CN109413412B - 灰卡性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

灰卡性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 Download PDF

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Abstract

本发明提出一种灰卡性能测试方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片；提取灰卡图片的预设参数对应的实际值；根据实际值对待测试灰卡进行性能测试。通过本发明能够保障对灰卡的性能进行精准测试的同时，降低灰卡性能测试的学习成本，提升灰卡性能测试的便捷性。

Description

灰卡性能测试方法、装置、电子设备及存储介质
技术领域
本发明涉及移动终端技术领域，尤其涉及一种灰卡性能测试方法、装置、电子设备及存储介质。
背景技术
灰卡是精确检测曝光量的基准，在一些应用场景下，针对移动终端闪光灯的校准，可以通过解析在闪光灯打开情况下拍摄的暗箱底部18％左右反射率的灰卡图片的参数值来实现的。即，所拍摄灰卡图片的参数值在一定范围内时，确定闪光灯的性能符合标准，但是，在实际的应用场景下，由于灰卡在使用过程中会逐渐老化导致反射率变化，进而可能会导致闪光灯校准的一致性变差。因此，有必要及时地检测灰卡的性能。
相关技术中，是采用测设仪测试灰卡性能。
这种方式下，测设仪的学习门槛较高，测试方法不够便捷，测试成本较高。
发明内容
本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。
为此，本发明的一个目的在于提出一种灰卡性能测试方法、装置、电子设备及存储介质，能够保障对灰卡的性能进行精准测试的同时，降低灰卡性能测试的学习成本，提升灰卡性能测试的便捷性。
为达到上述目的，本发明第一方面实施例提出的灰卡性能测试方法，包括：获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片；提取所述灰卡图片的预设参数对应的实际值；根据所述实际值对所述待测试灰卡进行性能测试。
本发明第一方面实施例提出的灰卡性能测试方法，通过获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片，提取灰卡图片的预设参数对应的实际值，以及根据实际值对待测试灰卡进行性能测试，由于是基于目标终端进行性能测试，能够保障对灰卡的性能进行精准测试的同时，降低灰卡性能测试的学习成本，提升灰卡性能测试的便捷性。
为达到上述目的，本发明第二方面实施例提出的灰卡性能测试装置，包括：获取模块，用于获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片；提取模块，用于提取所述灰卡图片的预设参数对应的实际值；测试模块，用于根据所述实际值对所述待测试灰卡进行性能测试。
本发明第二方面实施例提出的灰卡性能测试装置，通过获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片，提取灰卡图片的预设参数对应的实际值，以及根据实际值对待测试灰卡进行性能测试，由于是基于目标终端进行性能测试，能够保障对灰卡的性能进行精准测试的同时，降低灰卡性能测试的学习成本，提升灰卡性能测试的便捷性。
为达到上述目的，本申请第三方面还提出一种电子设备，该电子设备包括壳体、处理器、存储器、电路板和电源电路，其中，所述电路板安置在所述壳体围成的空间内部，所述处理器和所述存储器设置在所述电路板上；所述电源电路，用于为所述电子设备的各个电路或器件供电；所述存储器用于存储可执行程序代码；所述处理器通过读取所述存储器中存储的可执行程序代码来运行与所述可执行程序代码对应的程序，以用于执行：获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片；提取所述灰卡图片的预设参数对应的实际值；根据所述实际值对所述待测试灰卡进行性能测试。
本申请第三方面实施例提出的电子设备，通过获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片，提取灰卡图片的预设参数对应的实际值，以及根据实际值对待测试灰卡进行性能测试，由于是基于目标终端进行性能测试，能够保障对灰卡的性能进行精准测试的同时，降低灰卡性能测试的学习成本，提升灰卡性能测试的便捷性。
为达到上述目的，本申请第四方面实施例提出了一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由终端的处理器执行时，使得终端能够执行一种灰卡性能测试方法，所述方法包括：获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片；提取所述灰卡图片的预设参数对应的实际值；根据所述实际值对所述待测试灰卡进行性能测试。
本申请第四方面实施例提出的非临时性计算机可读存储介质，通过获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片，提取灰卡图片的预设参数对应的实际值，以及根据实际值对待测试灰卡进行性能测试，由于是基于目标终端进行性能测试，能够保障对灰卡的性能进行精准测试的同时，降低灰卡性能测试的学习成本，提升灰卡性能测试的便捷性。
