CN109283674A - 一种荧光差分显微镜光路装置 - Google Patents

一种荧光差分显微镜光路装置 Download PDF

Info

Publication number
CN109283674A
CN109283674A CN201811165971.6A CN201811165971A CN109283674A CN 109283674 A CN109283674 A CN 109283674A CN 201811165971 A CN201811165971 A CN 201811165971A CN 109283674 A CN109283674 A CN 109283674A
Authority
CN
China
Prior art keywords
laser
optical path
fluorescence
path device
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201811165971.6A
Other languages
English (en)
Inventor
张琛
朱洁
王凯歌
白晋涛
章裕
董宇峥
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Northwest University
Original Assignee
Northwest University
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Northwest University filed Critical Northwest University
Priority to CN201811165971.6A priority Critical patent/CN109283674A/zh
Publication of CN109283674A publication Critical patent/CN109283674A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002—Scanning microscopes
    • G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0032—Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • G01N21/6456—Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
    • G01N21/6458—Fluorescence microscopy
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00—Microscopes
    • G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002—Scanning microscopes
    • G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052—Optical details of the image generation
    • G02B21/0076—Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

本发明属于光调制技术及其应用领域，公开了一种荧光差分显微镜光路装置，包括沿入射激光传播方向依次设置的起偏器、二分之一波片、偏振光转换器、与入射激光呈45度夹角的二色镜、沿二色镜反射光路设置的高数值孔径物镜，以及沿样品荧光信号传播方向且透过二色镜的光路上设置的窄带滤波片、汇聚透镜、针孔、多模光纤以及探测单元；本发明具有结构简单、稳定性强的优点，且利用偏振光转换器有效利用了激光能量，光损耗更低，并实现光路中两种不同的扫描光束的相互切换，具有更快的响应时间，在FED成像中速度更快。

