CN109375122A - 一种加速检测led灯寿命的方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种加速检测LED灯寿命的方法，包括以下步骤：S1、在需要检测的LED灯连通到电路上并在电路中使用大电流使其正常发光；S2、在步骤S1的基础上，通过三参数模型对LED灯的寿命进行检测，得到LED灯的寿命W1；S3、在步骤S1的基础上，通过指数分布模型对LED灯的寿命进行检测，得到LED灯的寿命W2；S4、在步骤S1的基础上，通过经验公式对LED灯的寿命进行检测，得到LED灯的寿命W3；S5、将W1、W2、W3进行求和并得其平均数值W4，W4即为所检测LED灯的寿命。

Description

一种加速检测LED灯寿命的方法

技术领域

本发明涉及LED灯领域，尤其涉及一种加速检测LED灯寿命的方法。

背景技术

LED，全称Light Emitting Diode，即发光二极管，是半导体固体发光器件的一种。发光材料是固体半导体芯片，当在其两端加上正向电压，半导体里载流子发生复合，引起光子的发射从而产生光。LED可以直接发出红、橙、黄、绿、青、蓝、紫色的光。

在全球应对气候变化和能源紧缺的大背景下,节能减排已被提高到战略高度,世界各国都制订了鼓励半导体照明，淘汰白炽灯的政策。据相关统计，大部分国家在2012年后都已启动对白炽灯的淘汰，LED已成为照明行业的中坚力量。

在我国，LED几乎已是人们生活生产中不可缺少的一部分，它拥有许多优势，如绿色环保、耗电低、精细耐抗击等，然而，LED产品在研发时，必定要不断经过寿命测试并从中选优，所以，LED产品寿命检测问题是当前LED产品研发过程中首先需要解决的，其对LED产品的研发方向具有深远的影响。

发明内容

本发明目的是解决上述问题，提供一种简单高效、检测准确度高的检测LED灯寿命的方法。

为了实现上述目的，本发明的技术方案是：

一种加速检测LED灯寿命的方法，包括以下步骤：

S1、在需要检测的LED灯连通到电路上并在电路中使用大电流使其正常发光；

S2、在步骤S1的基础上，通过三参数模型对LED灯的寿命进行检测，得到LED灯的寿命W₁；

S3、在步骤S1的基础上，通过指数分布模型对LED灯的寿命进行检测，得到LED灯的寿命W₂；

S4、在步骤S1的基础上，通过经验公式对LED灯的寿命进行检测，得到LED灯的寿命W₃；

S5、将W₁、W₂、W₃进行求和并得其平均数值W₄，W₄即为所检测LED灯的寿命。

进一步的，所述步骤S2中的三参数模型的计算公式为：

t'＝Ai^-β

其中，A、α、β为系数，I(t)为经过时间t后LED的光通量输出值，I’(t’)为经过时间t’后LED的光通量输出值。

进一步的，所述步骤S3中的指数分布模型的计算公式为：

α_i＝exp^ki

其中，i表示为电流，α_i表示施加电流i时的衰减系数。

进一步的，所述步骤S4中的经验公式为：

d＝D₁+D₂J+(D₃+D₄J)ln(t)

其中，D₁、D₂、D₃、D₄为常数，J表示芯片工作时的电流密度。

与现有技术相比，本发明具有的优点和积极效果是：

本发明通过采用大电流对所需检测的LED灯进行检测，有效缩短了LED灯寿命的检测时间，避免了人们需要耗费大量时间去对LED灯的寿命进行检测，给人们节约了大量的时间成本，提高了本发明的实用性；并且其利用三种检测方式对LED灯进行检测，并将其得到的数值进行求和并得到三者的平均值，有效降低了单种检测方式存在的误差概率，提高了LED灯寿命检测的准确率；另一方面，本发明中的三种检测方式均从不同角度对LED灯的寿命进行了检测，通过求其平均值可以得到LED灯在综合状况下的使用寿命，该检测结果得到的LED灯寿命与人们日常使用时的LED灯寿命相近，使得科研人员可以迅速了解到所检测LED灯的日常使用寿命，方便了其对LED灯的研发方向作出进一步调整，为LED灯的不断发展提供了较为有力的帮助。

具体实施方式

下面将结合本发明的实施例，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

LED产品在研发时，必定要不断经过寿命测试并从中选优，而加速LED灯的光衰，则可以缩短试验时间，提高研发效率。

在大电流下，LED灯热量增加，老化加剧，会造成光通量大量衰减。因此可利用此方法缩短LED灯的失效时长，并通过已建立的数学模型计算正常电流下的对应寿命，同时也要注意控制电流，避免过高导致LED灯直接损坏。电流加速寿命试验理论模型有三种，详见下面介绍：

(1)三参数模型：

t'＝Ai^-β (7-2)

GaN基蓝光LED在正向加速电流作用下输出的光满足公式(7-1)、(7-2)。A、α、β为系数，经过时间t和t’后LED的光通量输出分别表示为I(t)、I’(t’)。

(2)指数分布模型：

α_i＝exp^ki (7-4)

式中i表示为电流，α_i表示施加电流i时的衰减系数，该模型通过不同电流i及其对应的α_i值求出模型参数，进而推出正常工作时的寿命。

(3)经验公式：

d＝D₁+D₂J+(D₃+D₄J)ln(t) (7-5)

该公式表示电流大小与LED发光强度之间的关系，其中D₁、D₂、D₃、D₄皆为常数，J表示芯片工作时的电流密度。

(4)将三种方式得到的LED寿命进行求和并得其平均数值，该数值即为所检测LED灯的寿命。

Claims (4)

1.一种加速检测LED灯寿命的方法，其特征在于：包括以下步骤：

S1、在需要检测的LED灯连通到电路上并在电路中使用大电流使其正常发光；

S2、在步骤S1的基础上，通过三参数模型对LED灯的寿命进行检测，得到LED灯的寿命W₁；

S3、在步骤S1的基础上，通过指数分布模型对LED灯的寿命进行检测，得到LED灯的寿命W₂；

S4、在步骤S1的基础上，通过经验公式对LED灯的寿命进行检测，得到LED灯的寿命W₃；

S5、将W₁、W₂、W₃进行求和并得其平均数值W₄，W₄即为所检测LED灯的寿命。

2.如权利要求1所述的加速检测LED灯寿命的方法，其特征在于：所述步骤S2中的三参数模型的计算公式为：

t'＝Ai^-β

其中，A、α、β为系数，I(t)为经过时间t后LED的光通量输出值，I’(t’)为经过时间t’后LED的光通量输出值。

3.如权利要求1所述的加速检测LED灯寿命的方法，其特征在于：所述步骤S3中的指数分布模型的计算公式为：

α_i＝exp^ki

其中，i表示为电流，α_i表示施加电流i时的衰减系数。

4.如权利要求1所述的加速检测LED灯寿命的方法，其特征在于：所述步骤S4中的经验公式为：

d＝D₁+D₂J+(D₃+D₄J)ln(t)

其中，D₁、D₂、D₃、D₄为常数，J表示芯片工作时的电流密度。