CN109358589B - 可量化光学特性管控方法、装置及可读存储介质 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种可量化光学特性管控方法、装置及可读存储介质，可量化光学特性管控方法包括：获取目标显示屏的光学特性数据，得到样本，经过计算处理，得到样本参数；采用预置的检验方法对所述样本参数以及所述预置基准样本参数进行分析；得到所述样本参数同所述预置基准样本参数之间的差异由抽样误差所致的概率P值；根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告。通过本申请，使得在对显示屏可量化的光学特性的检测过程中，减少误判情况的发生，且不再需要人工依靠经验来进行判断，达到自动化管制的目的，能有效提高工作效率。
Description
技术领域
本申请涉及品质管控领域，尤其涉及可量化光学特性管控方法、装置及可读存储介质。
背景技术
在现有的制造型行业体系中，常用的统计过程控制(SPC)，在生产中能够起到降低产品报废率、减少返工、提升人员效率等一系列作用，在指导生产中起到了很大的作用。但是，在液晶电视成品的质检中，需要检验光学特性，在使用SPC对液晶电视成品的质量管控中，由于过于敏感或是侦测度不足，造成误判的情况发生，所以，仍需要人工依靠经验进行判断，降低了生产效率，增加了生产成本。
发明内容
本申请的主要目的在于解决现有技术中使用SPC对液晶电视成品进行质量管控，由于过于敏感或是侦测度不足，造成误判的情况时有发生，所以，仍需要人工依靠经验进行判断的技术问题。
为实现上述目的，本申请提供的一种可量化光学特性管控方法，包括：
获取目标显示屏的光学特性数据，根据所述目标显示屏的光学特性数据得到样本，样本经过计算处理得到样本参数；
采用预置的检验方法对所述样本参数以及预置基准样本参数进行分析；
得到所述样本参数同所述预置基准样本参数之间的差异由抽样误差所致的概率P值；
根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告。
可选的，所述获取目标显示屏的光学特性数据，根据所述目标显示屏的光学特性数据得到样本，样本经过计算处理得到样本参数之前包括：
获取品质合格的液晶屏的光学特性数据，根据所述品质合格的液晶屏的光学特性数据得到基准样本，基准样本经过计算处理，得到基准样本参数。
可选的，所述根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告包括：
当所述P值大于预设阈值时，生成对应的第一类分析报告。
可选的，所述根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告还包括：
当所述P值小于预设阈值时，判断所述目标显示屏的光学特性是否为望大特性；
当所述目标显示屏的光学特性为望大特性时，将所述样本中各个数据逐一同基准参数对比，得到统计结果，并根据所述统计结果，生成第二类分析报告。
可选的，所述根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告还包括：
当所述P值小于预设阈值时，判断所述目标显示屏的光学特性是否为望小特性；
当所述目标显示屏的光学特性为望小特性时，将所述样本中各个数据逐一同基准参数对比，得到统计结果，并根据所述统计结果，生成第三类分析报告。
此外，为实现上述目的，本申请还提供一种可量化光学特性管控装置，包括：
获取模块，用于获取目标显示屏的光学特性数据，根据所述目标显示屏的光学特性数据得到样本，样本经过计算处理得到样本参数；
分析模块，用于采用预置的检验方法对所述样本参数以及所述预置基准样本参数进行分析；
P值获取模块，用于得到所述样本参数同预置基准样本参数之间的差异由抽样误差所致的概率P值；
生成模块，用于根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告。
可选的，所述可量化光学特性管控装置还包括：
