CN109286454A - 信号变化监测装置、电子器件受损检测装置及方法 - Google Patents

信号变化监测装置、电子器件受损检测装置及方法 Download PDF

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CN109286454A CN201811318984.2A CN201811318984A CN109286454A CN 109286454 A CN109286454 A CN 109286454A CN 201811318984 A CN201811318984 A CN 201811318984A CN 109286454 A CN109286454 A CN 109286454A
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Abstract

本公开提供了一种信号变化监测装置、电子器件受损检测装置及方法。其中，信号变化监测装置包括第一调制器的输入端口用于接收保持不变的第一路输入信号；第二调制器的输入端口用于接收第二路输入信号；第一调制器和第二调制器，用于将这两路输入信号调制成幅度相同且相位相差180°的信号；合路器，用于同相合路第一调制器和第二调制器调制后的信号，输出零电平信号；零电平信号幅度监测电路，用于实时检测零电平信号幅度变化情况，若零电平信号幅度发生跃变，则判断第二路输入信号的幅度和相位这两个参数中的至少一个参数发生变化；若零电平信号幅度保持不变，则判断第二路输入信号的幅度和相位均未发生变化。

Description

信号变化监测装置、电子器件受损检测装置及方法
技术领域
本公开属于信号检测设备领域，尤其涉及一种信号变化监测装置、电子器件受损检测装置及方法。
背景技术
本部分的陈述仅仅是提供了与本公开相关的背景技术信息，不必然构成在先技术。
在机电领域中，信号变化监测广泛应用于电子器件输出信号的稳定性检测、电子器件受损检测和机电元件振动幅度检测等方面。目前的信号变化监测装置均对于幅度变化较多信号能够取得较好的效果，但是，监测弱信号变化的效果差，灵敏度和准确性均较差。
另外，在电子器件受损检测方面，随着高能微波技术的发展，航空、航天电子器件载荷在这种高能微波束的持续照射状态下，可能会发生性能降低、功能损失等现象，进而导致整个航空、航天器发生故障、甚至坠毁等事故，因此检验电子器件载荷在高功率辐照状态下的性能变化情况显现的尤为重要，对提高电子器件的防护性能提供重要保障条件。目前，所采用的是功率检测法，检测被测件在高功率微波辐照状态下的输出功率、反射功率变化情况，若电子器件功能及性能指标发生降低，则其输出功率及端口驻波就会恶化，导致反射功率增大、输出功率减小，检测原理如图3所示的电子器件受损检测装置的一个实施例结构。
如图3所示，激励源产生检验所需的大功率微波信号，其中，激励源可以输出100MHz～18GHz频段或其它频段的kW级、甚至百兆瓦级大功率射频信号，通过天线向空间或地面目标辐照，用于实时电磁打击。
激励源产生的检验所需的大功率微波信号通过隔离器、耦合器(试验测试期间实时监测激励信号功率)、暗室高功率波导穿墙法兰接口，最终通过发射天线向空间辐射大功率微波信号。大功率微波信号在暗示中，通过接收天线、暗室高功率波导穿墙法兰接口、高功率耦合器后，输入至被测件(高功率微波辐照信号通过接收天线馈入被测件)，被测件后端连接耦合器及负载。
输入功率监测装置实时监测输入至被测件的信号功率；反射功率监测装置实时监测来源于被测件输入端口方向的反射信号功率；输出功率监测装置实时监测来源于被测件输出端口方向的输出信号功率。若被测件的耐微波辐照指标不足，则其内部传输通道阻抗不连续点局部温度就会急速上升，导致受热区域温度过高，阻抗发生变化，致使反射信号功率增大、输出信号功率降低。
