CN109459632A - 一种电子元件移动测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种电子元件移动测试装置，本发明通过改进设备的部分结构，使其上的延迟回位机构受到电子元件的推动，能够对电源进行控制，使电源在延迟一段时间后进行通电，有效的防止了在通电的情况下，将电子元件插在检测槽上，导致接触不良而产生电火花，从而对设备造成损坏，同时温度检测组件能够在设备检测到损坏的电子元件的时，造成短路温度够过高而导致设备损坏之前，控制断电保护组件进行断电，保护检测槽的零件，其结构包括检测镜、焊接块、移动转盘、底座、转动衔接块、支撑柱、测试装置，检测镜位于焊接块的正上方，测试装置的底端与移动转盘的顶端相焊接，底座位于移动转盘的正下方，底座的顶端设有转动衔接块，并且二者活动连接。
Description
技术领域
本发明涉及电子测试设备领域，尤其是涉及到一种一种电子元件移动测试装置。
背景技术
电子元件移动测试装置是对电子元件功能进行检测的一种设备，通过对电子元件提供电源检测电子元件工作时的状态，为其出厂做好准备，但是现有设备在进行检测使用的时候，电子元件在插入检测槽进行通电检测的时候，如在未完全插好吻合或者未关闭连接电源的状态下进行通电，易造成连接处接触不良，从而产生高温电弧，会电子元件造成损坏，同时在检测的时候，如电子元件本身不符合，极易在通电检测的时候造成电子元件电压过高，温度骤升，而对检测连接处造成损坏。
发明内容
针对现有技术的不足，本发明是通过如下的技术方案来实现：一种电子元件移动测试装置，其结构包括检测镜、焊接块、移动转盘、底座、转动衔接块、支撑柱、测试装置，所述检测镜位于焊接块的正上方，所述测试装置的底端与移动转盘的顶端相焊接，所述底座位于移动转盘的正下方，所述底座的顶端设有转动衔接块，并且二者活动连接，所述支撑柱的底端与转动衔接块的顶端相焊接，所述焊接块的底端与支撑柱的顶端相焊接，所述测试装置包括延迟回位机构、受压组件、检测组件、温度检测组件、断电保护组件、转动机构、外壳，所述延迟回位机构的右端与受压组件的右端相焊接，所述检测组件位于转动机构的正上方，所述温度检测组件的嵌入安装在检测组件上，并且二者相焊接，所述断电保护组件的顶端与温度检测组件的底端相焊接，所述转动机构垂直嵌入在外壳底端的中部。
作为本技术方案的进一步优化，所述延迟回位机构包括推气机构、电源控制机构，所述推气机构的底端与电源控制机构的顶端活动连接，所述推气机构包括出气口、下压推板、推板连接杆、焊接块、弹簧、卡块、推气块，所述出气口设于推气块的左端，并且二者为一体化结构，所述下压推板的底端与推板连接杆的顶端相焊接，所述焊接块的顶端与推板连接杆的底端相焊接，所述弹簧环绕安装在推板连接杆上，并且二者活动连接，所述卡块的与推气块的内端相焊接。
作为本技术方案的进一步优化，所述电源控制机构包括转动连接块、固定块、平移轮、电阻连接块、电阻器、变阻钩、衔接杆，所述转动连接块的右端变阻钩的左端相焊接，所述固定块的顶端设有平移轮，并且二者活动连接，所述平移轮设于变阻钩的底端，并且二者活动连接，所述电阻连接块设于电阻器的左右两端，并且二者为一体化结构，所述衔接杆的右端嵌入安装在转动连接块的中部，并且二者铰链连接。
作为本技术方案的进一步优化，所述受压组件包括导向轮连接块、推气阀块、推气口、下压杆、缓冲弹簧、卡槽、水平杆、导向轮、L型固定架，所述L型固定架的水平部分顶端与导向轮连接块的底端相焊接，所述推气阀块位于L型固定架的正下方，所述推气口设于推气阀块的左端，并且二者为一体化结构，所述下压杆垂直嵌入在推气阀块的顶端中部，所述缓冲弹簧环绕安装在下压杆上，并且二者活动连接，所述卡槽设于水平杆的顶端，并且二者为一体化结构，所述导向轮水平嵌入在导向轮连接块的右端，并且二者活动连接。
作为本技术方案的进一步优化，所述检测组件包括连接杆、放置台、接电块、绝缘板，所述连接杆的底端与放置台的顶端相焊接，所述接电块设于放置台的中部底端，并且二者为一体化结构，所述绝缘板的顶端与放置台的底端相焊接。
