CN109347444A - 一种低噪声高转换增益的上变频混频器 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种低噪声高转换增益的上变频混频器,其特征在于,包括:输入跨导单元将中频电压信号(IF+、IF‑)转换为射频电流信号;开关单元在本振电压信号(LO+、LO‑)的开关控制下,将输入跨导单元输出的中频电流信号通过电流换向变频,产生射频电流信号;负载单元将开关单元输出的电流信号转换为射频电压信号,差分射频电压信号(RF+、RF‑)从开关单元和负载单元之间输出。

Description

一种低噪声高转换增益的上变频混频器
技术领域
本发明为射频集成电路技术领域,具体涉及一种低噪声高转换增益的上变频混频器。
背景技术
随着无线通信技术的不断发展,从以雷达技术为首的军事应用,到以移动通信为主的民用技术,越来越多的无线通信应用进入人们的眼前。在现代通信系统中,射频收发前端具有举足轻重的作用,而混频器作为其中的核心模块之一,更对系统性能、成本有深远的影响。
在射频发射前端电路中,混频器实现中频信号和射频信号的转换。混频器分为无源混频器和有源混频器。无源混频器没有静态电流流过开关混频级,闪烁噪声较小,且线性度较高,但缺点是无法提供增益,一般在无源混频器后会接跨阻放大器,这会增加设计的复杂度、功耗、面积与成本。有源混频器可以提供增益,典型结构是吉尔伯特双平衡混频器,它具有较好的端口隔离度,且相对于无源混频器后接跨阻放大器具有较小的面积,但缺点是噪声较高、线性度较差。
发明内容
本发明的目的是提供一种低噪声高转换增益的上变频混频器,主要技术方案如下:
一种低噪声高转换增益的上变频混频器,采用基于双平衡吉尔伯特混频器结构,包括:
输入跨导单元将中频电压信号(IF+、IF-)转换为射频电流信号,采用互补PMOS\NMOS结构,PMOS和NMOS共用直流电流,PMOS管的直流电流注入NMOS管中;
开关单元在本振电压信号(LO+、LO-)的开关控制下,将输入跨导单元输出的中频电流信号通过电流换向变频,产生射频电流信号;
负载单元将开关单元输出的电流信号转换为射频电压信号,差分射频电压信号(RF+、RF-)从开关单元和负载单元之间输出,采用PMOS做有源负载,并给PMOS栅极单独提供偏置电压。
所述输入跨导单元包括:第一晶体管(M1)、第二晶体管(M2)、第三晶体管(M3)和第四晶体管(M4);其中,所述第一晶体管(M1)与第三晶体管(M3)、第二晶体管(M2)与第四晶体管(M4)组成PMOS/NMOS互补结构,即第一晶体管(M1)与第三晶体管(M3)的栅极通过第一电容(C1)并联耦合,共同输入正向中频信号(IF+),第一晶体管(M1)与第三晶体管(M3)的漏极连接,共同与第五晶体管(M5)和第六晶体管(M6)的源极连接,第一晶体管(M1)的源极接地端GND,第三晶体管(M1)的源极接电源VDD;
所述第二晶体管(M2)与第四晶体管(M4)的栅极通过第二电容(C2)并联耦合,共同输入反向中频信号(IF-),第二晶体管(M2)与第四晶体管(M4)的漏极连接,共同与第七晶体管(M7)和第八晶体管(M8)的源极连接,第二晶体管(M2)的源极接地端GND,第四晶体管(M4)的源极接电源VDD。
所述开关单元包括:第五晶体管(M5)、第六晶体管(M6)、第七晶体管(M7)和第八晶体管(M8);其中,所述第五晶体管(M5)的栅极与正向本振信号(LO+)连接,源极与第一晶体管(M1)的漏极连接,漏极与第九晶体管(M9)的漏极连接,并通过第四电容(C4)与第十晶体管(M10)的栅极连接;
所述第六晶体管(M6)的栅极与反向本振信号(LO-)连接,源极与第一晶体管(M1)的漏极连接,漏极与第十晶体管(M10)的漏极连接,并通过第三电容(C3)与第九晶体管(M10)的栅极连接;
所述第七晶体管(M7)的栅极与反向本振信号(LO-)连接,源极与第二晶体管(M2)的漏极连接,漏极与第五晶体管(M5)的漏极连接;