发明人发现，目前的电子器件受损检测装置存在以下缺点：
(1)功率检测一般采用检波法或热偶方式，异常现象检测速率较低；
(2)单纯的功率检测灵敏度较低。
发明内容
本公开的一个或多个实施例，提供了一种信号变化监测装置，其能够检测弱信号的变化，且提高了检测的灵敏度和精度。
本公开的一个或多个实施例提供的一种信号变化监测装置，包括第一调制器、第二调制器、合路器和零电平信号幅度监测电路；
所述第一调制器的输入端口用于接收保持不变的第一路输入信号；
所述第二调制器的输入端口用于接收第二路输入信号；
所述第一调制器和第二调制器，用于将这两路输入信号调制成幅度相同且相位相差180°的信号；
所述合路器，用于同相合路第一调制器和第二调制器调制后的信号，输出零电平信号；
所述零电平信号幅度监测电路，用于实时检测零电平信号幅度变化情况，若零电平信号幅度发生跃变，则判断第二路输入信号的幅度和相位这两个参数中的至少一个参数发生变化；若零电平信号幅度保持不变，则判断第二路输入信号的幅度和相位均未发生变化。
本公开的一个或多个实施例提供的一种信号变化监测装置，包括双通道调制器、合路器和零电平信号幅度监测电路；
所述双通道调制器的第一通道用来接收保持不变的第一路输入信号，第二通道用来接收第二路输入信号；所述双通道调制器用于将这两路输入信号调制成幅度相同且相位相差180°的信号；
所述合路器，用于同相合路双通道调制器调制后的信号，输出零电平信号；
所述零电平信号幅度监测电路，用于实时检测零电平信号幅度变化情况，若零电平信号幅度发生跃变，则判断第二路输入信号的幅度和相位这两个参数中的至少一个参数发生变化；若零电平信号幅度保持不变，则判断第二路输入信号的幅度和相位均未发生变化。
在一个或多个实施例中，所述零电平信号幅度监测电路，包括：
抗混叠滤波器，其用于对零电平信号进行抗混叠滤波处理；
本振模块，其用于产生本振信号；
混频器，其用于抗混叠滤波处理的信号和本振信号进行混频；
A/D转换器，其用于将混频后生成的信号转换为数字信号；
正交检波器，其用于从转换的数字信号检出相位差为90度的信号，并经滤波后显示。
本公开的一个或多个实施例，提供了一种电子器件受损检测装置，其适用于窄带高功率微波脉冲信号注入状态下电子器件受损试验中。其中，窄带高功率微波脉冲信号为激励源产生的1MW～100MW的高功率射频信号。
本公开的一个或多个实施例提供的一种电子器件受损检测装置，包括：
上述所述的信号变化监测装置；
激励源，其用于产生检验被测电子器件所需的微波信号；
第一耦合器，其用于耦合所述激励源产生的微波信号并传输至被测电子器件中，且接收被测电子器件的反射信号；
所述第一耦合器的第一输出端口与第一调制器的输入端口相连，第一耦合器的第二输出端口与第二调制器的输入端口相连；第一耦合器的第一输出端口用于输出耦合传输信号并作为第一路输入信号；第一耦合器的第二输出端口用于反射信号并作为第二路输入信号；
所述信号变化监测装置，用于检测反射信号是否发生变化，若反射信号的幅度和相位这两个参数中的至少一个参数发生变化，则判断被测电子器件受损；否则，判断被测电子器件无损。
在一个或多个实施例中，所述第一耦合器的第一输出端口通过功率分配器与第一调制器的输入端口相连，所述功率分配器，用于将第一耦合器的第一输出端口输出的耦合传输信号分成两路，一路直接传输至第一调制器的输入端口，另一路直接传输至输入功率监测装置中。
在一个或多个实施例中，所述电子器件受损检测装置，还包括：
第二耦合器，其串接于激励源与第一耦合器之间；所述第一耦合器与激励功率监测装置相连；
第三耦合器，其串接于被测电子器件的输出端；所述第三耦合器与输出功率监测装置相连。
本公开的一个或多个实施例提供的一种电子器件受损检测装置，包括：
上述所述的信号变化监测装置；
激励源，其用于产生检验被测电子器件所需的微波信号；
第一耦合器，其用于耦合所述激励源产生的微波信号并传输至被测电子器件中，且接收被测电子器件的反射信号；
所述第一耦合器的第一输出端口与双通道调制器的第一输入端口相连，第一耦合器的第二输出端口与双通道调制器的第二输入端口相连；第一耦合器的第一输出端口用于输出耦合传输信号并作为第一路输入信号；第一耦合器的第二输出端口用于反射信号并作为第二路输入信号；
所述信号变化监测装置，用于检测反射信号是否发生变化，若反射信号的幅度和相位这两个参数中的至少一个参数发生变化，则判断被测电子器件受损；否则，判断被测电子器件无损。
在一个或多个实施例中，所述第一耦合器的第一输出端口通过功率分配器与双通道调制器的第一输入端口相连，所述功率分配器，用于将第一耦合器的第一输出端口输出的耦合传输信号分成两路，一路直接传输至双通道调制器的第一输入端口，另一路直接传输至输入功率监测装置中。
在一个或多个实施例中，所述电子器件受损检测装置，还包括：
第二耦合器，其串接于激励源与第一耦合器之间；所述第一耦合器与激励功率监测装置相连；
第三耦合器，其串接于被测电子器件的输出端；所述第三耦合器与输出功率监测装置相连。
本公开的一个或多个实施例提供了一种基于电子器件受损检测装置的检测方法。
本公开的一个或多个实施例提供的一种基于电子器件受损检测装置的检测方法，包括：
激励源产生检验被测电子器件所需的微波信号并传送至第一耦合器；
第一耦合器耦合激励源产生的微波信号并传输至被测电子器件中，且接收被测电子器件的反射信号；第一耦合器输出的耦合传输信号和反射信号分别作为第一路输入信号和第二路输入信号输入至信号变化监测装置中；
信号变化监测装置检测反射信号是否发生变化，若反射信号的幅度和相位这两个参数中的至少一个参数发生变化，则判断被测电子器件受损；否则，判断被测电子器件无损。
在一个或多个实施例中，若被测电子器件受损，则输出功率监测装置显示的输出功率呈降低趋势。
与现有技术相比，本公开的有益效果是：
(1)本公开提供的一种信号变化监测装置，通过将两路输入信号调制成幅度相同且相位相差180°的信号，再同相合路后输出零电平信号，最后利用零电平信号幅度监测电路实时检测零电平信号幅度变化情况，若零电平信号幅度发生跃变，则判断其中一路输入信号的幅度和相位这两个参数中的至少一个参数发生变化，实现了弱信号的变化检测，提高了信号检测的灵敏度和精度。
(2)本公开提供的一种电子器件受损检测装置，用于窄带高功率微波脉冲信号注入状态下电子器件受损试验中，实现了高功率微波脉冲辐照受损情况的高灵敏度检测。
(3)本公开提供的一种电子器件受损检测装置，有助于降低被测件的受损程度，为后期的拆解、高倍显微分析来提供相对完善的测试样件，有利于产品开发人员对部件受损情况进行检测分析。
附图说明
构成本公开的一部分的说明书附图用来提供对本公开的进一步理解，本公开的示意性实施例及其说明用于解释本公开，并不构成对本公开的不当限定。
图1是本公开的一种信号变化监测装置的实施例结构示意图。
图2是零电平信号幅度监测电路的实施例结构示意图。
图3是电子器件受损检测装置的一个实施例结构示意图。
图4是本公开的电子器件受损检测装置的另一实施例结构示意图。
具体实施方式
应该指出，以下详细说明都是例示性的，旨在对本公开提供进一步的说明。除非另有指明，本文使用的所有技术和科学术语具有与本公开所属技术领域的普通技术人员通常理解的相同含义。
需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本公开的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、操作、器件、组件和/或它们的组合。
