CN109358997A - 一种mcs存储系统卷迁移的自动化测试系统及方法 - Google Patents

一种mcs存储系统卷迁移的自动化测试系统及方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试系统及方法，系统包括多控存储系统集群和测试主机；多控存储系统集群包括多控存储控制器和第一输入输出组io_group0和第二输入输出组io_group1，第一输入输出组io_group0内设设置有第一存储节点，第二输入输出组io_group1内设置有第二存储节点；测试主机，向多控存储控制器发送创建测试卷命令和测试卷迁移命令，以及判断测试卷迁移是否成功；多控存储控制器，接收到测试主机发送的创建测试卷命令时，在第一输入输出组io_group0内创建测试卷，并控制测试卷在第一输入输出组io_group0与第二输入输出组io_group1之间迁移。

Description

一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试系统及方法
技术领域
本发明属于存储技术领域，具体涉及一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试系统及方法。
背景技术
IOgroup， I/O 组，一对节点（node）称为一个输入/输出 (I/O) 组。多个NODE节点组成一个集群，可以2 、4、 6、 8个NODE节点，两个NODE节点组成一个IOgroup。
随着IT行业的高速发展，信息化、大数据及云计算的发展对存储系统的稳定性及可靠性要求越来越高。多控存储系统是保障数据可靠性的有效方式，当一个存储控制器出现故障时，其他控制器仍然可以提供服务，是当前中小企业数据存储的首选方案。卷迁移是多控存储系统为了在系统发生故障时能够将卷迁移到其他IOgroup的一个功能。
在多控存储系统中，无论哪个IOgroup发生故障，存储系统都应该能够自动进行卷迁移。现需要验证多控存储系统的卷迁移功能，而传统的测试方法有插拔控制器、下电等方式来模拟存储系统故障，触发自动迁移，但均是手动操作，且效率低下。
此为现有技术的不足，因此，针对现有技术中的上述缺陷，提供一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试系统及方法，是非常有必要的。
发明内容
本发明的目的在于，针对上述验证多控存储系统的卷迁移功能，而传统的测试方法是手动操作，效率低下的缺陷，提供一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试系统及方法，以解决上述技术问题。
为实现上述目的，本发明给出以下技术方案：
一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试系统，包括多控存储系统集群和测试主机；
多控存储系统集群包括多控存储控制器和第一输入输出组io_group0和第二输入输出组io_group1，第一输入输出组io_group0内设设置有第一存储节点，第二输入输出组io_group1内设置有第二存储节点；
多控存储控制器与第一存储节点、第二存储节点以及测试主机均连接；
测试主机，用于向多控存储控制器发送创建测试卷命令和测试卷迁移命令，以及判断测试卷迁移是否成功；
多控存储控制器，用于接收到测试主机发送的创建测试卷命令时，在第一输入输出组io_group0内创建测试卷，以及接收到测试主机的测试卷迁移命令时，控制测试卷在第一输入输出组io_group0与第二输入输出组io_group1之间迁移。一个多控存储系统集群创建的卷，只能从属于其中一个IOgroup，测试主机访问测试卷也是通过IOgroup去访问。
进一步地，测试主机通过SAN交换机连接多控存储控制器。
进一步地，所述多控存储控制器采用四控存储控制器，包括第一存储控制器、第二存储控制器、第三存储控制器以及第四存储控制器，四个存储控制器均分别与测试主机、第一存储节点和第二存储节点连接。多控存储系统是保障数据可靠性的有效方式，当一个存储控制器出现故障时，另外三个存储控制器仍然可以提供服务。
进一步地，测试主机，还用于在测试卷迁移失败时，向多控存储控制器发送命令停止测试卷迁移。
进一步地，测试主机还用于判断测试卷迁移次数是否达到设定的测试卷迁移的循环次数，并在测试卷迁移次数达到设定的测试卷迁移的循环次数时，向多控存储控制器发送命令停止测试卷迁移。
本发明还给出如下技术方案：