作为本技术方案的进一步优化，所述温度检测组件包括水银存放槽、水平推板、触点板、连接模块、水平衔接杆，所述水平推板的右端与水平衔接杆的左端相焊接，所述触点板的右端与水平衔接杆的左端相焊接，所述连接模块位于触点板的左方，所述水平衔接杆水平嵌入在水银存放槽的右端中部，所述连接模块的底端与断电保护组件的顶端电连接。
作为本技术方案的进一步优化，所述断电保护组件包括导电触点、导电衔接杆、滑套、电磁块、吸附杆、电磁焊接块、电磁模块，所述导电触点设于导电衔接杆的左端，并且二者为一体化结构，所述导电衔接杆水平嵌入在滑套的中部，所述电磁块的左端与导电衔接杆的右端相焊接，所述吸附杆的右端与电磁模块的左端相焊接，所述电磁焊接块的左端与电磁模块的右端相焊接。
作为本技术方案的进一步优化，所述转动机构包括滚珠防护壳、中心轴滚珠、中心转轴、转轴衔接块，所述中心轴滚珠嵌入安装在滚珠防护壳内，所述中心转轴垂直嵌入在滚珠防护壳的顶端中部，所述转轴衔接块的底端与中心转轴的顶端相焊接。
有益效果
本发明一种电子元件移动测试装置，在进行使用设备的时候，通过将需要检测的电子元件插在测试装置上的检测组件上的放置台上的连接杆上进行连接，在放置的时候，会推动受压组件上的下压杆进行下移，从而使下压杆推动向下推动气体，将气体从推气阀块推动到推气块上，使推气块上的下压推板受到气体的推动向下移动，从而使其上的推板连接杆带动焊接块向下移动，推动衔接杆进行移动，从而使变阻钩向右移动，在变阻器上进行滑动，断开电源，此时推气块上的出气口会排出气体，从而使下压推板进行回位，带动衔接杆回位，从新接通电源，同时温度检测组件上的水银存放槽中的水银在设备短路温度过高的时候，会自动膨胀推动水平推板移动，使触点板与连接模块相接触，从而使电磁模块受到控制，使吸附杆对导电衔接杆进行吸附，从而断开电路。
基于现有技术而言，本发明通过改进设备的部分结构，使其上的延迟回位机构受到电子元件的推动，能够对电源进行控制，使电源在延迟一段时间后进行通电，有效的防止了在通电的情况下，将电子元件插在检测槽上，导致接触不良而产生电火花，从而对设备造成损坏，同时温度检测组件能够在设备检测到损坏的电子元件的时，造成短路温度够过高而导致设备损坏之前，控制断电保护组件进行断电，保护检测槽的零件。
附图说明
通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
图1为本发明一种电子元件移动测试装置的结构示意图。
图2为本发明测试装置运行前的横截面详细结构示意图。
图3为本发明测试装置运行后的横截面详细结构示意图。
图4为本发明延迟回位机构运行后的横截面详细结构示意图。
图5为本发明受压组件运行后的横截面详细结构示意图。
图6为本发明断电保护组件运行后横截面详细结构示意图。
图中：检测镜-1、焊接块-2、移动转盘-3、底座-4、转动衔接块-5、支撑柱-6、测试装置-7、延迟回位机构-71、受压组件-72、检测组件-73、温度检测组件-74、断电保护组件-75、转动机构-76、外壳-77、推气机构-711、电源控制机构-712、出气口-7111、下压推板-7112、推板连接杆-7113、焊接块-7114、弹簧-7115、卡块-7116、推气块-7117、转动连接块-7121、固定块-7122、平移轮-7123、电阻连接块-7124、电阻器-7125、变阻钩-7126、衔接杆-7127、导向轮连接块-721、推气阀块-722、推气口-723、下压杆-724、缓冲弹簧-725、卡槽-726、水平杆-727、导向轮-728、L型固定架-729、连接杆-731、放置台-732、接电块-733、绝缘板-734、水银存放槽-741、水平推板-742、触点板-743、连接模块-744、水平衔接杆-745、导电触点-751、导电衔接杆-752、滑套-753、电磁块-754、吸附杆-755、电磁焊接块-756、电磁模块-757、滚珠防护壳-761、中心轴滚珠-762、中心转轴-763、转轴衔接块-764。
具体实施方式
为使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式以及附图说明，进一步阐述本发明的优选实施方案。
实施例
请参阅图1-图6，本发明提供一种电子元件移动测试装置，其结构包括检测镜1、焊接块2、移动转盘3、底座4、转动衔接块5、支撑柱6、测试装置7，所述检测镜1位于焊接块2的正上方，所述测试装置7的底端与移动转盘3的顶端相焊接，所述底座4位于移动转盘3的正下方，所述底座4的顶端设有转动衔接块5，并且二者活动连接，所述支撑柱6的底端与转动衔接块5的顶端相焊接，所述焊接块2的底端与支撑柱6的顶端相焊接，所述测试装置7包括延迟回位机构71、受压组件72、检测组件73、温度检测组件74、断电保护组件75、转动机构76、外壳77，所述延迟回位机构71的右端与受压组件72的右端相焊接，所述检测组件73位于转动机构76的正上方，所述温度检测组件74的嵌入安装在检测组件73上，并且二者相焊接，所述断电保护组件75的顶端与温度检测组件74的底端相焊接，所述转动机构76垂直嵌入在外壳77底端的中部，所述延迟回位机构71包括推气机构711、电源控制机构712，所述推气机构711的底端与电源控制机构712的顶端活动连接，所述推气机构711包括出气口7111、下压推板7112、推板连接杆7113、焊接块7114、弹簧7115、卡块7116、推气块7117，所述出气口7111设于推气块7118的左端，并且二者为一体化结构，所述下压推板7112的底端与推板连接杆7113的顶端相焊接，所述焊接块7114的顶端与推板连接杆7113的底端相焊接，所述弹簧7115环绕安装在推板连接杆7113上，并且二者活动连接，所述卡块7116的与推气块7117的内端相焊接，所述电源控制机构712包括转动连接块7121、固定块7122、平移轮7123、电阻连接块7124、电阻器7125、变阻钩7126、衔接杆7127，所述转动连接块7121的右端变阻钩7126的左端相焊接，所述固定块7122的顶端设有平移轮7123，并且二者活动连接，所述平移轮7123设于变阻钩7126的底端，并且二者活动连接，所述电阻连接块7124设于电阻器7125的左右两端，并且二者为一体化结构，所述衔接杆7127的右端嵌入安装在转动连接块7121的中部，并且二者铰链连接，所述受压组件72包括L型固定架729、导向轮连接块721、推气阀块722、推气口723、下压杆724、缓冲弹簧725、卡槽726、水平杆727、导向轮728，所述L型固定架729的水平部分顶端与导向轮连接块721的底端相焊接，所述推气阀块722位于L型固定架729的正下方，所述推气口723设于推气阀块722的左端，并且二者为一体化结构，所述下压杆724垂直嵌入在推气阀块722的顶端中部，所述缓冲弹簧725环绕安装在下压杆724上，并且二者活动连接，所述卡槽726设于水平杆727的顶端，并且二者为一体化结构，所述导向轮728水平嵌入在导向轮连接块721的右端，并且二者活动连接，所述检测组件73包括连接杆731、放置台732、接电块733、绝缘板734，所述连接杆731的底端与放置台732的顶端相焊接，所述接电块733设于放置台732的中部底端，并且二者为一体化结构，所述绝缘板734的顶端与放置台732的底端相焊接，所述温度检测组件74包括水银存放槽741、水平推板742、触点板743、连接模块744、水平衔接杆745，所述水平推板742的右端与水平衔接杆745的左端相焊接，所述触点板743的右端与水平衔接杆745的左端相焊接，所述连接模块744位于触点板743的左方，所述水平衔接杆745水平嵌入在水银存放槽741的右端中部，所述连接模块744的底端与断电保护组件75的顶端电连接，所述断电保护组件75包括导电触点751、导电衔接杆752、滑套753、电磁块754、吸附杆755、电磁焊接块756、电磁模块757，所述导电触点751设于导电衔接杆752的左端，并且二者为一体化结构，所述导电衔接杆752水平嵌入在滑套753的中部，所述电磁块754的左端与导电衔接杆752的右端相焊接，所述吸附杆755的右端与电磁模块757的左端相焊接，所述电磁焊接块756的左端与电磁模块757的右端相焊接，所述转动机构76包括滚珠防护壳761、中心轴滚珠762、中心转轴763、转轴衔接块764，所述中心轴滚珠762嵌入安装在滚珠防护壳761内，所述中心转轴763垂直嵌入在滚珠防护壳761的顶端中部，所述转轴衔接块764的底端与中心转轴763的顶端相焊接。
