CN109375023A - Emi测试方法及系统 - Google Patents

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/001—Measuring interference from external sources to, or emission from, the device under test, e.g. EMC, EMI, EMP or ESD testing

Abstract

本发明公开了EMI测试方法及系统，属于电子领域。本发明采用承载有待测设备的测试转盘以3min‑10min的周期旋转，根据测试转盘的旋转周期对待测设备的EMI测试数据进行采样，获取采样数据，从而可获取大量的EMI测试数据，提升了EMI测试数据的准确性，以便于根据获取的大量EMI测试数据对待测设备的EMI性能进行分析。

Description

EMI测试方法及系统
技术领域
本发明涉及电子领域，尤其涉及一种EMI(Electromagnetic Interference， 电磁干扰)测试方法及系统。
背景技术
目前，电子产品在进行EMI测试时，经常出现在同一个平台同一环境的 多次测试数据不一致，差异在3dB以上，由于数据不一致性，因此无法进行 下一步分析或另外的实验室认证测试，从而影响测试、实验或分析进度。
现有的EMI测试方法一般以实验室EMI转盘的标准转速(如：50秒) 为准进行测试，在较短的采样时间内采集的数据量少(容易遗漏很多数据)， 因此经常会出现在同一个平台同一环境的多次测试数据不一致的情形。
发明内容
针对现有的EMI测试因采集的数据量少导致测试结果不一致的问题，现 提供一种旨在可增加采集的数据量的EMI测试方法及系统。
一种EMI测试方法，在测试环境中提供一测试转盘，所述方法包括下述 步骤：
承载有待测设备的测试转盘以预设周期旋转，所述预设周期的范围为： 3min-10min；
以所述预设周期为采样周期对所述待测设备的EMI测试数据进行采样， 获取采样数据。
优选的，还包括：
提取采样数据中EMI测试数据的所有EMI峰值；
判断所述所有EMI峰值是否符合预设条件，若是，生成所述待测设备通 过测试的消息；若否，生成所述待测设备异常的消息。
优选的，所述判断所述所有EMI峰值是否符合预设条件，包括：
逐个判断每个所述EMI峰值是否符合相应的标准范围，若所有的EMI峰 值均符合相应的标准范围，则生成所述待测设备通过测试的消息；若有至少一 个EMI峰值不符合相应的标准范围，则生成所述待测设备异常的消息。
优选的，所述预设条件为EMI测试参考标准。
本发明还提供了一种EMI测试系统，在测试环境中提供一测试转盘，所 述EMI测试系统包括：
转动单元，用于承载待测设备的测试转盘以预设周期旋转，所述预设周期 的范围为：3min-10min；
采集单元，用于以所述预设周期为采样周期对所述待测设备的EMI测试 数据进行采样，获取采样数据。
优选的，还包括：
提取单元，用于提取采样数据中EMI测试数据的所有EMI峰值；
判断单元，用于判断所述所有EMI峰值是否符合预设条件，若符合生成 所述待测设备通过测试的消息；若不符合生成所述待测设备异常的消息。
优选的，所述判断单元用于逐个判断每个所述EMI峰值是否符合相应的 标准范围，若所有的EMI峰值均符合相应的标准范围，则生成所述待测设备 通过测试的消息；若有至少一个EMI峰值不符合相应的标准范围，则生成所 述待测设备异常的消息。
优选的，所述预设条件为EMI测试参考标准。
上述技术方案的有益效果：
本技术方案中，采用承载有待测设备的测试转盘以3min-10min的周期旋 转，根据测试转盘的旋转周期对待测设备的EMI测试数据进行采样，获取采 样数据，从而可采集大量的EMI测试数据，提升了EMI测试数据的准确性， 以便于根据获取的大量EMI测试数据对待测设备的EMI性能进行分析提高测 试的准确性及一致性。
附图说明
图1为本发明所述的EMI测试方法的一种实施例的流程图；
图2为本发明所述的EMI测试方法的另一种实施例的流程图；
图3为本发明所述的EMI测试系统的一种实施例的模块图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行 清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而 不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作 出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特 征可以相互组合。
下面结合附图和具体实施例对本发明作进一步说明，但不作为本发明的 限定。
如图1所示，一种EMI测试方法，在测试环境中提供一测试转盘，所述 方法包括下述步骤：