一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试方法，测试主机控制多控制存储控制器在多控存储系统集群创建测试卷，并在第一输入输出组io_group0与第二输入输出组io_group1之间迁移测试卷，以及判断测试卷迁移是否成功。
进一步地，测试主机还设定测试卷迁移的循环次数，测试主机判断测试卷迁移次数是否达到设定测试卷迁移的循环次数，并在测试卷迁移次数达到设定的测试卷迁移的循环次数时，控制停止测试卷迁移测试。
进一步地，具体包括如下步骤：
S1.测试主机向多控存储控制器发送创建测试卷命令；
S2.多控存储控制器控制多控存储系统集群创建测试卷，并将测试卷设置在第一输入输出组io_group0内；
S3.测试主机设定测试卷迁移的循环次数；
S4.多控存储控制器将测试卷链接加入第二输入输出组io_group1；
S5.多控存储控制器将第一输入输出组io_group0内的测试卷链接删除；
S6.多控存储控制器将测试卷移动至第二输入输出组io_group1内；
S7.测试主机获取第二输入输出组io_group1内逻辑卷数量并判断是否为1；
若是，则测试卷迁移成功；
若否，则测试卷迁移失败，进入步骤S13；
S8.多控存储控制器将测试卷链接加入第一输入输出组io_group0；
S9.多控存储控制器将第二输入输出组io_group0内的测试卷链接删除；
S10.多控存储控制器将测试卷移动至第一输入输出组io_group0内；
S11.测试主机获取第一输入输出组io_group0内逻辑卷数量并判断是否为1；
若是，则测试卷迁移成功；
若否，则测试卷迁移失败，进入步骤S13；
S12.完成一个测试循环，测试次数加1并判断是否达到设定的测试卷迁移的循环次数；
若否，返回步骤S4；
若是，进入步骤S12；
S13.测试退出，输出测试结果。
进一步地，测试主机通过SAN交换机向多控存储控制器发送控制命令。
进一步地，所述多控存储控制器采用四控存储控制器。
本发明的有益效果在于：
本发明模拟MCS存储系统卷迁移的场景，实现自动化验证卷迁移成功与否，提高了测试质量和测试效率。
此外，本发明设计原理可靠，结构简单，具有非常广泛的应用前景。
由此可见，本发明与现有技术相比，具有突出的实质性特点和显著的进步，其实施的有益效果也是显而易见的。
附图说明
图1为本发明的系统示意图一；
图2为本发明的系统示意图二；
图3为本发明的方法流程图；
其中，1-第一存储节点；2-第二存储节点；3-多控存储控制器；3.1-第一存储控制器；3.2-第二存储控制器；3.3-第三存储控制器；3.4-第四存储控制器；4-测试主机；5-多控存储系统集群；6-SAN交换机。
具体实施方式：
为使得本发明的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本发明具体实施例中的附图，对本发明中的技术方案进行清楚、完整地描述。
实施例1：
如图1所示，本发明提供一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试系统，包括多控存储系统集群5和测试主机4；
多控存储系统集群5包括多控存储控制器3和第一输入输出组io_group0和第二输入输出组io_group1，第一输入输出组io_group0内设设置有第一存储节点1，第二输入输出组io_group1内设置有第二存储节点2；
多控存储控制器3与第一存储节点1、第二存储节点2以及测试主机4均连接；
测试主机4，用于向多控存储控制器3发送创建测试卷命令和测试卷迁移命令，以及判断测试卷迁移是否成功，并在测试卷迁移失败时，向多控存储控制器3发送命令停止测试卷迁移；
还用于判断测试卷迁移次数是否达到设定的测试卷迁移的循环次数，并在测试卷迁移次数达到设定的测试卷迁移的循环次数时，向多控存储控制器3发送命令停止测试卷迁移；
多控存储控制器3，用于接收到测试主机4发送的创建测试卷命令时，在第一输入输出组io_group0内创建测试卷，以及接收到测试主机4的测试卷迁移命令时，控制测试卷在第一输入输出组io_group0与第二输入输出组io_group1之间迁移。
实施例2：
如图2所示，上述实施例1中，测试主机4通过SAN交换机6连接多控存储控制器3，所述多控存储控制器3采用四控存储控制器，包括第一存储控制器3.1、第二存储控制器3.2、第三存储控制器3.3以及第四存储控制器3.4，四个存储控制器均分别与测试主机4、第一存储节点1和第二存储节点2连接。
实施例3：
