CN109347437A - 一种多主栅太阳电池测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种多主栅太阳电池测试装置，包括设置有多个真空吸附孔的测试台和测试部件，所述测试部件包括多根铜丝；多个接触部件，所述接触部件固定连接于所述铜丝朝向多主栅太阳电池的侧壁，以使在测试所述多主栅太阳电池时，所述接触部件与测试点接触充分。在电性能测试时，下压固定连接有多个接触部件的铜丝，使接触部件与多主栅太阳电池的测试点接触，中间部分的接触部件下压的程度较两端的接触部件小，通过调整下压力度使位于中间的接触部件与测试点进行充分接触，进而保证所有接触部件与测试点充分接触，使测试结果更准确，并且由于接触部件的存在，使铜丝与多主栅太阳电池的边缘有一定距离，不会出现破碎的情况，提升良率。
Description
技术领域
本发明涉及太阳电池片测试技术领域，特别是涉及一种多主栅太阳电池测试装置。
背景技术
太阳电池是通过光电效应或者光化学效应直接把光能转化成电能的装置，目前主要是以利用光电效应的晶硅太阳电池为主流。多主栅技术是一种通过减少电流汇集路径，从而减少电阻损耗的技术。通过优化电极图案设计减少电流汇集路程、减少电池栅线的遮光面积、降低银浆耗量来提升电池转换效率并降低成本。
多主栅太阳电池具有较多的主栅数量，为了减少测试时探针对多主栅太阳电池的遮光面积，采用铜丝与主栅线接触，对多主栅太阳电池的电性能进行测试。在测试过程中，铜丝的中间部分与多主栅太阳电池之间可能会出现连接不充分的情况，即产生虚接，导致电性能测试结果不准确，铜丝的边缘部分对太阳电池的边缘有向下的挤压，容易导致太阳电池边缘隐裂，甚至导致太阳电池缺角、碎片。
发明内容
本发明的目的是提供一种多主栅太阳电池测试装置，以解决在测试电性能的过程中出现铜丝与多主栅太阳电池虚接、缺角、碎片，导致电性能测试结果不准确以及产线合格率偏低的问题。
本发明所提供的多主栅太阳电池测试装置，包括设置有多个真空吸附孔的测试台和测试部件，所述测试部件包括：
多根铜丝；
多个接触部件，所述接触部件固定连接于所述铜丝朝向多主栅太阳电池的侧壁，以使在测试所述多主栅太阳电池时，所述接触部件与所述多主栅太阳电池的测试点接触充分。
可选地，每一根所述铜丝连接有拉伸部件，使所述铜丝绷直。
可选地，所述拉伸部件可拆卸的连接升降装置的基板上，以便通过所述升降装置改变所述铜丝与所述多主栅太阳电池的相对位置。
可选地，所述铜丝的横截面为方形。
可选地，所述接触部件与所述多主栅太阳电池的接触部分为圆形。
可选地，所述接触部件为弹片或探针。
可选地，所述接触部件为探针时，多个所述探针的长度在所述铜丝上的分布沿所述铜丝长度的中点向所述铜丝的两端逐渐减小。
可选地，所述真空吸附孔呈等间距规则分布的点状。
可选地，所述接触部件固定连接于所述铜丝的方式采用铸造。
可选地，所述测试台在靠近所述铜丝的一侧具有朝向所述铜丝拱起的弧度。
本发明所提供的多主栅太阳电池测试装置，包括铜丝；多个接触部件，所述接触部件固定连接于所述铜丝的侧壁朝向多主栅太阳电池的一侧，以使在测试所述多主栅太阳电池时，所述接触部件与所述多主栅太阳电池的测试点接触充分。本申请中在对多主栅太阳电池的电性能进行测试过程中，下压固定连接有多个接触部件的铜丝，使铜丝上的接触部件与多主栅太阳电池的测试点进行接触，中间部分的接触部件下压的程度较靠近铜丝两端的接触部件小，可以通过调整下压力度使位于中间的接触部件与测试点进行充分接触，进而保证了所有接触部件与多主栅太阳电池的测试点充分接触，所以电性能测试结果更加准确，并且由于接触部件的存在，使铜丝与多主栅太阳电池的边缘有一定距离，不会出现破碎的情况，提升良率。
附图说明
为了更清楚的说明本发明实施例或现有技术的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例所提供的一种多主栅太阳电池测试装置的结构示意图；
图2为多主栅太阳电池测试装置中测试台的俯视图；
图3为本发明实施例所提供的另一种多主栅太阳电池测试装置的结构示意图；
图4为本发明实施例所提供的接触部件为弹片时多主栅太阳电池测试装置的结构示意图；
图5为本发明实施例所提供的接触部件为探针时多主栅太阳电池测试装置的结构示意图。
具体实施方式
本发明的核心是提供一种多主栅太阳电池测试装置。
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参考图1和图2，图1为本发明实施例所提供的一种多主栅太阳电池测试装置的结构示意图，图2为多主栅太阳电池测试装置中测试台的俯视图。
本发明所提供的多主栅太阳电池测试装置，包括设置有多个真空吸附孔11的测试台1和测试部件2，所述测试部件2包括：
