CN109257027A - 一种混合声波谐振器及其制备方法 - Google Patents
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- 238000002156 mixing Methods 0.000 title claims abstract description 52
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 239000012528 membrane Substances 0.000 claims abstract description 124
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims abstract description 65
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 65
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 43
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 34
- 239000011241 protective layer Substances 0.000 claims description 14
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 7
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000010897 surface acoustic wave method Methods 0.000 description 33
- 239000000463 material Substances 0.000 description 29
- 239000010408 film Substances 0.000 description 14
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 9
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 7
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 6
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 6
- 230000008569 process Effects 0.000 description 6
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 5
- 239000002041 carbon nanotube Substances 0.000 description 4
- 229910021393 carbon nanotube Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 229910021389 graphene Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 4
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004411 aluminium Substances 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 3
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 3
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 3
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 3
- WSMQKESQZFQMFW-UHFFFAOYSA-N 5-methyl-pyrazole-3-carboxylic acid Chemical compound CC1=CC(C(O)=O)=NN1 WSMQKESQZFQMFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000000231 atomic layer deposition Methods 0.000 description 2
- 238000013461 design Methods 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 2
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 2
- 229910052741 iridium Inorganic materials 0.000 description 2
- GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N iridium atom Chemical compound [Ir] GKOZUEZYRPOHIO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052451 lead zirconate titanate Inorganic materials 0.000 description 2
- GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N lithium niobate Chemical compound [Li+].[O-][Nb](=O)=O GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010295 mobile communication Methods 0.000 description 2
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 2
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- 230000002463 transducing effect Effects 0.000 description 2
- PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N Aluminum nitride Chemical compound [Al]#N PIGFYZPCRLYGLF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910003327 LiNbO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910012463 LiTaO3 Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 238000000137 annealing Methods 0.000 description 1
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009713 electroplating Methods 0.000 description 1
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 1
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000000227 grinding Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N lead zirconate titanate Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ti+4].[Zr+4].[Pb+2] HFGPZNIAWCZYJU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000005498 polishing Methods 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052761 rare earth metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002910 rare earth metals Chemical class 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 238000012163 sequencing technique Methods 0.000 description 1
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000012239 silicon dioxide Nutrition 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 230000003319 supportive effect Effects 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- MAKDTFFYCIMFQP-UHFFFAOYSA-N titanium tungsten Chemical compound [Ti].[W] MAKDTFFYCIMFQP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02007—Details of bulk acoustic wave devices
- H03H9/02015—Characteristics of piezoelectric layers, e.g. cutting angles
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02535—Details of surface acoustic wave devices
- H03H9/02543—Characteristics of substrate, e.g. cutting angles
- H03H9/02574—Characteristics of substrate, e.g. cutting angles of combined substrates, multilayered substrates, piezoelectrical layers on not-piezoelectrical substrate
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- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/15—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material
- H03H9/17—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator
- H03H9/171—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator implemented with thin-film techniques, i.e. of the film bulk acoustic resonator [FBAR] type
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
- H03H3/007—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
- H03H3/02—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks
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- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
- H03H3/007—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
- H03H3/08—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of resonators or networks using surface acoustic waves
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- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02007—Details of bulk acoustic wave devices
