CN109451302A

CN109451302A - 一种摄像模组测试方法、装置、电子设备及介质

Info

Publication number: CN109451302A
Application number: CN201811495800.XA
Authority: CN
Inventors: 张振超
Original assignee: Kunshan Q Technology Co Ltd
Current assignee: Kunshan Q Technology Co Ltd
Priority date: 2018-12-07
Filing date: 2018-12-07
Publication date: 2019-03-08

Abstract

本发明公开一种摄像模组测试方法、装置、电子设备及介质，该方法包括：根据所述摄像模组的畸变值，确定出理想像高与实际像高的计算关系；其中，所述实际像高为通过所述摄像模组实际拍摄的像高，所述理想像高为基于所述畸变值修正所述实际像高后获得的像高；根据所述计算关系对测试图中的像点进行位置修正，形成预畸变测试图；采用所述预畸变测试图进行所述摄像模组的参数测试。本发明提供的方法、装置、电子设备及介质用以解决现有技术中由于拍摄测试图获得的照片存在较大畸变，会导致测试结果读数不准确的技术问题，实现了提高测试结果准确度的技术效果。

Description

一种摄像模组测试方法、装置、电子设备及介质

技术领域

本发明涉及摄像模组技术领域，尤其涉及一种摄像模组测试方法、装置、电子设备及介质。

背景技术

在摄像模组出厂前往往需要进行解析度等参数测试，例如，空间频率响应SFR测试、调制传递函数MTF测试或对比度传递函数CTF测试等。而摄像模组成像往往存在畸变，尤其是大广角摄像模组，其存在的畸变较大，会导致周边视场变形严重。

在摄像模组存在畸变的情况下，以摄像模组拍摄的测试图(chart图)来进行测试，由于拍摄测试图所获得的图像本身存在较大畸变，会导致测试结果读数不准确。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的摄像模组测试方法、装置、电子设备及介质。

第一方面，提供一种摄像模组测试方法，包括：

根据所述摄像模组的畸变值，确定出理想像高与实际像高的计算关系；其中，所述实际像高为通过所述摄像模组实际拍摄的像高，所述理想像高为基于所述畸变值修正所述实际像高后获得的像高；

根据所述计算关系对测试图中的像点进行位置修正，形成预畸变测试图；

采用所述预畸变测试图进行所述摄像模组的参数测试。

可选的，所述根据所述摄像模组的畸变值，确定出理想像高与实际像高的计算关系，包括：根据所述摄像模组的畸变值和预设的实际像高数组，确定出所述实际像高数组对应的理想像高数组；对所述实际像高数组和所述理想像高数据进行拟合，确定出理想像高与实际像高的计算关系。

可选的，所述根据所述摄像模组的畸变值和预设的实际像高数组，确定出所述实际像高数组对应的理想像高数组，包括：根据所述摄像模组的畸变值和预设的实际像高数组，采用公式：畸变值＝(实际像高-理想像高)/理想像高，计算出所述实际像高数组对应的理想像高数组。

可选的，所述根据所述计算关系对测试图中的像点进行位置修正，形成预畸变测试图，包括：根据所述测试图中的像点的坐标和所述计算关系，计算出所述像点的理想坐标；修正所述像点至所述理想坐标对应的位置，形成预畸变测试图。

可选的，所述根据所述测试图中的像点的坐标和所述计算关系，计算出所述像点的理想坐标，包括：根据所述测试图中的像点的坐标，确定所述像点的实际像高；根据所述像点的实际像高和所述计算关系，计算出所述像点的理想像高；根据所述像点的理想像高和所述坐标，计算出所述像点的理想坐标。

可选的，在根据所述计算关系对测试图中的像点进行位置修正之前，还包括：将所述测试图的原始尺寸缩放为所述摄像模组的传感器芯片靶面的尺寸；在形成预畸变测试图之后，还包括：将所述预畸变测试图缩放为所述测试图的原始尺寸。

可选的，所述采用所述预畸变测试图进行所述摄像模组的参数测试，包括：采用所述预畸变测试图进行所述摄像模组的调制传递函数测试，或空间频率响应测试。

第二方面，提供一种摄像模组测试装置，包括：

确定模块，用于根据所述摄像模组的畸变值，确定出理想像高与实际像高的计算关系；其中，所述实际像高为通过所述摄像模组实际拍摄的像高，所述理想像高为基于所述畸变值修正所述实际像高后获得的像高；

