CN109490640B - 测试系统及测试方法 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供一种测试系统及测试方法，涉及移动终端技术领域，其中测试系统包括：放置台、姿态更改装置和控制装置，电子装置放置在该放置台上，该姿态更改装置将该电子装置的测试姿态固定在第一测试姿态，该控制装置连接该姿态更改装置，在该控制装置的控制下，将该电子装置从该第一测试姿态更改为第二测试姿态。该测试方法通过该测试系统完成对电子装置两个测试姿态的性能测试。本申请可提高测试效率。

Description

测试系统及测试方法

技术领域

本申请涉及移动终端技术领域，尤其涉及一种测试系统及测试方法。

背景技术

当前系统测试辐射杂散(RSE，Radiated Spurious Emission)等性能时，需要测试手机在不同方向的性能，而且测试环境要求手机下方不能有金属等器件，因此不能用金属类旋转固定。所以当前这不同方向的性能测试，是由测试工作人员手工更改测试方向，费时费力，还额外带入外接电磁波，影响了测试准确度。

发明内容

本申请实施例提供一种测试系统及测试方法，可通过控制装置自动更改待测试的电子装置的测试姿态，解决因人工更改测试姿态导致的效率慢和电磁干扰的问题。

本申请实施例一方面提供了一种测试系统，包括：

放置台、姿态更改装置和控制装置；

所述放置台，用于放置所述电子装置；

所述姿态更改装置，用于将所述电子装置的测试姿态固定在第一测试姿态；

所述控制装置连接所述姿态更改装置，所述控制装置控制所述姿态更改装置将所述电子装置从所述第一测试姿态更改为第二测试姿态。

本申请实施例一方面还提供了一种测试方法，包括：

通过上述测试系统对电子装置进行第一测试姿态下的性能测试，以及，将所述电子装置切换为第二测试姿态后，对所述电子装置完成第二测试姿态下的性能测试。

上述各实施例，通过测试系统中的控制装置控制姿态更改装置，将电子装置切换一次测试姿态，从而实现一次放置电子装置变可以完成两个测试姿态的切换，无需人工参与，大大节省测试时间和成本，提高了测试效率，规避了人工参与时造成的电磁干扰。

附图说明

图1为本申请一实施例提供的测试系统在测试时与待测试的电子装置以及测试仪器的连接结构示意图；

图2为本申请实施例提供的测试系统在测试电子装置V姿态的结构示意图；

图3为本申请实施例提供的与图2的测试系统对应的在测试电子装置H姿态的结构示意图；

图4为本申请实施例提供的与图2的测试系统对应的在测试电子装置H姿态的结构示意图；

图5为本申请另一实施例提供的测试系统在测试电子装置V姿态的结构示意图；

图6为本申请另一实施例提供的与图4的测试系统对应的在测试电子装置H姿态的结构示意图。

具体实施方式

为使得本申请的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而非全部实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

本发明实施例中，测试系统可以应用在测试电子装置的性能，具体可以是电磁干扰(EMS，Electro Magnetic Compatibility)测试，更具体地可以是RSE测试，电子装置的RSE测试采用3M暗室的近场测试方案，可以测试电子装置在H姿态和V姿态两个姿态的RSE特性，其中H姿态指水平姿态，即电子装置平放在放置面的姿态，V姿态是指垂直姿态，狭义是指电子装置的四个侧面中任一个侧面完全与放置面贴合，使电子装置的正面(如屏幕所在面)垂直于该放置面的姿态，广义是指电子装置的任一个侧面与放置面部分贴和该放置面，使电子装置的正面与该放置面形成的倾斜角不等于90度。

该电子装置具体可以是手机、平板电脑等移动终端。该测试系统包括：放置台10、姿态更改装置20和控制装置30。请参阅图1，图1为本申请一实施例提供的测试系统在测试电子装置40时与电子装置40、测试仪器50的连接结构示意图。

放置台10用于放置待检测性能的电子装置40；

姿态更改装置20将该电子装置40的初始的测试姿态固定在第一测试姿态，本实施例中，该第一测试姿态为V姿态，测试仪器50与电子装置40连接，对处于V姿态的电子装置40进行特性自动测试。

控制装置30具体可以是PC(personal computer)端，也可以是移动终端。控制装置30连接姿态更改装置20。

在V姿态的特性测试完成后，测试仪器50发送测试完成信号给控制装置30。在接收到该测试完成信号时，控制装置30控制姿态更改装置20将电子装置40从该第一测试姿态更改为第二测试姿态，该第二测试姿态具体为H姿态。测试仪器50则对处于H姿态的电子装置40继续进行特性测试。从而实现电子装置40从V姿态到H姿态的自动更改，无需人工介入，完成此两种姿态下的测试。

本实施例中，通过上述测试系统中的控制装置控制姿态更改装置，将电子装置切换一次测试姿态，从而实现一次放置电子装置变可以完成两个测试姿态的切换，无需人工参与，大大节省测试时间和成本，提高了测试效率，避免了人工参与时带入的电磁波，而对测试仪器接收测试数据的准确性造成的干扰，因人员进出次数的减少，延长了测试场所屏蔽门的使用寿命。

进一步地，姿态更改装置20具体可以为悬吊装置20，也可以为抖动装置20，其中，悬吊装置20可以将电子装置40吊挂为第一测试姿态，电子装置40位于第一测试姿态的力量支撑主要仍是电子装置40自身，而悬吊装置20辅助电子装置40保持平衡，并非将电子装置40完全吊挂起来，通过控制悬吊装置20切断电子装置40的吊挂支撑，使得电子装置40从第一测试姿态更改为第二测试姿态；抖动装置20的第一部件21将电子装置40卡固为第一测试姿态，第二部件22通过抖动使得电子装置40脱离第一测试姿态的卡固，更改为第二测试姿态。

当姿态更改装置20具体为悬吊装置20时，请参阅图2，为本申请另一实施例提供的测试系统结构示意图。该方法可以应用于测试电子装置40的RSE特性，该电子装置具体可以是手机、平板电脑等移动终端。该测试系统包括：放置台10、悬吊装置20和控制装置30；

悬吊装置20的一端连接在电子装置40的连接装置(图中未示出)上，另一端连接姿态控制开关60，将电子装置40悬吊为该第一测试姿态(V姿态)；

将电子装置从该第一测试姿态更改为第二测试姿态的第一种方式为：

姿态控制开关60连接控制装置30，控制装置30控制姿态控制开关60断开与悬吊装置20的另一端的连接，将电子装置40的姿态从第一测试姿态V姿态更改为第二测试姿态(H姿态)。图3为在此种方式下，图2对应的电子装置40更改为H姿态的结构示意图。

该连接装置具有通孔，悬吊装置20的一端穿过通孔，使得悬吊装置20与电子装置40相连接。当悬吊装置20为细线时，该细线穿入该通孔，将电子装置40悬吊起来。更具体地，连接装置安装在电子装置40的外接口中，连接装置的材质为非金属材质，例如可以是塑料材质。该外接口为电子装置的USB接口或耳机接口等，将连接装置设置在该外接口中，目的对电子装置天线影响越小越好，这些区域本身有金属或者是天线已经避开的区域，加入外接装置或设备对天线影响最小。

在此更改姿态的方式下，姿态控制开关60具体为电磁继电器。电磁继电器工作原理：通电有磁性吸住铁片连通，此时细线悬吊电子装置40，断电后无磁性，铁片分离，细线断开，电子装置40失去悬挂的力量，无法维持V姿态。实现细线断开的具体方案为：测试仪器测试完电子装置40的V姿态后，发送一个触发信号给控制装置30，控制装置30接收到电子装置40的当前测试状态测试完成指令后，通过控制电磁继电器断电后可以完成悬挂细线的脱落，使得电子装置40从V姿态切换为H姿态。

或者，姿态控制开关60为其他可由控制装置30控制断开与悬吊装置20的开关。

将电子装置从该第一测试姿态更改为第二测试姿态的第二种方式为：

姿态控制开关60连接控制装置30，控制装置30控制姿态控制开关60延长悬吊装置20，使得姿态控制开关60与电子装置20之间的悬吊装置20延长，将电子装置40的姿态从第一测试姿态V姿态更改为第二测试姿态(H姿态)。图4为在此种方式下与图2对应的电子装置40更改为H姿态的结构示意图。

在此更改姿态的方式下，姿态控制开关60为具有延长悬吊装置20功能，具体可以是具有卷轴，该卷轴上缠绕悬吊装置20，通过控制该卷轴的旋转方向，控制悬吊装置的延长或缩短。