基准制定模块，用于获取品质合格的液晶屏的光学特性数据，根据所述品质合格的液晶屏的光学特性数据得到基准样本，基准样本经过计算处理，得到基准样本参数。
可选的，所述生成模块包括：
第一生成单元，用于当所述P值大于预设阈值时，生成对应的第一类分析报告。
可选的，所述生成模块还包括：
第一判断单元，用于当所述P值小于预设阈值时，判断所述目标显示屏的光学特性是否为望大特性；
第二生成单元，用于当所述目标显示屏的光学特性为望大特性时，将所述样本中各个数据逐一同基准参数对比，得到统计结果，并根据所述统计结果，生成第二类分析报告。
可选的，所述生成模块还包括：
第二判断单元，用于当所述P值小于预设阈值时，判断所述目标显示屏的光学特性是否为望小特性；
第三生成单元，用于当所述目标显示屏的光学特性为望小特性时，将所述样本中各个数据逐一同基准参数对比，得到统计结果，并根据所述统计结果，生成第三类分析报告。
此外，为实现上述目的，本申请还提供一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有可量化光学特性管控程序，所述可量化光学特性管控程序被处理器执行时实现如上所述的可量化光学特性管控方法的步骤。
当需要对目标显示屏光学特性进行测定时，通过获取装置，获取目标显示屏光学特性数据，得到样本，通过计算，得到样本参数，将该样本参数同预置基准样本参数进行对比，得到两个样本之间的差异显著性P值，根据P值的大小生成对应的分析报告，使得在对液晶屏可量化的光学特性的检测过程中，减少误判情况的发生，且不再需要人工依靠经验来进行判断，达到自动化管制的目的，能有效提高工作效率。
附图说明
图1为本申请可量化光学特性管控方法一实施例的流程示意图；
图2为本申请可量化光学特性管控方法又一实施例的流程示意图；
图3为图1中步骤S50一实施例的细化流程示意图；
图4为图1中步骤S50又一实施例的细化流程示意图；
图5为图1中步骤S50再一实施例的细化流程示意图；
图6为本申请可量化光学特性管控装置一实施例的功能模块示意图；
图7为本申请可量化光学特性管控装置又一实施例的功能模块示意图；
图8为图6中生成模块50一实施例的细化功能模块示意图；
图9为图6中生成模块50又一实施例的细化功能模块示意图；
图10为图6中生成模块50再一实施例的细化功能模块示意图。
本申请目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
本申请提供一种可量化光学特性管控方法。
参照图1，图1为本申请可量化光学特性管控方法一实施例的流程示意图。
在本实施例中，该可量化光学特性管控方法包括：
步骤S20，获取目标显示屏的光学特性数据，根据所述目标显示屏的光学特性数据得到样本，样本经过计算处理得到样本参数；
在本实施例中，获取目标显示屏的光学特性数据可以是在预设时间区间内进行，预设时间区间由人为制定，例如，设置为7天(时间太短，会导致样本数量过少，使得统计结果容易受到特殊情况影响，时间太长，导致样本数量过多，使得侦测度不足)。在本实施例中，对于采集的显示屏，例如液晶屏(并不限于液晶屏，还可以是CRT显示屏等)的光学特性的选择在此不作限定，可量化的光学特性在此均为本申请可实施对象。本实施例中，对于计算处理过程不作限定，可以是计算样本数据的中位数，或者是计算样本数据的方差，从而得到样本参数，具体选择何种计算方式，由实际需要进行选择。
在本申请一可选实施例中，在液晶屏的生产线上的相应设备上设置一个或若干个采集装置，本实施例中，为了确保采集参数过程的可靠性，一个采集装置仅用于对一种可量化的光学特性参数的采集。例如，若需要采集液晶屏的衍射特性参数，通过采集装置，采集7天时间内生产线上生产的液晶屏的衍射特性参数(可以是其他可量化的特性，在此不作限制，具体根据实际需要进行设置)，得到样本A。
步骤S30，采用预置的检验方法对所述样本参数以及所述预置基准样本参数进行分析；
步骤S40，得到所述样本参数同所述预置基准样本参数之间的差异由抽样误差所致的概率P值；