本发明的原理：在进行使用设备的时候，通过将需要检测的电子元件插在测试装置7上的检测组件73上的放置台732上的连接杆731上进行连接，在放置的时候，会推动受压组件72上的下压杆724进行下移，从而使下压杆724推动向下推动气体，将气体从推气阀块722推动到推气块7117上，使推气块7117上的下压推板7112受到气体的推动向下移动，从而使其上的推板连接杆7113带动焊接块7114向下移动，推动衔接杆7117进行移动，从而使变阻钩7126向右移动，在变阻器7125上进行滑动，断开电源，此时推气块7117上的出气口7111会排出气体，从而使下压推板7112进行回位，带动衔接杆7127回位，从新接通电源，同时温度检测组件74上的水银存放槽741中的水银在设备短路温度过高的时候，会自动膨胀推动水平推板742移动，使触点板743与连接模块744相接触，从而使电磁模块757受到控制，使吸附杆755对导电衔接杆752进行吸附，从而断开电路。
本发明解决的问题是缺点问题，本发明通过上述部件的互相组合，本发明通过改进设备的部分结构，使其上的延迟回位机构受到电子元件的推动，能够对电源进行控制，使电源在延迟一段时间后进行通电，有效的防止了在通电的情况下，将电子元件插在检测槽上，导致接触不良而产生电火花，从而对设备造成损坏，同时温度检测组件能够在设备检测到损坏的电子元件的时，造成短路温度够过高而导致设备损坏之前，控制断电保护组件进行断电，保护检测槽的零件。
以上显示和描述了本发明的基本原理、主要特征和本发明的优点，本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神或基本特征的前提下，不仅能够以其他的具体形式实现本发明，还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本发明范围，因此本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等同物界定，而不是上述说明限定。
此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。
Claims (8)
1.一种电子元件移动测试装置，其结构包括检测镜(1)、焊接块(2)、移动转盘(3)、底座(4)、转动衔接块(5)、支撑柱(6)、测试装置(7)，所述检测镜(1)位于焊接块(2)的正上方，所述测试装置(7)的底端与移动转盘(3)的顶端相焊接，所述底座(4)位于移动转盘(3)的正下方，所述底座(4)的顶端设有转动衔接块(5)，并且二者活动连接，所述支撑柱(6)的底端与转动衔接块(5)的顶端相焊接，所述焊接块(2)的底端与支撑柱(6)的顶端相焊接，其特征在于:
所述测试装置(7)包括延迟回位机构(71)、受压组件(72)、检测组件(73)、温度检测组件(74)、断电保护组件(75)、转动机构(76)、外壳(77)，所述延迟回位机构(71)的右端与受压组件(72)的右端相焊接，所述检测组件(73)位于转动机构(76)的正上方，所述温度检测组件(74)的嵌入安装在检测组件(73)上，并且二者相焊接，所述断电保护组件(75)的顶端与温度检测组件(74)的底端相焊接，所述转动机构(76)垂直嵌入在外壳(77)底端的中部。
2.根据权利要求1所述的一种电子元件移动测试装置，其特征在于：所述延迟回位机构(71)包括推气机构(711)、电源控制机构(712)，所述推气机构(711)的底端与电源控制机构(712)的顶端活动连接，所述推气机构(711)包括出气口(7111)、下压推板(7112)、推板连接杆(7113)、焊接块(7114)、弹簧(7115)、卡块(7116)、推气块(7117)，所述出气口(7111)设于推气块(7118)的左端，并且二者为一体化结构，所述下压推板(7112)的底端与推板连接杆(7113)的顶端相焊接，所述焊接块(7114)的顶端与推板连接杆(7113)的底端相焊接，所述弹簧(7115)环绕安装在推板连接杆(7113)上，并且二者活动连接，所述卡块(7116)的与推气块(7117)的内端相焊接。
