CN109410808A - 显示装置及显示装置有载测试的方法 - Google Patents
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Abstract
本申请提供一种显示装置及显示装置有载测试的方法，通过时序控制器接收并执行内部集成电路总线控制器输出的眼图增大指令以对应输出眼图增大的驱动信号至驱动芯片，避免显示装置进行有载测试时由于驱动信号衰减严重而影响有载测试结果的判断，从而提高显示装置有载测试的准确性。
Description
技术领域
本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示装置及显示装置有载测试的方法。
背景技术
显示装置制成之后，需要判断打件厂烧录在印刷电路板(Printed Circuit BoardAssembly,PCBA)的闪存中的量产代码的准确性，量产代码包括印刷电路板上多种控制电路(时序控制电路、可编程伽玛校正缓冲电路以及数字电源管理集成电路等)运行所需要的数据信息。对量产代码进行判断时，需要使用跳线将测试设备输出的测试信号传输至印刷电路板上的控制电路以进行处理，而控制电路需要运行量产代码才能处于工作状态从而处理测试信号，处理后的测试信号传输至显示面板的驱动电路，驱动电路转化处理后的测试信号以点亮显示面板，通过显示装置的点屏结果判断量产代码的准确性，即通过有载测试的方法判断量产代码的准确性。
然而，显示装置的分辨率越来越高的同时，显示装置所需要的数据传输速率也越来越高，需要模拟实际应用以判断量产代码的准确性时，将测试信号传输至印刷电路板的控制电路时的数据传输速率也与实际应用的相同，当测试信号传输速率太高时，跳线阻抗大导致信号衰减严重，从而会导致传输至驱动电路的驱动信号出现严重衰减，使得有载测试无法顺利点亮画面，影响量产代码判断的准确性。
因此，有必要提出一种技术方案以解决有载测试时由于信号衰减而导致量产代码准确性判断受影响的问题。
发明内容
本申请的目的在于提供一种显示装置及显示装置有载测试的方法，以解决有载测试时由于信号衰减而导致量产代码准确性判断受影响的问题。
为实现上述目的，技术方案如下。
一种显示装置，所述显示装置包括时序控制器、闪存芯片、驱动芯片、内部集成电路总线控制器及显示面板，时序控制器分别与所述闪存芯片、所述驱动芯片以及所述内部集成电路总线控制器连接，所述显示面板与所述驱动芯片电连接，
所述内部集成电路总线控制器用于将眼图增大指令输出至所述时序控制器；
所述时序控制器用于从所述闪存芯片中读取所述时序控制器工作所需的量产代码并运行所述时序控制器工作所需的量产代码以处于工作状态，处于工作状态的所述时序控制器还用于接收并执行所述眼图增大指令以对应输出眼图增大的驱动信号至所述驱动芯片；
所述驱动芯片用于转化所述眼图增大的驱动信号以点亮所述显示面板。
在上述显示装置中，所述时序控制器包括：
眼图增大指令接收单元，用于接收所述眼图增大指令；
眼图增大指令执行单元，用于根据所述眼图增大指令修改所述时序控制器中眼图寄存器的代码以得增大眼图代码，并根据所述增大眼图代码处理输入所述时序控制器的测试信号以对应输出所述眼图增大的驱动信号，所述时序控制器工作所需的量产代码包括所述眼图寄存器的代码。
在上述显示装置中，所述内部集成电路总线控制器包括：
侦测单元，用于侦测高电平；
输出单元，用于所述侦测单元侦测到高电平后通过内部集成电路总线输出所述眼图增大指令。
在上述显示装置中，所述显示装置还包括电源模块，所述电源模块用于输出所述高电平至所述侦测单元。
在上述显示装置中，所述闪存芯片和所述时序控制器通过串行外围设备接口总线连接。
一种显示装置有载测试的方法，所述显示装置包括时序控制器、闪存芯片、驱动芯片、内部集成电路总线控制器及显示面板，所述时序控制器分别与所述闪存芯片、所述驱动芯片以及所述内部集成电路总线控制器连接，所述显示面板与所述驱动芯片电连接，所述显示装置有载测试的方法包括如下步骤：
在所述显示装置通电后通过跳线向所述时序控制器输入测试信号；
所述时序控制器从所述闪存芯片中读取所述时序控制器工作所需的量产代码并运行所述时序控制器工作所需的量产代码以处于工作状态；
处于工作状态的所述时序控制器接收并执行所述内部集成电路总线控制器输出的眼图增大指令以对应输出眼图增大的驱动信号至所述驱动芯片；
所述驱动芯片转化所述眼图增大的驱动信号以点亮所述显示面板。
在上述显示装置有载测试的方法中，所述处于工作状态的所述时序控制器接收并执行所述内部集成电路总线控制器输出的眼图增大指令以对应输出眼图增大的驱动信号包括如下步骤：
所述处于工作状态的时序控制器接收所述眼图增大指令；
所述时序控制器根据所述眼图增大指令修改所述时序控制器中眼图寄存器的代码以得到增大眼图代码；
所述时序控制器根据所述增大眼图代码处理所述测试信号以对应输出所述眼图增大的驱动信号；
其中，所述时序控制器工作所需的量产代码包括所述眼图寄存器的代码。
在上述显示装置有载测试的方法中，所述方法还包括如下步骤：所述内部集成电路总线控制器侦测到高电平后，通过内部集成电路总线将所述眼图增大指令输出至所述时序控制器。
在上述显示装置有载测试的方法中，所述显示装置还包括电源模块，所述电源模块将所述高电平输出至所述内部集成电路总线控制器。
在上述显示装置有载测试的方法中，所述闪存芯片和所述时序控制器通过串行外围设备接口总线连接。
有益效果：本申请提供一种显示装置及显示装置有载测试的方法，通过时序控制器接收并执行内部集成电路总线控制器输出的眼图增大指令以对应输出眼图增大的驱动信号至驱动芯片，避免显示装置进行有载测试时由于驱动信号衰减严重而影响有载测试结果的判断，从而提高显示装置有载测试的准确性。
附图说明
图1为本申请一实施例的显示装置；
图2为图1所示显示装置进行有载测试的流程示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
请参阅图1，其为本申请一实施例的显示装置10，显示装置10包括时序控制器11、闪存芯片12、驱动芯片14、内部集成电路总线控制器13及显示面板15，时序控制器11与闪存芯片12、驱动芯片14以及内部集成电路总线控制器(I2C-bus Control,Inter-IntegratedCircuit Bus Control)13连接，显示面板15与驱动芯片14电连接，
内部集成电路总线控制器13用于将眼图增大指令输出至时序控制器11；
时序控制器11用于从闪存芯片12中读取时序控制器11工作所需的量产代码并运行时序控制器11工作所需的量产代码以处于工作状态，处于工作状态的时序控制器11还用于接收并执行眼图增大指令以对应输出眼图增大的驱动信号至驱动芯片；
驱动芯片用于转化眼图增大的驱动信号以点亮显示面板15。
需要了解的是，对于数字信号，其高电平和低电平的变化有多种序列组合，在时序上将足够多的序列按某一个基准点对齐，然后将序列的波形叠加起来，就形成眼图。
驱动芯片由源极驱动芯片142和栅极驱动芯片141组成，驱动芯片位于覆晶薄膜(未示出)上，覆晶薄膜通过各向异性导电胶与显示面板15连接，覆晶薄膜还与置有时序控制器11的印刷电路板连接。
上述显示装置通过时序控制器接收并执行内部集成电路总线控制器输出的眼图增大指令以对应输出眼图增大的驱动信号至驱动芯片，避免显示装置进行有载测试时由于驱动信号衰减严重而影响有载测试结果的判断，从而提高显示装置有载测试的准确性。
进一步地，时序控制器11包括：
眼图增大指令接收单元，用于接收眼图增大指令；
眼图增大指令执行单元，用于根据眼图增大指令修改时序控制器11中眼图寄存器的代码以得增大眼图代码，并根据增大眼图代码处理输入时序控制器11的测试信号以对应输出眼图增大的驱动信号，时序控制器11工作所需的量产代码包括眼图寄存器的代码。
时序控制器11读取工作所需的量产代码以处于工作状态时，根据眼图增大指令修改时序控制器11中眼图寄存器的代码以在眼图寄存器中存储增大眼图代码，即在时序控制器11处于工作状态时修改眼图寄存器中的代码以得到能够增大眼图的代码，时序控制器11根据修改后的代码处理测试信号时，能增大时序控制器输出的驱动信号的眼图，克服驱动信号衰减的问题。
本申请考虑到有载测试的目的就是测试显示装置10的闪存芯片12中量产代码的正确性，而闪存芯片12中的量产代码是经过多次试验验证且证明为合理代码，直接修改闪存芯片12中量产代码以增大驱动信号的眼图会导致显示装置进行电磁干扰(Electromagnetic Interference，EMI)测试无法通过，故不能直接修改闪存芯片12中量产代码以增大驱动信号的眼图。本申请通过在时序控制器11读取其工作所需的量产代码以处于工作状态时在线修改时序控制器11中眼图寄存器中的代码以得到增大眼图代码，这种修改不会影响到对闪存芯片12中量产代码的判断。
进一步地，内部集成电路总线控制器13包括：
侦测单元，用于侦测高电平；
输出单元，用于侦测单元侦测到高电平后通过内部集成电路(Inter-IntegratedCircuit,I2C)总线输出眼图增大指令。
在本申请中，高电平是专门针对显示装置10进行有载测试而设计的开关信号，当内部集成电路总线控制器13接收到高电平后，内部集成电路总线控制器13向时序控制器11输出眼图增大指令以在线修改时序控制器11中眼图寄存器中的代码从而实现增大眼图的目的；当显示装置10断电后导致集成电路总线控制器13不能接收到高电平时，眼图寄存器中的代码恢复至未修改之前的代码。
更进一步地，显示装置10还包括电源模块(未示出)，电源模块用于输出高电平至侦测单元。
进一步地，闪存芯片12和时序控制器11通过串行外围设备接口(SerialPeripheral Interface,SPI)总线连接。
进一步地，测试信号为图像信号或视频信号等模拟信号，通过印刷电路板上相对应地接口输入至时序控制器11，测试信号也可以是其他模拟电压信号，本申请不作具体地限定。
进一步地，眼图增大的驱动信号为眼图增大的微摆幅差分信号(Reduced SwingDifferential Signal，RSDS)，时序控制器11将眼图增大的RSDS信号输出至源极驱动芯片142，具体地，眼图增大的RSDS信号的眼图幅值为600-700毫伏。
如图2所示，其为图1所示显示装置10进行有载测试的流程示意图，显示装置10包括时序控制器11、闪存芯片12、驱动芯片14、内部集成电路总线控制器13及显示面板15，时序控制器11分别与闪存芯片12、驱动芯片14以及内部集成电路总线控制器13连接，显示面板15与驱动芯片14电连接，显示装置10有载测试的方法包括如下步骤：
S20:在显示装置10通电后通过跳线向时序控制器11输入测试信号；
S21:时序控制器11从闪存芯片12中读取时序控制器11工作所需的量产代码并运行时序控制器11工作所需的量产代码以处于工作状态；
S22:处于工作状态的时序控制器11接收并执行内部集成电路总线控制器13输出的眼图增大指令以对应输出眼图增大的驱动信号至驱动芯片14；
S23:驱动芯片14转化眼图增大的驱动信号以点亮显示面板15。
进一步地，处于工作状态的时序控制器11接收并执行内部集成电路总线控制器13输出的眼图增大指令以对应输出眼图增大的驱动信号包括如下步骤：
处于工作状态的时序控制器11接收眼图增大指令；
时序控制器11根据眼图增大指令修改时序控制器13中眼图寄存器的代码以得到增大眼图代码；
时序控制器11根据增大眼图代码处理测试信号以对应输出眼图增大的驱动信号；
其中，所述时序控制器11工作所需的量产代码包括眼图寄存器的代码。
进一步地，上述方法还包括如下步骤：内部集成电路总线控制器13侦测到高电平后，通过内部集成电路总线将眼图增大指令输出至时序控制器11。
更进一步地，上述显示装置10还包括电源模块(未示出)，电源模块将高电平输出至内部集成电路总线控制器13。
进一步地，闪存芯片12和时序控制器11通过串行外围设备接口总线连接。
进一步地，测试信号为图像信号或视频信号等模拟信号，通过印刷电路板上相对应地接口输入至时序控制器11，测试信号也可以是其他模拟电压信号，本申请不作具体地限定。
进一步地，眼图增大的驱动信号为眼图增大的微摆幅差分信号，时序控制器11将眼图增大的RSDS信号输出至源极驱动芯片142，具体地，眼图增大的RSDS信号的眼图幅值为600-700毫伏。
上述显示装置有载测试的方法通过时序控制器接收并执行内部集成电路总线控制器输出的眼图增大指令以对应输出眼图增大的驱动信号至驱动芯片，避免显示装置进行有载测试时由于驱动信号衰减严重而影响有载测试结果的判断，从而提高显示装置有载测试的准确性。
以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。
Claims (10)
1.一种显示装置，其特征在于，所述显示装置包括时序控制器、闪存芯片、驱动芯片、内部集成电路总线控制器及显示面板，所述时序控制器分别与所述闪存芯片、所述驱动芯片以及所述内部集成电路总线控制器连接，所述显示面板与所述驱动芯片电连接，
所述内部集成电路总线控制器用于将眼图增大指令输出至所述时序控制器；
所述时序控制器用于从所述闪存芯片中读取所述时序控制器工作所需的量产代码并运行所述时序控制器工作所需的量产代码以处于工作状态，处于工作状态的所述时序控制器还用于接收并执行所述眼图增大指令以对应输出眼图增大的驱动信号至所述驱动芯片；
所述驱动芯片用于转化所述眼图增大的驱动信号以点亮所述显示面板。
2.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述时序控制器包括：
眼图增大指令接收单元，用于接收所述眼图增大指令；
眼图增大指令执行单元，用于根据所述眼图增大指令修改所述时序控制器中眼图寄存器的代码以得增大眼图代码，并根据所述增大眼图代码处理输入所述时序控制器的测试信号以对应输出所述眼图增大的驱动信号，所述时序控制器工作所需的量产代码包括所述眼图寄存器的代码。
3.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述内部集成电路总线控制器包括：
侦测单元，用于侦测高电平；
输出单元，用于所述侦测单元侦测到高电平后通过内部集成电路总线输出所述眼图增大指令。
4.根据权利要求3所述的显示装置，其特征在于，所述显示装置还包括电源模块，所述电源模块用于输出所述高电平至所述侦测单元。
5.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述闪存芯片和所述时序控制器通过串行外围设备接口总线连接。
6.一种显示装置有载测试的方法，其特征在于，所述显示装置包括时序控制器、闪存芯片、驱动芯片、内部集成电路总线控制器及显示面板，所述时序控制器分别与所述闪存芯片、所述驱动芯片以及所述内部集成电路总线控制器连接，所述显示面板与所述驱动芯片电连接，所述显示装置有载测试的方法包括如下步骤：
在所述显示装置通电后通过跳线向所述时序控制器输入测试信号；
所述时序控制器从所述闪存芯片中读取所述时序控制器工作所需的量产代码并运行所述时序控制器工作所需的量产代码以处于工作状态；
处于工作状态的所述时序控制器接收并执行所述内部集成电路总线控制器输出的眼图增大指令以对应输出眼图增大的驱动信号至所述驱动芯片；
所述驱动芯片转化所述眼图增大的驱动信号以点亮所述显示面板。
7.根据权利要求6所述的显示装置有载测试的方法，其特征在于，所述处于工作状态的所述时序控制器接收并执行所述内部集成电路总线控制器输出的眼图增大指令以对应输出眼图增大的驱动信号包括如下步骤：
所述处于工作状态的所述时序控制器接收所述眼图增大指令；
所述时序控制器根据所述眼图增大指令修改所述时序控制器中眼图寄存器的代码以得到增大眼图代码；
所述时序控制器根据所述增大眼图代码处理所述测试信号以对应输出所述眼图增大的驱动信号；
其中，所述时序控制器工作所需的量产代码包括所述眼图寄存器的代码。
8.根据权利要求6所述的显示装置有载测试的方法，其特征在于，所述方法还包括如下步骤：所述内部集成电路总线控制器侦测到高电平后，通过内部集成电路总线将所述眼图增大指令输出至所述时序控制器。
9.根据权利要求8所述的显示装置有载测试的方法，其特征在于，所述显示装置还包括电源模块，所述电源模块将所述高电平输出至所述内部集成电路总线控制器。
10.根据权利要求6所述的显示装置有载测试的方法，其特征在于，所述闪存芯片和所述时序控制器通过串行外围设备接口总线连接。
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| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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| CP01 | Change in the name or title of a patent holder | ||
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Address after: 9-2 Tangming Avenue, Guangming New District, Shenzhen City, Guangdong Province Patentee after: TCL China Star Optoelectronics Technology Co.,Ltd. Address before: 9-2 Tangming Avenue, Guangming New District, Shenzhen City, Guangdong Province Patentee before: Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co.,Ltd. |