在本实施例中，预置基准样本参数可以是由人为按照合格的液晶屏可量化的光学特性参数得到，也可以是在正常生产期间，获取一段时间内(例如一个月)液晶屏可量化的光学特性数据，例如，得到正常生产期间一个月时间内液晶屏的衍射特性数据，从而得到样本参数作为基准样本B，计算该样本数据的中位数，或者是计算该样本数据的方差，得到基准样本参数。
本实施例中，预置的检验方法可以是克鲁斯凯—沃利斯检验方法，还可以是其他能达到同样效果的检验方法，在此不作限制，具体根据实际需要进行选择。
本实施例中，采用克鲁斯凯—沃利斯检验方法对样本A以及预置基准样本B进行分析，即采用克鲁斯凯—沃利斯检验方法，得到样本A同预置基准样本B之间的差异由抽样误差所导致的概率P值，由此检定样本A同基准样本B之间是否有显著差异。
步骤S50，根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告。
在本实施例中，当P值＞0.05(该数值不唯一，可由实际情况自由设置)时，即样本A同预置基准样本B之间的差异由抽样误差所导致的概率大于0.05，也就是说样本A同基准样本B之间不存在明显差异的，也就是说，此时检测的样本A中的液晶屏衍射特性参数同基准样本B中的液晶屏衍射特性参数不存在明显差别，则说明样本A中的液晶屏属于生产受控情况，此时，可以以相应的形式通知管理人员，此时的生产是受控的，不需要对生产进行调整。
在本实施例中，当P值＜0.05(该数值不唯一，可由实际情况自由设置)时，即样本A同预置基准样本B之间的差异由抽样误差所导致的概率小于0.05，也就是说样本A同基准样本B之间是存在明显差异的，也就是说，此时检测的样本A中的液晶屏衍射特性参数同基准样本B中的液晶屏衍射特性参数存在明显差别，则说明样本A中的液晶屏属于生产失控情况，则需要将对应的分析报告通知对应的管理人员。例如，通过文字信息、灯光、声音等形式进行通知，在此不作限制，具体根据实际需要进行选择。
在本实施例中，当P值＜0.05时，即此时检测的样本A中的液晶屏衍射特性参数同基准样本B中的液晶屏衍射特性参数存在明显差别，还可以继续判断样本A中对应的液晶屏的光学特性是否为望大特性。若是，则统计样本A中各个参数数值大于基准样本B中参数(平均值或是中位数，在此不作限制，具体根据实际需要选择)的个数，若统计的个数在样本A中样本总数中所占的比例达到80％(该数值可以自由设置，在此不做限制，具体根据需要进行设置)，此时，可以以相应的形式通知管理人员，此时的生产是受控的，不需要对生产进行调整。否则，则说明样本A中的液晶屏属于生产失控情况，则需要将对应的分析报告通知对应的管理人员。
在本实施例中，当P值＜0.05时，即此时检测的样本A中的液晶屏衍射特性参数同基准样本B中的液晶屏衍射特性参数存在明显差别，还可以继续判断样本A中对应的液晶屏的光学特性是否为望小特性。若是，则统计样本A中各个参数数值小于基准样本B中参数(平均值或是中位数，在此不作限制，具体根据实际需要选择)的个数，若统计的个数在样本A中样本总数中所占的比例达到80％(该数值可以自由设置，在此不做限制，具体根据需要进行设置)，此时，可以以相应的形式通知管理人员，此时的生产是受控的，不需要对生产进行调整。否则，则说明样本A中的液晶屏属于生产失控情况，则需要将对应的分析报告通知对应的管理人员。
当然，在上述各个实施例的基础上，若在样本A中的各个数据中存在超出侦测极限数值(可以由机器能检测到的光学特性的上限值和下限值来决定，亦可由人为进行设定，在此不做限制)，且在样本A总数中占得比例达到一定阈值(例如，1％，在此不做限定，可以根据实际需要自由设置该阈值)，则说明样本A中的液晶屏属于生产失控情况，则需要将对应的分析报告通知对应的管理人员。例如，通过文字信息、灯光、声音等形式进行通知，在此不作限制，具体根据实际需要进行选择。
在本实施例中，当需要对目标显示屏光学特性进行测定时，通过获取装置，获取目标显示屏光学特性数据，并对采集的数据进行量化，得到样本，将该样本参数同预置基准样本参数进行对比，得到两个样本之间的差异显著性P值，根据P值的大小生成对应的分析报告，使得在对液晶屏可量化的光学特性的检测过程中，不再需要人工依靠经验来进行判断，达到自动化管制的目的，能有效提高工作效率。