- H03H9/02086—Means for compensation or elimination of undesirable effects
- H03H9/02102—Means for compensation or elimination of undesirable effects of temperature influence
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- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02228—Guided bulk acoustic wave devices or Lamb wave devices having interdigital transducers situated in parallel planes on either side of a piezoelectric layer
-
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- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
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- H03H9/02535—Details of surface acoustic wave devices
- H03H9/02818—Means for compensation or elimination of undesirable effects
- H03H9/02834—Means for compensation or elimination of undesirable effects of temperature influence
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/15—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material
- H03H9/17—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator
- H03H9/171—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator implemented with thin-film techniques, i.e. of the film bulk acoustic resonator [FBAR] type
- H03H9/172—Means for mounting on a substrate, i.e. means constituting the material interface confining the waves to a volume
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- H—ELECTRICITY
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- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/15—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material
- H03H9/17—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator
- H03H9/171—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator implemented with thin-film techniques, i.e. of the film bulk acoustic resonator [FBAR] type
- H03H9/172—Means for mounting on a substrate, i.e. means constituting the material interface confining the waves to a volume
- H03H9/173—Air-gaps
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- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/15—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material
- H03H9/205—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having multiple resonators
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- H—ELECTRICITY
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- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
- H03H3/007—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
- H03H3/02—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks
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Abstract
本发明公开了一种混合声波谐振器,在压电薄膜表面第一区域设置有叉指电极,从而使得混合声波谐振器中包括有声表面波谐振器;在压电薄膜表面第二区域设置有至少两个沟槽,相邻沟槽之间形成体声波传播部,在体声波传播部侧表面设置有体声波电极,在体声波电极背向体声波传播部一侧表面设置有空气间隙,从而构成了体声波谐振器,使得混合声波谐振器中同时设置有声表面波谐振器和体声波谐振器,实现了不同种类谐振器的集成;同时在体声波传播部中传递的声波以及在叉指换能器中传递的声波均是沿水平方向传递,保证了混合声波谐振器具有良好的性能。本发明还提供了一种混合声波谐振器的制备方法,所制备而成的混合声波谐振器同样具有上述有益效果。
Description
技术领域
本发明涉及谐振器技术领域,特别是涉及一种混合声波谐振器以及一种混合声波谐振器的制备方法。