Description

一种荧光差分显微镜光路装置
技术领域
本发明属于光调制技术及其应用领域，具体涉及一种荧光差分显微镜光路装置。
背景技术
荧光差分(Fluorescence Emission Difference,FED)显微镜打破了衍射极限定律限制，是一种能够在低光强下实现纳米量级超分辨成像的远场光学显微镜。与目前STED、PALM、STORM等远场光学超分辨显微技术相比，其结构更简单、操作更方便，具有广阔的应用前景。
通常，FED显微成像需要利用同波段不同模式的两束激光(高斯光束与中心为零光强的环形光束)分别扫描样品，从而获取样品的两幅光强图像：高斯激光扫描样品后获取一幅共聚焦图像(假设用I1表示)，环形激光扫描样品后获得一幅反共聚焦图像(假设用I2表示)。随后最终的超分辨图像I就可以利用公式：I＝I1-r×I2对两幅光强图进行强度差分处理后获得，其中r为常数，其值等于I1中的极大值除以2倍的I2中的极大值。
在现有FED显微镜中，往往利用偏振分光元件(PBS)将一束激光分为偏振态正交的两路激光，其中一路激光经过涡旋相位板(Vortex Phase Plate,VPP)调制成中心为零光强的环形光束后，与另外一路光利用另外一枚PBS进行合束，合束后的激发光被二色镜反射进入显微物镜中对样品进行扫描。在此过程中，两束激发光分别通过两个电子快门控制，用来切换不同的激发光模式。但是，这种FED显微镜系统构造中构建了两路激光光路，两束激光在后期的合束过程中，在光束重合校准方面具有一定的难度、光束在样品上的定位也存在一定的误差，因此极大影响了FED显微镜的成像质量。此外，这种FED系统往往采用机械开关控制实现两路激光之间的切换，目前市面上的机械开关响应时间约为15毫秒，因此成像速度较慢；且光路较为庞大、光学元件较多，这些因素均降低了系统的稳定性。
目前，还有一种基于空间光调制器(Spatial Light Modulator,SLM)实现的FED显微系统。在该系统中采用SLM对激发光直接进行调制，通过在SLM上加载不同的信号，实现激光在高斯光与环形扫描激光之间相互切换。在此类显微镜系统中激光不需要分光，大大降低了显微镜系统在准直和调制方面的难度。然而空间光调制器是一种衍射光学器件，对入射激光具有较高的光损耗，激光能量利用率低；且基于SLM的FED显微镜系统需要采用“z”字形光路，光路构造较为复杂，光路较长，引入了光路不稳定的因素；此外，基于SLM的FED显微镜，其光束调制的响应时间取决于SLM本身的响应时间(通常介于10ms～25ms之间)以及其全息图像的加载速度，因此成像速度较慢；最后，SLM的价格较为昂贵，增加了FED系统的造价。
发明内容
针对目前荧光差分显微镜结构较为复杂、成像速度较慢、入射激光损耗较高、激光能量利用率低、稳定性较差等问题，本发明的目的在于，提供一种荧光差分显微镜光路装置。
为了实现上述目的，本申请采用如下技术方案予以实现：
一种荧光差分显微镜光路装置，包括沿入射激光的传播方向依次设置的起偏器、二分之一波片、偏振光转换器、与入射光路呈45度夹角的二色镜、沿二色镜反射光路设置的高数值孔径物镜，以及沿样品荧光信号传播方向且在样品荧光信号透过二色镜的光路上设置的窄带滤波片、汇聚透镜、针孔、多模光纤以及探测单元。
进一步的，所述入射激光为基模TEM00模式激光，且为连续波激光或脉冲激光，入射激光充满高数值孔径物镜的光瞳。
进一步的，所述起偏器的偏振化方向与入射激光的最大光强偏振光的偏振方向平行；如果所述入射激光为圆偏振光，所述起偏器的偏振化方向为任意方向。
进一步的，所述偏振光转换器垂直放置于激光传播路径上，且激光通过偏振光转换器的中心位置。
进一步的，所述二色镜对入射的激光波段全反射，对样品发射荧光信号波段高透射。
进一步的，经所述二色镜反射后的激光波面形变小于1/10倍的入射激光波长。
进一步的，所述高数值孔径物镜的光轴与激光主光轴重合。
进一步的，所述针孔位于汇聚透镜的焦点上。
进一步的，所述的针孔的直径比荧光焦斑大20％-30％，且针孔中心点位置位于多模光纤光纤端面中心点位置。
进一步的，所述探测单元为光子计数器或光电倍增管。
本发明与现有技术相比，有益的技术效果是：
(1)本发明中的激光调制光路为直线型，相比现有FED显微镜所采用的光路结构，本发明中的激光调制光路结构更简单、光路元件更少、调制更方便、占用空间尺寸更小、在相同外部环境下具有更高的稳定性；
(2)本发明提出利用偏振光转换器实现光路中激光的调制，入射的激光透射穿过了偏振光转换器，几乎完全保留了入射激光能量，因此这种光路构造较现有光路结构更有效的利用了激光能量，光损耗更低；
(3)本发明提出利用偏振光转换器实现光路中两种不同的扫描光束的相互切换，偏振光转换器具有更快的响应时间(通常为1ms)，因此在FED成像中速度更快。
附图说明
图1是本发明的荧光差分显微镜光路装置的结构示意图；
图中标号代表：1-起偏器，2-二分之一波片，3-偏振光转换器(PC)，4-二色镜，5-高数值孔径物镜，6-窄带滤波片，7-汇聚透镜，8-针孔，9-多模光纤，10-探测单元；