本发明一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试方法，测试主机控制多控制存储控制器在多控存储系统集群创建测试卷，并在第一输入输出组io_group0与第二输入输出组io_group1之间迁移测试卷，以及判断测试卷迁移是否成功；
测试主机还设定测试卷迁移的循环次数，测试主机判断测试卷迁移次数是否达到设定测试卷迁移的循环次数，并在测试卷迁移次数达到设定的测试卷迁移的循环次数时，控制停止测试卷迁移测试；多控存储控制器采用四控存储控制器；
如图3所示，具体包括如下步骤：
S1.测试主机通过SAN交换机向多控存储控制器发送创建测试卷命令；
S2.多控存储控制器控制多控存储系统集群创建测试卷，并将测试卷设置在第一输入输出组io_group0内；
S3.测试主机设定测试卷迁移的循环次数；
S4.多控存储控制器将测试卷链接加入第二输入输出组io_group1；
S5.多控存储控制器将第一输入输出组io_group0内的测试卷链接删除；
S6.多控存储控制器将测试卷移动至第二输入输出组io_group1内；
S7.测试主机获取第二输入输出组io_group1内逻辑卷数量并判断是否为1；
若是，则测试卷迁移成功；
若否，则测试卷迁移失败，进入步骤S13；
S8.多控存储控制器将测试卷链接加入第一输入输出组io_group0；
S9.多控存储控制器将第二输入输出组io_group0内的测试卷链接删除；
S10.多控存储控制器将测试卷移动至第一输入输出组io_group0内；
S11.测试主机获取第一输入输出组io_group0内逻辑卷数量并判断是否为1；
若是，则测试卷迁移成功；
若否，则测试卷迁移失败，进入步骤S13；
S12.完成一个测试循环，测试次数加1并判断是否达到设定的测试卷迁移的循环次数；
若否，返回步骤S4；
若是，进入步骤S12；
S13.测试退出，输出测试结果。
上述实施例3中，步骤S4中，多控存储控制器将测试卷volume1链接加入第二输入输出组io_group1通过如下命令实现：
addvdiskaccess -iogrp io_group1 volume1
步骤S5中，多控存储控制器将第一输入输出组io_group0内的测试卷volume1链接删除通过如下命令实现：
rmvdiskaccess -iogrp io_group0 volume1
步骤S6中，多控存储控制器将测试卷volume1移动至第二输入输出组io_group1内通过如下命令实现：
movevdisk -iogrp io_group1 volume1
步骤S7中，测试主机获取第二输入输出组io_group1内逻辑卷数量通过如下命令实现：
lsiogrp io_grp1 |grep accessible_vdisk_count | awk ‘{print $2}’
步骤S8中，多控存储控制器将测试卷volume1链接加入第一输入输出组io_group0通过如下命令实现：
addvdiskaccess -iogrp io_group0 volume1
步骤S9中，多控存储控制器将第二输入输出组io_group0内的测试卷volume1链接删除通过如下命令实现：
rmvdiskaccess -iogrp io_group1 volume1
步骤S10中，多控存储控制器将测试卷volume1移动至第一输入输出组io_group0内通过如下命令实现：
movevdisk -iogrp io_group0 volume1
步骤S11中，测试主机获取第一输入输出组io_group0内逻辑卷数量通过如下命令实现：
lsiogrp io_grp0 |grep accessible_vdisk_count | awk ‘{print $2}’
本发明的实施例是说明性的，而非限定性的，上述实施例只是帮助理解本发明，因此本发明不限于具体实施方式中所述的实施例，凡是由本领域技术人员根据本发明的技术方案得出的其他的具体实施方式，同样属于本发明保护的范围。

Claims (10)

1.一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试系统，其特征在于，包括多控存储系统集群（5）和测试主机（4）；
多控存储系统集群（5）包括多控存储控制器（3）和第一输入输出组io_group0和第二输入输出组io_group1，第一输入输出组io_group0内设设置有第一存储节点（1），第二输入输出组io_group1内设置有第二存储节点（2）；
多控存储控制器（3）与第一存储节点（1）、第二存储节点（2）以及测试主机（4）均连接；