本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
本发明上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1是本发明一实施例提出的灰卡性能测试方法的流程示意图；
图2是本发明另一实施例提出的灰卡性能测试方法的流程示意图；
图3是本发明一实施例提出的灰卡性能测试装置的结构示意图；
图4是本发明另一实施例提出的灰卡性能测试装置的结构示意图；
图5是本申请一个实施例提出的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。相反，本发明的实施例包括落入所附加权利要求书的精神和内涵范围内的所有变化、修改和等同物。
图1是本发明一实施例提出的灰卡性能测试方法的流程示意图。
本实施例以灰卡性能测试方法被配置为灰卡性能测试装置中来举例说明。
本实施例中灰卡性能测试方法可以被配置在灰卡性能测试装置中，灰卡性能测试装置可以设置在服务器中，或者也可以设置在电子设备中，本申请实施例对此不作限制。
本实施例以灰卡性能测试方法被配置在电子设备中为例。
需要说明的是，本申请实施例的执行主体，在硬件上可以例如为服务器或者电子设备中的中央处理器(Central Processing Unit，CPU)，在软件上可以例如为服务器或者电子设备中的相关的后台服务，对此不作限制。
灰卡是精确检测曝光量的基准，在一些应用场景下，针对移动终端闪光灯的校准，可以通过解析在闪光灯打开情况下拍摄的暗箱底部18％左右反射率的灰卡图片的参数值来实现的。即，所拍摄灰卡图片的参数值在一定范围内时，确定闪光灯的性能符合标准，但是，在实际的应用场景下，由于灰卡在使用过程中会逐渐老化导致反射率变化，进而可能会导致闪光灯校准的一致性变差。因此，有必要及时地检测灰卡的性能。
相关技术中，是采用测设仪测试灰卡性能。
这种方式下，测设仪的学习门槛较高，测试方法不够便捷，测试成本较高。
为了解决上述技术问题，本发明实施例提供一种灰卡性能测试方法，通过获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片，提取灰卡图片的预设参数对应的实际值，以及根据实际值对待测试灰卡进行性能测试，由于是基于目标终端进行性能测试，能够保障对灰卡的性能进行精准测试的同时，降低灰卡性能测试的学习成本，提升灰卡性能测试的便捷性。
参见图1，该方法包括：
S101：获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片。
其中，终端可以是智能手机、平板电脑、个人数字助理、电子书等具有各种操作系统的硬件设备。
其中，可以预先采用标准性能(18％左右反射率)的灰卡，对终端的闪光灯的亮度参数进行校准，该校准后的终端可以被称为目标终端。
其中，可以启动该目标终端的闪光灯，并获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的图片，该图片可以被称为灰卡图片。
本发明实施例在具体执行的过程中，目标终端为至少两个，在获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片之前，还包括：基于标准性能的灰卡，对至少两个的目标终端的闪光灯进行校准。
在目标终端为至少两个时，灰卡图片的数量与目标终端的数量相对应。
通过上述配置至少两个的目标终端，并基于标准性能的灰卡，对至少两个的目标终端的闪光灯进行校准，从技术角度实现基于目标终端进行性能测试，且基于多个目标终端进行测试，有效保障了测试的精准度。
S102：提取灰卡图片的预设参数对应的实际值。
可选地，预设参数为亮度参数。
本发明实施例在具体执行的过程中，可以采用相关图片解析技术，提取S101中所拍摄得到的各灰卡图片，基于亮度参数对应的实际值，而后触发S103。
S103：根据实际值对待测试灰卡进行性能测试。
可选地，一些实施例中，参见图2，在预设参数为亮度参数，S103，可以包括：
S201：判断各灰卡图片对应的亮度参数的实际值，是否满足预设条件。
其中的预设条件可以为测试用户根据实际测试需求进行设定，或者，也可以由灰卡性能测试装置的出厂程序预先设定，对此不作限制。
本发明实施例在具体执行的过程中，可以针对各目标终端拍摄得到的灰卡图片，确定其对应的亮度参数的实际值是否满足预设条件。
例如，可以针对各实际值，判断其是否在第一预设阈值范围内，其中的第一预设阈值范围指示了一个亮度阈值范围，该第一预设阈值范围可以为测试用户根据实际测试需求进行设定，或者，也可以由灰卡性能测试装置的出厂程序预先设定。
又例如，可以确定多个实际值对应的均值，判断该均值是否在第二预设阈值范围内，其中的第二预设阈值范围指示了另一个亮度阈值范围，该第二预设阈值范围可以为测试用户根据实际测试需求进行设定，或者，也可以由灰卡性能测试装置的出厂程序预先设定。
S202：根据是否满足预设条件的判定结果，对待测试灰卡进行性能测试。