图2是偏振光转换器与探测单元加载的脉冲控制信号示意图；其中，
A列脉冲控制信号为偏振光转换器加载的脉冲控制信号示意图；
B列脉冲控制信号为探测单元加载的脉冲控制信号示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明的方案作进一步详细地解释和说明。
如图1所示，本发明提出了一种荧光差分显微镜光路装置，包括：沿入射激光的传播方向依次设置的起偏器1、二分之一波片2、偏振光转换器3、与入射光路呈45度的二色镜4，沿二色镜4反射光路设置的高数值孔径物镜5，以及沿样品荧光信号传播方向且样品荧光信号透过二色镜4的光路上设置的窄带滤波片6、汇聚透镜7、针孔8、多模光纤9以及探测单元10。
其中，所述高数值孔径物镜5的数值孔径NA＞0.9，所述样品荧光信号传播方向为沿二色镜4反射至高数值孔径物镜5的激光的反方向，所述样品位于高数值孔径物镜5的焦平面上。
本发明中所述起偏器1用于保证激光的高度线偏振性；所述二分之一波片2用于旋转激光线偏振方向；所述偏振光转换器3用于加载脉冲控制信号，来实现激光在线偏振及角向偏振之间的相互转换；所述二色镜4用于将经过偏振光转换器3的激光反射至高数值孔径物镜5，以及保证样品荧光信号的通过；所述窄带滤波片6用于滤除样品当前位置样品荧光信号的杂光；所述汇聚透镜7用于将滤除杂光的样品荧光信号汇聚到针孔8上；所述多模光纤9用于传输样品荧光信号；所述探测单元10用于加载与偏振光转换器3同步的脉冲控制信号，分别采集线偏振激光与角向偏振光产生的样品荧光信号；所述高数值孔径物镜5、二色镜4、针孔8、多模光纤9与探测单元10共同构成共焦系统。
本发明的荧光差分显微镜光路装置中的激光调制光路(激光通过起偏器1、二分之一波片2、偏振光转换器3传播的光路)为直线型，使得激光调制光路结构更简单、光路元件更少、调制更方便、成像速度更快、在相同外部环境下具有更高的稳定性；同时利用偏振光转换器3有效利用了激光能量，光损耗更低，并实现光路中两种不同的扫描光束的相互切换，具有更快的响应时间，在FED成像中速度更快，因此本发明的装置具有结构简单、成像速度快、入射激光损耗低、激光能量利用率高、稳定性强的优点。
优选的，所述入射激光为基模TEM00模式激光，且为连续波激光或脉冲激光，入射激光充满高数值孔径物镜5的光瞳。该方式下，本装置具有好的兼容性，可输入两种类型的激光；入射激光充满高数值孔径物镜5的光瞳可以得到最小的激光焦斑，提高荧光信号采集精度。
具体的，所述起偏器1的偏振化方向与入射激光的最大光强偏振光的偏振方向平行；如果所述入射激光为圆偏振光，所述起偏器偏振化方向为任意方向。该方式能够保证激光的高度线偏振性。
具体的，所述偏振光转换器3垂直放置于激光传播路径上，且激光通过偏振光转换器3的中心位置。该方式实现了激光在线偏振及角偏振之间的相互转换，两束不同偏振态的激光共享同一条光路，且传播路径完全一致；同时，穿过偏振光转换器3的入射激光能量利用率高、光损耗低。
具体的，所述二色镜4对入射激光波段全反射，对样品发射荧光信号波段高透射，能够充分利用入射激光的能量、减少样品荧光信号的损耗，并降低在荧光信号采集中入射波段对探测单元10的干扰。
具体的，经所述二色镜4反射后的激光波面形变小于1/10倍的入射激光波长，保证了高质量的角向偏振光。
具体的，所述高数值孔径物镜5的光轴与激光主光轴重合，有利于降低系统像差对高数值孔径物镜5焦面处激光焦点形状的影响。
具体的，所述针孔8位于汇聚透镜7的焦点上，有利于针孔8对样品荧光信号的空间滤波，保证主要荧光信号的能量通过。
具体的，所述针孔8的直径比荧光焦斑大20％-30％，且针孔中心点位置位于多模光纤9光纤端面中心点位置；其中，所述荧光焦斑为在汇聚透镜7形成的荧光爱里斑；该方式可充分滤除样品荧光信号的杂波，且有利于通过多模光纤进行信号传输。
优选的，所述探测单元10可以采用光子计数器或光电倍增管(PMT)，具有很好的兼容性。
采用本发明的荧光差分显微镜光路装置的工作过程，具体包括以下步骤：
步骤一：启动外部激光器，入射激光入射到光路装置后经过起偏器1转化为高度线偏振光；
步骤二：旋转二分之一波片2光轴角度，使通过加载了持续触发电压信号的偏振光转换器3的激光转化为角向偏振光，完成光路的初始校准，此时，取消加载持续触发电压信号；
步骤三：在偏振光转换器3上加载A列脉冲控制信号，同时在探测单元10上加载B列脉冲控制信号；如图2所示，A列与B列脉冲控制信号满足：τ1＝τ1'，τ1+τ1'＝T，τ0+τ2≤τ1，其中，T表示A列脉冲控制信号的周期，即完成采集样品荧光共焦光强信息与荧光反共焦光强信息的时间长度；τ0表示B列脉冲上升沿时间；τ1表示A列脉冲控制信号处于低电压的时间，即偏振光转换器不工作时间；τ1'表示A列脉冲控制信号处于高电压的时间，即偏振光转换器工作时间；τ2表示A列脉冲控制信号处于高电压的时间，即探测单元触发时间；V1表示A列脉冲控制信号的高电压，即偏振光转换器触发电压，V2表示B列脉冲控制信号的高电压，即探测单元触发电压；