多根铜丝21，
本实施例并不对铜丝21的横截面形状以及尺寸做具体的限定，可以根据具体情况自行设定。例如横截面的形状可以为圆形，也可以为方形，或者其他任何形状。
作为一种具体实施方式，真空吸附孔11在测试台1上成等间距规则分布的点状，当然也可以设置成在测试台1上呈若干平行的条状。
在多主栅太阳电池测试装置中，测试台1具有良好的导电性，可以采用铜、铁等导电材料制成，与多主栅太阳电池3的下表面形成导电接触；真空吸附孔11连通真空吸附结构，利用真空吸附固定多主栅太阳电池3的位置，防止在测试过程中多主栅太阳电池3发生位移，保证在测试过程中多主栅太阳电池3上下电极的压力平衡，避免多主栅太阳电池3发生破碎，提升良率。
作为一种具体实施方式，所述铜丝21的横截面为方形，横截面为方形的铜丝21在向下移动接近多主栅太阳电池3时，更易于控制方向，不容易发生转动。
多个接触部件22，所述接触部件22固定连接于所述铜丝21朝向多主栅太阳电池3的侧壁，以使在测试所述多主栅太阳电池3时，所述接触部件22与所述多主栅太阳电池3的测试点接触充分。
本实施例并不对接触部件22的形状和尺寸做具体的限定，视具体情况进行设置。例如接触部件22可以为柱状或者针状，当然还可以为其他任何形状。进一步地，本实施例对接触部件22固定连接于铜丝21的方式并不做具体限定，可以根据具体情况选择。例如可以选择焊接技术使接触部件22固定连接在铜丝21上，也可以选择一体成型，即由一整快料进行切割加工。
优选地，相邻接触部件22在铜丝21上的间距与多主栅太阳电池3的测试点间距一致。
作为一种具体实施方式，所述接触部件22固定连接于所述铜丝21的方式采用铸造，采用铸造的形式在达到接触部件22与铜丝21良好的固定连接的同时，还可以降低制造成本，经济适用。
优选地，还可以在测试台1的两侧增加矫正装置，可以自动对多主栅太阳电池3的位置进行矫正，使接触部件22与多主栅太阳电池3上的测试点准确无误的接触，在提升电性能测试效率的同时，提升测试结果的准确性。
需要说明的是，在对多主栅太阳电池3进行电性能测试时，将固定连接接触部件22的多根铜丝21汇总后再分成两路，分别连接测试电流的线路和电压的线路中。
本发明所提供的多主栅太阳电池测试装置，包括铜丝21，多个接触部件22，所述接触部件22固定连接于所述铜丝21的侧壁朝向多主栅太阳电池3的一侧，以使在测试所述多主栅太阳电池3时，所述接触部件22与所述多主栅太阳电池3的测试点接触充分。本申请中在对多主栅太阳电池3的电性能进行测试过程中，下压固定连接有多个接触部件22的铜丝21，使铜丝21上的接触部件22与多主栅太阳电池3的测试点进行接触，中间部分的接触部件22下压的程度较靠近铜丝21两端的接触部件22小，可以通过调整下压力度使位于中间的接触部件22与测试点进行充分接触，进而保证了所有接触部件22与多主栅太阳电池3的测试点充分接触，所以电性能测试结果更加准确，并且由于接触部件22的存在，使铜丝21与多主栅太阳电池3的边缘有一定距离，不会出现破碎的情况，提升良率。
请参考图3，图3为本发明实施例所提供的另一种多主栅太阳电池测试装置的结构示意图。
在上述实施例的的基础上，本发明所提供的多主栅太阳电池测试装置，每一根所述铜丝21连接有拉伸部件4，使所述铜丝21绷直。
具体地，本实施例对拉伸部件4的数量并不做具体限定，可以根据具体情况进行设置。可以采用铜丝21一端固定，另一端连接拉伸部件4，即通过调节铜丝21的一端使铜丝21绷直，当然还可以将铜丝21的两端均连接于拉伸部件4上，通过同时调节两端的拉伸部件4调节铜丝21，使铜丝21绷直。
作为一种具体实施方式，当铜丝21两端均连接拉伸部件4时，所述拉伸部件4可拆卸的连接升降装置的基板5上，以便通过所述升降装置改变所述铜丝21与所述多主栅太阳电池3的相对位置。采用可拆卸的连接方式，便于在多主栅太阳电池3上主栅线的数量发生变化时，相应的更改铜丝21的数量，实现多主栅太阳电池测试装置利用的最大化。基板5的两端分别连接升降装置中的升降气缸，通过升降装置实现对所有铜丝21距离多主栅太阳电池3的相对高度。
本发明所提供的多主栅太阳电池测试装置，拉伸部件4可以使铜丝21绷直，在下压铜丝21测试多主栅太阳电池3电性能时，连接于铜丝21上的接触部件22与多主栅太阳电池上的测试点接触更加紧密充分，测试结果更加准确。
在上述实施例的的基础上，多主栅太阳电池测试装置中，所述接触部件22为弹片或探针。
请参考图4，图4为本发明实施例所提供的接触部件为弹片时多主栅太阳电池测试装置的结构示意图。
