R18的一端和电容C29的一端，电阻R18的另一端连接电源VDD，电容C29的另一端接地，光耦U19的4管脚还连接处理器单元。

进一步地，所述显示单元包括多个显示电路，每个显示电路均包括发光二极管，所述发光二极管的正极连接电源VDD，负极通过限流电阻连接处理器单元。

本发明第二方面提供了一种电插锁的测试方法，基于所述测试装置，所述方法包括：

将电插锁信号线接入测试装置的电插锁引脚接入端；

为测试装置上电，在显示工作状态正常后，启动测试；

通过门锁控制电路控制电插锁的状态，查看显示单元的状态，判断测试结果。

进一步地，通过向测试装置发送测试指令的方式启动测试。

进一步地，所述方法还包括：

将电插锁放置于特定的测试环境中；

设置测试参数，所述测试参数包括测试次数、每次测试的间隔时间；

向测试装置发送测试命令，启动测试，收集并显示测试结果。

发明内容中提供的效果仅仅是实施例的效果，而不是发明所有的全部效果，上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点或有益效果：

1、本测试装置通过输入单元控制并输入电插锁的状态，处理器单元获取电插锁状态并处理，通过显示单元显示测试结果，测试开启后，不需要人为参与测试过程，提高测试效率。

2、通过手动和自动两种方式实现测试的启动过程，测试人员可根据实际情况进行选择，同时将该测试装置配合上位机使用，可在不同的环境下，进行电插锁的老化测试，提高测试装置的适用范围。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明所述装置的结构示意图；

图2是本发明实施例1的结构示意图；

图3是本发明按键启动模块的电路示意图；

图4是本发明实施例2的结构示意图；

图5是本发明通讯模块的电路示意图；

图6是本发明处理器单元的电路示意图；

图7是本发明门锁控制电路的示意图；

图8是本发明电插锁信号输入模块的电路示意图；

图9是本发明门磁状态检测电路的示意图；

图10是本发明第一锁舌状态检测电路的示意图；

图11是本发明第二锁舌状态检测电路的示意图；

图12是本发明显示单元的电路示意图；

图13是本发明电源单元的电路示意图；

图14是本发明所述方法的流程示意图。

具体实施方式

为能清楚说明本方案的技术特点，下面通过具体实施方式，并结合其附图，对本发明进行详细阐述。下文的公开提供了许多不同的实施例或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或字母。这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施例和/或设置之间的关系。应当注意，在附图中所图示的部件不一定按比例绘制。本发明省略了对公知组件和处理技术及工艺的描述以避免不必要地限制本发明。

如图1所示，本发明的电插锁测试装置包括处理器单元、显示单元、输入单元、启动单元和电源单元，处理器单元分别连接显示单元、输入单元和启动单元；输入单元包括电插锁信号输入模块和电插锁检测模块，电插锁依次通过电插锁信号输入模块和电插锁检测模块连接处理器单元。处理器单元利用单片机实现，利用单片机技术实现电插锁的自动开门、关门状态检测。输入单元用于电插锁的信号点接入，显示单元用于测试结果的反馈；电源单元用于给整个测试装置提供稳定的直流工作电源。

如图2所示，启动单元包括启动按键启动模块，通过按下启动按键来启动测试。

如图3所示，按键启动模块包括启动开关S1，启动开关S1的一端分别连接处理器单元和电阻R13的一端，电阻R13的另一端接电源VDD，启动开关的另一端接地。

如图4所示，启动单元包括通讯电路，通讯电路通过单片机与上位机进行通讯，接收上位机发送的测试指令，启动测试。

如图5所示，通讯电路包括通讯芯片U2，U2为RS485通讯芯片，U2的1管脚、2管脚、3管脚和4管脚分别连接单片机的对应管脚，U2的5管脚接地，6管脚分别连接电阻R8的一端、开关二极管V2的中间引脚和瞬态二极管TVS1的一端，U2的7管脚分别连接电阻R7的一端开关二极管V1的中间管脚、瞬态二极管TVS1的另一端和热敏电阻F4的一端，U2的8管脚分别连接电容C11的一端、电阻R8的另一端、开关二极管V1的负极和开关二极管V2的负极，开关二极管V1的正极和开关二极管V2的正极均接地，电容C11的另一端接地，电阻R7的另一端接地，U2的8管脚连接电源VDD，热敏电阻F4的另一端和瞬态二极管TVS1的一端均连接连接器XS6。