S1.承载有待测设备的测试转盘以预设周期旋转，所述预设周期的范围 为：3min-10min；
S2.以所述预设周期为采样周期对所述待测设备的EMI测试数据进行采 样，获取采样数据。
在本实施例中，采用承载有待测设备的测试转盘以3min-10min的周期旋 转(测试转盘的转速相对于现有的实验室EMI转盘的标准转速大幅度的减低)， 根据测试转盘的旋转周期对待测设备的EMI测试数据进行采样(采样时间相 对于现有的实验室EMI的采用时间得到大幅度提升)，因此可采集大量的采样 数据，以便于根据获取的大量EMI测试数据对待测设备的EMI性能进行分析 提高测试的准确性及一致性，提高EMI测试采集的数据量。
需要说明的是，待测设备可是智能电视、机顶盒、智能音箱等电子产品。
如图2所示，在优选的实施例中，所述EMI测试方法还包括：
S3.提取采样数据中EMI测试数据的所有EMI峰值；
S4.判断所述所有EMI峰值是否符合预设条件，若是，执行步骤S5；若 否，执行步骤S6；
S5.生成所述待测设备通过测试的消息；
S6.生成所述待测设备异常的消息。
进一步地，所述步骤S4判断所述所有EMI峰值是否符合预设条件，包括：
逐个判断每个所述EMI峰值是否符合相应的标准范围，若所有的EMI峰 值均符合相应的标准范围，则执行步骤S5生成所述待测设备通过测试的消息； 若有至少一个EMI峰值不符合相应的标准范围，则执行步骤S6生成所述待测 设备异常的消息。
其中，所述预设条件为EMI测试参考标准，EMI测试参考标准包括：欧 盟的EN55022、EN55024，美国的FCC Part 15B，中国台湾的CNS 13438等。
在本实施例中，将获取的大量的EMI测试数据的所有EMI峰值分别相应 的EMI测试参考标准进行比对，若所有的EMI峰值均符合相应的EMI测试参 考标准，则表示待测设备的EMI测试数据一致性好，通过了EMI测试；若有 部分EMI峰值不符合相应的EMI测试参考标准，则表示待测设备未通过测试。 基于采集的大量的EMI测试数据，为对所有对EMI峰值的分析提供了基础， 若待测设备的所有EMI峰值均符合EMI测试参考标准，则表示该待测设备通 过了测试。经过测试可知：通过本发明EMI测试的待测设备能够通过现有的 EMI测试(如：类似的实验室认证测试)。采用本发明的EMI测试为测试结果 的一致性提供了保障。
本发明将EMI测试转盘从50秒改为3min-10min转一次，以保证EMI最 大能量每次都能准确采集到，提高了数据采集精度。采用本发明能够准确捉获 频率系统偶尔出现的干扰频率点为EMI性能的准确分析提供了保障。经过测 试可知：采用本发明的EMI测试方法多次测试结果差异能控制在1dB以内， 且缩短了测试时间及测试费用。
如图3所示，本发明的一种EMI测试系统，在测试环境中提供一测试转 盘，所述EMI测试系统可包括：转动单元1和采集单元3，其中：
转动单元1，用于承载待测设备的测试转盘以预设周期旋转，所述预设周 期的范围为：3min-10min；
采集单元3，用于以所述预设周期为采样周期对所述待测设备的EMI测试 数据进行采样，获取采样数据。
在本实施例中，采用承载有待测设备的测试转盘以3min-10min的周期旋 转(测试转盘的转速相对于现有的实验室EMI转盘的标准转速大幅度的减低)， 根据测试转盘的旋转周期对待测设备的EMI测试数据进行采样(采样时间相 对于现有的实验室EMI的采用时间得到大幅度提升)，因此可采集大量的采样 数据，以便于根据获取的大量EMI测试数据对待测设备的EMI性能进行分析 提高测试的准确性及一致性，提高EMI测试采集的数据量。
需要说明的是，待测设备可是智能电视、机顶盒、智能音箱等电子产品。
在优选的实施例中，所述EMI测试系统还可包括：提取单元2和判断单 元4，其中：
提取单元2，用于提取采样数据中EMI测试数据的所有EMI峰值；
判断单元4，用于判断所述所有EMI峰值是否符合预设条件，若符合生成 所述待测设备通过测试的消息；若不符合生成所述待测设备异常的消息。
在优选的实施例中，所述判断单元4用于逐个判断每个所述EMI峰值是 否符合相应的标准范围，若所有的EMI峰值均符合相应的标准范围，则生成 所述待测设备通过测试的消息；若有至少一个EMI峰值不符合相应的标准范 围，则生成所述待测设备异常的消息。
进一步地，所述预设条件为EMI测试参考标准。
其中，所述预设条件为EMI测试参考标准，EMI测试参考标准包括：欧 盟的EN55022、EN55024，美国的FCC Part 15B，中国台湾的CNS 13438等。
以上所述仅为本发明较佳的实施例，并非因此限制本发明的实施方式及 保护范围，对于本领域技术人员而言，应当能够意识到凡运用本发明说明书 及图示内容所作出的等同替换和显而易见的变化所得到的方案，均应当包含 在本发明的保护范围内。