步骤四：如图2所示，在τ1时段中，偏振光转换器3不工作，光路中激光为线偏振激光，随后经二向色镜4反射后入射到高数值孔径物镜5生成实心高斯光斑，激发样品当前位置荧光信号；样品荧光信号经高数值孔径物镜收集后透过二色镜4，然后经过窄带滤波片6滤除杂光，然后由汇聚透镜7汇聚到针孔8上；汇聚在针孔上的样品荧光信号经过多模光纤9传输到探测单元10；当加载在探测单元10上的脉冲控制信号为触发电压时，探测单元10采集获得样品当前位置的荧光共焦光强信息，采集时间长度为τ2；
步骤五：如图2所示，在τ1'时段中，偏振光转换器3工作，光路中激光为角向偏振激光，随后经二向色镜4反射后入射到高数值孔径物镜5生成中心为零光强的环形光斑，激发样品当前位置荧光信号；样品荧光信号经高数值孔径物镜5收集后透过二色镜4，然后经过窄带滤波片6滤除杂光，然后由汇聚透镜7汇聚到针孔8上；汇聚在针孔8上的样品荧光信号经过多模光纤9传输到探测单元10；当加载在探测单元上的脉冲控制信号为触发电压时，探测单元10采集获得样品当前位置的荧光反共焦光强信息，采集时间长度为τ2；
步骤六：样品移动到预设扫描路径中的下一个扫描位置，重复步骤四与步骤五，获得样品新位置的荧光共焦光强信息与荧光反共焦光强信息，不断重复至样品扫描结束。
本发明利用偏振光转换器3实现光路中激光的调制，入射激光透射穿过了偏振光转换器3，几乎完全保留了入射激光能量，比现有光路结构更有效的利用了激光能量、光损耗更低；同时利用偏振光转换器3实现光路中两束不同偏振态的激光的相互切换，两束不同偏振态的激光共享同一条光路，且传播路径完全一致，偏振光转换器3的响应时间通常为1ms，在FED成像中速度更快；
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内，因此，本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种荧光差分显微镜光路装置，其特征在于，包括沿入射激光的传播方向依次设置的起偏器(1)、二分之一波片(2)、偏振光转换器(3)、与入射光路呈45度夹角的二色镜(4)、沿二色镜(4)反射光路设置的高数值孔径物镜(5)，以及沿样品荧光信号传播方向且在样品荧光信号透过二色镜(4)的光路上设置的窄带滤波片(6)、汇聚透镜(7)、针孔(8)、多模光纤(9)以及探测单元(10)。
2.如权利要求1所述的荧光差分显微镜光路装置，其特征在于，所述入射激光为基模TEM00模式激光，且为连续波激光或脉冲激光，所述入射激光能够充满高数值孔径物镜(5)的光瞳。
3.如权利要求1所述的荧光差分显微镜光路装置，其特征在于，所述起偏器(1)的偏振化方向与入射激光的最大光强偏振光的偏振方向平行；如果所述入射激光为圆偏振光，所述起偏器(1)的偏振化方向为任意方向。
4.如权利要求1所述的荧光差分显微镜光路装置，其特征在于，所述偏振光转换器(3)垂直放置于激光传播路径上，且激光通过偏振光转换器(3)的中心位置。
5.如权利要求1所述的荧光差分显微镜光路装置，其特征在于，所述二色镜(4)对入射的激光波段全反射，对样品发射荧光信号波段高透射。
6.如权利要求1所述的荧光差分显微镜光路装置，其特征在于，经所述二色镜(4)反射后的激光波面形变小于1/10倍的入射激光波长。
7.如权利要求1所述的荧光差分显微镜光路装置，其特征在于，所述高数值孔径物镜(5)的光轴与激光主光轴重合。
8.如权利要求1所述的荧光差分显微镜光路装置，其特征在于，所述针孔(8)位于汇聚透镜(7)的焦点上。
9.如权利要求1所述的荧光差分显微镜光路装置，其特征在于，所述的针孔(8)的直径比荧光焦斑大20％-30％，且针孔中心点位置位于多模光纤(9)光纤端面中心点位置。
10.如权利要求1所述的荧光差分显微镜光路装置，其特征在于，所述探测单元(10)为光子计数器或光电倍增管。
CN201811165971.6A 2018-10-08 2018-10-08 一种荧光差分显微镜光路装置 Pending CN109283674A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811165971.6A CN109283674A (zh) 2018-10-08 2018-10-08 一种荧光差分显微镜光路装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201811165971.6A CN109283674A (zh) 2018-10-08 2018-10-08 一种荧光差分显微镜光路装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN109283674A true CN109283674A (zh) 2019-01-29

