CN109323994B - 一种刻度方法和装置 - Google Patents

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Abstract

本发明实施例公开了一种刻度方法和装置，所述刻度方法包括：当满足第一预设条件或第二预设条件或第三预设条件或第四预设条件时，分别对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n1，n2，n3，n4次采样，计算n1，n2，n3，n4次采样值的平均值；其中，n1，n2，n3，n4为大于或等于1的整数；根据n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值和n3次采样值的平均值计算水的吸光度值，根据n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值和n4次采样值的平均值计算油的吸光度值；记录n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值、水的吸光度值和油的吸光度值作为刻度参数。本发明实施例实现了对光谱分析仪进行刻度得到刻度参数。

Description

一种刻度方法和装置
技术领域
本发明实施例涉及但不限于光谱分析领域，尤指一种刻度方法和装置。
背景技术
井下光谱分析仪用于地层流体的实时分析，主要以可见—近红外光谱技术为基础，进行底层油、水、泥浆滤液和地层流体的区分。其中，可见光分析适用油基泥浆与原油的区分，近红外光更用来区分水和油还有油中的组分分析。
由于井下光谱分析仪的高压流体样品池在实际下井作业中不可能清洗到完全一致，会造成光源背景的略微偏差。每个光谱分析仪也存在一定的硬件差异，为了更准确的对井下流体进行分析，在每次下井前，需要对每支光谱分析仪进行刻度。
发明内容
本发明实施例提供了一种刻度方法和装置，能够对光谱分析仪进行刻度得到刻度参数，供实时光谱测量计算时调用，以减小井下流体分析过程中由于样品池清洗不一致和硬件差异导致的分析结果的差异。
本发明实施例提供了一种刻度方法，包括：
当满足第一预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n1次采样；当满足第二预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n2次采样；当满足第三预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n3次采样；当满足第四预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n4次采样；其中，n1，n2，n3，n4为大于或等于1的整数；第一预设条件包括：流体样品池未注入任何流体样品，且光源打开；第二预设条件包括：流体样品池未注入任何流体样品，且光源关闭；第三预设条件包括：流体样品池注满纯水，且光源打开；第四预设条件包括：流体样品池注满油，且光源打开；
计算n1次采样值的平均值，计算n2次采样值的平均值，计算n3次采样值的平均值，计算n4次采样值的平均值；
根据n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值和n3次采样值的平均值计算水的吸光度值，根据n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值和n4次采样值的平均值计算油的吸光度值；
记录n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值、水的吸光度值和油的吸光度值作为刻度参数。
在本发明实施例中，所述第一预设条件、所述第三预设条件和所述第四预设条件还包括：光源稳定。
在本发明实施例中，所述第三预设条件还包括：所述纯水循环；所述第四预设条件还包括：所述油循环。
在本发明实施例中，所述第一预设条件、所述第二预设条件、所述第三预设条件和所述第四预设条件还包括：
所述光谱分析仪的成像模块的温度保持在预设温度。
在本发明实施例中，所述预设温度为0到10℃之间的任意一个取值。
在本发明实施例中，所述光源为卤素灯光源。
在本发明实施例中，所述油为J26#油。
在本发明实施例中，所述根据n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值和n3次采样值的平均值计算水的吸光度值包括：按照公式
Figure BDA0001870321510000021
计算纯水的吸光度值；
所述根据n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值和n4次采样值的平均值计算油的吸光度值包括：
按照公式
Figure BDA0001870321510000031
计算油的吸光度值；
其中，
Figure BDA0001870321510000032
为纯水的吸光度值，
Figure BDA0001870321510000033
为油的吸光度值，
Figure BDA0001870321510000034
为n2次采样值的平均值，
Figure BDA0001870321510000035
为n1次采样值的平均值，
Figure BDA0001870321510000036
为n3次采样值的平均值，
Figure BDA0001870321510000037
为n4次采样值的平均值。
本发明实施例提出了一种刻度装置，包括：
采样模块，用于当满足第一预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n1次采样；当满足第二预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n2次采样；当满足第三预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n3次采样；当满足第四预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n4次采样；其中，n1，n2，n3，n4为大于或等于1的整数；第一预设条件包括：流体样品池未注入任何流体样品，且光源打开；第二预设条件包括：流体样品池未注入任何流体样品，且光源关闭；第三预设条件包括：流体样品池注满纯水，且光源打开；第四预设条件包括：流体样品池注满油，且光源打开；