背景技术
随着近年来科技不断的进步以及通讯行业的发展,移动终端,例如手机越来越普及。而滤波器作为移动终端中不可缺少的射频器件,也广泛的应用在移动终端中。
随着移动通信技术的发展,数据传输速率越来越快,频谱越来越拥挤,此时要求有更多的频带可以供移动通信使用。通信频带的增加,意味着移动终端特别是智能手机中,需要更多的滤波器来保证各个频带之间互不干扰。目前,支持4G通信的旗舰智能手机中,滤波器的数量已超过50个,在不久的将来这一数量还会成倍的增加。滤波器的数量在不断增加,而智能手机中各器件的布图面积不会大幅度增加,因此,要求滤波器必须在保证高性能的前提下进一步实现小型化、模块化。
在现阶段,滤波器主要分为声表面波滤波器以及体声波滤波器,其中声表面波主要应用在信号频率小于2GHz的低频范围,而体声波器件主要应用于信号频率大于2GHz的高频范围。随着智能手机中滤波器数量的不断增加,需要进一步缩小滤波器的尺寸。谐振器是构成滤波器的基本单元,因此,为了减小谐振器的面积,如何将不同的谐振器集成在同一衬底上,在能够在满足不同需求的前提下,减小滤波器的面积是本领域技术人员急需解决的问题。
发明内容
本发明的目的是提供一种混合声波谐振器,在同一衬底中集成有多种不同的谐振器结构;本发明的另一目的在于提供一种混合声波谐振器的制备方法,所制备而成的混合声波谐振器在同一衬底中集成有多种不同的谐振器结构。
为解决上述技术问题,本发明提供一种混合声波谐振器,包括:
衬底;
位于所述衬底表面的压电薄膜;
位于所述压电薄膜背向所述衬底一侧表面第一区域的叉指电极;
位于所述压电薄膜背向所述衬底一侧表面第二区域的至少两个沟槽;其中,相邻所述沟槽之间形成体声波传播部,所述体声波传播部具有相对的两个侧表面;
分别位于所述体声波传播部侧表面的体声波电极;其中,所述体声波电极背向所述体声波传播部一侧表面设置有空气间隙。
可选的,所述压电薄膜为单晶压电薄膜。
可选的,所述沟槽相互平行。
可选的,所述空气间隙的宽度不小于2μm。
可选的,所述谐振器还包括:
位于所述衬底与所述压电薄膜之间的具有正频率温度系数的介质层。
可选的,所述谐振器还包括:
位于所述压电薄膜背向所述衬底一侧表面的多个第一焊盘和多个第二焊盘;所述第一焊盘与所述叉指电极中的母线电连接;所述第二焊盘与所述体声波电极电连接。
本发明还提供了一种混合声波谐振器的制备方法,包括:
在衬底的表面设置压电薄膜;
在所述压电薄膜表面的第一区域设置叉指电极;
在所述压电薄膜表面的第二区域刻蚀至少两个沟槽;其中,相邻所述沟槽之间形成体声波传播部,所述体声波传播部具有相对的两个侧表面;
在所述沟槽内设置分别位于所述体声波传播部侧表面的体声波电极,以制成所述混合声波谐振器;其中,所述体声波电极背向所述体声波传播部一侧表面设置有空气间隙。
可选的,所述在所述沟槽内设置分别位于所述体声波传播部侧表面的体声波电极包括:
在所述沟槽内设置导电层;
图形化所述导电层,以形成所述空气间隙和所述体声波电极。
可选的,在所述在衬底的表面设置压电薄膜之前,所述方法还包括:
在衬底的表面设置具有正频率温度系数的介质层;
所述在衬底的表面设置压电薄膜包括:
在所述介质层表面键合所述压电薄膜。
可选的,在所述压电薄膜表面的第一区域设置叉指电极之后,所述方法还包括:
在所述压电薄膜表面的第一区域设置覆盖所述叉指电极的保护层;
所述在所述压电薄膜表面的第二区域刻蚀至少两个沟槽包括:
在设置完所述叉指电极之后,在所述压电薄膜表面的第二区域刻蚀至少两个所述沟槽;
在所述沟槽内设置分别位于所述体声波传播部侧表面的体声波电极之后,所述方法还包括:
去除所述保护层。
本发明所提供的一种混合声波谐振器,在压电薄膜背向衬底一侧表面第一区域设置有叉指电极,构成有叉指换能器,从而使得混合声波谐振器中包括有声表面波谐振器;在压电薄膜背向衬底一侧表面第二区域设置有至少两个沟槽,相邻沟槽之间形成体声波传播部,在体声波传播部侧表面设置有体声波电极,在体声波电极背向体声波传播部一侧表面设置有空气间隙。上述空气间隙、体声波电极以及体声波传播部构成了体声波谐振器,从而使得混合声波谐振器中同时设置有声表面波谐振器和体声波谐振器,实现了不同种类谐振器的集成;同时在体声波传播部中传递的声波以及在叉指换能器中传递的声波均是沿水平方向传递,从而可以保证在使用同一种衬底时声表面波谐振器和体声波谐振器均具有良好的性能。
本发明还提供了一种混合声波谐振器的制备方法,所制备而成的混合声波谐振器同样具有上述有益效果,在此不再进行赘述。
附图说明
为了更清楚的说明本发明实施例或现有技术的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单的介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明实施例所提供的一种混合声波谐振器的俯视结构示意图;
图2为图1中沿A-A线的剖视图;
图3为本发明实施例所提供的一种具体的混合声波谐振器的结构示意图;
图4为图3中沿A-A线的剖视图;
图5至图9为本发明实施例所提供的一种混合声波谐振器制备方法的工艺流程图;
图10至图16为本发明实施例所提供的一种具体的混合声波谐振器制备方法的工艺流程图。
图中:1.衬底、2.压电薄膜、3.叉指电极、4.沟槽、5.体声波传播部、6.体声波电极、61.导电层、7.空气间隙、8.介质层、91.第一焊盘、92.第二焊盘。
具体实施方式
本发明的核心是提供一种混合声波谐振器。在现有技术中,由于声表面波谐振器中声波通常是沿压电薄膜表面的水平方向传递,而体声波器件中声波通常是沿压电薄膜厚度的垂直方向传递。为了使得谐振器的性能达到预设的要求,通常需要谐振器中衬底晶向的方向与该谐振器中声波传递方向相同。但是衬底的晶向通常制成朝一个方向,而声表面波谐振器与体声波谐振器之间声波传递的方向不同,所以通常无法在保证各个谐振器性能的前提下将声表面波谐振器与体声波谐振器集成在同一衬底中。
而本发明所提供的一种混合声波谐振器,在压电薄膜背向衬底一侧表面第一区域设置有叉指电极,构成有叉指换能器,从而使得混合声波谐振器中包括有声表面波谐振器;在压电薄膜背向衬底一侧表面第二区域设置有至少两个沟槽,相邻沟槽之间形成体声波传播部,在体声波传播部侧表面设置有体声波电极,在体声波电极背向体声波传播部一侧表面设置有空气间隙。上述空气间隙、体声波电极以及体声波传播部构成了体声波谐振器,从而使得混合声波谐振器中同时设置有声表面波谐振器和体声波谐振器,实现了不同种类谐振器的集成;同时在体声波传播部中传递的声波以及在叉指换能器中传递的声波均是沿水平方向传递,从而可以保证在使用同一种衬底时声表面波谐振器和体声波谐振器均具有良好的性能。
为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步的详细说明。显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
请参考图1以及图2,图1为本发明实施例所提供的一种混合声波谐振器的俯视结构示意图;图2为图1中沿A-A线的剖视图。
参见图1以及图2,在本发明实施例中,所述混合声波谐振器包括衬底1;位于所述衬底1表面的压电薄膜2;位于所述压电薄膜2背向所述衬底1一侧表面第一区域的叉指电极3;位于所述压电薄膜2背向所述衬底1一侧表面第二区域的至少两个沟槽4;其中,相邻所述沟槽4之间形成体声波传播部5,所述体声波传播部5具有相对的两个侧表面;分别位于所述体声波传播部5侧表面的体声波电极6;其中,所述体声波电极6背向所述体声波传播部5一侧表面设置有空气间隙7。
上述衬底1主要起支撑作用,上述压电薄膜2等结构均需要在衬底1的表面按照一定的顺序先后设置。在本发明实施例中,上述衬底1的材质可以具体为硅、蓝宝石、碳化硅、玻璃等等,当然上述衬底1也可以由复合材料制备而成,或者是由其他材料制备而成。有关衬底1的具体材质以及厚度等参数在本发明实施例中并不做具体限定。
上述压电薄膜2位于衬底1的表面,通常情况下,上述压电薄膜2仅仅位于衬底1的一个表面。所谓压电薄膜2,即由压电材料所制成的薄膜。压电薄膜2可以实现机械能与电能之间的相互转换:当对压电薄膜2施加压力时,可以在压电薄膜2的两端产生电压,即正压电效应;相应的当对压电薄膜2施加电压时,压电薄膜2可以产生相应的形变,即逆压电效应。当对压电薄膜2施加变化的电压,例如交流电压时,可以使得压电薄膜2发生振动,从而在压电薄膜2中产生声波。需要说明的是,在本发明实施例中上述声波可以在压电薄膜2表面传播,也可以在压电薄膜2内部沿一定方向传播。
具体的,在本发明实施例中,压电薄膜2的材料可以具体为氮化铝(AlN)、氧化锌(ZnO)、锆钛酸铅(PZT)、钽酸锂(LiTaO3)、铌酸锂(LiNbO3),掺杂稀土元素的上述压电材料等等,有关压电薄膜2的具体材质将在下述发明实施例中做详细介绍,在此不再进行展开描述。
上述叉指电极3位于压电薄膜2背向衬底1一侧表面的第一区域。位于第一区域的压电薄膜2以及叉指电极3可以构成一叉指换能器。叉指换能器的作用是实现声-电换能,上述叉指电极3的形状像两只手的手指交叉状,叉指电极3通常包括有两条相互平行的母线,以及位于两条母线之间与两条母线交替电连接的电极。在工作状态下,施加在叉指电极3中的电压会引起压电薄膜2振动,从而在压电薄膜2表面形成沿上述母线延长线方向传播的声波。有关上述叉指换能器的工作原理以及具体结构可以参考现有技术,在此不再进行赘述。通过上述叉指换能器即可构成最基本的声表面波(SAW)谐振器,通过多个上述叉指换能器之间相互配合即可构成声表面波滤波器。需要说明的是,在本发明实施例中可以在压电薄膜2表面设置多个频率相同或不同的声表面波谐振器,并且只需要调整叉指电极3的宽度以及间距即可形成不同频率的声表面波谐振器。
上述叉指电极3的材质在本发明实施例中可以为钼(Mo)、钨(W)、铬(Cr)、钛(Ti)、铝(Al)、铜(Cu)、铱(Ir)、钌(Ru)、硅(Si)、石墨烯(Graphene)、碳纳米管(Carbon Nanotube)中的一种,或者是由上述材质中多种材质复合而成。当然,有关叉指电极3的具体材质在本发明你实施例中并不做具体限定,视具体情况而定。
在本发明实施例中,在压电薄膜2背向衬底1一侧表面的第二区域设置有至少两个沟槽4。为了制作的方便以及在相邻沟槽4之间形成的体声波谐振器中传递的声波不易扩散,上述沟槽4的深度通常与上述压电薄膜2的厚度相同,即所述沟槽4沿所述压电薄膜2厚度方向贯穿所述压电薄膜2。通常情况下,在本发明实施例中设置在压电薄膜2表面第二区域的多个沟槽4相互平行,即多个沟槽4的轴线相互平行。
上述相邻的沟槽4之间形成有体声波传播部5。顾名思义,在工作状态时,在本发明实施例所提供的混合声波谐振器中体声波谐振器的声波仅仅会在上述体声波传播部5进行传播。需要说明的是,上述体声波传播部5具有两个侧表面,这两个侧表面分别为形成体声波传播部5的两个沟槽4中两个相对的内侧壁。
在上述沟槽4中设置有分别位于上述体声波传播部5侧表面的体声波电极6,同时在体声波电极6背向体声波传播部5一侧表面设置有空气间隙7。上述体声波传播部5通常具有两个相对的侧表面,对于任一个体声波传播部5来说,任一侧表面通常均会设置有上述体声波电极6,两个上述体声波电极6以及位于两个体声波电极6之间的体声波传播部5可以构成一体声波谐振器,通过多个上述体声波谐振器之间相互配合即可构成体声波(BAW)滤波器。在本发明实施例中,体声波谐振器工作的频率与上述体声波传播部5的宽度有关,即体声波谐振器工作的频率与上述相邻两沟槽4之间的距离有关。有关上述相邻两沟槽4之间的距离可以根据实际情况自行设置,在本发明实施例中并不做具体限定。需要说明的是,在本发明实施例中可以在压电薄膜2中设置多个频率相同或不同的体声波谐振器,并且只需要调整相邻沟槽4之间的间距即可形成不同频率的体声波谐振器。
上述体声波电极6的材质在本发明实施例中可以为钼(Mo)、钨(W)、铬(Cr)、铝(Al)、铜(Cu)、铱(Ir)、钌(Ru)、硅(Si)、石墨烯(Graphene)、碳纳米管(Carbon Nanotube)中的一种,或者是由上述材质中多种材质复合而成。当然,有关体声波电极6的具体材质在本发明你实施例中并不做具体限定,视具体情况而定。
上述空气间隙7的作用是为了将由体声波电极6所发出的声波限制在体声波传播部5中传播。由于空气的声阻抗接近于0,可以对声波能量形成全反射。通过设置上述空气间隙7可以有效避免声波能量沿着衬底1横向肆意传播,从而可以有效减少体声波谐振器中的杂散模式,使得体声波谐振器可以具有较高的品质因数。通常情况下,上述空气间隙7的宽度通常需要不小于2μm。为了限制本发明实施例中所提供的混合声波谐振器的尺寸,上述空气间隙7的宽度通常不大于30μm。
可以理解的是,上述任一个沟槽4中可以不仅仅设置一个体声波电极6。以三个相互平行的沟槽4为例,三个相互平行的沟槽4之间可以形成两个体声波传播部5,其中位于中间的沟槽4的两个内侧壁分别为两个不同的体声波传播部5的侧表面,从而上述位于中间的沟槽4中的两个内侧壁均设置有上述体声波电极6,在该沟槽4中一共设置有两个体声波电极6。需要说明的是,上述位于同一沟槽4内的两个体声波电极6之间同样需要设置上述空气间隙7。
本发明实施例所提供的一种混合声波谐振器,在压电薄膜2背向衬底1一侧表面第一区域设置有叉指电极3,构成有叉指换能器,从而使得混合声波谐振器中包括有声表面波谐振器;在压电薄膜2背向衬底1一侧表面第二区域设置有至少两个沟槽4,相邻沟槽4之间形成体声波传播部5,在体声波传播部5侧表面设置有体声波电极6,在体声波电极6背向体声波传播部5一侧表面设置有空气间隙7。上述空气间隙7、体声波电极6以及体声波传播部5构成了体声波谐振器,从而使得混合声波谐振器中同时设置有声表面波谐振器和体声波谐振器,实现了不同种类谐振器的集成;同时在体声波传播部5中传递的声波以及在叉指换能器中传递的声波均是沿水平方向传递,从而可以保证在使用同一种衬底1时声表面波谐振器和体声波谐振器均具有良好的性能。