修正模块，用于根据所述计算关系对测试图中的像点进行位置修正，形成预畸变测试图；

测试模块，用于采用所述预畸变测试图进行所述摄像模组的参数测试。

第三方面，提供一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现以下步骤：

采用所述预畸变测试图进行所述摄像模组的参数测试。

第四方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现以下步骤：

采用所述预畸变测试图进行所述摄像模组的参数测试。

本发明实施例中提供的技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

本发明实施例提供的摄像模组测试方法、装置、电子设备及介质，先根据摄像模组的畸变值，确定出理想像高与实际像高的计算关系，以能根据确定出的计算关系对测试图进行修正，在考虑了畸变量后，形成做了反畸变处理的预畸变测试图。再采用做了反畸变处理的预畸变测试图来进行摄像模组的参数测试，达到提高测试准确度的技术效果。

上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，而可依照说明书的内容予以实施，并且为了让本发明的上述和其它目的、特征和优点能够更明显易懂，以下特举本发明的具体实施方式。

附图说明

通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本发明的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：

图1为本发明实施例中摄像模组测试方法的流程图；

图2为现有的一种测试图的示意图；

图3为本发明实施例中预畸变测试图的示意图；

图4为本发明实施例中摄像模组测试装置的结构示意图；

图5为本发明实施例中电子设备的结构示意图；

图6为本发明实施例中存储介质的结构示意图。

具体实施方式

本发明实施例中的技术方案，总体思路如下：

本实施例先根据摄像模组的畸变值，确定出理想像高与实际像高的计算关系，再根据确定的计算关系对测试图中的像点进行位置修正，在考虑了畸变量后，采用反畸变处理形成预畸变测试图，通过考虑了畸变量后的预畸变测试图进行摄像模组的参数测试来减少测试误差，提高测试准确度。

下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。

实施例一

本实施例提供了一种摄像模组测试方法，请参考图1，图1为本发明实施例中摄像模组测试方法的流程图，包括：

步骤S101，根据所述摄像模组的畸变值，确定出理想像高与实际像高的计算关系；其中，所述实际像高为通过所述摄像模组实际拍摄的像高，所述理想像高为基于所述畸变值修正所述实际像高后获得的像高；

步骤S102，根据所述计算关系对测试图中的像点进行位置修正，形成预畸变测试图；

步骤S103，采用所述预畸变测试图进行所述摄像模组的参数测试。

需要说明的是，本实施例提供的测试方法可以用于摄像模组的各种参数测试，例如，SFR测试、MTF测试、CTF测试、清晰度测试或畸变测试等，在此不作限制。

下面，结合图1详细介绍本实施例提供的摄像模组测试方法的具体实施步骤：

步骤S101，根据摄像模组的畸变值，确定出理想像高与实际像高的计算关系。

在本申请实施例中，像高是指成像在传感器芯片上的成像点距传感器中心点之间的距离。实际像高是通过摄像模组实际拍摄实物测试图后，生成的成像点距传感器中心点的距离；理想像高是基于畸变值修正实际像高后获得的理想成像点距传感器中心点的距离。由于摄像模组镜头本身存在畸变，拍摄获得的实际像高往往相对于实物测试图存在形变，用理想像高修正实物测试图正是为了在拍摄实物测试图后获得与需要的实物测试图更接近的成像。

具体来讲，根据摄像模组的畸变值，确定出理想像高与实际像高的计算关系的方式可以有多种。下面列举两种为例：

第一种，按公式确定。

具体来讲，摄像模组出厂时，厂家往往会提供其镜头对应的畸变值，不同的摄像模组有其各自的畸变值。该畸变值与实际像高和理想像高的关系可以用公式表示为：畸变值＝(实际像高-理想像高)/理想像高。对上述公式进行数学变换即可获得理想像高与实际像高的计算关系：Y＝X/(a+1),其中，Y为理想像高，X为实际像高，a为畸变值。

第二种，拟合确定。

即预先设置一组实际像高数组，再根据摄像模组的畸变值处理预设的实际像高数组，确定出实际像高数组对应的理想像高数组。具体可以是根据公式：畸变值＝(实际像高-理想像高)/理想像高，来计算出实际像高数组中每个实际像高对应的理想像高，确定出理想像高数组。