参照图2，图2为本申请可量化光学特性管控方法又一实施例的流程示意图。
本实施例中，步骤S20之前包括：
步骤S10，获取品质合格的液晶屏的光学特性数据，根据所述品质合格的液晶屏的光学特性数据得到基准样本，基准样本经过计算处理，得到基准样本参数。
在本实施例中，预置基准样本参数可以是由人为按照合格的液晶屏可量化的光学特性参数得到，也可以是在正常生产期间，获取一段时间内(例如一个月)液晶屏可量化的光学特性数据，例如，得到正常生产期间一个月时间内液晶屏的衍射特性数据，从而得到样本参数作为基准样本B，计算该样本数据的中位数，或者是计算该样本数据的方差，得到基准样本参数。
在本实施例中，通过获取品质合格的液晶屏的光学特性参数，经过计算处理，得到基准参数，是后续对样本参数进行分析处理的基础。
参照图3，图3为图1中步骤S50一实施例的细化流程示意图。
在本实施例中，步骤S50包括：
步骤S501，当所述P值大于预设阈值时，生成对应的第一类分析报告。
在本实施例中，当P值＞0.05(该数值不唯一，可由实际情况自由设置)时，即样本A同预置基准样本B之间的差异由抽样误差所导致的概率大于0.05，也就是说样本A同基准样本B之间不存在明显差异，则说明样本A中的液晶屏属于生产受控情况，此时，可以以相应的形式通知管理人员，此时的生产是受控的，不需要对生产进行调整。
在本实施例中，当P值大于预设阈值时，则表明样本A同基准样本B之间不存在明显差异，样本A中的液晶屏属于生产受控情况，此时，以相应的形式通知管理人员，此时的生产是受控的，不需要对生产进行调整。保障了生产工作的正常进行。
参照图4，图4为图1中步骤S50又一实施例的细化流程示意图。
在本实施例中，步骤S50还包括：
步骤S5021：当所述P值小于预设阈值时，判断所述目标显示屏的光学特性是否为望大特性；
步骤S5022：当所述目标显示屏的光学特性为望大特性时，将所述样本中各个数据逐一同基准参数对比，得到统计结果，并根据所述统计结果，生成第二类分析报告。
在本实施例中，当P值＜0.05时，即此时样本A中同基准样本B存在明显差别，还可以继续判断样本A中对应的液晶屏的光学特性是否为望大特性。若是，则统计样本A中各个数据数值大于基准样本B中参数(平均值或是中位数，在此不作限制，具体根据实际需要选择)的个数，若统计的个数在样本A中样本总数中所占的比例达到80％(该数值可以自由设置，在此不做限制，具体根据需要进行设置)，此时，可以以相应的形式通知管理人员，此时的生产是受控的，不需要对生产进行调整。否则，则说明样本A中的液晶屏属于生产失控情况，则需要将对应的分析报告通知对应的管理人员。
在本实施例中，当P值小于0.05，即此时样本A同基准样本B存在明显差别。若样本A中对于的液晶屏的光学特性为望大特性，通过统计样本A中各个参数数值大于基准样本B中参数(平均值或是中位数，在此不作限制，具体根据实际需要选择)的个数，若统计的个数在样本A中样本总数中所占的比例达到80％(该数值可以自由设置，在此不做限制，具体根据需要进行设置)，此时，可以以相应的形式通知管理人员，此时的生产是受控的，不需要对生产进行调整。能够有效减少误判断的情况产生，减少不必要的停工检修，提高生成效率，降低了生产成本。
参照图5，图5为图1中步骤S50再一实施例的细化流程示意图。
在本实施例中，步骤S50还包括：
步骤S5031：当所述P值小于预设阈值时，判断所述目标显示屏的光学特性是否为望小特性；
步骤S5032：当所述目标显示屏的光学特性为望小特性时，将所述样本中各个数据逐一同基准参数对比，得到统计结果，并根据所述统计结果，生成第三类分析报告。
在本实施例中，当P值＜0.05时，即此时检测的样本A同基准样本B存在明显差别，还可以继续判断样本A中对应的液晶屏的光学特性是否为望小特性。若是，则统计样本A中各个数据数值小于基准样本B中参数(平均值或是中位数，在此不作限制，具体根据实际需要选择)的个数，若统计的个数在样本A中样本总数中所占的比例达到80％(该数值可以自由设置，在此不做限制，具体根据需要进行设置)，此时，可以以相应的形式通知管理人员，此时的生产是受控的，不需要对生产进行调整。否则，则说明样本A中的液晶屏属于生产失控情况，则需要将对应的分析报告通知对应的管理人员。
