CN109341495A - 一种镶嵌试样的深度定位方法 - Google Patents

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程法嵩
李巍
陈昌达
熊勇
申静芳
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    • G01B5/18—Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring depth

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Abstract

本发明公开了一种镶嵌试样的深度定位方法：将试样和定位件一起镶嵌，试样的底部和定位件的底部在同一平面，定位件定位段的横截面长度和截面高度呈线性比例关系，通过测量定位件的截面长度来确定试样的磨去量。本发明采用放大观察和测微尺测量，精度高，同时避免了卡尺对待检测试样表面的接触损伤。

Description

一种镶嵌试样的深度定位方法
技术领域
本发明涉及一种用于在金相检测中测量镶嵌试样磨削深度的方法。
背景技术
样品的镶嵌技术是通过热压成型或液态冷凝的方式，将待检测样品固定在具有规则外形的填充物中，进而实现制样观察的目的，适用于不规则、小尺寸、定方向的样品检测。理化检测工作中经常会遇到材料内部缺陷定位、固定截面金相检查等内容。由于金相试样经镶嵌以后没有固定的高度标准，周向上磨去量不能够完全一致，其内部试样的深度定位无法做到精确测量，对待检测试样的截面特征及内部特性的精确评价有一定影响。
发明内容
本发明要解决的技术问题是：针对金相试样经镶嵌后不好测量其磨削深度的问题，将一个小金属片同待检测样品一起镶嵌，通过测量金属片的截面长度来确定试样的磨去量，进而达到准确评估待检测样品截面特征及内部特性的目的。
本发明的技术方案是：
一种镶嵌试样的深度定位方法，将试样和定位件一起镶嵌，试样的底部和定位件的底部在同一平面，定位件定位段的横截面长度和截面高度呈线性比例关系，通过测量定位件的截面长度来确定试样的磨去量。
所述定位件由金属片加工而成，金属片的下半段为定位段，定位段为等腰三角形。
所述金属片的下半段加工出两个或以上的三星形定位段，呈锯齿状，取其磨去深度的平均值作为试样的磨去量。
将所述金属片沿着三角形齿的分界线弯折。
所述等腰三角形的底边与该底边上的高等长。
本发明的有益效果：
采用放大观察和测微尺测量，精度高，同时避免了卡尺对待检测试样表面的接触损伤；
一次测量即可得到试样的磨去深度，不需要通过多次测量的差值来获得；
测量部位靠近待检测样品，更接近实际深度值（用3个金属片的截面长度平均值能够更加接近实际深度值），同时避免了由于镶嵌试样周向上磨去深度不一致及试样边缘倒圆对于测量结果的影响；
待检测试样不规则或无法竖立时，可以贴靠金属片摆放，降低了待检测样品倾倒的几率，可代替试样夹使用。
附图说明：
图1为本发明镶嵌试样结构示意图。
图2为定位件的结构示意图。
具体实施方式
实施例：具体的实施步骤如下：
1 将待检测样品及金属片（定位件）清洗干净并吹干，其中金属片的下半段的截面长度和截面高度呈线性关系；
2 将待检测样品与金属片固定好，放置在镶嵌机腔体或镶嵌模具内；
3 注入镶嵌填充料，按照正常流程进行试样镶嵌；
4 按照正常试样制备流程进行磨制、抛光、腐蚀等；
5 试样观察前，用显微镜目镜测微尺或移动样品台对金属片的截面长度进行测量并求得平均值，根据截面长度和深度的比例关系得到金属片的磨去深度，从而得到试样在磨制及抛光过程中的磨去深度值。
进一步的，金属片上加工出三个齿状的等腰三角形作为定位段，并且等腰三角形的底边与底边上的高长度想等，这样所测量到的截面长度就是磨去的深度。
进一步的，按照图2所示的折线将金属片弯折，这样金属片为3联结构，有3个足点可以稳固地垂直竖立，待检测试样不规则无法竖立时还可以贴靠金属片摆放。

Claims (5)

1.一种镶嵌试样的深度定位方法，其特征在于：将试样和定位件一起镶嵌，试样的底部和定位件的底部在同一平面，定位件定位段的横截面长度和截面高度呈线性比例关系，通过测量定位件的截面长度来确定试样的磨去量。
2.根据权利要求1所述镶嵌试样的深度定位方法，其特征在于：所述定位件由金属片加工而成，金属片的下半段为定位段，定位段为等腰三角形。
3.根据权利要求2所述镶嵌试样的深度定位方法，其特征在于：所述金属片的下半段加工出两个或以上的三星形定位段，呈锯齿状，取其磨去深度的平均值作为试样的磨去量。
4.根据权利要求2所述镶嵌试样的深度定位方法，其特征在于：将所述金属片沿着三角形齿的分界线弯折。
5.根据权利要求2所述镶嵌试样的深度定位方法，其特征在于：所述等腰三角形的底边与该底边上的高等长。
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