CN109357580A - 一种双自由度数显卡尺 - Google Patents

Abstract

本申请属于数显卡尺设计技术领域，具体涉及一种双自由度数显卡尺，其设计主量爪具有主调整状态及主测量状态，主调整状态用以对主量爪的径向高度进行调节，主测量状态用以在主量爪径向高度达到所需值时，对主量爪进行固定；以及，设计副量爪具有副调整状态及副测量状态，副调整状态用以对副量爪的径向高度进行调节，副测量状态用以在副量爪径向高度达到所需值时，对副量爪进行固定；主量爪及副量爪既能够跟随主尺、副尺沿轴向运动，又能够进行沿径向方向的高度调节，即具有轴向与径向两个方向的自由度，在某些特定情况下，可方便地通过调节主量爪、副量爪的径向高度，实现与测量部位的接触，从而能够获得较为准确的测量结果。

Description

一种双自由度数显卡尺

技术领域

本申请属于数显卡尺设计技术领域，具体涉及一种双自由度数显卡尺。

背景技术

数显卡尺是一种测量长度、内外径、深度的量具，其具有读数直观、使用方便、功能多样的特点，被作为较高精度的测量工具广泛使用。数显卡尺主要包括：主尺、副尺、安装在主尺与副尺上的量爪，其中，主尺与副尺滑动连接，副尺相对于主尺能够沿轴向运动；由主尺及副尺组成的尺身内部安装有高精度的齿条以及圆形栅格片，主尺与副尺之间相对运动时，齿条带动圆形珊格片转动，基于光脉冲计数原理，将主尺与副尺间的位移信号转变为脉冲讯号，通过计数器和显示器将测量尺寸用数字显示在屏上。

数显卡尺能够快速准确的对回转类尺寸、平面尺寸以及两同向短小平行平面间的空间距离进行测量，但当前数显卡尺中主尺及副尺上的量爪固定且对称设置，且仅能够跟随主尺及副尺沿轴向运动，在一个自由度方向上移动，极大限制了其使用，主要表现在以下方面：

(1)主尺及副尺上的量爪高度相对固定，在实际尺寸的测量过程中常遇到主尺及副尺上的量爪无法同时与测量部位同时接触的情况，如图1所示对蜂窝环磨痕距离进行测量时，由于不能够准确定位，从而致使不能得到准确的测量结果；

(2)主尺及副尺上的量爪单一且对称的结构，对非对称空间尺寸或对称有深度的沟槽进行测量时，更具体的是对连接油路间的间隙、沟槽的内外直径及其宽度进行测量时，主尺及副尺上的量爪会产生干涉，不能够与测量部位接触，进而难以获得准确的测量结果。