平均值计算模块，用于计算n1次采样值的平均值，计算n2次采样值的平均值，计算n3次采样值的平均值，计算n4次采样值的平均值；
吸光度计算模块，用于根据n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值和n3次采样值的平均值计算水的吸光度值，根据n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值和n4次采样值的平均值计算油的吸光度值；
刻度参数记录模块，用于记录n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值、水的吸光度值和油的吸光度值作为刻度参数。
本发明实施例提出了一种刻度装置，包括处理器和计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当所述指令被所述处理器执行时，实现上述任一种刻度方法。
本发明实施例提出了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一种刻度方法的步骤。
本发明实施例包括：当满足第一预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n1次采样；当满足第二预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n2次采样；当满足第三预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n3次采样；当满足第四预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n4次采样；其中，n1，n2，n3，n4为大于或等于1的整数；第一预设条件包括：流体样品池未注入任何流体样品，且光源打开；第二预设条件包括：流体样品池未注入任何流体样品，且光源关闭；第三预设条件包括：流体样品池注满纯水，且光源打开；第四预设条件包括：流体样品池注满油，且光源打开；计算n1次采样值的平均值，计算n2次采样值的平均值，计算n3次采样值的平均值，计算n4次采样值的平均值；根据n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值和n3次采样值的平均值计算水的吸光度值，根据n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值和n4次采样值的平均值计算油的吸光度值；记录n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值、水的吸光度值和油的吸光度值作为刻度参数。本发明实施例实现了对光谱分析仪进行刻度得到刻度参数，供实时光谱测量计算时调用，以减小井下流体分析过程中由于样品池清洗不一致和硬件差异导致的分析结果的差异。
在一个可选的实施例中，所述第一预设条件、所述第三预设条件和所述第四预设条件还包括：光源稳定。本发明实施例在光源稳定的前提下对光谱响应值进行采样，避免了光源不稳定给采样值带来的误差，提高了采样值的准确性，提高了刻度参数的准确性。
在一个可选的实施例中，所述第三预设条件还包括：所述纯水循环；所述第四预设条件还包括：所述油循环。本发明实施例在流体样品池注满纯水或油后，使纯水或油循环起来再对光谱响应值进行采样，避免了流体样品池中存在空气给采样值带来的误差，提高了采样值的准确性，提高了刻度参数的准确性。
在一个可选的实施例中，所述第一预设条件、所述第二预设条件、所述第三预设条件和所述第四预设条件还包括：所述光谱分析仪的成像模块的温度保持在预设温度。预设温度为0到10℃之间的任意一个取值。本发明实施例将成像模块的温度保持在0到10℃之间的任意一个取值，使得采样时噪声较小，光谱分析仪的功耗较小，光谱分析仪的持续工作时间较长。
本发明实施例的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明实施例而了解。本发明实施例的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
附图用来提供对本发明实施例技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明实施例的实施例一起用于解释本发明实施例的技术方案，并不构成对本发明实施例技术方案的限制。
图1为本发明实施例井下光谱分析仪连接示意图；
图2为本发明一个实施例提出的刻度方法的流程图；
图3为本发明另一个实施例提出的刻度装置的结构组成示意图；
图中，1为电缆，2为EFDT电源电子线路等，3为液压短节，4为光谱短节，5为泵抽、取样短节。
具体实施方式
下文中将结合附图对本发明实施例进行详细说明。需要说明的是，在不冲突的情况下，本发明中的实施例及实施例中的特征可以相互任意组合。
在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。
如图1所示，刻度之前，将光谱分析短节4(即光谱分析仪)与地面系统6、钻井中途油气层测试仪(EFDT)电源电子线路2、液压短节3和泵抽、取样短节5连接，确定光谱分析仪4能正常工作，保证光谱分析短节4的流体样品池与流体管线内干净并且没有任何流体，并且刻度环境湿度不能太大，保证干净。
其中，地面系统6用于控制光谱分析短节4、EFDT电源电子线路2、液压短节3和泵抽、取样短节5，EFDT电源电子线路2用于为光谱分析短节4、液压短节3和泵抽、取样短节5供电，液压短节3为泵抽、取样短节5提供动力，液压短节3和泵抽、取样短节5将光谱分析短节4所需要的流体样品送入光谱分析短节4的流体样品池中。其中，流体样品池是一个空腔体，有出口和进口，均与流体管线相连。地层流体抽到流体管线中，流入到样品池里，再从出口端的流体管线流出。
