CN109458949A - 一种物体表面形貌扫描重构设备 - Google Patents

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张宁
董浩浩
刘会霞
韩冠南
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    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures

Abstract

一种物体表面形貌点式扫描重构设备,包括底板,底板连接的横向导轨通过横向导轨伺服电机驱动,横向导轨伺服电机和PLC控制采集器连接,由PLC控制采集器控制横向导轨伺服电机带动横向导轨滑块沿着X轴运动;底板连接铝型材支架,铝型材支架上连接的纵向导轨由纵向导轨伺服电机驱动,纵向导轨伺服电机和PLC控制采集器连接,由PLC控制采集器控制纵向导轨伺服电机带动纵向导轨滑块沿着Y轴运动;纵向导轨滑块上固定的激光位移传感器,横向导轨伺服电机内置编码器、纵向导轨伺服电机内置编码器、激光位移传感器分别同时完成对待测物体表面X、Y、Z坐标的数据采集,本发明结构简单、扫描精度高、可扫描物体表面任意一点精确坐标。

Description

一种物体表面形貌扫描重构设备
技术领域
本发明属于表面形貌测量技术领域,具体涉及一种物体表面形貌扫描重构设备。
背景技术
物体表面形貌扫描测量应用广泛,可应用于测量分析物体表面粗糙度、波纹度、平面度等;可应用于物体表面探伤;可应用于产品表面质量的检测;等等。而具体的测量方法分为接触式测量方法和非接触式测量方法。接触式测量方法测量精度高技术成熟,但容易损伤测量物体表面,局限性很大。因此,非接触式测量方法的进一步探究是非常有必要的。
目前,非接触测量方法有扫描电子显微镜测量法、共焦显微测量法、离焦检测法、扫描白光干涉法、激光相移干涉法、变焦显微测量法等等。可这些设备结构复杂,价钱昂贵,操作较为困难,扫描测量耗时耗力,且有部分设备不能完成对物体表面形貌三维坐标数据的采集。
发明内容
为了克服上述现有技术的缺点,本发明的目的在于提供一种物体表面形貌扫描重构设备,结构简单、扫描精度高、可扫描物体表面任意一点精确坐标。
为了达到上述目的,本发明采取的技术方案为:
一种物体表面形貌点式扫描重构设备,包括底板10,底板10连接横向导轨9,横向导轨9通过横向导轨伺服电机12驱动,横向导轨伺服电机12固定在底板10上,横向导轨伺服电机12的控制端通过第二驱动器13和PLC控制采集器14连接,由PLC控制采集器14控制第二驱动器13间接控制横向导轨伺服电机12带动横向导轨滑块11沿着X轴运动;
底板10连接铝型材支架7,铝型材支架7之间由直角架6连接,铝型材支架7上连接有纵向导轨3,纵向导轨3由纵向导轨伺服电机4驱动,纵向导轨伺服电机4的控制端通过第一驱动器5和PLC控制采集器14连接,由PLC控制采集器14控制第一驱动器5间接控制纵向导轨伺服电机4带动纵向导轨滑块2沿着Y轴运动;
纵向导轨滑块2上固定有激光位移传感器1,激光位移传感器1实现对横向导轨滑块11上固定的待测物体表面形貌Z坐标的采集;PLC控制采集器14和PC机8连接,激光位移传感器1的信号输出端和控制采集器14连接,横向导轨伺服电机12内置编码器、纵向导轨伺服电机4内置编码器、激光位移传感器1分别同时完成对待测物体表面X、Y、Z坐标的数据采集。
所述的一种物体表面形貌点式扫描重构设备的扫描重构方法,包括以下步骤:
1)首先确保底板10水平,再将待测物体固定放置到横向导轨滑块11上,保证激光位移传感器1与横向导轨滑块11上固定的待测物体的距离在激光位移传感器1量程范围内;
2)启动电源,依据待测物体尺寸的大小,编写PLC控制程序,将程序导入PLC控制采集器14,控制纵向导轨伺服电机4带动纵向导轨3上的纵向导轨滑块2沿Y轴正负方向往复移动,同时控制横向导轨伺服电机12带动横向导轨9上的横向导轨滑块11沿着X轴方向正向移动;
3)由横向导轨伺服电机12内置编码器实时获取扫描点的X坐标,由纵向导轨伺服电机4内置编码器实时获取扫描点的Y坐标,激光位移传感器1非接触测量扫描点Z坐标,一起通过PLC控制采集器14将数据传输给PC机8完成三维坐标点数据采集存储;