因此，希望有一种技术方案来克服或至少减轻现有技术的至少一个上述缺陷。

发明内容

本申请的目的是提供一种双自由度数显卡尺，以克服或减轻上市至少一方面的缺陷。

本申请的技术方案是：

一种双自由度数显卡尺，数显卡尺的主尺沿径向开设有主量孔以及主压紧孔；主尺一端端面沿轴向开设有主连通孔；主连通孔向主尺另一端延伸，依次与主量孔及主压紧孔连通；

数显卡尺的副尺沿径向开设有副量孔以及副压紧孔；副尺一端端面沿轴向开设有副连通孔；副连通孔向副尺另一端延伸依次与副量孔及副压紧孔连通；

还包括：

主压紧柱，其一端为主连接端，另一端为主压紧端；主压紧柱的直径自主压紧端向主连接端方向逐渐扩大；主压紧柱设置在主压紧孔中，主连接端与主压紧孔壁面螺纹配合连接；

主顶紧块，插入主连通孔，其靠近主压紧住的一端为主接触端，另一端为主顶紧端；主接触端壁面倾斜，且与主压紧柱的外壁面贴合；

主量爪，其一端为主调整端，另一端为主量端；主量端用于与被测件接触；

副压紧柱，其一端为副连接端，另一端为副压紧端；副压紧柱的直径自副压紧端向副连接端方向逐渐扩大；副压紧柱设置在副压紧孔中，副连接端与副压紧孔壁面螺纹配合连接；

副顶紧块，插入副连通孔，其靠近副压紧住的一端为副接触端，另一端为副顶紧端；副接触端壁面倾斜，且与副压紧柱的外壁面贴合；

副量爪，其一端为副调整端，另一端为副量端；副量端用于与被测件接触；

其中，

主量爪具有：

主测量状态，主量爪的主调整端插入主量孔中；主压紧柱的主连接端拧紧，使主压紧柱的外壁面与主顶紧块主接触端的壁面抵接；主顶紧块的主顶紧端顶紧主量爪的主调整端，从而使主量爪的主调整端在主量孔中固定；

主调整状态，主压紧柱的主连接端拧松，使主顶紧块的主顶紧端与主量爪的主调整端脱离；主量爪能够沿主量孔轴向运动；

副量爪具有：

副测量状态，副量爪的副调整端插入副量孔中；副压紧柱的副连接端拧紧，使副压紧柱的外壁面与副顶紧块副接触端的壁面抵接；副顶紧块的副顶紧端顶紧副量爪的副调整端，从而使副量爪的副调整端在副量孔中固定；