电阻R7和电阻R8的阻值均为18KΩ，电容C11为1uF，开关二极管V1和V2的型号均为BAV99，热敏电阻F4的型号为SPMZB-10(40-60Ω)380V，瞬态二极管TVS1的型号为P6KE6.8CA，连接器XS6为PH2.5H7.8-2。

如图6所示，处理器单元包括单片机U1，型号为FM3318。U1的39管脚通过电阻R2连接电源VDD，电阻R2为10KΩ，60和61管脚连接晶振X1，X1的振动频率为32768Hz。U1的63管脚通过电容C7接地，64管脚接地，65管脚分别连接电源VDD和电容C8的一端，电容C8的另一端接地，66管脚分别连接电容C9的一端和电容C5的一端，电容C9的另一端和电容C5的另一端均接地，U1的67管脚分别连接电容C6的一端和电容C10的一端，电容C6的另一端和电容C10的另一端均接地，U1的68管脚通过电容C27接地，U1的75管脚依次通过电阻R5和电容C14接地。U1的39管脚和40管脚分别连接U2的1管脚和4管脚，U1的29管脚连接U2的2、3管脚。

电容C5、C6、C7、C8、C9、C10、C14和C27分别为10uF、2.2uF、10uF、0.1uF、0.1uF、1uF和2.2nF，电阻R5为100Ω。

电插锁检测模块包括门锁控制电路、门磁状态检测电路和锁舌状态检测电路，门磁状态检测电路和锁舌状态检测电路的信号输入端均连接电插锁信号输入模块，信号输出端均连接处理器单元，门锁控制电路的信号输入端连接处理器单元，信号输出端连接电插锁信号输入模块。测试开始时，门锁控制电路接收到处理器单元的信号，通过继电器JDQ5的动作控制电插锁的动作，门磁状态检测电路和锁舌状态检测电路检测电插锁的状态，并将检测到的电插锁状态信号发送给处理器单元，处理器单元对接收到的状态信号通过显示单元进行显示。

如图7所示，门锁控制电路包括光耦U15，光耦U15的1管脚通过电阻R30连接电源VDD，2管脚连接处理器单元，4管脚通过电阻R36连接直流电源，3管脚分别连接电容C21的一端、电阻R39的一端和三极管Q5的基极，电容C21的另一端、电阻R39的另一端和三极管Q5的发射极均接地，三极管Q5的集电极分别连接二极管D5的正极和继电器JDQ5线圈的一端，继电器JDQ5线圈的另一端分别连接二极管D5的负极和电容C19的一端，电容C19的一端接直流电源，另一端接地，继电器JDQ5触点端分别连接电插锁信号输入模块和地。

光耦U15为LTV-816S-TAI-D(贴)SO-4，电阻R30为2KΩ，电阻R36为5.1KΩ，电容C21为0.1uF，电阻R39为10KΩ，三极管Q5为LBC817-40LT1G，二极管D5为1N4007，电容C19为100uF/16V，继电器JDQ5为HF115F/012-1ZS2AF。

如图8所示，电插锁信号输入模块包括连接器XS8，XS8为PH2.5H7.8-8。XS8用于连接电插锁的测试引线，包括5线锁、6线锁和8线锁。

如图9所示，门磁状态检测电路包括光耦U14，所述光耦U14的2管脚连接电插锁信号输入模块，1管脚通过电阻R37接直流电源，3管脚接地，4管脚分别连接电阻R38的一端和电容C20的一端，电阻R38的另一端连接电源VDD，电容C20的另一端接地，光耦U14的4管脚还连接处理器单元。

锁舌状态检测电路包括第一锁舌状态检测电路和第二锁舌状态检测电路。

如图10所示，第一锁舌状态检测电路包括光耦U18，所述光耦U18的2管脚连接电插锁信号输入模块，1管脚通过电阻R19接直流电源，3管脚接地，4管脚分别连接电阻R17的一端和电容C28的一端，电阻R17的另一端连接电源VDD，电容C28的另一端接地，光耦U18的4管脚还连接处理器单元。

如图11所示，第二锁舌状态检测电路包括光耦U19，所述光耦U19的2管脚连接电插锁信号输入模块，1管脚通过电阻R20接直流电源，3管脚接地，4管脚分别连接电阻R18的一端和电容C29的一端，电阻R18的另一端连接电源VDD，电容C29的另一端接地，光耦U19的4管脚还连接处理器单元。

光耦U14、U18和U19的型号均为LTV-816S-TAI-D，电阻R37、R19、R20的阻值均为18KΩ，电阻R38、R17、R18的阻值均为10KΩ，电容C20、C28、C29均为0.1uF。