本发明实施例在具体执行的过程中，可以在各实际值，均在第一预设阈值范围内，则确定待测试灰卡的性能满足测试指标；在各实际值中，任一实际值不在第一预设阈值范围内，则确定待测试灰卡的性能不满足测试指标。
通过上述，在各实际值中，任一实际值不在第一预设阈值范围内，则确定待测试灰卡的性能不满足测试指标，能够有效提升灰卡性能的测试精准度。
或者，也可以确定多个实际值对应的均值；在均值在第二预设阈值范围内时，则确定待测试灰卡的性能满足测试指标；在均值不在第二预设阈值范围内时，则确定待测试灰卡的性能不满足测试指标。
通过上述，确定多个实际值对应的均值；在均值在第二预设阈值范围内时，则确定待测试灰卡的性能满足测试指标；在均值不在第二预设阈值范围内时，则确定待测试灰卡的性能不满足测试指标，提供了另一种灰卡性能确定方式，提升方法应用的灵活性。
本实施例中，通过获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片，提取灰卡图片的预设参数对应的实际值，以及根据实际值对待测试灰卡进行性能测试，由于是基于目标终端进行性能测试，能够保障对灰卡的性能进行精准测试的同时，降低灰卡性能测试的学习成本，提升灰卡性能测试的便捷性。
图3是本发明一实施例提出的灰卡性能测试装置的结构示意图。
参见图3，该装置300包括：
获取模块301，用于获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片。
提取模块302，用于提取灰卡图片的预设参数对应的实际值。
测试模块303，用于根据实际值对待测试灰卡进行性能测试。
可选地，一些实施例中，目标终端为至少两个，参见图4，还包括：
校准模块304，用于基于标准性能的灰卡，对至少两个的目标终端的闪光灯进行校准。
可选地，一些实施例中，预设参数为亮度参数，参见图4，测试模块303，包括：
判断子模块3031，用于判断各灰卡图片对应的亮度参数的实际值，是否满足预设条件。
测试子模块3032，用于根据是否满足预设条件的判定结果，对待测试灰卡进行性能测试。
可选地，一些实施例中，测试子模块3032，具体用于：
在各实际值，均在第一预设阈值范围内，则确定待测试灰卡的性能满足测试指标；
在各实际值中，任一实际值不在第一预设阈值范围内，则确定待测试灰卡的性能不满足测试指标。
可选地，一些实施例中，测试子模块3032，具体用于：
确定多个实际值对应的均值；
在均值在第二预设阈值范围内时，则确定待测试灰卡的性能满足测试指标；
在均值不在第二预设阈值范围内时，则确定待测试灰卡的性能不满足测试指标。
需要说明的是，前述图1-图2实施例中对灰卡性能测试方法实施例的解释说明也适用于该实施例的灰卡性能测试装置300，其实现原理类似，此处不再赘述。
本实施例中，通过获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片，提取灰卡图片的预设参数对应的实际值，以及根据实际值对待测试灰卡进行性能测试，由于是基于目标终端进行性能测试，能够保障对灰卡的性能进行精准测试的同时，降低灰卡性能测试的学习成本，提升灰卡性能测试的便捷性。
图5是本申请一个实施例提出的电子设备的结构示意图。
参见图5，本实施例的电子设备50包括：壳体501、处理器502、存储器503、电路板504、电源电路505，电路板504安置在壳体501围成的空间内部，处理器502、存储器503设置在电路板504上；电源电路505，用于为电子设备50各个电路或器件供电；存储器503用于存储可执行程序代码；其中，处理器502通过读取存储器503中存储的可执行程序代码来运行与可执行程序代码对应的程序，以用于执行：
获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片；
提取灰卡图片的预设参数对应的实际值；
根据实际值对待测试灰卡进行性能测试。
需要说明的是，前述图1-图2实施例中对灰卡性能测试方法实施例的解释说明也适用于该实施例的电子设备50，其实现原理类似，此处不再赘述。
本实施例中，通过获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片，提取灰卡图片的预设参数对应的实际值，以及根据实际值对待测试灰卡进行性能测试，由于是基于目标终端进行性能测试，能够保障对灰卡的性能进行精准测试的同时，降低灰卡性能测试的学习成本，提升灰卡性能测试的便捷性。
为了实现上述实施例，本申请还提出一种非临时性计算机可读存储介质，当存储介质中的指令由终端的处理器执行时，使得终端能够执行一种灰卡性能测试方法，方法包括：
获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片；
提取灰卡图片的预设参数对应的实际值；
根据实际值对待测试灰卡进行性能测试。
本实施例中的非临时性计算机可读存储介质，通过获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片，提取灰卡图片的预设参数对应的实际值，以及根据实际值对待测试灰卡进行性能测试，由于是基于目标终端进行性能测试，能够保障对灰卡的性能进行精准测试的同时，降低灰卡性能测试的学习成本，提升灰卡性能测试的便捷性。
为了实现上述实施例，本申请还提出一种计算机程序产品，当计算机程序产品中的指令被处理器执行时，执行一种灰卡性能测试方法，方法包括：