3.根据权利要求2所述的一种电子元件移动测试装置，其特征在于：所述电源控制机构(712)包括转动连接块(7121)、固定块(7122)、平移轮(7123)、电阻连接块(7124)、电阻器(7125)、变阻钩(7126)、衔接杆(7127)，所述转动连接块(7121)的右端变阻钩(7126)的左端相焊接，所述固定块(7122)的顶端设有平移轮(7123)，并且二者活动连接，所述平移轮(7123)设于变阻钩(7126)的底端，并且二者活动连接，所述电阻连接块(7124)设于电阻器(7125)的左右两端，并且二者为一体化结构，所述衔接杆(7127)的右端嵌入安装在转动连接块(7121)的中部，并且二者铰链连接。
4.根据权利要求1所述的一种电子元件移动测试装置，其特征在于：所述受压组件(72)包括导向轮连接块(721)、推气阀块(722)、推气口(723)、下压杆(724)、缓冲弹簧(725)、卡槽(726)、水平杆(727)、导向轮(728)、L型固定架(729)，所述L型固定架(729)的水平部分顶端与导向轮连接块(721)的底端相焊接，所述推气阀块(722)位于L型固定架(729)的正下方，所述推气口(723)设于推气阀块(722)的左端，并且二者为一体化结构，所述下压杆(724)垂直嵌入在推气阀块(722)的顶端中部，所述缓冲弹簧(725)环绕安装在下压杆(724)上，并且二者活动连接，所述卡槽(726)设于水平杆(727)的顶端，并且二者为一体化结构，所述导向轮(728)水平嵌入在导向轮连接块(721)的右端，并且二者活动连接。
5.根据权利要求1所述的一种电子元件移动测试装置，其特征在于：所述检测组件(73)包括连接杆(731)、放置台(732)、接电块(733)、绝缘板(734)，所述连接杆(731)的底端与放置台(732)的顶端相焊接，所述接电块(733)设于放置台(732)的中部底端，并且二者为一体化结构，所述绝缘板(734)的顶端与放置台(732)的底端相焊接。
6.根据权利要求1所述的一种电子元件移动测试装置，其特征在于：所述温度检测组件(74)包括水银存放槽(741)、水平推板(742)、触点板(743)、连接模块(744)、水平衔接杆(745)，所述水平推板(742)的右端与水平衔接杆(745)的左端相焊接，所述触点板(743)的右端与水平衔接杆(745)的左端相焊接，所述连接模块(744)位于触点板(743)的左方，所述水平衔接杆(745)水平嵌入在水银存放槽(741)的右端中部，所述连接模块(744)的底端与断电保护组件(75)的顶端电连接。
7.根据权利要求1或6所述的一种电子元件移动测试装置，其特征在于：所述断电保护组件(75)包括导电触点(751)、导电衔接杆(752)、滑套(753)、电磁块(754)、吸附杆(755)、电磁焊接块(756)、电磁模块(757)，所述导电触点(751)设于导电衔接杆(752)的左端，并且二者为一体化结构，所述导电衔接杆(752)水平嵌入在滑套(753)的中部，所述电磁块(754)的左端与导电衔接杆(752)的右端相焊接，所述吸附杆(755)的右端与电磁模块(757)的左端相焊接，所述电磁焊接块(756)的左端与电磁模块(757)的右端相焊接。
8.根据权利要求1所述的一种电子元件移动测试装置，其特征在于：所述转动机构(76)包括滚珠防护壳(761)、中心轴滚珠(762)、中心转轴(763)、转轴衔接块(764)，所述中心轴滚珠(762)嵌入安装在滚珠防护壳(761)内，所述中心转轴(763)垂直嵌入在滚珠防护壳(761)的顶端中部，所述转轴衔接块(764)的底端与中心转轴(763)的顶端相焊接。
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2018
- 2018-10-30 CN CN201811275041.6A patent/CN109459632B/zh active Active
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