有关本发明所提供的混合声波谐振器的具体结构将在下述发明实施例中做详细介绍。
请参考图3以及图4,图3为本发明实施例所提供的一种具体的混合声波谐振器的结构示意图;图4为图3中沿A-A线的剖视图。
区别于上述发明实施例,本发明实施例是在上述发明实施例的基础上,进一步的对混合声波谐振器的结构进行具体限定。其余内容已在上述发明实施例中进行了详细介绍,在此不再进行赘述。
参见图3以及图4,在本发明实施例中,所述混合声波谐振器中压电薄膜2可以为单晶压电薄膜2。上述单晶压电薄膜2,例如单晶铌酸锂薄膜或单晶钽酸锂薄膜中耦合系数较强的方向是与衬底1表面平行的水平方向,该水平方向也是本发明实施例所提供的混合声波谐振器中声表面波谐振器与体声波谐振器的声波传播方向。即上述体声波谐振器中声波传播的方向与声表面波谐振器中声波传播方向均为单晶压电薄膜2中耦合系数较大的方向,从而利用上述单晶压电薄膜2横向耦合系数较大的优点制作而成的混合声波谐振器中,无论是体声波谐振器还是声表面波谐振器均具有较高的品质因数。
在本发明实施例中,所述谐振器还可以包括位于所述衬底1与所述压电薄膜2之间的具有正频率温度系数的介质层8。所谓正频率温度系数(TCF)即随着温度的升高,该介质层8的固有频率会随之升高,即介质层8的固有频率与温度成正相关。由于通常情况下在本发明实施例所提供的混合声波谐振器中各个结构的材料通常均为具有负频率温度系数的材料。当环境温度发生变化时,通常情况下现阶段谐振器所用的材料的固有频率均会随着环境温度的升高而降低,从而影响混合声波谐振器的温度稳定性。而在衬底1与压电薄膜2之间设置的具有正频率温度系数的介质层8可以有效改善谐振器的温度系数,使得谐振器的固有频率不会随着环境温度的变化有太明显的波动,从而使得谐振器具有良好的温度稳定性。
具体的,在本发明实施例中,上述介质层8的材质具体可以为氧化硅(SiO2)、掺氟(F)的氧化硅,掺硼(B)的氧化硅等等,有关介质层8的具体材质在本发明实施例中并不做具体限定。
在本发明实施例中,所述谐振器还可以包括位于所述压电薄膜2背向所述衬底1一侧表面的多个第一焊盘91和多个第二焊盘92;所述第一焊盘91与所述叉指电极3中的母线电连接;所述第二焊盘92与所述体声波电极6电连接。
上述第一焊盘91通常是本发明实施例所提供的混合声波谐振器中声表面波谐振器与其他部件的连接点,而第二焊盘92通常是体声波器件与其他部件的连接点。上述第一焊盘91以及第二焊盘92通常均设置在压电薄膜2背向衬底1一侧表面,其中上述第一焊盘91通常需要与叉指电极3中母线一一对应,上述第一焊盘91通常需要与对应的母线相互接触以与叉指电极3电连接;上述第二焊盘92通常需要与体声波电极6一一对应,上述第二焊盘92通常需要与对应的体声波电极6相互接触以与体声波电极6电连接。
具体的,在本发明实施例中,上述第一焊盘91以及第二焊盘92的材质具体可以为铬(Cr)、镍(Ni)、钨(W)、钛钨(TiW)、铝(Al)、铜(Cu)、金(Au)中的一种,或者是由上述材质中多种材质复合而成。当然,有关第一焊盘91以及第二焊盘92的具体材质在本发明实施例中并不做具体限定,视具体情况而定。
通常情况在,在本发明实施例中会在压电薄膜2背向衬底1一侧表面第一区域中,沿母线延长线方向在叉指电极3的两侧设置有反射栅。所述反射栅用于反射声波,通过反射栅可以将声表面波谐振器中的声波限制在叉指换能器中,从而可以避免声波能量从叉指换能器两侧损失。
本发明实施例所提供的一种混合声波谐振器,通过使用单晶压电薄膜2可以保证无论是体声波谐振器还是声表面波谐振器均具有较高的品质因数;通过设置具有正频率温度系数的介质层8可以使得谐振器的固有频率不会随着环境温度的变化有太明显的波动;通过设置第一焊盘91以及第二焊盘92可以便于混合声波器件与其他部件相互电连接。
下面对本发明所提供的一种混合声波谐振器的制备方法进行介绍,下文描述的制备方法与上述描述的混合声波谐振器的结构可以相互对应参照。
请参考图5至图9,图5至图9为本发明实施例所提供的一种混合声波谐振器制备方法的工艺流程图。
参见图5,在本发明实施例中,所述混合声波谐振器的制备方法包括:
S101:在衬底的表面设置压电薄膜。
参见图6,在本步骤中,通常是将预先制备好的压电薄膜2键合在预先制备好的衬底1表面。有关具体的键合方法可以参考现有技术,在本发明实施例中并不做具体限定。
有关上述衬底1以及压电薄膜2的具体材质已在上述发明实施例中做详细介绍,在此不再进行赘述。需要说明的是,上述压电薄膜2表面通常分为第一区域以及第二区域。
在本步骤之后,通常会对压电薄膜2进行研磨以及抛光,以使压电薄膜2达到预设的厚度,该厚度通常由构成体声波(BAW)滤波器的单个体声波谐振器的最大面积决定,例如若体声波谐振器的最大面积为S,则在研磨以及抛光之后压电薄膜2剩余的厚度需大于等于
除了上述对压电薄膜2进行研磨以及抛光的方式对压电薄膜2进行减薄之外,可以通过在键合之前先对压电薄膜2的待键合面进行粒子注入,以在预设的厚度处形成改质层;再将压电薄膜2进行键合时,可以通过低温退火,使得压电薄膜2从上述改质层处分离,从而留下预设厚度的压电薄膜2。该预设厚度的压电薄膜2会与衬底1固定连接,从而实现对压电薄膜2的减薄处理。
S102:在压电薄膜表面的第一区域设置叉指电极。
参见图7,在本步骤中,需要在压电薄膜2表面的第一区域设置叉指电极3,以形成叉指换能器,通过上述叉指换能器即可构成最基本的声表面波谐振器。有关叉指换能器的具体结构已在上述发明实施例中做详细介绍,在此不再进行赘述。
具体的,在本步骤中可以通过多种方法在压电薄膜2表面的第一区域设置叉指电极3,例如:第一种,可以先在压电薄膜2表面溅射一导电层;再刻蚀该导电层以对该导电层图案化,从而在压电薄膜2表面的第一区域形成上述叉指电极3。
第二种,可以先在压电薄膜2表面设置一胶层;其次,刻蚀该胶层,以暴露压电薄膜2表面需要设置叉指电极3的区域;再次,在上述胶层表面溅射一导电层,该导电层同样会覆盖压电薄膜2表面中被暴露出的需要设置叉指电极3的区域;最后,剥离上述胶层,此时会将覆盖在胶层表面的导电层同步剥离,以在压电薄膜2表面的第一区域形成上述叉指电极3。
当然,除了上述两种方法外,还可以使用其它方法设置上述叉指电极3,有关叉指电极3具体的设置方法在本发明实施例中并不做具体限定。本发明实施例可以根据实际情况灵活的选用不同方法设置叉指电极3。
S103:在压电薄膜表面的第二区域刻蚀至少两个沟槽。