图1是本公开的一种信号变化监测装置的实施例结构示意图。
如图1所示，本公开实施例的一种信号变化监测装置，包括第一调制器、第二调制器、合路器和零电平信号幅度监测电路；
所述第一调制器的输入端口用于接收保持不变的第一路输入信号；
所述第二调制器的输入端口用于接收第二路输入信号；
所述第一调制器和第二调制器，用于将这两路输入信号调制成幅度相同且相位相差180°的信号；
所述合路器，用于同相合路第一调制器和第二调制器调制后的信号，输出零电平信号；
所述零电平信号幅度监测电路，用于实时检测零电平信号幅度变化情况，若零电平信号幅度发生跃变，则判断第二路输入信号的幅度和相位这两个参数中的至少一个参数发生变化；若零电平信号幅度保持不变，则判断第二路输入信号的幅度和相位均未发生变化。
若第二路输入信号的幅度和相位中任一参数发生变化，则零电平信号幅度就会发生较大的跃变。
例如：若第二路输入信号的幅度发生0.1dB的变化量，原-80dBm的零电平信号就会变为-60dBm左右，将0.1dB的变化量放大100倍；
若第二路输入信号的相位发生1°的变化量，原-80dBm的零电平信号就会变为-74dBm左右，将1°的变化量放大4倍。
在一个或多个实施例中，第一调制器和第二调制器均与驱动电路相连。
具体地，调制器是指通过数字信号处理技术，将低频数字信号(如音频、视频、数据等)调制到高频数字信号中，进行信号传输的一种设备。
其中，第一调制器和第二调制器均可采用现有结构形式来实现。
驱动电路用于驱动第一调制器和第二调制器进入调制工作状态，驱动电路的结构也可采用现有的驱动电路结构来实现。
在一个或多个实施例中，如图2所示，零电平信号幅度监测电路，包括：
抗混叠滤波器，其用于对零电平信号进行抗混叠滤波处理；
本振模块，其用于产生本振信号；
混频器，其用于抗混叠滤波处理的信号和本振信号进行混频；
A/D转换器，其用于将混频后生成的信号转换为数字信号；
正交检波器，其用于从转换的数字信号检出相位差为90度的信号，并经滤波后显示。
本公开的一个或多个实施例提供的一种信号变化监测装置，包括双通道调制器、合路器和零电平信号幅度监测电路；
所述双通道调制器的第一通道用来接收保持不变的第一路输入信号，第二通道用来接收第二路输入信号；所述双通道调制器用于将这两路输入信号调制成幅度相同且相位相差180°的信号；
所述合路器，用于同相合路双通道调制器调制后的信号，输出零电平信号；
所述零电平信号幅度监测电路，用于实时检测零电平信号幅度变化情况，若零电平信号幅度发生跃变，则判断第二路输入信号的幅度和相位这两个参数中的至少一个参数发生变化；若零电平信号幅度保持不变，则判断第二路输入信号的幅度和相位均未发生变化。
例如：若第二路输入信号的幅度发生0.1dB的变化量，原-80dBm的零电平信号就会变为-60dBm左右，将0.1dB的变化量放大100倍；
若第二路输入信号的相位发生1°的变化量，原-80dBm的零电平信号就会变为-74dBm左右，将1°的变化量放大4倍。
在该实施例中，零电平信号幅度监测电路结构如图2所示。
本公开的一个或多个实施例提供的一种信号变化监测装置能够检测弱信号的变化，且提高了检测的灵敏度和精度。
图4是本公开的电子器件受损检测装置结构示意图。
如图4所示，本公开提供的一种电子器件受损检测装置，适用于窄带高功率微波脉冲信号注入状态下电子器件受损试验中。其中，窄带高功率微波脉冲信号为激励源产生的1MW～100MW的高功率射频信号。
本公开提供的一种电子器件受损检测装置，包括：
如图1所示的信号变化监测装置；
激励源，其用于产生检验被测电子器件所需的微波信号；
第一耦合器，其用于耦合所述激励源产生的微波信号并传输至被测电子器件中，且接收被测电子器件的反射信号；