所述第八晶体管(M8)的栅极与正向本振信号(LO+)连接,源极与第二晶体管(M2)的漏极连接,漏极与第六晶体管(M6)的漏极连接。
所述负载单元包括:第九晶体管(M9)、第十晶体管(M10)、第三电容(C3)与第四电容(C4);
其中,所述第九晶体管(M9)的源极与电源VDD连接,栅极通过第三电容(C3)与第六晶体管(M6)的漏极连接,漏极与第五晶体管(M5)的漏极连接,并连接正向输出射频电压信号(RF+);
所述第十晶体管(M10)的源极与电源VDD连接,栅极通过第四电容(C4)与第五晶体管(M5)的漏极连接,漏极与第六晶体管(M6)的漏极连接,并连接反向输出射频电压信号(RF-)。
本发明的实质性特点和有益效果如下:
(1)基于双平衡吉尔伯特混频器结构,在保证优秀的隔离度性能和一定的功耗条件下,优化整体的噪声性能,提高电路的转换增益和线性度。
(2)在输入跨导单元采用互补PMOS\NMOS结构,PMOS和NMOS共用直流电流,可以实现在不增加电路功耗的情况下,提高混频器跨导级的跨导值,以此提高转换增益;
(3)在输入跨导单元采用的互补PMOS\NMOS结构中,结合了电流注入技术以改善噪声性能。即PMOS管的直流电流注入NMOS管中,从而减小了开关级晶体管的直流电流,从而减小了开关级带来的噪声贡献,降低了整体的噪声系数;
(4)在输入跨导单元采用的互补PMOS\NMOS结构中,结合了导数叠加技术以改善线性度。利用PMOS和NMOS的二、三阶跨导(g′m、g″m)分布,通过合理设计偏置和尺寸,使得PMOS和NMOS的g″m部分抵消,从而提高IIP3
(5)在负载单元采用PMOS做有源负载,并给PMOS栅极单独提供偏置电压,通过设置栅极偏置电压,减小了负载级直流压降,并通过电容交叉耦合,将输出射频信号再次放大,进一步提高了混频器转换增益。
附图说明
图1为本发明具体实例混频器电路原理图;
图2为本发明具体实例混频器的转换增益的仿真结果图;
图3为本发明具体实例混频器的噪声系数的仿真结果图;
图4为本发明具体实例混频器的输入三阶交调点IIP3的仿真结果图。
具体实施方式
为使本发明要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚,下面结合附图,对本发明的具体实施方式进行说明。
如图1所示,所述输入跨导单元包括:第一晶体管(M1)、第二晶体管(M2)、第三晶体管(M3)和第四晶体管(M4);
其中,所述第一晶体管(M1)与第三晶体管(M3)、第二晶体管(M2)与第四晶体管(M4)组成PMOS/NMOS互补结构,即第一晶体管(M1)与第三晶体管(M3)的栅极通过第一电容(C1)并联耦合,共同输入正向中频信号(IF+),第一晶体管(M1)与第三晶体管(M3)的漏极连接,共同与第五晶体管(M5)和第六晶体管(M6)的源极连接,第一晶体管(M1)的源极接地端GND,第三晶体管(M1)的源极接电源VDD;
所述第二晶体管(M2)与第四晶体管(M4)的栅极通过第二电容(C2)并联耦合,共同输入反向中频信号(IF-),第二晶体管(M2)与第四晶体管(M4)的漏极连接,共同与第七晶体管(M7)和第八晶体管(M8)的源极连接,第二晶体管(M2)的源极接地端GND,第四晶体管(M4)的源极接电源VDD。
所述第三晶体管(M3)和第四晶体管(M4)为PMOS晶体管,其余晶体管均为NMOS晶体管。
本发明的实施例中,在输入跨导单元(M1与M3、M2与M4)采用互补结构,即信号从PMOS与NMOS并联输入,这样的结构可以同时实现功耗、增益、噪声、线性度四个方面的性能提升,在本发明的实施例中,主要实现针对一定功耗情况下,噪声和增益的改善:
在功耗和增益方面,这是一种电流复用的跨导提升结构,即PMOS与NMOS(M1与M3、M2与M4)共用直流电流,吉尔伯特双平衡混频器的转换增益公式为:
其中,Gm为跨导级跨导值,RL为负载级等效电阻。
在跨导级,输入信号通过共源NMOS得到放大,同时也通过共源PMOS得到放大,这种结构下总的跨导为:
Gm=gmn+gmp
,其中,gmn和gmp分别为NMOS管和PMOS管的跨导。由此可知,这种结构在不增加偏置电流的情况下,增加了跨导管的Gm,从而增大了混频器的转换增益。
在噪声方面,这是一种电流注入结构,电流注入是指通过减小开关级电流,可以有效降低电路的噪声。跨导单元第一晶体管(M1)和第二晶体管(M2)的直流电流由两部分组成:
IN=ILO+IP
其中,ILO是通过开关管和负载的电流,IP是通过PMOS对NMOS管的注入电流。PMOS管的直流电流注入NMOS管,减少了开关级的电流,从而降低了混频器的噪声。
在线性度方面,这种结构是改进的导数叠加结构,利用PMOS和NMOS的二、三阶跨导(g′m、g″m)分布,通过合理设计偏置和尺寸,使得PMOS和NMOS的g″m部分抵消,从而提高IIP3。即同时实现了电流复用、跨导提升、电流注入以及导数叠加,从功耗、增益、噪声、线性度四个不同的方面优化了电路性能。在本发明中,优先考虑了一定功耗下的噪声和增益性能,同时保证了跨导单元具有较高的线性度。
如图1所示,所述负载单元包括:第九晶体管(M9)、第十晶体管(M10)、第三电容(C3)与第四电容(C4);
其中,所述第九晶体管(M9)的源极与电源VDD连接,栅极通过第三电容(C3)与第六晶体管(M6)的漏极连接,漏极与第五晶体管(M5)的漏极连接,并连接正向输出射频电压信号(RF+);
所述第十晶体管(M10)的源极与电源VDD连接,栅极通过第四电容(C4)与第五晶体管(M5)的漏极连接,漏极与第六晶体管(M6)的漏极连接,并连接反向输出射频电压信号(RF-)。
所述电源(VDD)提供直流偏置电压,且电压值为1.2V。
在负载级,为降低直流压降,采用了PMOS管作有源负载,并采用电容耦合的方式,将射频信号通过PMOS管进一步放大:
开关单元输出正向射频电流信号,通过第九晶体管(M9)的漏极看进去的阻抗转变为正向射频电压信号(RF+)输出,同时,正向射频电压信号(RF+)通过第四电容(C4)耦合到共源结构的第十晶体管(M10)的栅极,经过反向放大之后,从第十晶体管(M10)的漏极输出,成为反向射频电压信号(RF-),增大了反向射频电压信号;
开关单元输出反向射频电流信号,通过第十晶体管(M10)的漏极看进去的阻抗转变为反向射频电压信号(RF-)输出,同时,反向射频电压信号(RF-)通过第三电容(C3)耦合到共源结构的第九晶体管(M9)的栅极,经过反向放大之后,从第九晶体管(M9)的漏极输出,成为正向射频电压信号(RF+),增大了正向射频电压信号;
通过上述有源负载交叉耦合方式,混频器的转换增益进一步得到提高。
本发明采用HHNEC 0.18μm CMOS工艺,使用Cadence Spectre RF仿真器进行了仿真验证。射频频率fRF为900MHz,本振频率fLO为850MHz,中频频率fIF为50MHz。
图2为本文中混频器的转换增益仿真结果,可以看出混频器在中频频率为50MHz时转换增益为20.02dB,表明本发明的混频器具有较高的增益。
图3为噪声系数仿真图,可以看出在可以看出混频器在射频频率为900MHz时噪声系数为6.09dB,表明本发明的混频器具有合适的噪声系数。
图4为输入三阶交调点IIP3仿真图,可以看出混频器在射频频率为900MHz时,三阶交调点IIP3为-9.66dBm,由此可知该混频器具有较好的线性度,能够满足一般应用场景下的线性度要求。
本发明有益效果在于:在输入跨导单元,利用了互补PMOS/NMOS结构,同时实现了功耗、增益、噪声、线性度的优化,主要实现了在一定功耗的情况下,跨导提升技术和电流注入技术的结合,提高了转换增益,降低了噪声系数;在负载单元,采用PMOS做有源负载,减小了负载级直流压降,并通过电容交叉耦合,将输出射频信号再次放大,进一步提高了混频器转换增益。同时,并不引入片上电感,从而实现了低噪声、高增益、低成本的上变频混频器电路。
尽管上述内容结合附图对本发明进行了具体描述,但是本发明并不局限于上述的具体实施方式,上述的具体实施方式仅仅是示意性的,而不是限制性的。本领域的普通技术人员在本发明的启示下,在不脱离本发明宗旨的情况下,还可以做出很多变形,这些均属于本发明的保护之内。

Claims (6)

1.一种低噪声高转换增益的上变频混频器,采用基于双平衡吉尔伯特混频器结构,包括:输入跨导单元将中频电压信号(IF+、IF-)转换为射频电流信号,采用互补PMOS\NMOS结构,PMOS和NMOS共用直流电流,PMOS管的直流电流注入NMOS管中;
开关单元在本振电压信号(LO+、LO-)的开关控制下,将输入跨导单元输出的中频电流信号通过电流换向变频,产生射频电流信号;
负载单元将开关单元输出的电流信号转换为射频电压信号,差分射频电压信号(RF+、RF-)从开关单元和负载单元之间输出,采用PMOS做有源负载,并给PMOS栅极单独提供偏置电压。
2.根据权利要求1所述的混频器,其特征在于,所述输入跨导单元包括:第一晶体管(M1)、第二晶体管(M2)、第三晶体管(M3)和第四晶体管(M4);其中,所述第一晶体管(M1)与第三晶体管(M3)、第二晶体管(M2)与第四晶体管(M4)组成PMOS/NMOS互补结构,即第一晶体管(M1)与第三晶体管(M3)的栅极通过第一电容(C1)并联耦合,共同输入正向中频信号(IF+),第一晶体管(M1)与第三晶体管(M3)的漏极连接,共同与第五晶体管(M5)和第六晶体管(M6)的源极连接,第一晶体管(M1)的源极接地端GND,第三晶体管(M1)的源极接电源VDD;
所述第二晶体管(M2)与第四晶体管(M4)的栅极通过第二电容(C2)并联耦合,共同输入反向中频信号(IF-),第二晶体管(M2)与第四晶体管(M4)的漏极连接,共同与第七晶体管(M7)和第八晶体管(M8)的源极连接,第二晶体管(M2)的源极接地端GND,第四晶体管(M4)的源极接电源VDD。
3.根据权利要求2所述的混频器,其特征在于,所述开关单元包括:第五晶体管(M5)、第六晶体管(M6)、第七晶体管(M7)和第八晶体管(M8);其中,所述第五晶体管(M5)的栅极与正向本振信号(LO+)连接,源极与第一晶体管(M1)的漏极连接,漏极与第九晶体管(M9)的漏极连接,并通过第四电容(C4)与第十晶体管(M10)的栅极连接;
所述第六晶体管(M6)的栅极与反向本振信号(LO-)连接,源极与第一晶体管(M1)的漏极连接,漏极与第十晶体管(M10)的漏极连接,并通过第三电容(C3)与第九晶体管(M10)的栅极连接;
所述第七晶体管(M7)的栅极与反向本振信号(LO-)连接,源极与第二晶体管(M2)的漏极连接,漏极与第五晶体管(M5)的漏极连接;
所述第八晶体管(M8)的栅极与正向本振信号(LO+)连接,源极与第二晶体管(M2)的漏极连接,漏极与第六晶体管(M6)的漏极连接。
4.根据权利要求3所述的混频器,其特征在于,所述负载单元包括:第九晶体管(M9)、第十晶体管(M10)、第三电容(C3)与第四电容(C4);
其中,所述第九晶体管(M9)的源极与电源VDD连接,栅极通过第三电容(C3)与第六晶体管(M6)的漏极连接,漏极与第五晶体管(M5)的漏极连接,并连接正向输出射频电压信号(RF+);
所述第十晶体管(M10)的源极与电源VDD连接,栅极通过第四电容(C4)与第五晶体管(M5)的漏极连接,漏极与第六晶体管(M6)的漏极连接,并连接反向输出射频电压信号(RF-)。
5.根据权利要求4所述的混频器,其特征在于,所述第三晶体管(M3)和第四晶体管(M4)为PMOS晶体管,其余晶体管均为NMOS晶体管。
6.根据权利要求5所述的混频器,其特征在于,所述电源(VDD)提供直流偏置电压,且电压值为1.2V。
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