进一步地，放置台10的上表面设置有缓冲层70，具体地，缓冲层70可以放置在放置台10的上表面，也可以是凭借自身底面具有的摩擦力，不易于放置台10的上表面发生相对位移，还可以粘合在放置台10的上表面，当电子装置40掉落在缓冲层70上表面，电子装置40从第一测试姿态更换为第二测试姿态，缓冲层70对电子装置40起到有效的缓冲作用，防止电子装置40摔坏。姿态控制开关60断开与悬吊装置20的另一端的连接后，电子装置40以该第二测试姿态掉落在缓冲层70上。放置台10可以为圆柱体，也可以为立方体、长方体等形状，图2中所示缓冲层70的形状可以与放置台10的形状相同，如图1所示当放置台10为圆柱体时，缓冲层也可以为圆柱体，还可以为其他形状，缓冲层70的横截面积可以小于或等于放置台10的上表面的横截面积。

具体地，悬吊装置20为一条细线20，细线20的一端连接在电子装置40的连接装置上，另一端连接姿态控制开关60，将电子装置40悬吊为V姿态。

本实施例中，通过上述测试系统中的控制装置控制悬吊装置，将电子装置切换一次测试姿态，从而实现一次放置电子装置变可以完成两个测试姿态的切换，无需人工参与，大大节省测试时间和成本，提高了测试效率，规避了人工参与时造成的电磁干扰。

当姿态更改装置20具体为抖动装置20时，请参阅图4，图4为本申请另一实施例提供的测试系统结构示意图。该方法可以应用在电子装置40中，电子装置40具体可以是手机、平板电脑等移动终端。该测试系统包括：

放置台10、抖动装置20和控制装置30；

抖动装置20包括固定部件21和抖动部件22；

固定部件21设置在放置台10的上表面，固定部件21具有卡槽，卡槽将电子装置40固定为该第一测试姿态，即V姿态。

抖动部件22设置在放置台10的内部，抖动部件22连接控制装置30，控制装置30控制抖动部件22进行抖动，将电子装置40从V姿态更改为H姿态，即更改为第二测试姿态。图5为图4对应的电子装置40更改为H姿态的结构示意图。

进一步地，如图4、图5所示，固定部件21具体为空心圆柱体，空心圆柱体的底部设置有卡槽。固定部件21具体可以是上述图2、图3所示实施例中的缓冲层。在起到卡固电子装置40的作用的同时，可以缓冲电子装置40从V姿态切换为H姿态后姿态的差异造成的冲击力，从而保护电子装置40不受损。即，固定部件21的材质为具有缓冲作用的软材质，抖动部件22为具有振动作用的马达，该马达的功率可达到将电子装置40从V姿态震倒成为H姿态。

进一步地，固定部件21也可以为空心立方体、长方体等形状。

本实施例中，通过上述测试系统中的控制装置控制抖动装置，将电子装置切换一次测试姿态，从而实现一次放置电子装置变可以完成两个测试姿态的切换，无需人工参与，大大节省测试时间和成本，提高了测试效率，避免了人工参与时带入的电磁波，而对测试仪器接收测试数据的准确性造成的干扰，因人员进出次数的减少，延长了测试场所屏蔽门的使用寿命。

本发明实施例还提供了一种测试方法，测试方法，通过上述图1～图5所示实施例中所提供的测试系统，对电子装置进行第一测试姿态下的性能测试，以及，将该电子装置切换为第二测试姿态后，对该电子装置完成第二测试姿态下的性能测试。

具体地，将电子装置40放置在放置台10上，姿态更改装置20将电子装置40的初始的测试姿态固定在V姿态，测试仪器50测试电子装置40在V姿态下的性能，测试完毕后，测试仪器50向控制装置30发送测试完毕的信号，测试装置30则控制姿态更改装置20将电子装置40从V姿态改变为H姿态，电子装置40落在放置台10上，跌落成H姿态，测试仪器50测试电子装置40在V姿态下的性能。

更具体地，当姿态更改装置20为悬吊装置时，例如为一根细线时，细线的一端穿过电子装置40的连接装置上的通孔，连接到电磁继电器，该电磁继电器通电吸住铁片，在将电子装置40悬吊为V姿态，当测试仪器50完成电子装置40在V姿态下的测试后，向控制装置30发送测试完成信号，控制装置40将电磁继电器断电，细线断开，电子装置40失去维持V姿态的悬吊力量，跌落后切换为H姿态，测试仪器50完成电子装置40在H姿态下的测试。

当姿态更改装置20为抖动装置时，包括固定部件21和抖动部件22，固定部件21设置在放置台10的上表面，固定部件21具有卡槽，卡槽将电子装置40固定为该第一测试姿态，即V姿态。

抖动部件22设置在放置台10的内部，抖动部件22连接控制装置30，控制装置30控制抖动部件22进行抖动，将电子装置40从V姿态更改为H姿态，即更改为第二测试姿态。

其他技术细节，参见前述图1～图5所示实施例的描述。

本发明实施例提供的测试方法，通过上述测试系统中的控制装置控制姿态更改装置，将电子装置切换一次测试姿态，从而实现一次放置电子装置变可以完成两个测试姿态的切换，无需人工参与，大大节省测试时间和成本，提高了测试效率，规避了人工参与时造成的电磁干扰。

当前EMC实验室每测试一个band(波段)均需要测试电子装置V和H两个测试方向，测试一个电子装置需要测试LTE(Long Term Evolution))的12个band，WCDMA(WidebandCode Division Multiple Access)的6个band，GSM(Global System for MobileCommunication)的4个band，现有技术中测试工作人员需要频繁进入暗室更换方案(12+6+4)*2＝48次，但是采用本方案后，人工参与更换次数可以减少24次，按照当前测试状态节约大于一半时间；若测试系统可即在测试电子终端的V测试姿态测试完所有band，再次切换到H测试姿态测试完所有band，则本申请方案将只需测试工作人员进入暗室两次，一次是在放置台上放置该电子装置，一次是取出该电子装置，智能化节约测试时间。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

以上为对本申请所提供的测试系统及测试方法的描述，对于本领域的技术人员，依据本申请实施例的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (10)

1.一种测试系统，用于电子装置的电磁干扰测试，其特征在于，包括：

放置台、姿态更改装置和控制装置；

所述放置台，用于放置所述电子装置；

所述姿态更改装置，用于将所述电子装置的测试姿态固定在第一测试姿态；

所述控制装置连接所述姿态更改装置，所述控制装置控制所述姿态更改装置将所述电子装置从所述第一测试姿态更改为第二测试姿态；

所述放置台的上表面设置有缓冲层，所述电子装置掉落在所述缓冲层上，在所述缓冲层上形成所述第二测试姿态。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述姿态更改装置为悬吊装置；

所述悬吊装置的一端连接在所述电子装置的连接装置上，另一端连接所述悬吊装置的姿态控制开关，将所述电子装置悬吊为所述第一测试姿态；

所述姿态控制开关连接所述控制装置，所述控制装置控制所述姿态控制开关断开与所述悬吊装置的所述另一端的连接，将所述电子装置更改为所述第二测试姿态。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述姿态更改装置为悬吊装置；

所述悬吊装置的一端连接在所述电子装置的连接装置上，另一端连接所述悬吊装置的姿态控制开关，将所述电子装置悬吊为所述第一测试姿态；

所述姿态控制开关连接所述控制装置，所述控制装置控制所述姿态控制开关延长所述姿态控制开关与所述电子装置之间的所述悬吊装置，将所述电子装置更改为所述第二测试姿态。

4.根据权利要求2或3所述的系统，其特征在于，所述连接装置具有通孔，所述悬吊装置的一端穿过所述通孔，使得所述悬吊装置与所述电子装置相连接。

5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述连接装置安装在所述电子装置的外接口中，所述连接装置的材质为非金属材质。

6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述姿态控制开关具体为电磁继电器。

7.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述姿态更改装置为抖动装置，所述抖动装置包括固定部件和抖动部件；

所述固定部件设置在所述放置台的上表面，所述固定部件具有卡槽，所述卡槽将所述电子装置固定为所述第一测试姿态；

所述抖动部件设置在所述放置台的内部，所述抖动部件连接所述控制装置，所述控制装置控制所述抖动部件进行抖动，将所述电子装置更改为所述第二测试姿态。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述固定部件具体为空心圆柱体，所述空心圆柱体的底部设置有所述卡槽。

9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述固定部件的材质为具有缓冲作用的软材质，所述抖动部件为具有振动作用的马达。

10.一种测试方法，其特征在于，通过权利要求1~9任一项所述的测试系统对电子装置进行第一测试姿态下的电磁干扰测试，以及，将所述电子装置切换为第二测试姿态后，对所述电子装置完成第二测试姿态下的电磁干扰测试。

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