副调整状态，副压紧柱的副连接端拧松，使副顶紧块的副顶紧端与副量爪的副调整端分离；副量爪能够沿副量孔轴向运动。

根据本申请的至少一个实施例，主尺上沿径向开设有主销孔；主顶紧块沿径向开设有主销通过孔；

主量爪自主量孔脱离时，主销孔与主销通过孔连通，形成主销通道；

副尺上沿径向开设有副销孔；副顶紧块沿径向开设有副销通过孔；

副量爪自副量孔脱离时，副销孔与副销通过孔连通，形成副销通道；

还包括：

主固定销，设置在主销通道中；

副固定销，设置在副销通道中。

根据本申请的至少一个实施例，主压紧柱的主压紧端端面设置有主螺柱，主螺柱与主压紧孔壁面螺纹配合连接；

副压紧柱的副压紧端端面设置有副螺柱，副螺柱与副压紧孔壁面螺纹配合连接。

根据本申请的至少一个实施例，主量孔沿其径向的截面为矩形；

副量孔沿其径向的截面为矩形。

根据本申请的至少一个实施例，主量孔沿径向贯穿主尺；主量孔的一端为主量孔第一端，另一端为主量孔第二端；

主量爪处于主测量状态，主量爪的主调整端自主量孔第一端或主量孔第二端插入副量孔中；

副量孔沿径向贯穿副尺；副量孔的一端为副量孔第一端，另一端为副量孔第二端；主量孔第一端与副量孔第一端处于同一侧；

副量爪处于副测量状态，副量爪的副调整端自副量孔第一端或副量孔第二端插入副量孔中。

根据本申请的至少一个实施例，主量爪，包括：

第一主量爪，其主量端设置有第一主量片，第一主量片与第一量爪轴线垂直；

第二主量爪，其主量端设置有第二主量片，第二主量片与第二量爪轴线平行；第三主量爪，其主量端呈刀尖形；

副量爪，包括：

第一副量爪，其副量端设置有第一副量片，第一副量片与第一量爪轴线垂直；

第二副量爪，其副量端设置有第二副量片，第二副量片与第二量爪轴线平行；

第三副量爪，其主量端呈刀尖形。

根据本申请的至少一个实施例，双自由度数显卡尺具有，沟槽直径测量状态：

第一主量爪处于主测量状态，第一主量爪的主调整端自主量孔第一端插入主量孔；

第一副量爪处于副测量状态，第一副量爪的副调整端自副量孔第一端插入副量孔；

第一主量片背向第一副量爪延伸；

第一副量片背向第一主量爪延伸。

根据本申请的至少一个实施例，双自由度数显卡尺还具有，沟槽槽宽测量状态：

第二主量爪处于主测量状态，第二主量爪的主调整端自主量孔第二端插入主量孔；

第三副量爪处于副测量状态，第三副量爪的副调整端自副量孔第一端插入副量孔；

第二主量片的一侧面朝向朝向第三副量爪；

第三副量爪主量端的尖部朝向第二主量爪。

根据本申请的至少一个实施例，双自由度数显卡尺还具有，蜂窝环磨损测量状态：

第三主量爪处于主测量状态，第三主量爪的主调整端自主量孔第二端插入主量孔；

第三副量爪处于副测量状态，第三副量爪的副调整端自副量孔第二端插入副量孔；

第三主量爪主量端的尖部朝向第三副量爪；

第三副量爪主量端的尖部朝向第三主量爪。

根据本申请的至少一个实施例，双自由度数显卡尺还具有，油管间隙测量状态：

第三主量爪处于主测量状态，第三主量爪的主调整端自主量孔第一端插入主量孔；

第三副量爪处于副测量状态，第三副量爪的副调整端自副量孔第二端插入副量孔；

第三主量爪主量端的尖部背向第三副量爪；

第三副量爪主量端的尖部背向第三主量爪。

本申请至少存在以下有益技术效果：提供了一种述双自由度数显卡尺，其设计主量爪具有主调整状态及主测量状态，主调整状态用以对主量爪的径向高度进行调节，主测量状态用以在主量爪径向高度达到所需值时，对主量爪进行固定；以及，设计副量爪具有副调整状态及副测量状态，副调整状态用以对副量爪的径向高度进行调节，副测量状态用以在副量爪径向高度达到所需值时，对副量爪进行固定；主量爪及副量爪既能够跟随主尺、副尺沿轴向运动，又能够进行沿径向方向的高度调节，即具有轴向与径向两个方向的自由度，在某些特定情况下，可方便地通过调节主量爪、副量爪的径向高度，实现与测量部位的接触，从而能够获得较为准确的测量结果。

附图说明

图1是现有数显量尺对蜂窝环磨痕间的距离进行量的结构示意图；

图2是本申请实施例提供的双自由度数显卡尺的结构示意图；

图3为图2中双自由度数显卡尺的A向视图；

图4是本申请实施例提供的主顶块的结构示意图；

图5是本申请实施例提供的主顶柱的结构示意图；

图6是本申请实施例提供的第一主量爪的结构示意图；

图7是本申请实施例提供的第二主量爪的结构示意图；

图8是本申请实施例提供的第三主量爪的结构示意图；

图9是本申请实施例提供的双自由度数显卡尺处于沟槽直径测量状态的工作示意图；

图10是本申请实施例提供的双自由度数显卡尺处于沟槽槽宽测量状态的工作示意图；

图11是本申请实施例提供的双自由度数显卡尺处于蜂窝环磨痕测量状态的工作示意图；

图12是本申请实施例提供的双自由度数显卡尺处油管间隙测量状态的结构示意图；

其中：

1-主尺；2-副尺；3-主顶紧块；4-主压紧柱；5-主量孔；6-主销孔；7-副压紧柱；8-副销孔；9-副量孔；10-第一主量爪；11-第二主量爪；12-第三主量爪；13-显示屏；14-主螺柱；15-第一主量片；16-第二主量片；17-沟槽；18-第一副量爪；19-第一副量片；20-第三副量爪；21-蜂窝环；22-第一油管；23-第二油管。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本申请作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释相关申请，而非对该申请的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本申请相关的部分。

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。

需要说明的是，在本申请的描述中，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方向或位置关系的术语是基于附图所示的方向或位置关系，这仅仅是为了便于描述，而不是指示或暗示所述装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

此外，还需要说明的是，在本申请的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域技术人员而言，可根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