理想像高数组中的数值与实际像高数组中数值一一对应。对实际像高数组和理想像高数组进行拟合，从而确定出理想像高与实际像高的计算关系。具体的拟合方式可以是根据理想像高数组和实际像高数组形成点图，点图中任一个点的坐标分别为，理想像高数组中的一个理想像高数值和该理想像高数值对应的实际像高数组中的一实际像高数值。对该点图进行拟合，确定出理想像高与实际像高的多项式计算公式。举例来讲，确定出的计算公式可以为：

Y＝0.007*X⁶+0.0184*X⁵+0.0628*X³+0.0322*X²+1.0051*X+e^-5

其中，Y为理想像高，X为实际像高。

具体来讲，采用拟合的方式来确定理想像高与实际像高的计算关系，由于引入了实际像高数组作为拟合基础数据，更接近实际的成像情况，确定出的计算公式能更准确的表征理想像高与实际像高的计算关系。

步骤S102，根据所述计算关系对测试图中的像点进行位置修正，形成预畸变测试图。

具体来讲，测试图为用于测试摄像模组的实物测试图，摄像模组以测试图为拍摄对象，拍摄获取的图用于测试摄像模组参数。该测试图可以为点状图、线条图或曲线图等，该测试图可以显示在纸张上、屏幕上或投影显示在投影底板上，在此均不作限制。举例来讲，摄像模组拍摄图2所示的现有的一种测试图，由于摄像模组的镜头存在畸变，故获得的照片图相对于图2所示的实物测试图存在较大的形变。本步骤根据确定的计算关系对现有的如图2所示的测试图进行修正，获得图3所示的预畸变测试图，即获得考虑了畸变量的预畸变测试图，以使摄像模组拍摄图3所示的预畸变测试图，能获得没有畸变的测试图的照片，提高后续测试的准确度。本步骤中，根据所述计算关系对测试图中的像点进行位置修正，其中的像点具体是指组成测试图的图案的点，所有的像点构成测试图的图案。简单地说，本步骤相当于是将实际的测试图看作经摄像模组所拍摄的测试图的成像图，根据该成像图和上述步骤确定的计算关系，反推成像前的实际测试图。

在具体实施过程中，鉴于像高是指成像在传感器芯片上的成像点距传感器中心点之间的距离，计算关系也是基于在传感器芯片上的成像确定的，故在根据计算关系对测试图中的像点进行位置修正之前，还需要先将测试图的原始尺寸缩放为摄像模组的传感器芯片靶面的尺寸，然后再对测试图中的像点进行位置修正，此时，这里像点具体是指将测试图的原始尺寸缩放到传感器芯片靶面的尺寸后，组成缩放后的测试图图案的点。进一步，在形成预畸变测试图之后，还可以将预畸变测试图放大回测试图的原始尺寸，以便于后续测试。

在本申请实施例中，根据计算关系对测试图中的像点进行位置修正的方式可以有多种，下面列举两种为例：

第一种，基于坐标修正。

即先根据测试图中的各像点的坐标和计算关系，计算出各像点的理想坐标；再修正各像点至理想坐标对应的位置，形成预畸变测试图。

具体来讲，先根据测试图中的像点的坐标，确定该像点的实际像高，再根据像点的实际像高和确定的计算关系，计算出像点的理想像高，然后根据像点的理想像高，计算出像点的理想坐标。再将像点移至理想坐标所在的位置显示。这样对测试图中的每个像点进行修正后即形成了预畸变测试图。

例如，以测试图中心为原点，测试图中的像点的坐标为(x,y)，该像点的实际像高按照之前确定的计算关系和实际像高X，计算出理想像高Y，假设理想坐标为(x’，y’)，则理想像高

鉴于，摄像模组镜头的畸变往往是从中心向外产生的，即实际像点与理想像点相对于图像中心的方向没有变化，变化的只是像高，故根据相似三角形原理，可以计算出x’和y’，即确定理想坐标为(x’，y’)。

第二种，基于像高修正。

即鉴于，摄像模组镜头的畸变往往是从中心向外产生的，即实际像点与理想像点相对于图像中心的方向没有变化，变化的只是像高。故对测试图中的像点进行位置修正可以是：先计算像点的实际像高，再根据像点的实际像高和确定的计算关系，计算出像点的理想像高。然后，保持测试图中的像点相对于图像中心的方向不改变，移动像点至其像高为理想像高的位置。这样对测试图中的每个像点进行位置修正后即形成了预畸变测试图。

还需要说明的是，在本申请实施例中，可以是对测试图中的所有像点均进行位置修正，也可以是抽取部分像点进行修正，其他未抽取的像点按照抽取的像点进行适应性位置调节即可，在此不作限制。

步骤S103，采用预畸变测试图进行摄像模组的参数测试。

具体来讲，可以是采用预畸变测试图进行摄像模组的SFR测试、MTF测试、CTF测试、清晰度测试或畸变测试等，以避免直接采用测试图进行测试，测试图的畸变对测试结果产生干扰。通过采用考虑了畸变量，变作了反畸变处理的预畸变测试图来进行测试，拍摄预畸变测试图获取的图像更接近理想测试图，从而实现提高测试准确度。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了实施例一中方法对应的装置，见实施例二。

实施例二

如图4所示，提供一种摄像模组测试装置，包括：

确定模块401，用于根据所述摄像模组的畸变值，确定出理想像高与实际像高的计算关系；其中，所述实际像高为通过所述摄像模组实际拍摄的像高，所述理想像高为基于所述畸变值修正所述实际像高后获得的像高；

修正模块402，用于根据所述计算关系对测试图中的像点进行位置修正，形成预畸变测试图；

测试模块403，用于采用所述预畸变测试图进行所述摄像模组的参数测试。

在本申请实施例中，该摄像模组测试装置可以是计算机、专用的测试仪或集成到产线上的测试装置，在此不作限制。

由于本发明实施例二所介绍的装置，为实施本发明实施例一的方法所采用的装置，故而基于本发明实施例一所介绍的方法，本领域所属人员能够了解该装置的具体结构及变形，故而在此不再赘述。凡是本发明实施例一的方法所采用的装置都属于本发明所欲保护的范围。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了实施例一中方法对应的电子设备，见实施例三。

实施例三

如图5所示，本实施例提供一种电子设备，包括存储器510、处理器520及存储在存储器510上并可在处理器520上运行的计算机程序511，所述处理器520执行所述计算机程序511时实现以下步骤：

采用所述预畸变测试图进行所述摄像模组的参数测试。

在本发明实施例中，所述处理器520执行所述计算机程序511时可以实现本发明实施例一中任一实施方式。

由于本发明实施例三所介绍的电子设备，为实施本发明实施例一的方法所采用的设备，故而基于本发明实施例一所介绍的方法，本领域所属人员能够了解该设备的具体结构及变形，故而在此不再赘述。凡是本发明实施例一的方法所采用的设备都属于本发明所欲保护的范围。

基于同一发明构思，本发明实施例还提供了实施例一中方法对应的存储介质，见实施例四。

实施例四

本实施例提供一种计算机可读存储介质600，如图6所示，其上存储有计算机程序611，其特征在于，该计算机程序611被处理器执行时实现以下步骤：

采用所述预畸变测试图进行所述摄像模组的参数测试。

在具体实施过程中，该计算机程序611被处理器执行时，可以实现本发明实施例一中任一实施方式。

在此提供的算法和显示不与任何特定计算机、虚拟系统或者其它设备固有相关。各种通用系统也可以与基于在此的示教一起使用。根据上面的描述，构造这类系统所要求的结构是显而易见的。此外，本发明也不针对任何特定编程语言。应当明白，可以利用各种编程语言实现在此描述的本发明的内容，并且上面对特定语言所做的描述是为了披露本发明的最佳实施方式。

在此处所提供的说明书中，说明了大量具体细节。然而，能够理解，本发明的实施例可以在没有这些具体细节的情况下实践。在一些实例中，并未详细示出公知的方法、结构和技术，以便不模糊对本说明书的理解。

类似地，应当理解，为了精简本公开并帮助理解各个发明方面中的一个或多个，在上面对本发明的示例性实施例的描述中，本发明的各个特征有时被一起分组到单个实施例、图、或者对其的描述中。然而，并不应将该公开的方法解释成反映如下意图：即所要求保护的本发明要求比在每个权利要求中所明确记载的特征更多的特征。更确切地说，如下面的权利要求书所反映的那样，发明方面在于少于前面公开的单个实施例的所有特征。因此，遵循具体实施方式的权利要求书由此明确地并入该具体实施方式，其中每个权利要求本身都作为本发明的单独实施例。

本领域那些技术人员可以理解，可以对实施例中的设备中的模块进行自适应性地改变并且把它们设置在与该实施例不同的一个或多个设备中。可以把实施例中的模块或单元或组件组合成一个模块或单元或组件，以及此外可以把它们分成多个子模块或子单元或子组件。除了这样的特征和/或过程或者单元中的至少一些是相互排斥之外，可以采用任何组合对本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的所有特征以及如此公开的任何方法或者设备的所有过程或单元进行组合。除非另外明确陈述，本说明书(包括伴随的权利要求、摘要和附图)中公开的每个特征可以由提供相同、等同或相似目的的替代特征来代替。

此外，本领域的技术人员能够理解，尽管在此的一些实施例包括其它实施例中所包括的某些特征而不是其它特征，但是不同实施例的特征的组合意味着处于本发明的范围之内并且形成不同的实施例。例如，在下面的权利要求书中，所要求保护的实施例的任意之一都可以以任意的组合方式来使用。

本发明的各个部件实施例可以以硬件实现，或者以在一个或者多个处理器上运行的软件模块实现，或者以它们的组合实现。本领域的技术人员应当理解，可以在实践中使用微处理器或者数字信号处理器(DSP)来实现根据本发明实施例的网关、代理服务器、系统中的一些或者全部部件的一些或者全部功能。本发明还可以实现为用于执行这里所描述的方法的一部分或者全部的设备或者装置程序(例如，计算机程序和计算机程序产品)。这样的实现本发明的程序可以存储在计算机可读介质上，或者可以具有一个或者多个信号的形式。这样的信号可以从因特网网站上下载得到，或者在载体信号上提供，或者以任何其他形式提供。

应该注意的是上述实施例对本发明进行说明而不是对本发明进行限制，并且本领域技术人员在不脱离所附权利要求的范围的情况下可设计出替换实施例。在权利要求中，不应将位于括号之间的任何参考符号构造成对权利要求的限制。单词“包含”不排除存在未列在权利要求中的部件或步骤。位于部件之前的单词“一”或“一个”不排除存在多个这样的部件。本发明可以借助于包括有若干不同部件的硬件以及借助于适当编程的计算机来实现。在列举了若干装置的单元权利要求中，这些装置中的若干个可以是通过同一个硬件项来具体体现。单词第一、第二、以及第三等的使用不表示任何顺序。可将这些单词解释为名称。

Claims

1.一种摄像模组测试方法，其特征在于，包括：

采用所述预畸变测试图进行所述摄像模组的参数测试。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述摄像模组的畸变值，确定出理想像高与实际像高的计算关系，包括：

根据所述摄像模组的畸变值和预设的实际像高数组，确定出所述实际像高数组对应的理想像高数组；

对所述实际像高数组和所述理想像高数据进行拟合，确定出理想像高与实际像高的计算关系。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述摄像模组的畸变值和预设的实际像高数组，确定出所述实际像高数组对应的理想像高数组，包括：

根据所述摄像模组的畸变值和预设的实际像高数组，采用公式：畸变值＝(实际像高-理想像高)/理想像高，计算出所述实际像高数组对应的理想像高数组。

4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述计算关系对测试图中的像点进行位置修正，形成预畸变测试图，包括：

根据所述测试图中的像点的坐标和所述计算关系，计算出所述成像点的理想坐标；

修正所述像点至所述理想坐标对应的位置，形成预畸变测试图。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述测试图中的像点的坐标和所述计算关系，计算出所述像点的理想坐标，包括：

根据所述测试图中的像点的坐标，确定所述像点的实际像高；

根据所述像点的实际像高和所述计算关系，计算出所述像点的理想像高；

根据所述像点的理想像高，计算出所述像点的理想坐标。

6.如权利要求4所述的方法，其特征在于，

在根据所述计算关系对测试图中的像点进行位置修正之前，还包括：将所述测试图的原始尺寸缩放为所述摄像模组的传感器芯片靶面的尺寸；

在形成预畸变测试图之后，还包括：将所述预畸变测试图放大回所述测试图的原始尺寸。

7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采用所述预畸变测试图进行所述摄像模组的参数测试，包括：

采用所述预畸变测试图进行所述摄像模组的调制传递函数测试，或空间频率响应测试。

8.一种摄像模组测试装置，其特征在于，包括：

9.一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述程序时实现以下步骤：

采用所述预畸变测试图进行所述摄像模组的参数测试。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现以下步骤：

采用所述预畸变测试图进行所述摄像模组的参数测试。