CN109443165B - 一种快速测量异型台阶孔的装置及方法 - Google Patents

一种快速测量异型台阶孔的装置及方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种快速测量异型台阶孔的装置及方法,包括量块(10)和卡尺(20);量块(10)加工有与异型台阶孔(2)对应的扇形凹槽(12);量块(10)顶面为测量异型台阶孔小孔径的基准面C;卡尺(20)设有大孔径公差范围刻度(24)和小孔径公差范围刻度(26)卡脚(25)下方设有两级台阶,上台阶是检测异型台阶孔小孔径时的基准面A;下台阶是检测异型台阶孔大孔径时的基准面B。本发明可以快速精确的测量出产品是否满足生产装配要求,提高了测量精度,最大程度缩短了产品测量时间和产品装配周期;本发明具有结构简单,操作灵活方便的特点。

Description

一种快速测量异型台阶孔的装置及方法
技术领域
本发明涉及一种快速测量异型台阶孔的装置及方法,属于产品检验技术领域。
背景技术
在生产过程中,遇到一批产品上设有一种异型台阶孔,该异型台阶孔位于圆管一侧,异型台阶孔外侧为小孔径段,异型台阶孔内侧为大孔径段,在小孔径段设有三段扇形凸台。异型台阶孔内的扇形凸台在产品中起开关限位的作用,大直径孔与小直径孔的同轴度对密封起关键作用。因此对异型台阶孔的检验对产品质量尤为重要。
现有检测内孔的方法主要采用内卡尺,千分尺测量。但由于该异型台阶孔内部有扇形凸台,台阶孔外侧为小孔径,内侧为大孔径,现有的内卡尺,千分尺均无法满足此孔测量要求。
目前只有机床自身精度来保证加工异型台阶孔的加工误差,产品质量无法保证。
发明内容
本发明的目的在于提供一种快速测量异型台阶孔的装置及方法,以满足批量生产中对特殊异型台阶孔的检测要求,确保产品质量,从而克服现有技术的不足。
为实现上述目的,本发明采用如下技术方案:
本发明的一种快速测量异型台阶孔的装置,包括量块和卡尺;量块的形状为圆管状,量块的外圆加工有矩形环槽,矩形环槽下方加工有与异型台阶孔内扇形凸台形状对应的扇形凹槽,矩形环槽上方内圆面加工有沿圆周均布的矩形凹槽;量块顶面为测量异型台阶孔的基准面C;卡尺包括滑尺,滑尺与滑槽滑动连接;滑尺上设有刻度尺,滑槽上设有大孔径公差范围刻度和小孔径公差范围刻度;滑尺和滑槽一端均设有卡脚,滑尺和滑槽上卡脚对称外伸;卡脚下方设有两级台阶,上台阶是检测异型台阶孔小孔径时的基准面A;下台阶是检测异型台阶孔大孔径时的基准面B。
本发明的一种采用上述装置快速测量异型台阶孔的方法为,该方法采用自制的量块对扇形凸台的角度尺寸进行检测;检测时将量块上的扇形凹槽对准扇形凸台塞入异型台阶孔,能塞入则表示扇形凸台角度尺寸合格,无法塞入则表示扇形凸台的角度尺寸不合格。
前述方法中,采用自制的量块和卡尺对小孔径进行检测;检测时将量块上的扇形凹槽对准扇形凸台塞入异型台阶孔,并使量块上的矩形环槽侧面与扇形凸台端面抵紧;先收缩卡尺的卡脚穿过量块内孔,将卡尺的基准面A与量块的基准面C贴合,然后再向外扩张滑尺使卡尺的两卡脚与小孔径内壁接触,测得异型台阶孔的小孔径尺寸;再水平旋转卡尺获得小孔径的尺寸跳动量。
前述方法中,所述测量小孔径尺寸和尺寸跳动量时,观察刻度尺的0位在小孔径公差范围刻度内为合格;否则为不合格,不合格情况下,刻度尺的0位在小孔径公差范围刻度左侧时,读出测量值,便于工件返修,直至合格;刻度尺的0位在小孔径公差范围刻度右侧时直接报废。
前述方法中,采用自制的量块和卡尺对大孔径进行检测;检测时将量块上的扇形凹槽对准扇形凸台塞入异型台阶孔,并使量块上的矩形环槽侧面与扇形凸台端面抵紧;先收缩卡尺的卡脚穿过量块内孔,将卡尺的基准面B与量块的基准面C贴合,然后再向外扩张滑尺使卡尺的两卡脚与大孔径内壁接触,测得异型台阶孔的大孔径尺寸;再水平旋转卡尺获得大孔径的尺寸跳动量。
前述方法中,所述测量大孔径尺寸和尺寸跳动量时,观察刻度尺的0位在大孔径公差范围刻度内为合格;否则为不合格,不合格情况下,刻度尺的0位在大孔径公差范围刻度左侧时,读出测量值,便于工件返修,直至合格;刻度尺的0位在大孔径公差范围刻度右侧时直接报废。
由于采用了上述技术方案,本发明与现有技术相比,本发明可以快速精确的测量出产品是否满足生产装配要求,提高了测量精度,最大程度缩短了产品测量时间和产品装配周期,此外,本发明还具有结构简单、操作灵活方便等优点。
附图说明
图1是本发明待测量异型台阶孔外侧示意图;
图2是本发明待测量异型台阶孔内侧示意图;
图3是量块外侧示意图;
图4是量块内侧示意图;
图5是卡尺示意图;
图6是本发明的测量方法示意图。
图中标记为:1-圆管、2-异型台阶孔、3-扇形凸台、4-小孔径、5-大孔径、10-量块、11-矩形环槽、12-扇形凹槽、13-矩形凹槽、20-卡尺、21-滑尺、22-滑槽、23-刻度尺、24-大孔径公差范围刻度、25-卡脚、26-小孔径公差范围刻度。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。