4)先用编程软件对存储的三维坐标点数据进行处理,然后对处理后的三维坐标点数据进行模型重构。
本发明的有益效果:本发明设备结构简单,成本低,设计扫描重构法精度高,且能完成平面任意点三维坐标获取,表面形貌扫描重构效果好,整体扫描过程可在编写好程序的时候完成自动化扫描,节省人力。本发明设备具备以模块化的思想进行设计,模块间独立运行,减小了系统体积;对于贵重物体高精度表面形貌质量控制检测非常适用。
附图说明
图1是本发明实施例的结构示意图。
图2是激光位移传感器1的原理图。
图3是整体扫描方案的控制流程图。
具体实施方式
以下结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。
参照图1,一种物体表面形貌点式扫描重构设备,包括底板10,底板10连接横向导轨9,横向导轨9通过横向导轨伺服电机12驱动,横向导轨伺服电机12固定在底板10上,横向导轨伺服电机12的控制端通过第二驱动器13和PLC控制采集器14连接,由PLC控制采集器14控制第二驱动器13间接控制横向导轨伺服电机12带动横向导轨滑块11沿着X轴运动;
底板10连接铝型材支架7,铝型材支架7之间由直角架6连接,铝型材支架7上连接有纵向导轨3,纵向导轨3由纵向导轨伺服电机4驱动,纵向导轨伺服电机4的控制端通过第一驱动器5和PLC控制采集器14连接,由PLC控制采集器14控制第一驱动器5间接控制纵向导轨伺服电机4带动纵向导轨滑块2沿着Y轴运动;
纵向导轨滑块2上固定有激光位移传感器1,激光位移传感器1实现对横向导轨滑块11上固定的待测物体表面形貌Z坐标的采集;PLC控制采集器14和PC机8连接,激光位移传感器1的信号输出端和控制采集器14连接,横向导轨伺服电机12内置编码器、纵向导轨伺服电机4内置编码器、激光位移传感器1分别同时完成对待测物体表面X、Y、Z坐标的数据采集。
参照图2,所述的激光位移传感器1和纵向导轨滑块2连接,调节纵向导轨滑块2的大小就能保证被测物体处在激光位移传感器1量程范围内。其以直射式激光三角法原理,以90°将一束激光聚焦在待测物体表面,然后从另一角度对待测物体表面上的激光光斑进行成像,待测物体表面激光照射点的位置不同,所接受散射或反射光线的角度也不同,用CCD测出光斑像的位置,即可计算出激光照射点在待测表面的位置,当待测物体沿激光线方向发生移动时,测量结果将发生改变,从而实现用激光测量待测物体的位移。即激光位移传感器1的激光二极管1-2发出激光,把待测物体放置在量程起点1-5、量程中点1-6、量程终点1-7范围内,待测物体将反射激光依次过滤光镜1-4,镜片组1-3,感光片1-1,测出待测物体Z坐标数据。
参照图3,工作扫描前,先调平底板10:以底板10平面为基准,待测物体和激光位移传感器1和底板10平面保持相对水平;再归零:定义出三维坐标系,选定零点坐标位置;对纵向导轨伺服电机4、横向导轨伺服电机12设置参数;工作扫描时,X坐标先固定,扫描镜头开始沿着Y轴正方向运动;到达Y轴正向极限位置,Y坐标固定,待测物体沿着X轴正向移动amm,X坐标再次固定,扫描镜头开始沿着Y轴负方向运动;到达Y轴负向极限位置,Y坐标再次固定,待测物体沿着X轴正向移动amm,X坐标再次固定,扫描镜头开始沿着Y轴正方向运动…扫描采样点也为amm一个,如此循环,直到扫描完待测物体为止。
所述的一种物体表面形貌点式扫描重构设备的扫描重构方法,包括以下步骤:
1)首先确保底板10水平,再将待测物体固定放置到横向导轨滑块11上,然后依据激光位移传感器1量程范围,调节更换纵向导轨滑块2大小,保证激光位移传感器1与横向导轨滑块11上固定的待测物体的距离在激光位移传感器1量程范围内;
2)启动电源,依据待测物体尺寸的大小,编写PLC控制程序,将程序导入PLC控制采集器14,控制纵向导轨伺服电机4带动纵向导轨3上的纵向导轨滑块2沿Y轴正负方向往复移动,同时控制横向导轨伺服电机12带动横向导轨9上的横向导轨滑块11沿着X轴方向正向移动;
3)由横向导轨伺服电机12内置编码器实时获取扫描点的X坐标,由纵向导轨伺服电机4内置编码器实时获取扫描点的Y坐标,激光位移传感器1非接触测量扫描点Z坐标,一起通过PLC控制采集器14将数据传输给PC机8完成三维坐标点数据采集存储;
4)先用编程软件对存储的三维坐标点数据进行处理,然后对处理后的三维坐标点数据进行模型重构。