参见图2，本发明一个实施例提出了刻度方法，包括：
步骤200、当满足第一预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n1次采样；当满足第二预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n2次采样；当满足第三预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n3次采样；当满足第四预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n4次采样；其中，n1，n2，n3，n4为大于或等于1的整数；第一预设条件包括：流体样品池未注入任何流体样品，且光源打开；第二预设条件包括：流体样品池未注入任何流体样品，且光源关闭；第三预设条件包括：流体样品池注满纯水，且光源打开；第四预设条件包括：流体样品池注满油，且光源打开。
在本发明另一个实施例中，所述第一预设条件、所述第三预设条件和所述第四预设条件还包括：光源稳定。本发明实施例在光源稳定的前提下对光谱响应值进行采样，避免了光源不稳定给采样值带来的误差，提高了采样值的准确性，提高了刻度参数的准确性。
在本发明另一个实施例中，所述第三预设条件还包括：所述纯水循环；所述第四预设条件还包括：所述油循环。本发明实施例在流体样品池注满纯水或油后，使纯水或油循环起来再对光谱响应值进行采样，避免了流体样品池中存在空气给采样值带来的误差，提高了采样值的准确性，提高了刻度参数的准确性。
在本发明另一个实施例中，所述第一预设条件、所述第二预设条件、所述第三预设条件和所述第四预设条件还包括：
所述光谱分析仪的成像模块(即CCD)的温度保持在预设温度。具体可以通过制冷装置将温度保持在预设温度。
在本发明另一个实施例中，所述预设温度为0到10℃之间的任意一个取值。本发明实施例将成像模块的温度保持在0到10℃之间的任意一个取值，使得采样时噪声较小，光谱分析仪的功耗较小，光谱分析仪的持续工作时间较长。
在本发明另一个实施例中，所述光源为卤素灯光源。
在本发明另一个实施例中，所述油为J26#油。
步骤201、计算n1次采样值的平均值，计算n2次采样值的平均值，计算n3次采样值的平均值，计算n4次采样值的平均值。
步骤202、根据n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值和n3次采样值的平均值计算水的吸光度值，根据n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值和n4次采样值的平均值计算油的吸光度值。
在本发明实施例中，按照公式
Figure BDA0001870321510000071
计算纯水的吸光度值；按照公式
Figure BDA0001870321510000072
计算油的吸光度值；
其中，
Figure BDA0001870321510000073
为纯水的吸光度值，
Figure BDA0001870321510000078
为油的吸光度值，
Figure BDA0001870321510000074
为n2次采样值的平均值，
Figure BDA0001870321510000075
为n1次采样值的平均值，
Figure BDA0001870321510000076
为n3次采样值的平均值，
Figure BDA0001870321510000077
为n4次采样值的平均值。
步骤203、记录n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值、水的吸光度值和油的吸光度值作为刻度参数。
下面举例说明刻度的步骤。
1、检查图1中的各个仪器连接是否正确，系统供电是否正常，刻度软件是否在地面系统上正常运行，确定光谱分析仪中的光学流通池(即光学样品池)是否清洗干净；当上述均为是时，执行步骤2；当至少一项为不是时，重新调整后继续检查。
2、打开光谱分析仪，打开卤素灯光源，检查光谱仪的数据通讯是否正常。查看光谱仪成像模块(即CCD)的温度值，同时打开制冷设置，将制冷温度设置为5℃。因为在低温下光谱分析仪的噪声会比较小，选择每次在同一温度下刻度，这样刻度的数据比计较一致。
3、等待温度CCD温度降到设置的温度(5℃)，持续开启制冷模式，使CCD温度保持稳定。观察光源是否稳定(光源光强值波动小于0.01％)，调节光谱分析仪的积分时间使得最高的光信号值比理论最高值(65535)低10％左右，记录256个通道的明光谱背景值(空气本底)，记为
Figure BDA0001870321510000081
n＝1,2…256。明光谱以250ms/次的频率对所有通道的光谱响应值进行10次采样，将10次采样值的平均值
Figure BDA0001870321510000082
作为最终值。
4、关闭卤素灯，保持积分时间和制冷温度都不变，观察暗噪声的值，比较稳定的时候记录256个通道的暗光谱值，为
Figure BDA0001870321510000083
n＝1,2…256。暗光谱同样以250ms/次的频率对所有通道的光谱响应值进行10次采样，将10次采样值的均值
Figure BDA0001870321510000084
作为最终值。
5、再次打开卤素灯光源，使其稳定后，将流体样品池和流体管线注满纯水并开始循环，等光谱稳定后，采集纯水光谱50次，记录纯水的光谱均值为
Figure BDA0001870321510000085
n＝1,2…256。
6、打开卤素灯光源，使其稳定后，将流体样品池和流体管线用气枪吹干净，注入J26#油并循环，等光谱稳定后，采集油的光谱数据50次，记录油的光谱均值为
Figure BDA0001870321510000086
n＝1,2…256。
7、依照朗伯-比尔定律，得出各通道吸光度值的计算公式为