下面结合附图1至图12对本申请做进一步详细说明。

一种双自由度数显卡尺，数显卡尺的主尺1沿径向开设有主量孔5以及主压紧孔；主尺1一端端面沿轴向开设有主连通孔；主连通孔向主尺1另一端延伸，依次与主量孔5及主压紧孔连通；

数显卡尺的副尺2沿径向开设有副量孔9以及副压紧孔；副尺2一端端面沿轴向开设有副连通孔；副连通孔向副尺2另一端延伸依次与副量孔9及副压紧孔连通；

还包括：

主压紧柱4，其一端为主连接端，另一端为主压紧端；主压紧柱的直径自主压紧端向主连接端方向逐渐扩大；主压紧柱4设置在主压紧孔中，主连接端与主压紧孔壁面螺纹配合连接；

主顶紧块3，插入主连通孔，其靠近主压紧住4的一端为主接触端，另一端为主顶紧端；主接触端壁面倾斜，且与主压紧柱4的外壁面贴合；

主量爪，其一端为主调整端，另一端为主量端；主量端用于与被测件接触；

副压紧柱7，其一端为副连接端，另一端为副压紧端；副压紧柱的直径自副压紧端向副连接端方向逐渐扩大；副压紧柱7设置在副压紧孔中，副连接端与副压紧孔壁面螺纹配合连接；

副顶紧块，插入副连通孔，其靠近副压紧住7的一端为副接触端，另一端为副顶紧端；副接触端壁面倾斜，且与副压紧柱7的外壁面贴合；

副量爪，其一端为副调整端，另一端为副量端；副量端用于与被测件接触；

其中，

主量爪具有：

主测量状态，主量爪的主调整端插入主量孔5中；主压紧柱4的主连接端拧紧，使主压紧柱4的外壁面与主顶紧块3主接触端的壁面抵接；主顶紧块3的主顶紧端顶紧主量爪的主调整端，从而使主量爪的主调整端在主量孔5中固定；

主调整状态，主压紧柱4的主连接端拧松，使主顶紧块3的主顶紧端与主量爪的主调整端脱离；主量爪能够沿主量孔5轴向运动；

副量爪具有：

副测量状态，副量爪的副调整端插入副量孔9中；副压紧柱7的副连接端拧紧，使副压紧柱7的外壁面与副顶紧块副接触端的壁面抵接；副顶紧块的副顶紧端顶紧副量爪的副调整端，从而使副量爪的副调整端在副量孔9中固定；

副调整状态，副压紧柱7的副连接端拧松，使副顶紧块的副顶紧端与副量爪的副调整端分离；副量爪能够沿副量孔9轴向运动。

对于上述双自由度数显卡尺，本领域技术人员容易理解的是：

在主量爪处于主调整状态时，其沿主量孔5轴向运动，在其径向高度达到测量所需的高度时，将其设定为主测量状态，从而实现对于主量爪沿主尺径向高度的调节，即主量爪具有径向自由度；

在副量爪处于副调整状态时，其可沿副量孔9轴向运，在其径向高度达到测量所需的高度时，将其设定为主测量状态，从而实现对于副量爪沿主尺径向高度的调节，即副量爪具有径向自由度。

上述双自由度数显卡尺，其主量爪及副量爪既能够跟随主尺1、副尺2沿轴向运动，又能够进行沿径向方向的高度调节，即具有轴向与径向两个方向的自由度，在某些特定情况下，如对蜂窝环磨损距离进行测量时，可方便地通过调节主量爪、副量爪的径向高度，实现与测量部位的接触，从而能够获得较为准确的测量结果。在一些可选的实施例中，主尺1上沿径向开设有主销孔6；主顶紧块3沿径向开设有主销通过孔；主量爪自主量孔3脱离时，主销孔6与主销通过孔连通，形成主销通道；