具体地，当所述接触部件22为弹片时，弹片的形状相同，弹片上与多主栅太阳电池3的接触面距离铜丝21的垂直高度相同，即弹片的大小相同。当铜丝21下压使弹片与多主栅太阳电池3接触时，由于弹片具有在垂直于与多主栅太阳电池3的接触面方向上的一定弹性区间，在弹片与多主栅太阳电池3接触后，继续下压铜丝21，在铜丝21边缘部分的弹片与多主栅太阳电池3的测试点充分接触的基础上，使位于铜丝21中间部分的弹片同样能与多主栅太阳电池3的测试点充分接触，提高电性能测试结果的准确性和稳定性。当然还可以将弹片设置成大小不同的弹片，使弹片上的与多主栅太阳电池3的接触面距离铜丝21的垂直高度在每一根铜丝21上的分布由铜丝21长度的中点向铜丝21的两端逐渐减小，同样可以实现每一根铜丝21上的弹片都可以与多主栅太阳电池3的测试点充分接触，提高电性能测试结果的准确性和稳定性。由于弹片的存在，使铜丝21与多主栅太阳电池3的边缘有一定距离，不会出现破碎的情况，提升良率。
请参考图5，图5为本发明实施例所提供的接触部件为探针时多主栅太阳电池测试装置的结构示意图。
具体地，当所述接触部件22为探针时，多个所述探针的长度在每根所述铜丝21上的分布沿所述铜丝21长度的中点向所述铜丝21的两端逐渐减小。探针的弹性有限，将每一根铜丝21上的探针与多主栅太阳电池3的接触面距离铜丝21的垂直高度设置成在每一根铜丝21上的分布由铜丝21长度的中点向铜丝21的两端逐渐减小，当铜丝21下压接近多主栅太阳电池3的过程中，位于铜丝21中间部分的探针首先与多主栅太阳电池3上的测试点接触，随着铜丝21继续下压，远离铜丝21中间部分的探针逐渐与测试点接触，且中间部分的探针与测试点的接触更加紧密，因此保证了所有探针与测试点的充分接触，使电性能测试结果准确可靠。同时，由于探针的存在，使铜丝21与多主栅太阳电池3的边缘有一定距离，不会出现破碎的情况，提升良率。
本实施例所提供的多主栅太阳电池测试装置，将接触部件22设置成弹片和探针，保证了在电性能测试过程中，弹片和探针与多主栅太阳电池3上表面的测试点接触紧密，提高测试结果的准确性，同时，由于弹片和探针的存在，使铜丝21与多主栅太阳电池3的边缘有一定距离，不会出现破碎的情况，提升良率。
优选地，在上述任一实施例中，所述接触部件22与所述多主栅太阳电池3的接触部分为圆形，增加接触部分与多主栅太阳电池3上表面上的测试点的接触面积，提高测试结果的可靠性。
优选地，在上述任一实施例中，所述测试台1在靠近所述铜丝21的一侧具有朝向所述铜丝21拱起的弧度，使所述测试台1与所述多主栅太阳电池3的下表面的接触更加紧密。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同或相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。
以上对本发明所提供的多主栅太阳电池测试装置进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。
Claims (10)
1.一种多主栅太阳电池测试装置，包括设置有多个真空吸附孔的测试台和测试部件，其特征在于，所述测试部件包括：
多根铜丝；
多个接触部件，所述接触部件固定连接于所述铜丝朝向多主栅太阳电池的侧壁，以使在测试所述多主栅太阳电池时，所述接触部件与所述多主栅太阳电池的测试点接触充分。
2.如权利要求1所述的多主栅太阳电池测试装置，其特征在于，每一根所述铜丝连接有拉伸部件，使所述铜丝绷直。
3.如权利要求2所述的多主栅太阳电池测试装置，其特征在于，所述拉伸部件可拆卸的连接在升降装置的基板上，以便通过所述升降装置改变所述铜丝与所述多主栅太阳电池的相对位置。
4.如权利要求3所述的多主栅太阳电池测试装置，其特征在于，所述铜丝的横截面为方形。
5.如权利要求4所述的多主栅太阳电池测试装置，其特征在于，所述接触部件与所述多主栅太阳电池的接触部分为圆形。
6.如权利要求1至5任一项所述的多主栅太阳电池测试装置，其特征在于，所述接触部件为弹片或探针。
7.如权利要求6所述的多主栅太阳电池测试装置，其特征在于，所述接触部件为探针时，多个所述探针的长度在所述铜丝上的分布沿所述铜丝长度的中点向所述铜丝的两端逐渐减小。
8.如权利要求7所述的多主栅太阳电池测试装置，其特征在于，所述真空吸附孔呈等间距规则分布的点状。
9.如权利要求8所述的多主栅太阳电池测试装置，其特征在于，所述接触部件固定连接于所述铜丝的方式采用铸造。
10.如权利要求9所述的多主栅太阳电池测试装置，其特征在于，所述测试台在靠近所述铜丝的一侧具有朝向所述铜丝拱起的弧度。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20190215 |
|
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |