CN109490637A - 一种快速测试非晶磁环的设备 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及锡焊技术领域，具体涉及一种快速测试非晶磁环的设备，包括测试装置以及多台电感测试仪器；所述测试装置包括底板以及立板；所述工作台设有第一压条以及第二压条；所述滑槽上设有绝缘托盘；所述绝缘托盘与滑槽滑动连接；所述工作台设有多个铜板；多块铜板均设于滑槽的底部；所述立板上设有探针；每台所述电感测试仪器均包括两根测试线，其中一根测试线与一个探针连接，另一根测试线与铜板连接。本发明在测试完一个频率的电感后可马上推送到另一个测试工位测试第二个频率的电感，从而实现快速测量非晶磁环的电感；另外通过设置第一压条以及第二压条，并将绝缘托盘设置在第一压条与第二压条之间，能够有效地防止绝缘托盘滑出滑槽。
Description
技术领域
本发明涉及磁环测试设备技术领域，具体涉及一种快速测试非晶磁环的设备。
背景技术
非晶磁环，是用非晶材料加工的磁性元件，可作为各种形式的高频(20KHz-100KHz)开关电源中的大中小功率的主变压器、控制变压器、滤波电感、储能电感、电抗器、磁放大器、饱和电抗器铁芯、EMC滤波器共模电感和差模电感铁芯、ISDN微型隔离变压器铁芯；同时广泛应用于各种类型不同精度的互感器铁芯。非晶磁环在不同的使用环境下，有只对一个频率的电感要求的，也有多个不同频率的电感要求，因此，在使用之前，通常需要按照不同的频率要求测试其电感，比如对于某款非晶磁环，有频率1KHz，10KHz，50KHz和100KHz的电感要求，这时候就需要利用仪器来测试这四个频率下的电感。老式的测试仪器一般只能测试一个频率的电感，当需要测试多个不同频率的电感时，就需要经过多次测试才能完成，在生产线上，一般是一个工人负责测试一个频率的电感，测试完合格的非晶磁环流到下一个工人，依次进行流水式的测试，这样就需要多个工人，导致用工成本高；而如果只用一个工人来进行多次的测试，则一般是该工人将一定数量的非晶磁环全部先进行第一次测试，测试完的先搁置起来，等全部测量完了再进行第二次测试，这样就占用了库存的空间，提高了库存成本。现有市场上出现了可实现同时测试多个频率下的电感的新式测试仪器，但一般价格都很昂贵，对于生产商来说，一般早就配备了老式的测试仪器，出于成本的考虑，一般不会再去购置新式测试仪器，因此，如何利用老式的测试仪器同时又能提高测试效率、降低用工成本以及减少库存成本就成了生产商亟需解决的问题。
发明内容
本发明的目的是针对现有技术中的上述不足，提供了一种快速测试非晶磁环的设备。
本发明的目的通过以下技术方案实现：一种快速测试非晶磁环的设备，包括测试装置以及多台电感测试仪器；所述测试装置包括底板以及与底板连接的立板；
所述底板设有工作台；所述工作台设有第一压条以及第二压条；所述第一压条与第二压条之间形成有滑槽；所述滑槽上设有用于放置非晶磁环的绝缘托盘；所述绝缘托盘与滑槽滑动连接；所述工作台设有多个铜板；多块铜板均设于滑槽的底部；
所述立板上设有多条数量与铜板相同的探针；每台所述电感测试仪器均包括两根测试线，其中一根测试线与一个探针连接，另一根测试线与跟所述探针位置对应的一个铜板连接。
本发明进一步设置为，所述第一压条的高度以及第二压条的高度均高于绝缘托盘的高度。
本发明进一步设置为，所述第一压条与第二压条的内壁均设有滚珠。
本发明进一步设置为，所述工作台设有用于驱动绝缘托盘在滑槽中滑动的驱动件。
本发明进一步设置为，所述驱动件包括设于滑槽中的推板以及设于工作台上的推动气缸；所述推动气缸的输出端与推板连接。
本发明进一步设置为，所述立板固定有驱动气缸；所述驱动气缸的输出端连接有滑动块；所述探针设于滑动块上。
本发明进一步设置为，所述第一压条与第二压条均设有螺孔；所述第一压条与第二压条均通过螺丝与工作台可拆卸连接。
本发明进一步设置为，所述探针与铜板的数量均为四个。
本发明进一步设置为，所述工作台的出料位向地面方向倾斜设置。
本发明进一步设置为，所述绝缘托盘为PET托盘，所述PET托盘由如下重量份数的原料制成：