Claims (2)

1.一种物体表面形貌点式扫描重构设备,包括底板(10),其特征在于:底板(10)连接横向导轨(9),横向导轨(9)通过横向导轨伺服电机(12)驱动,横向导轨伺服电机(12)固定在底板(10)上,横向导轨伺服电机(12)的控制端通过第二驱动器(13)和PLC控制采集器(14)连接,由PLC控制采集器(14)控制第二驱动器(13)间接控制横向导轨伺服电机(12)带动横向导轨滑块(11)沿着X轴运动;
底板(10)连接铝型材支架(7),铝型材支架(7)之间由直角架(6)连接,铝型材支架(7)上连接有纵向导轨(3),纵向导轨(3)由纵向导轨伺服电机(4)驱动,纵向导轨伺服电机(4)的控制端通过第一驱动器(5)和PLC控制采集器(14)连接,由PLC控制采集器(14)控制第一驱动器(5)间接控制纵向导轨伺服电机(4)带动纵向导轨滑块(2)沿着Y轴运动;
纵向导轨滑块(2)上固定有激光位移传感器(1),激光位移传感器(1)实现对横向导轨滑块(11)上固定的待测物体表面形貌Z坐标的采集;PLC控制采集器(14)和PC机(8)连接,激光位移传感器(1)的信号输出端和控制采集器(14)连接,横向导轨伺服电机(12)内置编码器、纵向导轨伺服电机(4)内置编码器、激光位移传感器(1)分别同时完成对待测物体表面X、Y、Z坐标的数据采集。
2.根据权利要求1所述的一种物体表面形貌点式扫描重构设备的扫描重构方法,其特征在于,包括以下步骤:
1)首先确保底板(10)水平,再将待测物体固定放置到横向导轨滑块(11)上,保证激光位移传感器(1)与横向导轨滑块(11)上固定的待测物体的距离在激光位移传感器(1)量程范围内;
2)启动电源,依据待测物体尺寸的大小,编写PLC控制程序,将程序导入PLC控制采集器(14),控制纵向导轨伺服电机(4)带动纵向导轨(3)上的纵向导轨滑块(2)沿Y轴正负方向往复移动,同时控制横向导轨伺服电机(12)带动横向导轨(9)上的横向导轨滑块(11)沿着X轴方向正向移动;
3)由横向导轨伺服电机(12)内置编码器实时获取扫描点的X坐标,由纵向导轨伺服电机(4)内置编码器实时获取扫描点的Y坐标,激光位移传感器(1)非接触测量扫描点Z坐标,一起通过PLC控制采集器(14)将数据传输给PC机(8)完成三维坐标点数据采集存储;
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