获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片；
提取灰卡图片的预设参数对应的实际值；
根据实际值对待测试灰卡进行性能测试。
本实施例中的计算机程序产品，通过获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片，提取灰卡图片的预设参数对应的实际值，以及根据实际值对待测试灰卡进行性能测试，由于是基于目标终端进行性能测试，能够保障对灰卡的性能进行精准测试的同时，降低灰卡性能测试的学习成本，提升灰卡性能测试的便捷性。
需要说明的是，在本发明的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。
流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本发明的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本发明的实施例所属技术领域的技术人员所理解。
应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA)等。
本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。
此外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。所述集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。
上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (8)

1.一种灰卡性能测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片；
提取所述灰卡图片的预设参数对应的实际值；
根据所述实际值对所述待测试灰卡进行性能测试；
所述目标终端为至少两个，在所述获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片之前，还包括：
基于标准性能的灰卡，对至少两个的所述目标终端的闪光灯进行校准；
所述预设参数为亮度参数，所述根据所述实际值对所述待测试灰卡进行性能测试，包括：
判断各所述灰卡图片对应的亮度参数的实际值，是否满足预设条件；
根据是否满足所述预设条件的判定结果，对所述待测试灰卡进行性能测试。
2.如权利要求1所述的灰卡性能测试方法，其特征在于，所述根据是否满足所述预设条件的判定结果，对所述待测试灰卡进行性能测试，包括：
在各所述实际值，均在第一预设阈值范围内，则确定所述待测试灰卡的性能满足测试指标；
在各所述实际值中，任一实际值不在所述第一预设阈值范围内，则确定所述待测试灰卡的性能不满足所述测试指标。
3.如权利要求1所述的灰卡性能测试方法，其特征在于，所述根据是否满足所述预设条件的判定结果，对所述待测试灰卡进行性能测试，包括：
确定多个所述实际值对应的均值；
在所述均值在第二预设阈值范围内时，则确定所述待测试灰卡的性能满足测试指标；
在所述均值不在所述第二预设阈值范围内时，则确定所述待测试灰卡的性能不满足所述测试指标。
4.一种灰卡性能测试装置，其特征在于，包括：
获取模块，用于获取目标终端拍摄待测试灰卡得到的灰卡图片；
提取模块，用于提取所述灰卡图片的预设参数对应的实际值；
测试模块，用于根据所述实际值对所述待测试灰卡进行性能测试；
所述目标终端为至少两个，所述灰卡性能测试装置还包括：
校准模块，用于基于标准性能的灰卡，对至少两个的所述目标终端的闪光灯进行校准；
所述预设参数为亮度参数，所述测试模块包括：
判断子模块，用于判断各所述灰卡图片对应的亮度参数的实际值，是否满足预设条件；
测试子模块，用于根据是否满足所述预设条件的判定结果，对所述待测试灰卡进行性能测试。
5.如权利要求4所述的灰卡性能测试装置，其特征在于，所述测试子模块，具体用于：
在各所述实际值，均在第一预设阈值范围内，则确定所述待测试灰卡的性能满足测试指标；
在各所述实际值中，任一实际值不在所述第一预设阈值范围内，则确定所述待测试灰卡的性能不满足所述测试指标。
6.如权利要求4所述的灰卡性能测试装置，其特征在于，所述测试子模块，具体用于：
确定多个所述实际值对应的均值；
在所述均值在第二预设阈值范围内时，则确定所述待测试灰卡的性能满足测试指标；
在所述均值不在所述第二预设阈值范围内时，则确定所述待测试灰卡的性能不满足所述测试指标。
7.一种电子设备，包括壳体、处理器、存储器、电路板和电源电路，其中，所述电路板安置在所述壳体围成的空间内部，所述处理器和所述存储器设置在所述电路板上；所述电源电路，用于为所述电子设备供电；所述存储器用于存储可执行程序代码；所述处理器通过读取所述存储器中存储的可执行程序代码来运行与所述可执行程序代码对应的程序，以用于执行权利要求1-3中任一项所述的灰卡性能测试方法。
8.一种非临时性计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-3中任一项所述的灰卡性能测试方法。
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