本发明的一种快速测量异型台阶孔的装置,包括量块10和卡尺20;如图3和图4所示,量块10的形状为圆管状,量块10的外圆加工有矩形环槽11,矩形环槽11下方加工有与异型台阶孔2内扇形凸台3形状对应的扇形凹槽12,矩形环槽11上方内圆面加工有沿圆周均布的矩形凹槽13;量块10顶面为测量异型台阶孔的基准面C;卡尺20包括滑尺21,滑尺21与滑槽22滑动连接;滑尺21上设有刻度尺23,滑槽22上设有大孔径公差范围刻度24和小孔径公差范围刻度26;滑尺21和滑槽22一端均设有卡脚25,滑尺21和滑槽22上卡脚25对称外伸;卡脚25下方设有两级台阶,上台阶是检测异型台阶孔小孔径时的基准面A;下台阶是检测异型台阶孔大孔径时的基准面B。
本发明的一种采用上述装置快速测量异型台阶孔的方法为,参考如图6,该方法采用自制的量块10对扇形凸台3的角度尺寸进行检测;检测时将量块10上的扇形凹槽12对准扇形凸台3塞入异型台阶孔2,能塞入则表示扇形凸台3角度尺寸合格,无法塞入则表示扇形凸台3的角度尺寸不合格。自制的量块10和卡尺20对小孔径4进行检测;检测时将量块10上的扇形凹槽12对准扇形凸台3塞入异型台阶孔2,并使量块10上的矩形环槽11侧面与扇形凸台3端面抵紧;先收缩卡尺20的卡脚25穿过量块10内孔,将卡尺20的基准面A与量块10的基准面C贴合,然后再向外扩张滑尺21使卡尺20的两卡脚25与小孔径4内壁接触,测得异型台阶孔2的小孔径4尺寸;再水平旋转卡尺20获得小孔径4的尺寸跳动量。测量小孔径4尺寸和尺寸跳动量时,观察刻度尺23的0位在小孔径公差范围刻度26内为合格;否则为不合格,不合格情况下,刻度尺23的0位在小孔径公差范围刻度26左侧时,读出测量值,便于工件返修,直至合格;刻度尺23的0位在小孔径公差范围刻度26右侧时直接报废。
采用自制的量块10和卡尺20对大孔径5进行检测;如图6所示,检测时将量块10上的扇形凹槽12对准扇形凸台3塞入异型台阶孔2,并使量块10上的矩形环槽11侧面与扇形凸台3端面抵紧;先收缩卡尺20的卡脚25穿过量块10内孔,将卡尺20的基准面B与量块10的基准面C贴合,然后再向外扩张滑尺21使卡尺20的两卡脚25与大孔径5内壁接触,测得异型台阶孔2的大孔径5尺寸;再水平旋转卡尺20获得大孔径5的尺寸跳动量。测量大孔径5尺寸和尺寸跳动量时,观察刻度尺23的0位在大孔径公差范围刻度24内为合格;否则为不合格,不合格情况下,刻度尺23的0位在大孔径公差范围刻度24左侧时,读出测量值,便于工件返修,直至合格;刻度尺23的0位在大孔径公差范围刻度24右侧时直接报废。
实施例
本例待测异型台阶孔如图1和图2所示。图1是从圆管1外侧观察的示意图;图2是圆管外侧观察的示意图;由图1和图2可见。异型台阶孔位于圆管1一侧,异型台阶孔2外侧为小孔径4段,异型台阶孔2内侧为大孔径5段,在小孔径4段设有三段扇形凸台3。异型台阶孔2内的扇形凸台3在产品中起开关限位的作用,大孔径5与大孔径4的同轴度对密封起关键作用。因此对异型台阶孔的检验对产品质量尤为重要。现有检测内孔的方法主要采用内卡尺,千分尺测量。但由于该异型台阶孔内部有扇形凸台,台阶孔外侧为小孔径,内侧为大孔径,现有的内卡尺,千分尺均无法满足此孔测量要求。目前只有机床自身精度来保证加工异型台阶孔的加工误差,产品质量无法保证。本例提供的快速测量异型台阶孔的装置及方法可有效解决上述技术问题。
本例的装置如图6所示,由量块10、卡尺20组成。量块10一端面开有对称的矩形凹槽13,在卡尺20的卡脚25下方设有两级台阶,此两级台阶用于测量时在量块10上可以快速定位,便于精确测量。量块10放入异型台阶孔2内,用来测量扇形凸台3的位置尺寸。卡尺20置于量块10内, 卡尺20上的两级台阶,用于测量异型台阶孔2上的大小孔径尺寸,具体测量如下:一、将卡尺10的A基准面置于量块10的C基准面上,旋转卡尺20,若卡尺20零刻线在小孔径公差范围刻度26之间,则可快速判定小孔径4合格,如若不是,则为不合格,不合格情况下,卡尺20零刻线在小孔径公差范围刻度26左侧时,卡尺真实读出数值,便于工件返修,直至合格,在小孔径公差范围刻度26右侧时直接报废;二、将卡尺10的B基准面置于量块10的C基准面上,旋转卡尺20,若卡尺20零刻线在大孔径公差范围刻度24之间,则可快速判定大孔径5合格,如若不是,则为不合格,不合格情况下,卡尺20零刻线在大孔径公差范围刻度24左侧时,卡尺真实读出数值,便于工件返修,直至合格,在大孔径公差范围刻度24右侧时直接报废。
本发明的装置可以快速精确的测量出产品是否满足生产装配要求,很大程度提高产品测量时间,提高测量精度,提高产品装配周期,同时,把该装置操作简单,灵活。

Claims (3)

1.一种快速测量异型台阶孔的方法,其特征在于:采用量块(10)对扇形凸台(3)的角度尺寸进行检测;检测时将量块(10)上的扇形凹槽(12)对准扇形凸台(3)塞入异型台阶孔(2),能塞入则表示扇形凸台(3)角度尺寸合格,无法塞入则表示扇形凸台(3)的角度尺寸不合格;采用量块(10)和卡尺(20)对小孔径(4)进行检测,检测时将量块(10)上的扇形凹槽(12)对准扇形凸台(3)塞入异型台阶孔(2),并使量块(10)上的矩形环槽(11)侧面与扇形凸台(3)端面抵紧;先收缩卡尺(20)的卡脚(25)穿过量块(10)内孔,将卡尺(20)的基准面A与量块(10)的基准面C贴合,然后再向外扩张滑尺(21)使卡尺(20)的两卡脚(25)与小孔径(4)内壁接触,测得异型台阶孔(2)的小孔径(4)尺寸;再水平旋转卡尺(20)获得小孔径(4)的尺寸跳动量;采用量块(10)和卡尺(20)对大孔径(5)进行检测;检测时将量块(10)上的扇形凹槽(12)对准扇形凸台(3)塞入异型台阶孔(2),并使量块(10)上的矩形环槽(11)侧面与扇形凸台(3)端面抵紧;先收缩卡尺(20)的卡脚(25)穿过量块(10)内孔,将卡尺(20)的基准面B与量块(10)的基准面C贴合,然后再向外扩张滑尺(21)使卡尺(20)的两卡脚(25)与大孔径(5)内壁接触,测得异型台阶孔(2)的大孔径(5)尺寸;再水平旋转卡尺(20)获得大孔径(5)的尺寸跳动量;量块(10)的形状为圆管状,量块(10)的外圆加工有矩形环槽(11),矩形环槽(11)下方加工有与异型台阶孔(2)内扇形凸台(3)形状对应的扇形凹槽(12),矩形环槽(11)上方内圆面加工有沿圆周均布的矩形凹槽(13);量块(10)顶面为测量异型台阶孔的基准面C;卡尺(20)包括滑尺(21),滑尺(21)与滑槽(22)滑动连接;滑尺(21)上设有刻度尺(23),滑槽(22)上设有大孔径公差范围刻度(24)和小孔径公差范围刻度(26);滑尺(21)和滑槽(22)一端均设有卡脚(25),滑尺(21)和滑槽(22)上卡脚(25)对称外伸;卡脚(25)下方设有两级台阶,上台阶是检测异型台阶孔小孔径时的基准面A;下台阶是检测异型台阶孔大孔径时的基准面B。
2.根据权利要求1所述方法,其特征在于:所述测量小孔径(4)尺寸和尺寸跳动量时,观察刻度尺(23)的0位在小孔径公差范围刻度(26)内为合格;否则为不合格,不合格情况下,刻度尺(23)的0位在小孔径公差范围刻度(26)左侧时,读出测量值,便于工件返修,直至合格;刻度尺(23)的0位在小孔径公差范围刻度(26)右侧时直接报废。
3.根据权利要求1所述方法,其特征在于:所述测量大孔径(5)尺寸和尺寸跳动量时,观察刻度尺(23)的0位在大孔径公差范围刻度(24)内为合格;否则为不合格,不合格情况下,刻度尺(23)的0位在大孔径公差范围刻度(24)左侧时,读出测量值,便于工件返修,直至合格;刻度尺(23)的0位在大孔径公差范围刻度(24)右侧时直接报废。
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