所述第一耦合器的第一输出端口与第一调制器的输入端口相连，第一耦合器的第二输出端口与第二调制器的输入端口相连；第一耦合器的第一输出端口用于输出耦合传输信号并作为第一路输入信号；第一耦合器的第二输出端口用于反射信号并作为第二路输入信号；
所述信号变化监测装置，用于检测反射信号是否发生变化，若反射信号的幅度和相位这两个参数中的至少一个参数发生变化，则判断被测电子器件受损；否则，判断被测电子器件无损。
在一个或多个实施例中，所述第一耦合器的第一输出端口通过功率分配器与第一调制器的输入端口相连，所述功率分配器，用于将第一耦合器的第一输出端口输出的耦合传输信号分成两路，一路直接传输至第一调制器的输入端口，另一路直接传输至输入功率监测装置中。
在其他实施例中，所述电子器件受损检测装置，还包括：
第二耦合器，其串接于激励源与第一耦合器之间；所述第一耦合器与激励功率监测装置相连；
第三耦合器，其串接于被测电子器件的输出端；所述第三耦合器与输出功率监测装置相连。
本公开还提供了另一种电子器件受损检测装置，包括：
信号变化监测装置；所述信号变化监测装置包括双通道调制器、合路器和零电平信号幅度监测电路；
所述双通道调制器的第一通道用来接收保持不变的第一路输入信号，第二通道用来接收第二路输入信号；所述双通道调制器用于将这两路输入信号调制成幅度相同且相位相差180°的信号；
所述合路器，用于同相合路双通道调制器调制后的信号，输出零电平信号；
所述零电平信号幅度监测电路，用于实时检测零电平信号幅度变化情况，若零电平信号幅度发生跃变，则判断第二路输入信号的幅度和相位这两个参数中的至少一个参数发生变化；若零电平信号幅度保持不变，则判断第二路输入信号的幅度和相位均未发生变化；
激励源，其用于产生检验被测电子器件所需的微波信号；
第一耦合器，其用于耦合所述激励源产生的微波信号并传输至被测电子器件中，且接收被测电子器件的反射信号；
所述第一耦合器的第一输出端口与双通道调制器的第一输入端口相连，第一耦合器的第二输出端口与双通道调制器的第二输入端口相连；第一耦合器的第一输出端口用于输出耦合传输信号并作为第一路输入信号；第一耦合器的第二输出端口用于反射信号并作为第二路输入信号；
所述信号变化监测装置，用于检测反射信号是否发生变化，若反射信号的幅度和相位这两个参数中的至少一个参数发生变化，则判断被测电子器件受损；否则，判断被测电子器件无损。
在一个或多个实施例中，所述第一耦合器的第一输出端口通过功率分配器与双通道调制器的第一输入端口相连，所述功率分配器，用于将第一耦合器的第一输出端口输出的耦合传输信号分成两路，一路直接传输至双通道调制器的第一输入端口，另一路直接传输至输入功率监测装置中。
在一个或多个实施例中，所述电子器件受损检测装置，还包括：
第二耦合器，其串接于激励源与第一耦合器之间；所述第一耦合器与激励功率监测装置相连；
第三耦合器，其串接于被测电子器件的输出端；所述第三耦合器与输出功率监测装置相连。
如图4所示的电子器件受损检测装置与图3的检测装置不同之处是：
信号变化监测装置替代反射功率监测装置。
图3中二功分器将被测件输入耦合输出信号等比例分为两路：
一路仍然输入至功率监测装置中，进行输入功率监测；
另外一路同反射耦合输出信号一致，进入信号变化监测装置。
两路信号在信号变化监测装置中，通过调幅和调相，被调成幅度相同且相位相差180°的信号，之后在合路器内同相合路输出零电平信号，采用零电平信号幅度监测电路实时检测其输出信号电平变化情况。
采用本公开的电子器件受损检测装置进行检测，若反射信号幅度或相位发生变化，则零电平信号幅度就会发生较大的跃变。
若反射信号幅度发生0.1dB的变化量，原-80dBm的零电平信号就会变为-60dBm左右，将0.1dB的变化量放大100倍；
若反射信号相位发生1°的变化量，原-80dBm的零电平信号就会变为-74dBm左右，将1°的变化量放大4倍。
本公开的一个或多个实施例提供的基于电子器件受损检测装置的检测方法，包括：
步骤1：激励源产生检验被测电子器件所需的微波信号并传送至第一耦合器；
步骤2：第一耦合器耦合激励源产生的微波信号并传输至被测电子器件中，且接收被测电子器件的反射信号；第一耦合器输出的耦合传输信号和反射信号分别作为第一路输入信号和第二路输入信号输入至信号变化监测装置中；
步骤3：信号变化监测装置检测反射信号是否发生变化，若反射信号的幅度和相位这两个参数中的至少一个参数发生变化，则判断被测电子器件受损；否则，判断被测电子器件无损。
在一个或多个实施例中，若被测电子器件受损，则输出功率监测装置显示的输出功率呈降低趋势。
依据高功率微波脉冲辐照受损情况检测技术要求，结合被测件自身技术特性，本发明采用信号变化监测装置来实现航空、航天器电子器部件/组件载荷受高功率微波脉冲辐照受损情况的检测，可有效提高受损检测灵敏度。
根据用户的不同需求，也可应用于其它受损检测领域，例如：也可用于大功率无源射频类部件的温度变化导致的传输通道S参数变化情况检测。
以上所述仅为本公开的优选实施例而已，并不用于限制本公开，对于本领域的技术人员来说，本公开可以有各种更改和变化。凡在本公开的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本公开的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种信号变化监测装置，其特征在于，包括第一调制器、第二调制器、合路器和零电平信号幅度监测电路；
所述第一调制器的输入端口用于接收保持不变的第一路输入信号；
所述第二调制器的输入端口用于接收第二路输入信号；
所述第一调制器和第二调制器，用于将这两路输入信号调制成幅度相同且相位相差180°的信号；
所述合路器，用于同相合路第一调制器和第二调制器调制后的信号，输出零电平信号；
所述零电平信号幅度监测电路，用于实时检测零电平信号幅度变化情况，若零电平信号幅度发生跃变，则判断第二路输入信号的幅度和相位这两个参数中的至少一个参数发生变化；若零电平信号幅度保持不变，则判断第二路输入信号的幅度和相位均未发生变化。
2.一种信号变化监测装置，其特征在于，包括双通道调制器、合路器和零电平信号幅度监测电路；
所述双通道调制器的第一通道用来接收保持不变的第一路输入信号，第二通道用来接收第二路输入信号；所述双通道调制器用于将这两路输入信号调制成幅度相同且相位相差180°的信号；
所述合路器，用于同相合路双通道调制器调制后的信号，输出零电平信号；
所述零电平信号幅度监测电路，用于实时检测零电平信号幅度变化情况，若零电平信号幅度发生跃变，则判断第二路输入信号的幅度和相位这两个参数中的至少一个参数发生变化；若零电平信号幅度保持不变，则判断第二路输入信号的幅度和相位均未发生变化。
3.如权利要求1或2所述的一种信号变化监测装置，其特征在于，所述零电平信号幅度监测电路，包括：
抗混叠滤波器，其用于对零电平信号进行抗混叠滤波处理；
本振模块，其用于产生本振信号；
混频器，其用于抗混叠滤波处理的信号和本振信号进行混频；
A/D转换器，其用于将混频后生成的信号转换为数字信号；
正交检波器，其用于从转换的数字信号检出相位差为90度的信号，并经滤波后显示。
4.一种电子器件受损检测装置，其特征在于，包括：
如权利要求1所述的信号变化监测装置；
激励源，其用于产生检验被测电子器件所需的微波信号；
第一耦合器，其用于耦合所述激励源产生的微波信号并传输至被测电子器件中，且接收被测电子器件的反射信号；
所述第一耦合器的第一输出端口与第一调制器的输入端口相连，第一耦合器的第二输出端口与第二调制器的输入端口相连；第一耦合器的第一输出端口用于输出耦合传输信号并作为第一路输入信号；第一耦合器的第二输出端口用于反射信号并作为第二路输入信号；
所述信号变化监测装置，用于检测反射信号是否发生变化，若反射信号的幅度和相位这两个参数中的至少一个参数发生变化，则判断被测电子器件受损；否则，判断被测电子器件无损。
5.如权利要求4所述的一种电子器件受损检测装置，其特征在于，所述第一耦合器的第一输出端口通过功率分配器与第一调制器的输入端口相连，所述功率分配器，用于将第一耦合器的第一输出端口输出的耦合传输信号分成两路，一路直接传输至第一调制器的输入端口，另一路直接传输至输入功率监测装置中；
或所述电子器件受损检测装置，还包括：
第二耦合器，其串接于激励源与第一耦合器之间；所述第一耦合器与激励功率监测装置相连；
第三耦合器，其串接于被测电子器件的输出端；所述第三耦合器与输出功率监测装置相连。
6.一种电子器件受损检测装置，其特征在于，包括：
如权利要求2所述的信号变化监测装置；
激励源，其用于产生检验被测电子器件所需的微波信号；
第一耦合器，其用于耦合所述激励源产生的微波信号并传输至被测电子器件中，且接收被测电子器件的反射信号；
所述第一耦合器的第一输出端口与双通道调制器的第一输入端口相连，第一耦合器的第二输出端口与双通道调制器的第二输入端口相连；第一耦合器的第一输出端口用于输出耦合传输信号并作为第一路输入信号；第一耦合器的第二输出端口用于反射信号并作为第二路输入信号；
所述信号变化监测装置，用于检测反射信号是否发生变化，若反射信号的幅度和相位这两个参数中的至少一个参数发生变化，则判断被测电子器件受损；否则，判断被测电子器件无损。
7.如权利要求6所述的一种电子器件受损检测装置，其特征在于，所述第一耦合器的第一输出端口通过功率分配器与双通道调制器的第一输入端口相连，所述功率分配器，用于将第一耦合器的第一输出端口输出的耦合传输信号分成两路，一路直接传输至双通道调制器的第一输入端口，另一路直接传输至输入功率监测装置中；
或所述电子器件受损检测装置，还包括：
第二耦合器，其串接于激励源与第一耦合器之间；所述第一耦合器与激励功率监测装置相连；
第三耦合器，其串接于被测电子器件的输出端；所述第三耦合器与输出功率监测装置相连。
8.一种基于如权利要求4-6中任一项所述的电子器件受损检测装置的检测方法，其特征在于，包括：
激励源产生检验被测电子器件所需的微波信号并传送至第一耦合器；
第一耦合器耦合激励源产生的微波信号并传输至被测电子器件中，且接收被测电子器件的反射信号；第一耦合器输出的耦合传输信号和反射信号分别作为第一路输入信号和第二路输入信号输入至信号变化监测装置中；
信号变化监测装置检测反射信号是否发生变化，若反射信号的幅度和相位这两个参数中的至少一个参数发生变化，则判断被测电子器件受损；否则，判断被测电子器件无损。
9.一种基于如权利要求4-6中任一项所述的电子器件受损检测装置的检测方法，其特征在于，包括：
激励源产生检验被测电子器件所需的微波信号并传送至第一耦合器；
第一耦合器耦合激励源产生的微波信号并传输至被测电子器件中，且接收被测电子器件的反射信号；第一耦合器输出的耦合传输信号和反射信号分别作为第一路输入信号和第二路输入信号输入至信号变化监测装置中；
信号变化监测装置检测反射信号是否发生变化，若反射信号的幅度和相位这两个参数中的至少一个参数发生变化，则判断被测电子器件受损；否则，判断被测电子器件无损。
10.如权利要求8或9所述的电子器件受损检测装置的检测方法，其特征在于，若被测电子器件受损，则输出功率监测装置显示的输出功率呈降低趋势。
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