参见图8,在本发明实施例中,相邻所述沟槽4之间形成体声波传播部5,所述体声波传播部5具有相对的两个侧表面。
在本步骤中,会刻蚀压电薄膜2表面的第二区域以形成上述沟槽4。有关沟槽4的具体结构已在上述发明实施例中做详细介绍,在此不再进行赘述。在本步骤中通常会刻蚀透所述压电薄膜2。有关具体的刻蚀工艺可以参考现有技术,在此不再进行赘述。
由于在本发明实施例中体声波谐振器工作的频率与上述体声波传播部5的厚度有关,即与相邻沟槽4之间的距离有关,所以在本步骤中上述沟槽4之间间距的选择需要根据不同应用的设计自行决定,在本发明实施例中并不做具体限定。
S104:在沟槽内设置分别位于体声波传播部侧表面的体声波电极,以制成混合声波谐振器。
参见图9,在本发明实施例中,所述体声波电极6背向所述体声波传播部5一侧表面设置有空气间隙7。
在本步骤中会在上述沟槽4内形成位于体声波传播部5侧表面的体声波电极6,而每个体声波传播部5的两个侧表面通常均需要设置有体声波电极6。需要说明的是,在上述体声波电极6背向体声波传播部5一侧表面通常需要设置有用于限制声波传播的空气间隙7,以最终制成本发明实施例所提供的混合声波谐振器。有关设置上述体声波电极6以及空气间隙7的具体步骤将在下述发明实施例中做详细介绍,在此不再进行赘述。
需要说明的是,在本发明实施例中S102为主要形成声表面波谐振器的步骤,而S103和S104为主要形成体声波谐振器的步骤,上述S103以及S104与S102之间并没有明确的先后顺序,即在本发明实施例中可以先在压电薄膜2表面形成叉指电极3以构成声表面波谐振器,再在压电薄膜2中设置体声波电极6以构成体声波谐振器;可以先在压电薄膜2中设置体声波电极6以构成体声波谐振器,再在压电薄膜2表面形成叉指电极3以构成声表面波谐振器。其具体顺序可以根据实际情况自行设定,在本发明实施例中并不做具体限定。
本发明实施例所提供的一种混合声波谐振器的制备方法,所制备而成的混合声波谐振器,在压电薄膜2背向衬底1一侧表面第一区域设置有叉指电极3,构成有叉指换能器,从而使得混合声波谐振器中包括有声表面波谐振器;在压电薄膜2背向衬底1一侧表面第二区域设置有至少两个沟槽4,相邻沟槽4之间形成体声波传播部5,在体声波传播部5侧表面设置有体声波电极6,在体声波电极6背向体声波传播部5一侧表面设置有空气间隙7。上述空气间隙7、体声波电极6以及体声波传播部5构成了体声波谐振器,从而使得混合声波谐振器中同时设置有声表面波谐振器和体声波谐振器,实现了不同种类谐振器的集成;同时在体声波传播部5中传递的声波以及在叉指换能器中传递的声波均是沿水平方向传递,从而可以保证在使用同一种衬底1时声表面波谐振器和体声波谐振器均具有良好的性能。
有关上述混合声波谐振器具体的制备步骤将在下述发明实施例中进行详细介绍。
请参考图10至图16,图10至图16为本发明实施例所提供的一种具体的混合声波谐振器制备方法的工艺流程图。
参见图10,在本发明实施例中,所述混合声波谐振器的制备方法包括:
S201:在衬底的表面设置具有正频率温度系数的介质层。
参见图11,有关上述介质层8的具体材质以及该介质层8所起到的作用已在上述发明实施例中做详细介绍,在此不再进行赘述。在本步骤中,通常是用薄膜沉积的工艺在衬底1的表面沉积一层具有正频率温度系数的介质层8。通过先在衬底1表面沉积上述介质层8也便于后续键合压电薄膜2。
S202:在介质层表面键合压电薄膜。
参见图12,在本步骤中,具体会在上述介质层8表面键合压电薄膜2,以使压电薄膜2与衬底1固定连接。本步骤的其余内容与上述发明实施例中S101基本相同,详细内容请参考上述发明实施例,在此不再进行赘述。
S203:在压电薄膜表面的第一区域设置叉指电极。
参见图13,本步骤与上述发明实施例中S102基本相同,详细内容已在上述发明实施例中做详细介绍,在此不再进行赘述。
S204:在压电薄膜表面的第一区域设置覆盖叉指电极的保护层。
在本步骤中,会在制备体声波谐振器之前,在已经设置好的叉指电极3表面覆盖一层保护层,以防止后续在制备体声波谐振器时对该叉指电极3的形貌造成影响,从而影响声表面波器件的性能。所述保护层可以是光刻胶等等,有关上述保护层的具体材质以及具体厚度可以参考现有技术,在此不再进行赘述。
S205:在设置完叉指电极之后,在压电薄膜表面的第二区域刻蚀至少两个沟槽。
参见图14,在本发明实施例中,具体会先在压电薄膜2表面形成叉指电极3以构成声表面波谐振器,再在压电薄膜2中设置体声波电极6以构成体声波谐振器。因为若先设置上述沟槽4以及体声波电极6,会使得压电薄膜2表面不再平整,而在压电薄膜2表面设置叉指电极3时,压电薄膜2表面优选为平整表面。所以在本发明实施例中,通常是先在压电薄膜2表面形成叉指电极3以构成声表面波谐振器,再在压电薄膜2中设置体声波电极6以构成体声波谐振器。
本步骤的其余内容与上述发明实施例中S103基本相同,详细内容请参考上述发明实施例,在此不再进行赘述。
S206:在沟槽内设置导电层。
参见图15,在本步骤中,具体可以采用原子层沉积(ALD)工艺、电镀工艺或者是保形性较好的溅射工艺在上述沟槽内沉积一导电层61,该导电层61可以充满整个沟槽4或只覆盖在沟槽4的底部和侧壁。有关导电层61具体的材质可以参考上述发明实施例中体声波电极6的材质,在此不再进行赘述。
S207:图形化导电层,以形成空气间隙和体声波电极。
参见图16,在本步骤中具体可以采用剥离工艺,或者刻蚀工艺对上述设置在沟槽4内的导电层61图案化,以制出上述发明实施例中所述的空气间隙7,同时将上述导电层61制为体声波电极6。有关具体图案化的工艺可以参考现有技术,在此不再进行赘述。
S208:去除保护层。
在本步骤中会去除在S204中设置的保护层,已裸露上述叉指电极3。当然,若在S208之前没有在叉指电极3表面设置保护层,又或者上述保护层为不需要去除的,可以起到温度补偿作用的保护层,例如二氧化硅层等等,则不需要执行本步骤。
在本步骤之后,还可以继续在压电薄膜2表面设置上述发明实施例中所述的第一焊盘91以及第二焊盘92。有关第一焊盘91以及第二焊盘92具体的制备工艺可以参考现有技术,在此不再进行赘述。
本发明实施例所提供的一种混合声波谐振器的制备方法,通过设置具有正频率温度系数的介质层8可以使得谐振器的固有频率不会随着环境温度的变化有太明显的波动;通过设置上述保护层可以有效保护叉指电极3在后续步骤中不易被损坏;通过先设置叉指电极3,再设置体声波电极6可以有效保证叉指电极3具有良好的形貌。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处,各个实施例之间相同或相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置而言,由于其与实施例公开的方法相对应,所以描述的比较简单,相关之处参见方法部分说明即可。