副尺2上沿径向开设有副销孔8；副顶紧块沿径向开设有副销通过孔；副量爪自副量孔9脱离时，副销孔8与副销通过孔连通，形成副销通道；

还包括：主固定销，设置在主销通道中；副固定销，设置在副销通道中。

上述双自由度数显卡尺，将主固定销在主销通道中设置，可在主量爪自主量孔3脱离时，防止主顶紧块3自主连通孔中脱出；

设置副固定销在副销通道中，可在副量爪自副量孔9脱离时，防止副顶紧块自副连通孔中脱出。

在一些可选的实施例中，主压紧柱4的主压紧端端面设置有主螺柱14，主螺柱14与主压紧孔壁面螺纹配合连接，以增加主压紧柱与主压紧孔壁面连接的稳定性

副压紧柱的副压紧端端面设置有副螺柱，副螺柱与副压紧孔壁面螺纹配合连接，以增加副压紧柱与副压紧孔壁面连接的稳定性。

在一些可选的实施例中，主量孔5沿其径向的截面为矩形，以增加主量爪的主固定端在其内设置的稳定性，防止主量爪发生转动；副量孔9沿其径向的截面为矩形，以增加副量爪的副固定端在其内设置的稳定性，防止副量爪发生转动。

在一些可选的实施例中，主量孔5沿径向贯穿主尺1；主量孔5的一端为主量孔第一端，另一端为主量孔第二端；主量爪处于主测量状态，主量爪的主调整端自主量孔第一端或主量孔第二端插入副量孔5中；

副量孔9沿径向贯穿副尺2；副量孔9的一端为副量孔第一端，另一端为副量孔第二端；主量孔第一端与副量孔第一端处于同一侧；副量爪处于副测量状态，副量爪的副调整端自副量孔第一端或副量孔第二端插入副量孔9中。

上述双自由度数显卡尺，设置主量爪处于主测量状态是，主量爪的主调整端可自自主量孔第一端或主量孔第二端插入副量孔5中；副量爪处于副测量状态时，副量爪的副调整端可自副量孔第一端或副量孔第二端插入副量孔9中，可以方便灵活的根据实际情况设置主量爪及副量爪所在的一侧，以方便测量，进一步扩大该双自由度数显卡尺的测量使用范围。

在一些可选的实施例中，主量爪有多个，包括：第一主量爪10，其主量端设置有第一主量片15，第一主量片15与第一量爪10轴线垂直；第二主量爪11，其主量端设置有第二主量片16，第二主量片16与第二量爪11轴线平行；第三主量爪12，其主量端呈刀尖形；

副量爪有多个，包括：第一副量爪18，其副量端设置有第一副量片19，第一副量片19与第一量爪轴线垂直；第二副量爪，其副量端设置有第二副量片，第二副量片与第二量爪轴线平行；第三副量爪20，其主量端呈刀尖形。

对于上述双自由度数显卡尺，其设置主量爪及副量爪具有多种形式，以方便技术人员在具体的量应用时进行选用，以此进一步扩大上述双自由度数显卡尺的测量使用范围。

在一些可选的实施例中，双自由度数显卡尺具有，沟槽直径测量状态：

第一主量爪10处于主测量状态，第一主量爪10的主调整端自主量孔第一端插入主量孔5；

第一副量爪18处于副测量状态，第一副量爪18的副调整端自副量孔第一端插入副量孔9；

第一主量片15背向第一副量爪18延伸；

第一副量片19背向第一主量爪10延伸。

对如图9所示的沟槽17的直径进行测量时，可将双自由度数显卡尺设置为沟槽直径测量状态，对本领域技术人员容易，理解地是，在设置上述双自由度数显卡尺前，已在第一主量爪10的主调整状态，将第一主量爪10的径向高度调整至所需值，已在第一副量爪18的副调整状态，将第一副量爪18的径向高度调节至所需值。对于其具体测量过程，本领域技术人员可结合图9进行理解，在此不再进形更进一步的阐述。