Figure BDA0001870321510000087
其中n＝1,2…256。依照此公式计算出水的吸光度值OD1 n和油的吸光度值
Figure BDA0001870321510000088
8、将
Figure BDA0001870321510000089
等参数存储在系统里，形成刻度文件，供需要时调用。
参见图3，本发明另一个实施例提出了一种刻度装置，包括：
采样模块301，用于当满足第一预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n1次采样；当满足第二预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n2次采样；当满足第三预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n3次采样；当满足第四预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n4次采样；其中，n1，n2，n3，n4为大于或等于1的整数；第一预设条件包括：流体样品池未注入任何流体样品，且光源打开；第二预设条件包括：流体样品池未注入任何流体样品，且光源关闭；第三预设条件包括：流体样品池注满纯水，且光源打开；第四预设条件包括：流体样品池注满油，且光源打开；
平均值计算模块302，用于计算n1次采样值的平均值，计算n2次采样值的平均值，计算n3次采样值的平均值，计算n4次采样值的平均值；
吸光度计算模块303，用于根据n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值和n3次采样值的平均值计算水的吸光度值，根据n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值和n4次采样值的平均值计算油的吸光度值；
刻度参数记录模块304，用于记录n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值、水的吸光度值和油的吸光度值作为刻度参数。
在本发明另一个实施例中，所述第一预设条件、所述第三预设条件和所述第四预设条件还包括：光源稳定。本发明实施例在光源稳定的前提下对光谱响应值进行采样，避免了光源不稳定给采样值带来的误差，提高了采样值的准确性，提高了刻度参数的准确性。
在本发明另一个实施例中，所述第三预设条件还包括：所述纯水循环；所述第四预设条件还包括：所述油循环。本发明实施例在流体样品池注满纯水或油后，使纯水或油循环起来再对光谱响应值进行采样，避免了流体样品池中存在空气给采样值带来的误差，提高了采样值的准确性，提高了刻度参数的准确性。
在本发明另一个实施例中，所述第一预设条件、所述第二预设条件、所述第三预设条件和所述第四预设条件还包括：
所述光谱分析仪的成像模块(即CCD)的温度保持在预设温度。具体可以通过制冷装置将温度保持在预设温度。
在本发明另一个实施例中，所述预设温度为0到10℃之间的任意一个取值。本发明实施例将成像模块的温度保持在0到10℃之间的任意一个取值，使得采样时噪声较小，光谱分析仪的功耗较小，光谱分析仪的持续工作时间较长。
在本发明另一个实施例中，所述光源为卤素灯光源。
在本发明另一个实施例中，所述油为J26#油。
在本发明实施例中，按照公式
Figure BDA0001870321510000101
计算纯水的吸光度值；按照公式
Figure BDA0001870321510000102
计算油的吸光度值；
其中，
Figure BDA0001870321510000103
为纯水的吸光度值，
Figure BDA0001870321510000108
为油的吸光度值，
Figure BDA0001870321510000104
为n2次采样值的平均值，
Figure BDA0001870321510000105
为n1次采样值的平均值，
Figure BDA0001870321510000106
为n3次采样值的平均值，
Figure BDA0001870321510000107
为n4次采样值的平均值。
本发明另一个实施例提出了一种刻度装置，包括处理器和计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，当所述指令被所述处理器执行时，实现上述任一种刻度方法。
本发明另一个实施例提出了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一种刻度方法的步骤。
本领域普通技术人员可以理解，上文中所公开方法中的全部或某些步骤、系统、装置中的功能模块/单元可以被实施为软件、固件、硬件及其适当的组合。在硬件实施方式中，在以上描述中提及的功能模块/单元之间的划分不一定对应于物理组件的划分；例如，一个物理组件可以具有多个功能，或者一个功能或步骤可以由若干物理组件合作执行。某些组件或所有组件可以被实施为由处理器，如数字信号处理器或微处理器执行的软件，或者被实施为硬件，或者被实施为集成电路，如专用集成电路。这样的软件可以分布在计算机可读介质上，计算机可读介质可以包括计算机存储介质(或非暂时性介质)和通信介质(或暂时性介质)。如本领域普通技术人员公知的，术语计算机存储介质包括在用于存储信息(诸如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据)的任何方法或技术中实施的易失性和非易失性、可移除和不可移除介质。计算机存储介质包括但不限于RAM、ROM、EEPROM、闪存或其他存储器技术、CD-ROM、数字多功能盘(DVD)或其他光盘存储、磁盒、磁带、磁盘存储或其他磁存储装置、或者可以用于存储期望的信息并且可以被计算机访问的任何其他的介质。此外，本领域普通技术人员公知的是，通信介质通常包含计算机可读指令、数据结构、程序模块或者诸如载波或其他传输机制之类的调制数据信号中的其他数据，并且可包括任何信息递送介质。
虽然本发明实施例所揭露的实施方式如上，但所述的内容仅为便于理解本发明实施例而采用的实施方式，并非用以限定本发明实施例。任何本发明实施例所属领域内的技术人员，在不脱离本发明实施例所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式及细节上进行任何的修改与变化，但本发明实施例的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (9)

1.一种刻度方法，包括：
当满足第一预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n1次采样；当满足第二预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n2次采样；当满足第三预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n3次采样；当满足第四预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n4次采样；其中，n1，n2，n3，n4为大于或等于1的整数；第一预设条件包括：流体样品池未注入任何流体样品，且光源打开；第二预设条件包括：流体样品池未注入任何流体样品，且光源关闭；第三预设条件包括：流体样品池注满纯水，且光源打开；第四预设条件包括：流体样品池注满油，且光源打开；
计算n1次采样值的平均值，计算n2次采样值的平均值，计算n3次采样值的平均值，计算n4次采样值的平均值；
根据n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值和n3次采样值的平均值计算水的吸光度值，根据n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值和n4次采样值的平均值计算油的吸光度值；
记录n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值、水的吸光度值和油的吸光度值作为刻度参数；
其中，所述第一预设条件、所述第三预设条件和所述第四预设条件还包括：光源稳定；
其中，所述第三预设条件还包括：所述纯水循环；所述第四预设条件还包括：所述油循环。
2.根据权利要求1所述的刻度方法，其特征在于，所述第一预设条件、所述第二预设条件、所述第三预设条件和所述第四预设条件还包括：
所述光谱分析仪的成像模块的温度保持在预设温度。
3.根据权利要求2所述的刻度方法，其特征在于，所述预设温度为0到10℃之间的任意一个取值。
4.根据权利要求1所述的刻度方法，其特征在于，所述光源为卤素灯光源。
5.根据权利要求1所述的刻度方法，其特征在于，所述油为J26#油。
6.根据权利要求1所述的刻度方法，其特征在于，所述根据n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值和n3次采样值的平均值计算水的吸光度值包括：按照公式
Figure FDA0002721142620000021
计算纯水的吸光度值；
所述根据n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值和n4次采样值的平均值计算油的吸光度值包括：
按照公式
Figure FDA0002721142620000022
计算油的吸光度值；
其中，
Figure FDA0002721142620000023
为纯水的吸光度值，
Figure FDA0002721142620000024
为油的吸光度值，
Figure FDA0002721142620000025
为n2次采样值的平均值，
Figure FDA0002721142620000026
为n1次采样值的平均值，
Figure FDA0002721142620000027
为n3次采样值的平均值，
Figure FDA0002721142620000028
为n4次采样值的平均值。
7.一种刻度装置，包括：
采样模块，用于当满足第一预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n1次采样；当满足第二预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n2次采样；当满足第三预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n3次采样；当满足第四预设条件时，对光谱分析仪的所有通道的光谱响应值进行n4次采样；其中，n1，n2，n3，n4为大于或等于1的整数；第一预设条件包括：流体样品池未注入任何流体样品，且光源打开；第二预设条件包括：流体样品池未注入任何流体样品，且光源关闭；第三预设条件包括：流体样品池注满纯水，且光源打开；第四预设条件包括：流体样品池注满油，且光源打开；
平均值计算模块，用于计算n1次采样值的平均值，计算n2次采样值的平均值，计算n3次采样值的平均值，计算n4次采样值的平均值；
吸光度计算模块，用于根据n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值和n3次采样值的平均值计算水的吸光度值，根据n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值和n4次采样值的平均值计算油的吸光度值；
刻度参数记录模块，用于记录n1次采样值的平均值、n2次采样值的平均值、水的吸光度值和油的吸光度值作为刻度参数。
8.一种刻度装置，包括处理器和计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有指令，其特征在于，当所述指令被所述处理器执行时，实现如权利要求1～6任一项所述的刻度方法。
9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1～6任一项所述的刻度方法的步骤。
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