在本实施例中，当P值小于0.05，即此时样本A同基准样本B存在明显差别。若样本A中对于的液晶屏的光学特性为望小特性，通过统计样本A中各个参数数值小于基准样本B中参数(平均值或是中位数，在此不作限制，具体根据实际需要选择)的个数，若统计的个数在样本A中样本总数中所占的比例达到80％(该数值可以自由设置，在此不做限制，具体根据需要进行设置)，此时，可以以相应的形式通知管理人员，此时的生产是受控的，不需要对生产进行调整。能够有效减少误判断的情况产生，减少不必要的停工检修，提高生成效率，降低了生产成本。
本申请进一步提供一种可量化光学特性管控装置。
参照图6，图6为本申请可量化光学特性管控装置一实施例的功能模块示意图。
在本实施例中，该可量化光学特性管控装置包括：
获取模块20，用于获取目标显示屏的光学特性数据，根据所述目标显示屏的光学特性数据得到样本，样本经过计算处理得到样本参数；
在本实施例中，获取目标显示屏的光学特性数据可以是在预设时间区间内进行，预设时间区间由人为制定，例如，设置为7天(时间太短，会导致样本数量过少，使得统计结果容易受到特殊情况影响，时间太长，导致样本数量过多，使得侦测度不足)。在本实施例中，对于采集的液晶屏(并不限于液晶屏，还可以是CRT显示屏等)的光学特性的选择在此不作限定，可量化的光学特性在此均为本申请可实施对象。本实施例中，对于计算处理过程不作限定，可以是计算样本数据的中位数，或者是计算样本数据的方差，从而得到样本参数，具体选择何种计算方式，由实际需要进行选择。
在本申请一可选实施例中，在液晶屏的生产线上的相应设备上设置一个或若干个采集装置，本实施例中，为了确保采集参数过程的可靠性，一个采集装置仅用于对一种可量化的光学特性参数的采集。例如，若需要采集液晶屏的衍射特性参数，通过采集装置，采集7天时间内生产线上生产的液晶屏的衍射特性参数(可以是其他可量化的特性，在此不作限制，具体根据实际需要进行设置)，得到样本A。
分析模块30，用于采用预置的检验方法对所述样本参数以及所述预置基准样本参数进行分析；
P值获取模块40，用于得到所述样本参数同所述预置基准样本参数之间的差异由抽样误差所致的概率P值；
在本实施例中，预置基准样本参数可以是由人为按照合格的液晶屏可量化的光学特性参数得到，也可以是在正常生产期间，获取一段时间内(例如一个月)液晶屏可量化的光学特性数据，例如，得到正常生产期间一个月时间内液晶屏的衍射特性数据，从而得到样本参数作为基准样本B，计算该样本数据的中位数，或者是计算该样本数据的方差，得到基准样本参数。
本实施例中，预置的检验方法可以是克鲁斯凯—沃利斯检验方法，还可以是其他能达到同样效果的检验方法，在此不作限制，具体根据实际需要进行选择。
本实施例中，采用克鲁斯凯—沃利斯检验方法对样本A以及预置基准样本B进行分析，即采用克鲁斯凯—沃利斯检验方法，得到样本A同预置基准样本B之间的差异由抽样误差所导致的概率P值，由此检定样本A同基准样本B之间是否有显著差异。
生成模块50，用于根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告。
在本实施例中，当P值＞0.05(该数值不唯一，可由实际情况自由设置)时，即样本A同预置基准样本B之间的差异由抽样误差所导致的概率大于0.05，也就是说样本A同基准样本B之间不存在明显差异的，也就是说，此时检测的样本A中的液晶屏衍射特性参数同基准样本B中的液晶屏衍射特性参数不存在明显差别，则说明样本A中的液晶屏属于生产受控情况，此时，可以以相应的形式通知管理人员，此时的生产是受控的，不需要对生产进行调整。
在本实施例中，当P值＜0.05(该数值不唯一，可由实际情况自由设置)时，即样本A同预置基准样本B之间的差异由抽样误差所导致的概率小于0.05，也就是说样本A同基准样本B之间是存在明显差异的，也就是说，此时检测的样本A中的液晶屏衍射特性参数同基准样本B中的液晶屏衍射特性参数存在明显差别，则说明样本A中的液晶屏属于生产失控情况，则需要将对应的分析报告通知对应的管理人员。例如，通过文字信息、灯光、声音等形式进行通知，在此不作限制，具体根据实际需要进行选择。
在本实施例中，当P值＜0.05时，即此时检测的样本A中的液晶屏衍射特性参数同基准样本B中的液晶屏衍射特性参数存在明显差别，还可以继续判断样本A中对应的液晶屏的光学特性是否为望大特性。若是，则统计样本A中各个参数数值大于基准样本B中参数(平均值或是中位数，在此不作限制，具体根据实际需要选择)的个数，若统计的个数在样本A中样本总数中所占的比例达到80％(该数值可以自由设置，在此不做限制，具体根据需要进行设置)，此时，可以以相应的形式通知管理人员，此时的生产是受控的，不需要对生产进行调整。否则，则说明样本A中的液晶屏属于生产失控情况，则需要将对应的分析报告通知对应的管理人员。
在本实施例中，当P值＜0.05时，即此时检测的样本A中的液晶屏衍射特性参数同基准样本B中的液晶屏衍射特性参数存在明显差别，还可以继续判断样本A中对应的液晶屏的光学特性是否为望小特性。若是，则统计样本A中各个参数数值小于基准样本B中参数(平均值或是中位数，在此不作限制，具体根据实际需要选择)的个数，若统计的个数在样本A中样本总数中所占的比例达到80％(该数值可以自由设置，在此不做限制，具体根据需要进行设置)，此时，可以以相应的形式通知管理人员，此时的生产是受控的，不需要对生产进行调整。否则，则说明样本A中的液晶屏属于生产失控情况，则需要将对应的分析报告通知对应的管理人员。
当然，在上述各个实施例的基础上，若在样本A中的各个数据中存在超出侦测极限数值(可以由机器能检测到的光学特性的上限值和下限值来决定，亦可由人为进行设定，在此不做限制)，且在样本A总数中占得比例达到一定阈值(例如，1％，在此不做限定，可以根据实际需要自由设置该阈值)，则说明样本A中的液晶屏属于生产失控情况，则需要将对应的分析报告通知对应的管理人员。例如，通过文字信息、灯光、声音等形式进行通知，在此不作限制，具体根据实际需要进行选择。
在本实施例中，当需要对目标显示屏光学特性进行测定时，通过获取装置，获取目标显示屏光学特性数据，并对采集的数据进行量化，得到样本，将该样本参数同预置基准样本参数进行对比，得到两个样本之间的差异显著性P值，根据P值的大小生成对应的分析报告，使得在对液晶屏可量化的光学特性的检测过程中，不再需要人工依靠经验来进行判断，达到自动化管制的目的，能有效提高工作效率。
参照图7，图7为本申请可量化光学特性管控装置又一实施例的功能模块示意图
本实施例中，可量化光学特性管控装置还包括：
基准制定模块10，用于获取品质合格的液晶屏的光学特性数据，根据所述品质合格的液晶屏的光学特性数据得到基准样本，基准样本经过计算处理，得到基准样本参数。
在本实施例中，预置基准样本参数可以是由人为按照合格的液晶屏可量化的光学特性参数得到，也可以是在正常生产期间，获取一段时间内(例如一个月)液晶屏可量化的光学特性数据，例如，得到正常生产期间一个月时间内液晶屏的衍射特性数据，从而得到样本参数作为基准样本B，计算该样本数据的中位数，或者是计算该样本数据的方差，得到基准样本参数。
在本实施例中，通过获取品质合格的液晶屏的光学特性参数，经过计算处理，得到基准参数，是后续对样本参数进行分析处理的基础。
参照图8，图8为图6中生成模块50一实施例的细化功能模块示意图。
本实施例中，生成模块50包括：
第一生成单元501，用于当所述P值大于预设阈值时，生成对应的第一类分析报告
在本实施例中，当P值＞0.05(该数值不唯一，可由实际情况自由设置)时，即样本A同预置基准样本B之间的差异由抽样误差所导致的概率大于0.05，也就是说样本A同基准样本B之间不存在明显差异，则说明样本A中的液晶屏属于生产受控情况，此时，可以以相应的形式通知管理人员，此时的生产是受控的，不需要对生产进行调整。
在本实施例中，当P值大于预设阈值时，则表明样本A同基准样本B之间不存在明显差异，样本A中的液晶屏属于生产受控情况，此时，以相应的形式通知管理人员，此时的生产是受控的，不需要对生产进行调整。保障了生产工作的正常进行。