在一些可选的实施例中，双自由度数显卡尺还具有，沟槽槽宽测量状态：

第二主量爪11处于主测量状态，第二主量爪11的主调整端自主量孔第二端插入主量孔5；

第三副量爪20处于副测量状态，第三副量爪20的副调整端自副量孔第一端插入副量孔9；

第二主量片16的一侧面朝向朝向第三副量爪20；

第三副量爪20主量端的尖部朝向第二主量爪11。

将双自由度数显卡尺设置为沟槽宽度测量状态，可对如图10所示的沟槽17的宽度进行测量，其具体的测量过程，本领域技术人员可结合图10进行理解，在此不再进行更进一步的阐述。

在一些可选的实施例中，双自由度数显卡尺还具有，蜂窝环磨损测量状态：

第三主量爪12处于主测量状态，第三主量爪12的主调整端自主量孔第二端插入主量孔5；

第三副量爪20处于副测量状态，第三副量爪20的副调整端自副量孔第二端插入副量孔9；

第三主量爪12主量端的尖部朝向第三副量爪20；

第三副量爪20主量端的尖部朝向第三主量爪12。

将双自由度数显卡尺设置为蜂窝环磨痕测量状态，可对如图11所示的蜂窝环21磨痕间的距离进行测量，其具体的测量过程，本领域技术人员可结合图11进行理解，在此不再进行更进一步的阐述。

将双自由度数显卡尺设置为沟槽宽度测量状态，可对如图10所示的沟槽17的宽度进行测量，其具体的测量过程，本领域技术人员可结合图10进行理解，在此不再进行更进一步的阐述。

在一些可选的实施例中，双自由度数显卡尺还具有，油管间隙测量状态：

第三主量爪12处于主测量状态，第三主量爪12的主调整端自主量孔第一端插入主量孔5；

第三副量爪20处于副测量状态，第三副量爪20的副调整端自副量孔第二端插入副量孔9；

第三主量爪12主量端的尖部背向第三副量爪20；

第三副量爪20主量端的尖部背向第三主量爪12。

将双自由度数显卡尺设置为油管间隙测量状态，可对如图12所示的第一油管22、第二油管23之间的间隙进行测量，其具体的测量过程，本领域技术人员可结合图12进行理解，在此不再进行更进一步的阐述。

此外，对于本申请实施例所公开的双自由度数显卡尺，本领域技术人员容易理解的是，其设置主量爪及副量爪具有双自由度；其中

主量爪包括但不限于第一主量爪、第二主量爪、第三主量爪；

副量爪包括但不限于第一副量爪、第二副量爪、第三副量爪；

本领域技术人员在具体应用时可根据实际对主量爪及副量爪在常见或容易想到的范围内进行相应的设计选择；

双自由度数显卡尺至少具有：

沟槽直径测量状态，用于对如图9所示的沟槽17的直径及其类似结构的直径进行测量；

沟槽槽宽测量状态，用于对如图10所示的沟槽17的宽度及其类似结构的宽度进行测量；

蜂窝环磨痕测量状态，用于对如图11所示的蜂窝环磨痕间距及其相似结构的间距进行测量；

油管间隙测量状态，用于对如图12所示的第一油管22与第二油管23之间的间隙及其类似结构间的间隙进行测量；

此外，本领域技术人员在具体应用时，可根据实情况，结合设计的主量爪及副量爪形式，设计双自由度相应的测量状态进行测量，实现对各种非对称空间尺寸及对称但有深度的结构进行测量。

至此，已经结合附图所示的优选实施方式描述了本申请的技术方案，但是，本领域技术人员容易理解的是，本申请的保护范围显然不局限于这些具体实施方式。在不偏离本申请的原理的前提下，本领域技术人员可以对相关技术特征作出等同的更改或替换，这些更改或替换之后的技术方案都将落入本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种双自由度数显卡尺，其特征在于，

所述数显卡尺的主尺(1)沿径向开设有主量孔(5)以及主压紧孔；所述主尺(1)一端端面沿轴向开设有主连通孔；所述主连通孔向所述主尺(1)另一端延伸，依次与所述主量孔(5)及所述主压紧孔连通；

所述数显卡尺的副尺(2)沿径向开设有副量孔(9)以及副压紧孔；所述副尺(2)一端端面沿轴向开设有副连通孔；所述副连通孔向所述副尺(2)另一端延伸依次与所述副量孔(9)及所述副压紧孔连通；

还包括：

主压紧柱(4)，其一端为主连接端，另一端为主压紧端；所述主压紧柱(4)的直径自所述主压紧端向所述主连接端方向逐渐扩大；所述主压紧柱(4)设置在所述主压紧孔中，所述主连接端与所述主压紧孔壁面螺纹配合连接；

主顶紧块(3)，插入所述主连通孔，其靠近所述主压紧住(4)的一端为主接触端，另一端为主顶紧端；所述主接触端壁面倾斜，且与所述主压紧柱(4)的外壁面贴合；

主量爪，其一端为主调整端，另一端为主量端；所述主量端用于与被测件接触；

副压紧柱(7)，其一端为副连接端，另一端为副压紧端；所述副压紧柱(7)的直径自所述副压紧端向所述副连接端方向逐渐扩大；所述副压紧柱(7)设置在所述副压紧孔中，所述副连接端与所述副压紧孔壁面螺纹配合连接；

副顶紧块，插入所述副连通孔，其靠近所述副压紧住(7)的一端为副接触端，另一端为副顶紧端；所述副接触端壁面倾斜，且与所述副压紧柱(7)的外壁面贴合；

副量爪，其一端为副调整端，另一端为副量端；所述副量端用于与被测件接触；

其中，

所述主量爪具有：

主测量状态，所述主量爪的主调整端插入所述主量孔(5)中；所述主压紧柱(4)的主连接端拧紧，使主压紧柱(4)的外壁面与所述主顶紧块(3)主接触端的壁面抵接；所述主顶紧块(3)的主顶紧端顶紧所述主量爪的主调整端，从而使所述主量爪的主调整端在所述主量孔(5)中固定；

主调整状态，所述主压紧柱(4)的主连接端拧松，使所述主顶紧块(3)的主顶紧端与所述主量爪的主调整端脱离；所述主量爪能够沿所述主量孔(5)轴向运动；

所述副量爪具有：

副测量状态，所述副量爪的副调整端插入所述副量孔(9)中；所述副压紧柱(7)的副连接端拧紧，使副压紧柱(7)的外壁面与所述副顶紧块副接触端的壁面抵接；所述副顶紧块的副顶紧端顶紧所述副量爪的副调整端，从而使所述副量爪的副调整端在所述副量孔(9)中固定；