Family

ID=65176964

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201811165971.6A Pending CN109283674A (zh) 2018-10-08 2018-10-08 一种荧光差分显微镜光路装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109283674A (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112649405A (zh) * 2020-11-27 2021-04-13 浙江大学 基于共路并行荧光辐射差分的超分辨显微成像方法和装置
CN114324436A (zh) * 2021-12-23 2022-04-12 江苏大学 一种微纳结构的激光加工与实时原位高分辨观测装置
WO2022089578A1 (zh) * 2020-10-31 2022-05-05 浙江大学 基于电光调制技术的相位调制荧光差分显微成像方法和装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1980842A1 (en) * 2006-02-02 2008-10-15 National University Corporation Nara Institute of Science and Technology Circular dichroism fluorescent microscope
CN104062750A (zh) * 2014-06-18 2014-09-24 浙江大学 一种双光子荧光受激发射微分超分辨率显微方法与装置
CN106970055A (zh) * 2017-04-28 2017-07-21 浙江大学 一种三维荧光差分超分辨显微方法及装置
CN108120702A (zh) * 2017-11-30 2018-06-05 浙江大学 一种基于并行探测的超分辨荧光寿命成像方法和装置
CN108254340A (zh) * 2017-12-28 2018-07-06 苏州国科医疗科技发展有限公司 基于线偏振调制的扫描显微镜

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1980842A1 (en) * 2006-02-02 2008-10-15 National University Corporation Nara Institute of Science and Technology Circular dichroism fluorescent microscope
CN104062750A (zh) * 2014-06-18 2014-09-24 浙江大学 一种双光子荧光受激发射微分超分辨率显微方法与装置
CN106970055A (zh) * 2017-04-28 2017-07-21 浙江大学 一种三维荧光差分超分辨显微方法及装置
CN108120702A (zh) * 2017-11-30 2018-06-05 浙江大学 一种基于并行探测的超分辨荧光寿命成像方法和装置
CN108254340A (zh) * 2017-12-28 2018-07-06 苏州国科医疗科技发展有限公司 基于线偏振调制的扫描显微镜

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
LEAN L. DASALLAS等: "Position, orientation, and relative quantum yield ratio determination of fluorescent nanoemitters via combined laser scanning microscopy and polarization measurements", 《OPTICAL MATERIALS EXPRESS》 *
荣子豪: "荧光辐射差分超分辨显微方法及系统", 《中国优秀硕士学位论文全文数据库 信息科技辑》 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022089578A1 (zh) * 2020-10-31 2022-05-05 浙江大学 基于电光调制技术的相位调制荧光差分显微成像方法和装置
CN112649405A (zh) * 2020-11-27 2021-04-13 浙江大学 基于共路并行荧光辐射差分的超分辨显微成像方法和装置
CN114324436A (zh) * 2021-12-23 2022-04-12 江苏大学 一种微纳结构的激光加工与实时原位高分辨观测装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104062750B (zh) 一种双光子荧光受激发射微分超分辨率显微方法与装置
CN106970055B (zh) 一种三维荧光差分超分辨显微方法及装置
EP3757650B1 (en) Illumination system for sted optical microscope and sted optical microscope
US9568417B2 (en) Super-resolution microscopy method and device
CN101446687B (zh) 一种共线飞秒激光偏振泵浦探测系统
CN101907766B (zh) 基于切向偏振的超分辨荧光显微方法及装置
CN109283674A (zh) 一种荧光差分显微镜光路装置
CN103674926B (zh) 光学装置
CN108072970B (zh) 光镊光片显微成像装置和方法
CN107861230B (zh) 变焦光镊共聚焦显微成像装置及方法
CN108020505B (zh) 变焦共聚焦光镊显微成像装置和方法
CN110118726A (zh) 一种并行探测荧光发射差分显微成像的方法和装置
EP2681533A1 (en) Systems and methods for illumination phase control in fluorescence microscopy
CN107329245B (zh) 基于径向偏振调制的干涉式结构光照明显微镜系统与方法
CN206906687U (zh) 基于径向偏振调制的干涉式结构光照明显微镜系统
CN103852458B (zh) 一种基于宽场受激发射差分的显微方法和装置
CN105044895A (zh) 一种超分辨共焦显微成像装置与方法
CN105067528A (zh) 二维共焦显微非线性强度扫描系统和测量方法
CN115561220A (zh) 一种光散射角分辨检测分析系统
CN216387553U (zh) 基于空间光调制器的大视场激光干涉系统
CN112485232B (zh) 基于一维暗斑分时照明的亚十纳米定位测向方法和装置
CN103335988B (zh) 基于柱透镜聚焦的线扫描受激发射损耗显微成像装置
CN114355621B (zh) 一种多点非标记差分超分辨成像方法与装置
CN207164083U (zh) 一种基于原子力探针的显微镜头与样品台锁定系统
CN109031634A (zh) 一种连续波受激发射损耗显微镜光路装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20190129