如图12所示，显示单元包括多个显示电路，每个显示电路均包括发光二极管，所述发光二极管的正极连接电源VDD，负极通过限流电阻连接处理器单元。

二极管LED1为DC+5V电源指示灯；二极管LED2为DC+12V电源指示灯；二极管LED3为系统运行指示灯连接U1,通电为闪烁状态，反之U1异常；二极管LED4和LED5为上位机通讯指示灯，当接收到上位机数据LED4闪烁，U1处理完数据将命令返回给上位机时，二极管LED3闪烁，每接收或返回一条数据对应的指示灯闪烁一次；二极管LED6为开门指示灯，关门灯熄灭，开门灯点亮；二极管LED7为关门指示灯，开门熄灭，关门点亮；二极管LED8为门锁锁舌状态信号检测指示灯，锁舌伸出灯熄灭，锁舌缩回灯点亮；二极管LED9为关门磁信号检测指示灯，门磁在熄灭，移开门磁点亮。

如图13所示，电源单元包括连接器XP1，连接器XP1的1管脚连接二极管D2的正极，二极管D2的负极分别连接发光二极管LED2的正极、电容C1的一端和电容C2的一端，电容C1的另一端和电容C2的另一端均接地，发光二极管LED2的负极通过电阻R16接地，插座XP1的2管脚连接电容C2的另一端，插座XP1的3管脚接地，4管脚连接二极管D1的正极，二极管D1的负极分别连接电容C4的一端、电容C3的一端和发光二极管LED1的正极，电容C3的另一端和电容C4的另一端均接地，发光二极管LED1的负极通过电阻R15接地；电容C3的一端输出电源VDD，电容C2的一端输出12V直流电源。

电阻R16为16KΩ，电容C1为0.1uF，电容C2为470uF/25V，二极管D1、D2均为RB160L-60，电容C4为470uF/25V，电容C3为0.1uF，电阻R15为5.1Ω。

U1为本测试装置的MCU数据处理单元，采用复旦微电子的FM3318A芯片；U2为RS485通讯芯片，市面通用型，负责测试装置的通讯指令传送；显示单元的指示灯采用灌电流方法连接MCU，低电平点亮；光耦U15提供开门信号传输隔离，光耦导通控制继电器JDQ5的闭合，光耦截止控制继电器JDQ5的断开，实现电插锁的开锁(开门)，保持3s使继电器断开；光耦U14提供关门到位信号传输隔离，负责向MCU提供关门检测信号，低电平有效；光耦U18和光耦U19提供关门后锁舌状态信号传输隔离，光耦U18检测到低电平、光耦U19检测到高电平锁舌状态为闭合(开门)，反之为锁舌状态为弹出状态(关门)。

启动单元选用按键启动模块启动测试时：先将电插锁信号线接入连接器XS8对应的管脚，给测试装置通上所需的测试电源，发光二极管LED1和LED2电源指示灯点亮，LED3系统运行指示灯闪烁，按下S1启动按键，继电器JDQ5吸合(3s后断开)，此时显示单指示对应灯点亮(比如接入的是5线锁，移开门磁片，开门指示灯LED6点亮，门磁检测指示灯LED9点亮；放入门磁开门指示灯LED6熄灭，LED7指示灯点亮，门磁检测指示灯LED9熄灭)。

启动单元选用通讯电路启动测试时：首先将电插锁信号线接入连接器XS8对应的管脚，给测试装置通上所需的测试电源，发光二极管LED1和LED2电源指示灯点亮，发光二极管LED3系统运行指示灯闪烁，上位机软件发送开门命令给通讯电路，继电器JDQ5吸合(3s后断开)，此时显示单元指示对应灯点亮(比如接入的是5线锁，移开门磁片，开门指示灯LED6点亮，门磁检测指示灯LED9点亮；放入门磁开门指示灯LED6熄灭，LED7指示灯点亮，门磁检测指示灯LED9熄灭)，同时上位机的显示屏显示对应信息，配合语音完成测试结果播报。

如图14所示，电插锁的测试方法包括：

S1,将电插锁信号线接入测试装置的电插锁引脚接入端；

电插锁引脚接入端即连接器XS8。

S2,为测试装置上电，在显示工作状态正常后，启动测试；

启动测试包括手动启动和自动启动两种启动方式。手动启动即通过手动按下按键启动模块的启动开关S1来实现，自动启动通过向测试装置发送测试指令的方式启动测试。

S3,通过门锁控制电路控制电插锁的状态，查看显示单元的状态，判断测试结果。

自动启动测试还可以实现多种场景的测试：

将电插锁放置于特定的测试环境中；测试环境可以为高温、高压的环境，模拟火灾等特殊，测试电插锁的性能。设置测试参数，测试参数包括测试次数、每次测试的间隔时间；向测试装置发送测试命令，启动测试，收集并显示测试结果。

以上所述只是本发明的优选实施方式，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也被视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种电插锁测试装置，其特征是，包括处理器单元、显示单元、输入单元、启动单元和电源单元，所述电源单元为测试装置供电，所述处理器单元分别连接显示单元、输入单元和启动单元；所述输入单元包括电插锁信号输入模块和电插锁检测模块，电插锁依次通过电插锁信号输入模块和电插锁检测模块连接处理器单元。

2.根据权利要求1所述的一种电插锁测试装置，其特征是，所述启动单元包括启动开关，所述启动开关的一端分别连接处理器单元和电阻R13的一端，电阻R13的另一端接电源VDD，启动开关的另一端接地。

3.根据权利要求1所述的一种电插锁测试装置，其特征是，所述启动单元包括通讯电路，所述通讯电路通过处理器单元与上位机通讯。

4.根据权利要求2或3所述的一种电插锁测试装置，其特征是，所述电插锁检测模块包括门锁控制电路、门磁状态检测电路和锁舌状态检测电路，所述门磁状态检测电路和锁舌状态检测电路的信号输入端均连接电插锁信号输入模块，信号输出端均连接处理器单元，所述门锁控制电路的信号输入端连接处理器单元，信号输出端连接电插锁信号输入模块。

5.根据权利要求4所述的一种电插锁测试装置，其特征是，所述门锁控制电路包括光耦U15，光耦U15的1管脚通过电阻R30连接电源VDD，2管脚连接处理器单元，4管脚通过电阻R36连接直流电源，3管脚分别连接电容C21的一端、电阻R39的一端和三极管Q5的基极，电容C21的另一端、电阻R39的另一端和三极管Q5的发射极均接地，三极管Q5的集电极分别连接二极管D5的正极和继电器JDQ5线圈的一端，继电器JDQ5线圈的另一端分别连接二极管D5的负极和电容C19的一端，电容C19的一端接直流电源，另一端接地，继电器JDQ5触点端分别连接电插锁信号输入模块和地。

6.根据权利要求4所述的一种电插锁测试装置，其特征是，所述门磁状态检测电路包括光耦U14，所述光耦U14的2管脚连接电插锁信号输入模块，1管脚通过电阻R37接直流电源，3管脚接地，4管脚分别连接电阻R38的一端和电容C20的一端，电阻R38的另一端连接电源VDD，电容C20的另一端接地，光耦U14的4管脚还连接处理器单元；

所述锁舌状态检测电路包括第一锁舌状态检测电路和第二锁舌状态检测电路；所述第一锁舌状态检测电路包括光耦U18，所述光耦U18的2管脚连接电插锁信号输入模块，1管脚通过电阻R19接直流电源，3管脚接地，4管脚分别连接电阻R17的一端和电容C28的一端，电阻R17的另一端连接电源VDD，电容C28的另一端接地，光耦U18的4管脚还连接处理器单元；所述第二锁舌状态检测电路包括光耦U19，所述光耦U19的2管脚连接电插锁信号输入模块，1管脚通过电阻R20接直流电源，3管脚接地，4管脚分别连接电阻R18的一端和电容C29的一端，电阻R18的另一端连接电源VDD，电容C29的另一端接地，光耦U19的4管脚还连接处理器单元。

7.根据权利要求4所述的一种电插锁测试装置，其特征是，所述显示单元包括多个显示电路，每个显示电路均包括发光二极管，所述发光二极管的正极连接电源VDD，负极通过限流电阻连接处理器单元。

8.一种利用权利要求1所述电插锁测试装置进行电插锁测试的方法，其特征是，所述方法包括：

将电插锁信号线接入测试装置的电插锁引脚接入端；

为测试装置上电，在显示工作状态正常后，启动测试；

通过门锁控制电路控制电插锁的状态，查看显示单元的状态，判断测试结果。

9.根据权利要求8所述的一种电插锁测试方法，其特征是，通过向测试装置发送测试指令的方式启动测试。

10.根据权利要求9所述的一种电插锁测试方法，其特征是，所述方法还包括：

将电插锁放置于特定的测试环境中；

设置测试参数，所述测试参数包括测试次数、每次测试的间隔时间；

向测试装置发送测试命令，启动测试，收集并显示测试结果。