副调整状态，所述副压紧柱(7)的副连接端拧松，使所述副顶紧块的副顶紧端与所述副量爪的副调整端分离；所述副量爪能够沿所述副量孔(9)轴向运动。

2.根据权利要求1所述的双自由度数显卡尺，其特征在于，

所述主尺(1)上沿径向开设有主销孔(6)；所述主顶紧块(3)沿径向开设有主销通过孔；

主量爪自所述主量孔(3)脱离时，所述主销孔(6)与所述主销通过孔连通，形成主销通道；

所述副尺(2)上沿径向开设有副销孔(8)；所述副顶紧块沿径向开设有副销通过孔；

副量爪自所述副量孔(9)脱离时，所述副销孔(8)与所述副销通过孔连通，形成副销通道；

还包括：

主固定销，设置在所述主销通道中；

副固定销，设置在所述副销通道中。

3.根据权利要求1所述的双自由度数显卡尺，其特征在于，

所述主压紧柱(4)的主压紧端端面设置有主螺柱(14)，所述主螺柱(14)与所述主压紧孔壁面螺纹配合连接；

所述副压紧柱的副压紧端端面设置有副螺柱，所述副螺柱与所述副压紧孔壁面螺纹配合连接。

4.根据权利要求1所述双自由度数显卡尺，其特征在于，

所述主量孔(5)沿其径向的截面为矩形；

所述副量孔(9)沿其径向的截面为矩形。

5.根据权利要求1所述的双自由度数显卡尺，其特征在于，

所述主量孔(5)沿径向贯穿所述主尺(1)；所述主量孔(5)的一端为主量孔第一端，另一端为主量孔第二端；

所述主量爪处于所述主测量状态，所述主量爪的主调整端自所述主量孔第一端或主量孔第二端插入所述副量孔(5)中；

所述副量孔(9)沿径向贯穿所述副尺(2)；所述副量孔(9)的一端为副量孔第一端，另一端为副量孔第二端；所述主量孔第一端与所述副量孔第一端处于同一侧；

所述副量爪处于所述副测量状态，所述副量爪的副调整端自所述副量孔第一端或副量孔第二端插入所述副量孔(9)中。

6.根据权利要求4所述的双自由度数显卡尺，其特征在于，

所述主量爪有多个，包括：

第一主量爪(10)，其主量端设置有第一主量片(15)，所述第一主量片(15)与所述第一量爪(10)轴线垂直；

第二主量爪(11)，其主量端设置有第二主量片(16)，所述第二主量片(16)与所述第二量爪(11)轴线平行；

第三主量爪(12)，其主量端呈刀尖形；

所述副量爪有多个，包括：

第一副量爪(18)，其副量端设置有第一副量片(19)，所述第一副量片(19)与所述第一量爪轴线垂直；

第二副量爪，其副量端设置有第二副量片，所述第二副量片与所述第二量爪轴线平行；

第三副量爪(20)，其主量端呈刀尖形。

7.跟据权利要求6所述的双自由度数显卡尺，其特征在于，

所述双自由度数显卡尺具有，沟槽直径测量状态：

所述第一主量爪(10)处于主测量状态，所述第一主量爪(10)的主调整端自所述主量孔第一端插入所述主量孔(5)；

所述第一副量爪(18)处于副测量状态，所述第一副量爪(18)的副调整端自所述副量孔第一端插入所述副量孔(9)；

所述第一主量片(15)背向所述第一副量爪(18)延伸；

所述第一副量片(19)背向所述第一主量爪(10)延伸。

8.根据权利要求7所述的双自由度数显卡尺，其特征在于，

所述双自由度数显卡尺还具有，沟槽槽宽测量状态：

所述第二主量爪(11)处于主测量状态，所述第二主量爪(11)的主调整端自所述主量孔第二端插入所述主量孔(5)；

所述第三副量爪(20)处于副测量状态，所述第三副量爪(20)的副调整端自所述副量孔第一端插入所述副量孔(9)；

所述第二主量片(16)的一侧面朝向朝向所述第三副量爪(20)；

所述第三副量爪(20)主量端的尖部朝向所述第二主量爪(11)。

9.根据权利要求8所述的双自由度数显卡尺，其特征在于，

所述双自由度数显卡尺还具有，蜂窝环磨损测量状态：

所述第三主量爪(12)处于主测量状态，所述第三主量爪(12)的主调整端自所述主量孔第二端插入所述主量孔(5)；

所述第三副量爪(20)处于副测量状态，所述第三副量爪(20)的副调整端自所述副量孔第二端插入所述副量孔(9)；

所述第三主量爪(12)主量端的尖部朝向所述第三副量爪(20)；

所述第三副量爪(20)主量端的尖部朝向所述第三主量爪(12)。

10.根据权利要求9所述的双自由度数显卡尺，其特征在于，

所述双自由度数显卡尺还具有，油管间隙测量状态：

所述第三主量爪(12)处于主测量状态，所述第三主量爪(12)的主调整端自所述主量孔第一端插入所述主量孔(5)；

所述第三副量爪(20)处于副测量状态，所述第三副量爪(20)的副调整端自所述副量孔第二端插入所述副量孔(9)；

所述第三主量爪(12)主量端的尖部背向所述第三副量爪(20)；

所述第三副量爪(20)主量端的尖部背向所述第三主量爪(12)。