Claims (8)

1.一种EMI测试方法，在测试环境中提供一测试转盘，其特征在于，所述方法包括下述步骤：
承载有待测设备的测试转盘以预设周期旋转，所述预设周期的范围为：3min-10min；
以所述预设周期为采样周期对所述待测设备的EMI测试数据进行采样，获取采样数据。
2.根据权利要求1所述的EMI测试方法，其特征在于：还包括：
提取采样数据中EMI测试数据的所有EMI峰值；
判断所述所有EMI峰值是否符合预设条件，若是，生成所述待测设备通过测试的消息；若否，生成所述待测设备异常的消息。
3.根据权利要求2所述的EMI测试方法，其特征在于：所述判断所述所有EMI峰值是否符合预设条件，包括：
逐个判断每个所述EMI峰值是否符合相应的标准范围，若所有的EMI峰值均符合相应的标准范围，则生成所述待测设备通过测试的消息；若有至少一个EMI峰值不符合相应的标准范围，则生成所述待测设备异常的消息。
4.根据权利要求2所述的EMI测试方法，其特征在于：所述预设条件为EMI测试参考标准。
5.一种EMI测试系统，在测试环境中提供一测试转盘，其特征在于，所述EMI测试系统包括：
转动单元，用于承载待测设备的测试转盘以预设周期旋转，所述预设周期的范围为：3min-10min；
采集单元，用于以所述预设周期为采样周期对所述待测设备的EMI测试数据进行采样，获取采样数据。
6.根据权利要求5所述的EMI测试系统，其特征在于，还包括：
提取单元，用于提取采样数据中EMI测试数据的所有EMI峰值；
判断单元，用于判断所述所有EMI峰值是否符合预设条件，若符合生成所述待测设备通过测试的消息；若不符合生成所述待测设备异常的消息。
7.根据权利要求6所述的EMI测试系统，其特征在于：所述判断单元用于逐个判断每个所述EMI峰值是否符合相应的标准范围，若所有的EMI峰值均符合相应的标准范围，则生成所述待测设备通过测试的消息；若有至少一个EMI峰值不符合相应的标准范围，则生成所述待测设备异常的消息。
8.根据权利要求6所述的EMI测试系统，其特征在于：所述预设条件为EMI测试参考标准。
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