测试主机（4），用于向多控存储控制器（3）发送创建测试卷命令和测试卷迁移命令，以及判断测试卷迁移是否成功；
多控存储控制器（3），用于接收到测试主机（4）发送的创建测试卷命令时，在第一输入输出组io_group0内创建测试卷，以及接收到测试主机（4）的测试卷迁移命令时，控制测试卷在第一输入输出组io_group0与第二输入输出组io_group1之间迁移。
2.如权利要求1所述的一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试系统，其特征在于，测试主机（4）通过SAN交换机（6）连接多控存储控制器（3）。
3.如权利要求1或2所述的一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试系统，其特征在于，所述多控存储控制器（3）采用四控存储控制器，包括第一存储控制器（3.1）、第二存储控制器（3.2）、第三存储控制器（3.3）以及第四存储控制器（3.4），四个存储控制器均分别与测试主机（4）、第一存储节点（1）和第二存储节点（2）连接。
4.如权利要求1所述的一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试系统，其特征在于，测试主机（4），还用于在测试卷迁移失败时，向多控存储控制器（3）发送命令停止测试卷迁移。
5.如权利要求1所述的一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试系统，其特征在于，测试主机（4），还用于判断测试卷迁移次数是否达到设定的测试卷迁移的循环次数，并在测试卷迁移次数达到设定的测试卷迁移的循环次数时，向多控存储控制器（3）发送命令停止测试卷迁移。
6.一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试方法，其特征在于，测试主机控制多控制存储控制器在多控存储系统集群创建测试卷，并在第一输入输出组io_group0与第二输入输出组io_group1之间迁移测试卷，以及判断测试卷迁移是否成功。
7.如权利要求6所述的一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试方法，其特征在于，测试主机还设定测试卷迁移的循环次数，测试主机判断测试卷迁移次数是否达到设定测试卷迁移的循环次数，并在测试卷迁移次数达到设定的测试卷迁移的循环次数时，控制停止测试卷迁移测试。
8.如权利要求7所述的一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试方法，其特征在于，具体包括如下步骤：
S1.测试主机向多控存储控制器发送创建测试卷命令；
S2.多控存储控制器控制多控存储系统集群创建测试卷，并将测试卷设置在第一输入输出组io_group0内；
S3.测试主机设定测试卷迁移的循环次数；
S4.多控存储控制器将测试卷链接加入第二输入输出组io_group1；
S5.多控存储控制器将第一输入输出组io_group0内的测试卷链接删除；
S6.多控存储控制器将测试卷移动至第二输入输出组io_group1内；
S7.测试主机获取第二输入输出组io_group1内逻辑卷数量并判断是否为1；
若是，则测试卷迁移成功；
若否，则测试卷迁移失败，进入步骤S13；
S8.多控存储控制器将测试卷链接加入第一输入输出组io_group0；
S9.多控存储控制器将第二输入输出组io_group0内的测试卷链接删除；
S10.多控存储控制器将测试卷移动至第一输入输出组io_group0内；
S11.测试主机获取第一输入输出组io_group0内逻辑卷数量并判断是否为1；
若是，则测试卷迁移成功；
若否，则测试卷迁移失败，进入步骤S13；
S12.完成一个测试循环，测试次数加1并判断是否达到设定的测试卷迁移的循环次数；
若否，返回步骤S4；
若是，进入步骤S12；
S13.测试退出，输出测试结果。
9.如权利要求6所述的一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试方法，其特征在于，测试主机通过SAN交换机向多控存储控制器发送控制命令。
10.如权利要求6所述的一种MCS存储系统卷迁移的自动化测试方法，其特征在于，所述多控存储控制器采用四控存储控制器。
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