其中，所述交联剂的制备方法为：将异佛尔酮二异氰酸酯和蓖麻油进行混合，然后升温至75-85℃，保温反应1.5-2.5h，然后降温至28-35℃后，加入2,2-二羟甲基丙酸，继续反应0.8-1.2h后，即得到所述交联剂，其中甲苯二异氰酸酯、蓖麻油和丙二酸二乙酯的摩尔比为3-5:2:2-3。
作为托盘，由于需要在滑槽内反复滑动，因而需要具有较低的摩擦系数，防止在滑动过程中托盘发生倾斜或者翻转，利于检测电感的进行。
PET具有良好的绝缘性、耐磨性和尺寸稳定性，本发明通过在PET中加入TPU弹性体，可以提高PET的韧性、抗冲击性和流动加工性，而在PET中加入玻璃纤维可以赋予托盘更高的刚性、机械强度、抗冲击强度和抗蠕变性。但PET极性较高，TPU弹性体和玻璃纤维不易分散于PET中，因而容易造成PET的表面缺陷以及耐磨性的降低，不利于托盘的在滑槽上的滑动。本发明通过加入特定的交联剂，改善PET和TPU弹性体的分子链结构，促使TPU弹性体和玻璃纤维在PET中的均匀分散，玻璃纤维不易裸露于PET的表面，因而PET托盘具有较低的摩擦系数，易于滑动，也具有较好的力学性能和绝缘性能。
其中，所述玻璃纤维的直径为10-20μm，长径比为15-20:1。优选特定直径和长径比的玻璃纤维，玻璃纤维在PET具有较好的分散性，对PET的力学性能提升较大。
其中，所述成核剂为滑石粉和/或二氧化硅。滑石粉和二氧化硅成本较低，并且在本发明的配方体系中可以具有较好的分散性，因而可以促进PET的均匀结晶，提高PET的光滑性和力学性能。进一步优选地，所述成核剂由粒径为10-30μm的二氧化硅和粒径为50-100μm的二氧化硅按重量比1-3:1的比例组成，PET托盘的力学性能更佳。
其中，所述润滑剂为硬酯酸钙、季戊四醇硬脂酸酯和/或乙撑双硬脂酰胺。润滑剂可以改善PET的加工流动性，利于各物料的均匀混合，提高托盘的光滑程度。进一步优选地，所述润滑剂由季戊四醇硬脂酸酯和乙撑双硬脂酰胺按重量比1-2:1-2的比例组成，制得的PET托盘摩擦系数较低。
其中，所述抗氧化剂由抗氧剂1010和抗氧剂168按重量比1:1的比例组成。
其中，本发明的PET托盘通过如下方法制得：按配方量称取各原料，混合后进行双螺杆挤出造粒，挤出温度为240-280℃，然后进行注塑成型，即得到所述的PET托盘。
本发明的有益效果：本发明在测试完一个频率的电感后可马上推送到另一个测试工位测试第二个频率的电感，从而实现快速测量非晶磁环的电感；另外通过设置第一压条以及第二压条，并将绝缘托盘设置在第一压条与第二压条之间，能够有效地防止绝缘托盘滑出滑槽。
附图说明
利用附图对发明作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本发明的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。
图1是本发明的结构示意图；
其中：1-底板；11-工作台；2-立板；31-第一压条；32-第二压条；33-滑槽；34-螺孔；4-绝缘托盘；5-铜板；6-探针；7-推板；81-驱动气缸；82-滑动块。
具体实施方式
结合以下实施例对本发明作进一步描述。
由图1可知；本实施例所述的一种快速测试非晶磁环的设备，包括测试装置以及多台电感测试仪器；其中，图中并未画出电感测试仪器；所述测试装置包括底板1以及与底板1连接的立板2；
所述底板1设有工作台11；所述工作台11设有第一压条31以及第二压条32；所述第一压条31与第二压条32之间形成有滑槽33；所述滑槽33上设有用于放置非晶磁环的绝缘托盘4；所述绝缘托盘4与滑槽33滑动连接；所述工作台11设有多个铜板5；多块铜板5均设于滑槽33的底部；
所述立板2上设有多条数量与铜板5相同的探针6；每台所述电感测试仪器均包括两根测试线，其中一根测试线与一个探针6连接，另一根测试线与跟所述探针6位置对应的一个铜板5连接。
具体地，本实施例所述的快速测试非晶磁环的设备，当一个非晶磁环需要测试四个频率下的电感，四个频率分别是1KHz，10KHz，50KHz和100KHz；将四个频率的电感测试仪器与相应的探针6、铜板5连接，频率为1KHz的电感测试仪器接于初始测试工位的探针6和铜板5，频率为10KHz的电感测试仪器、频率为50KHz的电感测试仪器以及频率为100KHz的电感测试仪器依次连接；非晶磁环跟随绝缘托盘4在滑槽33上依次经过四个探针6，从而实现快速测量非晶磁环的电感。另外，本实施例通过设置第一压条31以及第二压条32，并将绝缘托盘4设置在第一压条31与第二压条32之间，能够有效地防止绝缘托盘4滑出滑槽33。
本实施例所述的一种快速测试非晶磁环的设备，所述第一压条31的高度以及第二压条32的高度均高于绝缘托盘4的高度。上述设置能够进一步防止绝缘托盘4滑出滑槽33。
本实施例所述的一种快速测试非晶磁环的设备，所述第一压条31与第二压条32的内壁均设有滚珠。其中，图中并未画出滚珠，上述设置便于绝缘托盘4在滑槽33上滑动。
本实施例所述的一种快速测试非晶磁环的设备，所述工作台11设有用于驱动绝缘托盘4在滑槽33中滑动的驱动件。本实施例所述的一种快速测试非晶磁环的设备，所述驱动件包括设于滑槽33中的推板7以及设于工作台11上的推动气缸；所述推动气缸的输出端与推板7连接。通过上述设置，能够实现绝缘托盘4自动在滑槽33上滑动。
本实施例所述的一种快速测试非晶磁环的设备，所述立板2固定有驱动气缸81；所述驱动气缸81的输出端连接有滑动块82；所述探针6设于滑动块82上。通过上述设置，能够实现本实施例的设备自动测量非晶磁环的电感。
本实施例所述的一种快速测试非晶磁环的设备，所述第一压条31与第二压条32均设有螺孔34；所述第一压条31与第二压条32均通过螺丝与工作台11可拆卸连接。通过上述设置便于对第一压条31以及第二压条32进行更换和维修。
本实施例所述的一种快速测试非晶磁环的设备，所述探针6与铜板5的数量均为四个。
本实施例所述的一种快速测试非晶磁环的设备，所述工作台11的出料位向地面方向倾斜设置。上述设置便于非晶磁环的下料。
实施例2
本实施例与实施例1的区别在于：
所述绝缘托盘4为PET托盘，所述PET托盘由如下重量份数的原料制成：
其中，所述交联剂的制备方法为：将异佛尔酮二异氰酸酯和蓖麻油进行混合，然后升温至80℃，保温反应2h，然后降温至32℃后，加入2,2-二羟甲基丙酸，继续反应1h后，即得到所述交联剂，其中甲苯二异氰酸酯、蓖麻油和丙二酸二乙酯的摩尔比为4:2:2.5。
其中，所述玻璃纤维的直径为15μm，长径比为17:1。
其中，所述成核剂由粒径为20μm的二氧化硅和粒径为75μm的二氧化硅按重量比2:1的比例组成。
其中，所述润滑剂由季戊四醇硬脂酸酯和乙撑双硬脂酰胺按重量比1:1的比例组成。
其中，所述抗氧化剂由抗氧剂1010和抗氧剂168按重量比1:1的比例组成。
其中，本发明的PET托盘通过如下方法制得：按配方量称取各原料，混合后进行双螺杆挤出造粒，挤出温度为240-280℃，然后进行注塑成型，即得到所述的PET托盘。
实施例3
本实施例与实施例1的区别在于：
所述绝缘托盘4为PET托盘，所述PET托盘由如下重量份数的原料制成：
其中，所述交联剂的制备方法为：将异佛尔酮二异氰酸酯和蓖麻油进行混合，然后升温至75℃，保温反应2.5h，然后降温至28℃后，加入2,2-二羟甲基丙酸，继续反应1.2h后，即得到所述交联剂，其中甲苯二异氰酸酯、蓖麻油和丙二酸二乙酯的摩尔比为3:2:2。
其中，所述玻璃纤维的直径为10μm，长径比为20:1。
其中，所述成核剂由粒径为10μm的二氧化硅和粒径为50μm的二氧化硅按重量比1:1的比例组成。
其中，所述润滑剂由季戊四醇硬脂酸酯和乙撑双硬脂酰胺按重量比1:2的比例组成。
其中，所述抗氧化剂由抗氧剂1010和抗氧剂168按重量比1:1的比例组成。
其中，本发明的PET托盘通过如下方法制得：按配方量称取各原料，混合后进行双螺杆挤出造粒，挤出温度为240-280℃，然后进行注塑成型，即得到所述的PET托盘。
实施例4
本实施例与实施例1的区别在于：
所述绝缘托盘4为PET托盘，所述PET托盘由如下重量份数的原料制成：
其中，所述交联剂的制备方法为：将异佛尔酮二异氰酸酯和蓖麻油进行混合，然后升温至85℃，保温反应1.5h，然后降温至35℃后，加入2,2-二羟甲基丙酸，继续反应0.8h后，即得到所述交联剂，其中甲苯二异氰酸酯、蓖麻油和丙二酸二乙酯的摩尔比为5:2:3。
其中，所述玻璃纤维的直径为20μm，长径比为15:1。
其中，所述成核剂由粒径为30μm的二氧化硅和粒径为100μm的二氧化硅按重量比3:1的比例组成。
其中，所述润滑剂由季戊四醇硬脂酸酯和乙撑双硬脂酰胺按重量比2:1的比例组成。
其中，所述抗氧化剂由抗氧剂1010和抗氧剂168按重量比1:1的比例组成。
其中，本发明的PET托盘通过如下方法制得：按配方量称取各原料，混合后进行双螺杆挤出造粒，挤出温度为240-280℃，然后进行注塑成型，即得到所述的PET托盘。
实施例5
本实施例与实施例2的区别在于：
其中，所述润滑剂为硬酯酸钙。
对比例1
本对比例与实施例2的区别在于：
PET托盘的原料中不包括交联剂。
对PET托盘进行性能检测，检测结果如下：
从实施例1和对比例1的对比可知，交联剂的加入可以有效改善各物料的分散混合性能，因为具有较高的力学性能，PET托盘也具有光滑的表面，摩擦系数较低；从实施例1和实施例5的对比可知，润滑剂对PET托盘的摩擦系数有较大的影响，选择适当复配的润滑剂可以有效降低PET托盘的摩擦系数。
最后应当说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对本发明保护范围的限制，尽管参照较佳实施例对本发明作了详细地说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本发明技术方案的实质和范围。
Claims (9)
1.一种快速测试非晶磁环的设备，其特征在于：包括测试装置以及多台电感测试仪器；所述测试装置包括底板(1)以及与底板(1)连接的立板(2)；
所述底板(1)设有工作台(11)；所述工作台(11)设有第一压条(31)以及第二压条(32)；所述第一压条(31)与第二压条(32)之间形成有滑槽(33)；所述滑槽(33)上设有用于放置非晶磁环的绝缘托盘(4)；所述绝缘托盘(4)与滑槽(33)滑动连接；所述工作台(11)设有多个铜板(5)；多块铜板(5)均设于滑槽(33)的底部；
所述立板(2)上设有多条数量与铜板(5)相同的探针(6)；每台所述电感测试仪器均包括两根测试线，其中一根测试线与一个探针(6)连接，另一根测试线与跟所述探针(6)位置对应的一个铜板(5)连接。
2.根据权利要求1所述的一种快速测试非晶磁环的设备，其特征在于：所述第一压条(31)的高度以及第二压条(32)的高度均高于绝缘托盘(4)的高度。
3.根据权利要求1所述的一种快速测试非晶磁环的设备，其特征在于：所述第一压条(31)与第二压条(32)的内壁均设有滚珠。
4.根据权利要求1所述的一种快速测试非晶磁环的设备，其特征在于：所述工作台(11)设有用于驱动绝缘托盘(4)在滑槽(33)中滑动的驱动件。
5.根据权利要求4所述的一种快速测试非晶磁环的设备，其特征在于：所述驱动件包括设于滑槽(33)中的推板(7)以及设于工作台(11)上的推动气缸；所述推动气缸的输出端与推板(7)连接。
6.根据权利要求1所述的一种快速测试非晶磁环的设备，其特征在于：所述立板(2)固定有驱动气缸(81)；所述驱动气缸(81)的输出端连接有滑动块(82)；所述探针(6)设于滑动块(82)上。
7.根据权利要求1所述的一种快速测试非晶磁环的设备，其特征在于：所述第一压条(31)与第二压条(32)均设有螺孔(34)；所述第一压条(31)与第二压条(32)均通过螺丝与工作台(11)可拆卸连接。
8.根据权利要求1所述的一种快速测试非晶磁环的设备，其特征在于：所述探针(6)与铜板(5)的数量均为四个。
9.根据权利要求1所述的一种快速测试非晶磁环的设备，其特征在于：所述工作台(11)的出料位向地面方向倾斜设置。
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| US20100148813A1 (en) * | 2006-07-18 | 2010-06-17 | Multiprobe, Inc. | Apparatus and method for combined micro-scale and nano-scale c-v, q-v, and i-v testing of semiconductor materials |
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