参照图9，图9为图6中生成模块50又一实施例的细化功能模块示意图。
本实施例中，生成模块50还包括；
第一判断单元5021，用于当所述P值小于预设阈值时，判断所述目标显示屏的光学特性是否为望大特性；
第二生成单元5022，用于当所述目标显示屏的光学特性为望大特性时，将所述样本中各个数据逐一同基准参数对比，得到统计结果，并根据所述统计结果，生成第二类分析报告。
在本实施例中，当P值＜0.05时，即此时样本A中同基准样本B存在明显差别，还可以继续判断样本A中对应的液晶屏的光学特性是否为望大特性。若是，则统计样本A中各个数据数值大于基准样本B中参数(平均值或是中位数，在此不作限制，具体根据实际需要选择)的个数，若统计的个数在样本A中样本总数中所占的比例达到80％(该数值可以自由设置，在此不做限制，具体根据需要进行设置)，此时，可以以相应的形式通知管理人员，此时的生产是受控的，不需要对生产进行调整。否则，则说明样本A中的液晶屏属于生产失控情况，则需要将对应的分析报告通知对应的管理人员。
在本实施例中，当P值小于0.05，即此时样本A同基准样本B存在明显差别。若样本A中对于的液晶屏的光学特性为望大特性，通过统计样本A中各个参数数值大于基准样本B中参数(平均值或是中位数，在此不作限制，具体根据实际需要选择)的个数，若统计的个数在样本A中样本总数中所占的比例达到80％(该数值可以自由设置，在此不做限制，具体根据需要进行设置)，此时，可以以相应的形式通知管理人员，此时的生产是受控的，不需要对生产进行调整。能够有效减少误判断的情况产生，减少不必要的停工检修，提高生成效率，降低了生产成本。
参照图10，图10为图6中生成模块50再一实施例的细化功能模块示意图。
本实施例中，生成模块50还包括：
第二判断单元5031，用于当所述P值小于预设阈值时，判断所述目标显示屏的光学特性是否为望小特性；
第三生成单元5032，用于当所述目标显示屏的光学特性为望小特性时，将所述样本中各个数据逐一同基准参数对比，得到统计结果，并根据所述统计结果，生成第三类分析报告。
在本实施例中，当P值＜0.05时，即此时检测的样本A同基准样本B存在明显差别，还可以继续判断样本A中对应的液晶屏的光学特性是否为望小特性。若是，则统计样本A中各个数据数值小于基准样本B中参数(平均值或是中位数，在此不作限制，具体根据实际需要选择)的个数，若统计的个数在样本A中样本总数中所占的比例达到80％(该数值可以自由设置，在此不做限制，具体根据需要进行设置)，此时，可以以相应的形式通知管理人员，此时的生产是受控的，不需要对生产进行调整。否则，则说明样本A中的液晶屏属于生产失控情况，则需要将对应的分析报告通知对应的管理人员。
在本实施例中，当P值小于0.05，即此时样本A同基准样本B存在明显差别。若样本A中对于的液晶屏的光学特性为望小特性，通过统计样本A中各个参数数值小于基准样本B中参数(平均值或是中位数，在此不作限制，具体根据实际需要选择)的个数，若统计的个数在样本A中样本总数中所占的比例达到80％(该数值可以自由设置，在此不做限制，具体根据需要进行设置)，此时，可以以相应的形式通知管理人员，此时的生产是受控的，不需要对生产进行调整。能够有效减少误判断的情况产生，减少不必要的停工检修，提高生成效率，降低了生产成本。
此外，本申请实施例还提出一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有可量化光学特性管控程序，所述可量化光学特性管控程序被处理器执行时实现如上所述的可量化光学特性管控方法的步骤。
本申请可读存储介质即计算机可读存储介质，具体实施例与上述可量化光学特性管控方法的各个实施例基本相同，在此不做赘述。
以上仅为本申请的可选实施例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种可量化光学特性管控方法，其特征在于，所述可量化光学特性管控方法包括：
获取目标显示屏的光学特性数据，根据所述目标显示屏的光学特性数据得到样本，样本经过计算处理得到样本参数；
采用预置的检验方法对所述样本参数以及预置基准样本参数进行分析；
得到所述样本参数同所述预置基准样本参数之间的差异由抽样误差所致的概率P值；
根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告。
2.如权利要求1所述的可量化光学特性管控方法，其特征在于，所述获取目标显示屏的光学特性数据，根据所述目标显示屏的光学特性数据得到样本，样本经过计算处理得到样本参数之前包括：
获取品质合格的显示屏的光学特性数据，根据所述品质合格的显示屏的光学特性数据得到基准样本，基准样本经过计算处理，得到基准样本参数。
3.如权利要求1所述的可量化光学特性管控方法，其特征在于，所述根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告包括：
当所述P值大于预设阈值时，生成对应的第一类分析报告。
4.如权利要求1或3所述的可量化光学特性管控方法，其特征在于，所述根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告还包括：
当所述P值小于预设阈值时，判断所述目标显示屏的光学特性是否为望大特性；
当所述目标显示屏的光学特性为望大特性时，将所述样本中各个数据逐一同基准参数对比，得到统计结果，并根据所述统计结果，生成第二类分析报告。
5.如权利要求1或3所述的可量化光学特性管控方法，其特征在于，所述根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告还包括：
当所述P值小于预设阈值时，判断所述目标显示屏的光学特性是否为望小特性；
当所述目标显示屏的光学特性为望小特性时，将所述样本中各个数据逐一同基准参数对比，得到统计结果，并根据所述统计结果，生成第三类分析报告。
6.一种可量化光学特性管控装置，其特征在于，所述可量化光学特性管控装置包括：
获取模块，用于获取目标显示屏的光学特性数据，根据所述目标显示屏的光学特性数据得到样本，样本经过计算处理得到样本参数；
分析模块，用于采用预置的检验方法对所述样本参数以及预置基准样本参数进行分析；
P值获取模块，用于得到所述样本参数同所述预置基准样本参数之间的差异由抽样误差所致的概率P值；
生成模块，用于根据所述P值数值大小，生成对应的分析报告。
7.如权利要求6所述的可量化光学特性管控装置，其特征在于，所述可量化光学特性管控装置还包括：
基准制定模块，用于获取品质合格的显示屏的光学特性数据，根据所述品质合格的显示屏的光学特性数据得到基准样本，基准样本经过计算处理，得到基准样本参数。
8.如权利要求6所述的可量化光学特性管控装置，其特征在于，所述生成模块包括：
第一生成单元，用于当所述P值大于预设阈值时，生成对应的第一类分析报告。
9.如权利要求6或8所述的可量化光学特性管控装置，其特征在于，所述生成模块还包括：
第一判断单元，用于当所述P值小于预设阈值时，判断所述目标显示屏的光学特性是否为望大特性；
第二生成单元，用于当所述目标显示屏的光学特性为望大特性时，将所述样本中各个数据逐一同基准参数对比，得到统计结果，并根据所述统计结果，生成第二类分析报告。
10.一种可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质上存储有可量化光学特性管控程序，所述可量化光学特性管控程序被处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的可量化光学特性管控方法的步骤。
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2018
- 2018-11-07 CN CN201811321970.6A patent/CN109358589B/zh active Active
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