专业人员还可以进一步意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现,为了清楚地说明硬件和软件的可互换性,在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块,或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。
最后,还需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上对本发明所提供的一种混合声波谐振器及其制备方法进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述,以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以对本发明进行若干改进和修饰,这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。
Claims (10)
1.一种混合声波谐振器,其特征在于,包括:
衬底;
位于所述衬底表面的压电薄膜;
位于所述压电薄膜背向所述衬底一侧表面第一区域的叉指电极;
位于所述压电薄膜背向所述衬底一侧表面第二区域的至少两个沟槽;其中,相邻所述沟槽之间形成体声波传播部,所述体声波传播部具有相对的两个侧表面;
分别位于所述体声波传播部侧表面的体声波电极;其中,所述体声波电极背向所述体声波传播部一侧表面设置有空气间隙。
2.根据权利要求1所述的谐振器,其特征在于,所述压电薄膜为单晶压电薄膜。
3.根据权利要求1所述的谐振器,其特征在于,所述沟槽相互平行。
4.根据权利要求3所述的谐振器,其特征在于,所述空气间隙的宽度不小于2μm。
5.根据权利要求1至4任一项权利要求所述的谐振器,其特征在于,所述谐振器还包括:
位于所述衬底与所述压电薄膜之间的具有正频率温度系数的介质层。
6.根据权利要求1所述的谐振器,其特征在于,所述谐振器还包括:
位于所述压电薄膜背向所述衬底一侧表面的多个第一焊盘和多个第二焊盘;所述第一焊盘与所述叉指电极中的母线电连接;所述第二焊盘与所述体声波电极电连接。
7.一种混合声波谐振器的制备方法,其特征在于,包括:
在衬底的表面设置压电薄膜;
在所述压电薄膜表面的第一区域设置叉指电极;
在所述压电薄膜表面的第二区域刻蚀至少两个沟槽;其中,相邻所述沟槽之间形成体声波传播部,所述体声波传播部具有相对的两个侧表面;
在所述沟槽内设置分别位于所述体声波传播部侧表面的体声波电极,以制成所述混合声波谐振器;其中,所述体声波电极背向所述体声波传播部一侧表面设置有空气间隙。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述在所述沟槽内设置分别位于所述体声波传播部侧表面的体声波电极包括:
在所述沟槽内设置导电层;
图形化所述导电层,以形成所述空气间隙和所述体声波电极。
9.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,在所述在衬底的表面设置压电薄膜之前,所述方法还包括:
在衬底的表面设置具有正频率温度系数的介质层;
所述在衬底的表面设置压电薄膜包括:
在所述介质层表面键合所述压电薄膜。
10.根据权利要求7至9任一项权利要求所述的方法,其特征在于,在所述压电薄膜表面的第一区域设置叉指电极之后,所述方法还包括:
在所述压电薄膜表面的第一区域设置覆盖所述叉指电极的保护层;
所述在所述压电薄膜表面的第二区域刻蚀至少两个沟槽包括:
在设置完所述叉指电极之后,在所述压电薄膜表面的第二区域刻蚀至少两个所述沟槽;
在所述沟槽内设置分别位于所述体声波传播部侧表面的体声波电极之后,所述方法还包括:
去除所述保护层。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201811277386.5A CN109257027B (zh) | 2018-10-30 | 2018-10-30 | 一种混合声波谐振器及其制备方法 |
US16/768,691 US10958236B2 (en) | 2018-10-30 | 2018-11-12 | Hybrid acoustic wave resonator and preparation method therefor |
PCT/CN2018/115041 WO2020087566A1 (zh) | 2018-10-30 | 2018-11-12 | 一种混合声波谐振器及其制备方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201811277386.5A CN109257027B (zh) | 2018-10-30 | 2018-10-30 | 一种混合声波谐振器及其制备方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN109257027A true CN109257027A (zh) | 2019-01-22 |
CN109257027B CN109257027B (zh) | 2020-06-30 |
Family
ID=65043910
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201811277386.5A Active CN109257027B (zh) | 2018-10-30 | 2018-10-30 | 一种混合声波谐振器及其制备方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10958236B2 (zh) |
CN (1) | CN109257027B (zh) |
WO (1) | WO2020087566A1 (zh) |
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- 2018-11-12 US US16/768,691 patent/US10958236B2/en active Active
- 2018-11-12 WO PCT/CN2018/115041 patent/WO2020087566A1/zh active Application Filing
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US20200389146A1 (en) | 2020-12-10 |
WO2020087566A1 (zh) | 2020-05-07 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |