CN109239582B - 一种充电管理集成电路的测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明创造提出了一种原理和执行标准一致，且性能稳定可靠，维护简单的充电管理集成电路的测试装置及其工作方法。本发明创造所采用的技术方案是，一种充电管理集成电路的测试装置，包括电源模块，其特征在于，还包括：控制模块，与电源模块电连接；检测模块，与控制模块电连接；显示器，用于显示检测结果，与控制模块电连接；若干按键，安装与装置一侧，与控制模块电连接；调节旋钮，安装于装置另一侧，与检测模块电连接；检测模块包括：检测卡槽，与控制模块电连接，位于装置顶部；检测电压源供给模块，与检测卡槽电连接；检测恒流源供电模块，与检测卡槽电连接；检测负电压源供给模块，与检测卡槽电连接。

Description

一种充电管理集成电路的测试装置

技术领域

本发明创造属于充电管理集成电路测试领域，具体涉及了一种充电管理集成电路的测试装置及其工作方法。

背景技术

在充电管理集成电路的测试方案中，每家封装测试公司测试机的种类型号因品牌不同有很多型号，比如STS8107，STS8200，ASL1000，TX861，TX862，CTA8208，CTA8200，BC3196，V50，CHROMA 3360等；在这种情况下,为使测试方法,原理和执行标准一致,且性能稳定可靠,维护简便,发明创造提出了这个充电管理集成电路的测试装置和测试项目运行方法。

发明内容

为了解决上诉存在的原理与执行标准不一致的问题，本发明创造提出了一种原理和执行标准一致，且性能稳定可靠，维护简单的充电管理集成电路的测试装置及其工作方法。

为了实现上述目的，本发明创造所采用的技术方案是，一种充电管理集成电路的测试装置，包括电源模块，其特征在于，还包括：控制模块，与电源模块电连接；检测模块，与控制模块电连接；显示器，用于显示检测结果，与控制模块电连接；若干按键，安装与装置一侧，与控制模块电连接；调节旋钮，安装于装置另一侧，与检测模块电连接；检测模块包括：检测卡槽，与控制模块电连接，位于装置顶部；检测电压源供给模块，与检测卡槽电连接；检测恒流源供电模块，与检测卡槽电连接；检测负电压源供给模块，与检测卡槽电连接。将测试电路根据其提供效果分为三部分，提升了测试兼容性，使得测试原理和执行标准一致。

作为优选，所述的调节按钮包括：一号可变电阻调节钮，与检测电压源供给模块拧接；二号可变电阻调节钮，与检测电压源供给模块拧接；三号可变电阻调节钮，与检测恒流源供电模块拧接。三个可变电阻调节按钮，使得电路中的输出值可以根据不同的情况而发生变化，简化了测试过程，同时也提升了测试效率，也使得维护方面更加简单，而且性能稳定。

作为优选，所述的检测卡槽电路为：电流表1的第一端与检测电压供电模块连接，电流表1的第二端与电阻R10的第一端连接，电阻R10的第二端与电容C7的第一端连接；电容C7的第一端与芯片卡槽的1VCC端连接；电容C7的第二端与芯片卡槽的2GND端连接；芯片卡槽的3GND端与电容C7的第二端连接，芯片卡槽的2GND端接地；芯片卡槽4VM端与芯片卡槽5VM端连接，芯片卡槽6VM端与芯片卡槽5VM端连接；芯片卡槽5VM端与检测恒流源供电模块或检测负电压源供给模块连接；芯片卡槽5VM端与电磁继电器SW4的第一端连接；电磁继电器SW4的第二端与电压表的第一端连接；电压表的第二端接地。

作为优选，所述的检测电压源供给模块的电路为：电容C1的第一端接+5V电压源，电容C1的第二端接地；电阻R1的第一端接电容C1第一端，电阻R1的第二端接可调电压稳定器U1的EN引脚；可调电压稳定器U1的GND引脚接地；可调电压稳定器U1的VCC引脚与电阻R1的第一端连接；可调电压稳定器U1的VOUT引脚与可变电阻R2的第一端连接，可调电压稳定器U1的VREF引脚与可变电阻R3的第一端连接；可变电阻R2的第二端与可变电阻R3的第一端连接，可变电阻R1的调节端，与一号可变电阻调节钮拧接；可变电阻R3的第二端接地，可变电阻R3的调节端与二号可变电阻调节钮拧接；电容C2的第一段与可调电压稳定器U1的VOUT引脚连接，电容C2的第二端接地；电容C2的第一端与电磁继电器SW1的第一端连接，电磁继电器SW1的第二端与检测卡槽连接。

作为优选，所述的检测恒流源供电模块的电路为：电容C3的第一端接地，电容C3的第二端与电阻R4的第一端连接；电阻R4的第一端接+5V电压源，电阻R4的第二端与稳压源U101的阴极连接；稳压源U101的阳极与电阻滑动变阻器R6的第二端连接；滑动变阻器R6的第一端与电阻R5连接，滑动变阻器R6的滑动端与放大器U102的同相输入端连接；电阻R5的第一端与稳压源U101的参考级连接；稳压源U101的参考级与稳压源U101的阴极连接；放大器U102的反相输入端与电流表2的第一端连接，电流表2的第二端与电磁继电器SW2的第一端连接，电磁继电器SW2的第二端接检测卡槽；放大器U102的正电源端与极性电容E2的正极连接；极性电容E2的正极接+5V电压源，极性电容E2的负极接地；放大器U102的负电压源与极性电容E1的负极连接，极性电容E1的负极接-5V电压源，极性电容E1的正极接地；放大器U102的输出端与电阻R6的第一端连接；电阻R6的第二端与三极管Q1的基极连接；三极管Q1的发射级与电流表2的第一端连接；三极管Q1的集电极与可变电阻R7的第二端连接；可变电阻R7的第一端与电流表3的第一端连接，可变电阻R7的调节端与三号可变电阻调节钮拧接；电流表3的第二端与电容C4的第一端连接；电容C4的第一端接+5V电压源；电容C4的第二端接地。

作为优选，所述的检测负电压源供给模块电路为：电容C5的第二端接地，电容C5的第一端与固定电压稳定器U2的VCC端连接；固定电压稳定器U2的VCC端接+5V电压源。固定电压稳定器U2的GND端接地，固定电压稳定器U2的EN端与电阻R8的第二端连接；电阻R8的第一端与电容R5的第二端连接,固定电压稳定器U2的VOUT端与电容C6的第一端连接，电容C6的第二端接地，电容C6的第一端与开关稳压器U3的V+端连接电容C6的第二端接地；开关稳压器U3的SD反接端与电容C6的第一端连接；开关稳压器U2的CAP+端与极性电容E4的正极连接；开关稳压器U2的CAP-端与极性电容E4的第二端连接；开关稳压器的GND端接地，开关稳压器的OUT端与极性电容E3的负极连接；极性电容E3的第二端接地；电阻R9的第一端与极性电容E3的负极连接，电阻R9的第二端与电磁继电器SW3的第一端连接，电磁继电器SW3的第二端与检测卡槽连接。作为优选，一种充电管理集成电路的测试装置的工作方法，适用于所述的一种充电管理集成电路的测试装置，包括以下步骤：S1：初始化；S2：装入待测芯片；S3：选择测试选项，如果选择测试工作电流，则跳转S4；如果选择测试过充保护截止电压，则跳转S7；如果选择测试过充保护启动电压，跳转S10；如果选择测试过放电流保护启动阀值，跳转S13；如果选择测试过放电流截止阀值，跳转S17；如果选择测试输入阻抗，跳转S21；如果选择结束测试，跳转S25；S4：如果选择测试工作电流，在控制模块的控制下，接通SW1，同时调整可变电阻R2和可变电阻R3的值，使得0.8*(1+R2/R3)＝3.7V，此时读取电流表1显示的电流值，此电流值即为当前芯片的工作电流；S5：将测试获得的工作电流与设计值做对比，如果测试获得的工作电流大于设计值，则该产品不通过，如果测试电流小于等于设计值，则该产品通过；S6：并将比对结果和测试值显示与显示器上，完成测试，并断掉相应测试开关，跳转S3；S7：如果选择测试过充保护截止电压，在控制模块的控制下，SW1、SW3和SW4接通；S8：调整可变电阻R2和可变电阻R3的值，使其符合0.8*(1+R2/R3)＝4.37V，此时读取电压表1上的电压值，此电压值即为当前芯片的过充保护截止电压；S9：将测试获得的过充保护截止电压与设计值做对于，如果测量的过充保护截止电压大于等于设计值，则产品通过；如果测量的过充保护截止电压小于设计值，则产品不通过，跳转S6；S10：如果选择测试过充保护启动电压，在控制模块的控制下，SW1、SW3和SW4接通；S11：调整可变电阻R2和可变电阻R3的值，使其符合0.8*(1+R2/R3)＝4.47V，此时读取电压表1上的电压值，此电压值即为当前芯片的过充保护启动电压；S12：将测试获得的过充保护启动电压与设计值做对于，如果测量的过充保护启动电压小于等于设计值，则产品通过；如果测量的过充保护启动电压大于设计值，则产品不通过，跳转S6；S13：如果选择测试过放电流启动阀值，在控制模块的控制下，接通SW1，SW2和SW4；S14：调整可变电阻R2和可变电阻R3的值，使其符合0.8*(1+R2/R3)＝3.7V；S15：调整可变电阻R7，使得电流表2和电流表3的数值为设定值；读取电压表1上的电压值，通过此电压值即判断当前芯片是否符合规格；S16：如果该电压值小于等于设计值，则产品通过；如果该电压值大于设计值，则产品不通过，跳转S6；S17：如果选择测试过充电流截止阀值，在控制模块的控制下，SW1、SW2和SW4接通；S18：调整可变电阻R2和可变电阻R3的值，使其符合0.8*(1+R2/R3)＝3.7V；

S19：调整可变电阻R7，使得电流表2和电流表3的数值为设定值；读取电压表1上的电压值，通过此电压值即判断当前芯片是否符合规格；S20：如果该电压值大于等于设计值，则产品通过；如果该电压值小于设计值，则产品不通过，跳转S6；S21：如果选择测试输入阻抗，在控制模块的控制下，SW1、SW2和SW4接通；S22：调整可变电阻R2和可变电阻R3的值，使其符合0.8*(1+R2/R3)＝4.47V；S23：调整可变电阻R7，使得电流表2和电流表3的数值为设定值；读取电压表1上的电压值，通过此电压值(VOUT)即可以获得该芯片的输入阻抗；S24：输入阻抗＝VOUT/2，并跳转S6；S25：如果选择的结束测试，断开所有连接，弹出测试芯片。

本发明创造有益效果：(1)显示器的使用，使得在实用过程中更加方便直观；(2)将测试电路根据其提供效果分为三部分，提升了测试兼容性，使得测试原理和执行标准一致；(3)三个可变电阻调节按钮，使得电路中的输出值可以根据不同的情况而发生变化，简化了测试过程，同时也提升了测试效率，也使得维护方面更加简单，而且性能稳定。

附图说明

图1：一种充电管理集成电路的测试装置结构示意图

图2：检测电压源供给模块电路图

图3：检测恒流源供电模块电路图

图4：检测负电压源供给模块电路图

图5：检测卡槽电路图

图中：1、按钮，2、显示器，3、一号可变电阻调节钮，4、二号可变电阻调节钮，5、三号可变电阻调节钮，6、检测卡槽。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明创造作进一步说明：

如图1所示，一种充电管理集成电路的测试装置，包括电源模块，其特征在于，还包括：控制模块，与电源模块电连接；检测模块，与控制模块电连接；显示器2，用于显示检测结果，与控制模块电连接；若干按键，安装与装置一侧，与控制模块电连接；调节旋钮，安装于装置另一侧，与检测模块电连接；检测模块包括：检测卡槽6，与控制模块电连接，位于装置顶部；检测电压源供给模块，与检测卡槽6电连接；检测恒流源供电模块，与检测卡槽6电连接；检测负电压源供给模块，与检测卡槽6电连接。将测试电路根据其提供效果分为三部分，提升了测试兼容性，使得测试原理和执行标准一致。

所述的调节按钮1包括：一号可变电阻调节钮3，与检测电压源供给模块拧接；二号可变电阻调节钮4，与检测电压源供给模块拧接；三号可变电阻调节钮5，与检测恒流源供电模块拧接。三个可变电阻调节按钮1，使得电路中的输出值可以根据不同的情况而发生变化，简化了测试过程，同时也提升了测试效率，也使得维护方面更加简单，而且性能稳定。

如图5所示，所述的检测卡槽6电路为：电流表1的第一端与检测电压供电模块连接，电流表1的第二端与电阻R10的第一端连接，电阻R10的第二端与电容C7的第一端连接；电容C7的第一端与芯片卡槽的1VCC端连接；电容C7的第二端与芯片卡槽的2GND端连接；芯片卡槽的3GND端与电容C7的第二端连接，芯片卡槽的2GND端接地；芯片卡槽4VM端与芯片卡槽5VM端连接，芯片卡槽6VM端与芯片卡槽5VM端连接；芯片卡槽5VM端与检测恒流源供电模块或检测负电压源供给模块连接；芯片卡槽5VM端与电磁继电器SW4的第一端连接；电磁继电器SW4的第二端与电压表的第一端连接；电压表的第二端接地。

如图2所示，所述的检测电压源供给模块的电路为：电容C1的第一端接+5V电压源，电容C1的第二端接地；电阻R1的第一端接电容C1第一端，电阻R1的第二端接可调电压稳定器U1的EN引脚；可调电压稳定器U1的GND引脚接地；可调电压稳定器U1的VCC引脚与电阻R1的第一端连接；可调电压稳定器U1的VOUT引脚与可变电阻R2的第一端连接，可调电压稳定器U1的VREF引脚与可变电阻R3的第一端连接；可变电阻R2的第二端与可变电阻R3的第一端连接，可变电阻R1的调节端，与一号可变电阻调节钮3拧接；可变电阻R3的第二端接地，可变电阻R3的调节端与二号可变电阻调节钮4拧接；电容C2的第一段与可调电压稳定器U1的VOUT引脚连接，电容C2的第二端接地；电容C2的第一端与电磁继电器SW1的第一端连接，电磁继电器SW1的第二端与检测卡槽6连接。

如图3所示，所述的检测恒流源供电模块的电路为：电容C3的第一端接地，电容C3的第二端与电阻R4的第一端连接；电阻R4的第一端接+5V电压源，电阻R4的第二端与稳压源U101的阴极连接；稳压源U101的阳极与电阻滑动变阻器R6的第二端连接；滑动变阻器R6的第一端与电阻R5连接，滑动变阻器R6的滑动端与放大器U102的同相输入端连接；电阻R5的第一端与稳压源U101的参考级连接；稳压源U101的参考级与稳压源U101的阴极连接；放大器U102的反相输入端与电流表2的第一端连接，电流表2的第二端与电磁继电器SW2的第一端连接，电磁继电器SW2的第二端接检测卡槽6；放大器U102的正电源端与极性电容E2的正极连接；极性电容E2的正极接+5V电压源，极性电容E2的负极接地；放大器U102的负电压源与极性电容E1的负极连接，极性电容E1的负极接-5V电压源，极性电容E1的正极接地；放大器U102的输出端与电阻R6的第一端连接；电阻R6的第二端与三极管Q1的基极连接；三极管Q1的发射级与电流表2的第一端连接；三极管Q1的集电极与可变电阻R7的第二端连接；可变电阻R7的第一端与电流表3的第一端连接，可变电阻R7的调节端与三号可变电阻调节钮5拧接；电流表3的第二端与电容C4的第一端连接；电容C4的第一端接+5V电压源；电容C4的第二端接地。

如图4所示，所述的检测负电压源供给模块电路为：电容C5的第二端接地，电容C5的第一端与固定电压稳定器U2的VCC端连接；固定电压稳定器U2的VCC端接+5V电压源。固定电压稳定器U2的GND端接地，固定电压稳定器U2的EN端与电阻R8的第二端连接；电阻R8的第一端与电容R5的第二端连接,固定电压稳定器U2的VOUT端与电容C6的第一端连接，电容C6的第二端接地，电容C6的第一端与开关稳压器U3的V+端连接电容C6的第二端接地；开关稳压器U3的SD反接端与电容C6的第一端连接；开关稳压器U2的CAP+端与极性电容E4的正极连接；开关稳压器U2的CAP-端与极性电容E4的第二端连接；开关稳压器的GND端接地，开关稳压器的OUT端与极性电容E3的负极连接；极性电容E3的第二端接地；电阻R9的第一端与极性电容E3的负极连接，电阻R9的第二端与电磁继电器SW3的第一端连接，电磁继电器SW3的第二端与检测卡槽6连接。

一种充电管理集成电路的测试装置的工作方法，适用于所述的一种充电管理集成电路的测试装置，包括以下步骤：S1：初始化；S2：装入待测芯片；S3：选择测试选项，如果选择测试工作电流，则跳转S4；如果选择测试过充保护截止电压，则跳转S7；如果选择测试过充保护启动电压，跳转S10；如果选择测试过放电流保护启动阀值，跳转S13；如果选择测试过放电流截止阀值，跳转S17；如果选择测试输入阻抗，跳转S21；如果选择结束测试，跳转S25；S4：如果选择测试工作电流，在控制模块的控制下，接通SW1，同时调整可变电阻R2和可变电阻R3的值，使得0.8*(1+R2/R3)＝3.7V，此时读取电流表1显示的电流值，此电流值即为当前芯片的工作电流；S5：将测试获得的工作电流与设计值做对比，如果测试获得的工作电流大于设计值，则该产品不通过，如果测试电流小于等于设计值，则该产品通过；S6：并将比对结果和测试值显示与显示器2上，完成测试，并断掉相应测试开关，跳转S3；S7：如果选择测试过充保护截止电压，在控制模块的控制下，SW1、SW3和SW4接通；S8：调整可变电阻R2和可变电阻R3的值，使其符合0.8*(1+R2/R3)＝4.37V，此时读取电压表1上的电压值，此电压值即为当前芯片的过充保护截止电压；S9：将测试获得的过充保护截止电压与设计值做对于，如果测量的过充保护截止电压大于等于设计值，则产品通过；如果测量的过充保护截止电压小于设计值，则产品不通过，跳转S6；S10：如果选择测试过充保护启动电压，在控制模块的控制下，SW1、SW3和SW4接通；S11：调整可变电阻R2和可变电阻R3的值，使其符合0.8*(1+R2/R3)＝4.47V，此时读取电压表1上的电压值，此电压值即为当前芯片的过充保护启动电压；S12：将测试获得的过充保护启动电压与设计值做对于，如果测量的过充保护启动电压小于等于设计值，则产品通过；如果测量的过充保护启动电压大于设计值，则产品不通过，跳转S6；S13：如果选择测试过放电流启动阀值，在控制模块的控制下，接通SW1，SW2和SW4；S14：调整可变电阻R2和可变电阻R3的值，使其符合0.8*(1+R2/R3)＝3.7V；S15：调整可变电阻R7，使得电流表2和电流表3的数值为设定值；读取电压表1上的电压值，通过此电压值即判断当前芯片是否符合规格；S16：如果该电压值小于等于设计值，则产品通过；如果该电压值大于设计值，则产品不通过，跳转S6；S17：如果选择测试过充电流截止阀值，在控制模块的控制下，SW1、SW2和SW4接通；S18：调整可变电阻R2和可变电阻R3的值，使其符合0.8*(1+R2/R3)＝3.7V；

S19：调整可变电阻R7，使得电流表2和电流表3的数值为设定值；读取电压表1上的电压值，通过此电压值即判断当前芯片是否符合规格；S20：如果该电压值大于等于设计值，则产品通过；如果该电压值小于设计值，则产品不通过，跳转S6；S21：如果选择测试输入阻抗，在控制模块的控制下，SW1、SW2和SW4接通；S22：调整可变电阻R2和可变电阻R3的值，使其符合0.8*(1+R2/R3)＝4.47V；S23：调整可变电阻R7，使得电流表2和电流表3的数值为设定值；读取电压表1上的电压值，通过此电压值(VOUT)即可以获得该芯片的输入阻抗；S24：输入阻抗＝VOUT/2，并跳转S6；S25：如果选择的结束测试，断开所有连接，弹出测试芯片。

显示器2的使用，使得在实用过程中更加方便直观；将测试电路根据其提供效果分为三部分，提升了测试兼容性，使得测试原理和执行标准一致；三个可变电阻调节按钮1，使得电路中的输出值可以根据不同的情况而发生变化，简化了测试过程，同时也提升了测试效率，也使得维护方面更加简单，而且性能稳定。

以上详细描述了本发明创造的较佳具体实施例。应当理解，本领域的普通技术人员无需创造性劳动就可以根据本发明创造的构思作出诸多修改和变化。因此，凡本技术领域中技术人员依本发明创造的构思在现有技术的基础上通过逻辑分析、推理或者有限的实验可以得到的技术方案，皆应在由权利要求书所确定的保护范围内。

Claims (6)

1.一种充电管理集成电路的测试装置，包括电源模块，其特征在于，还包括：

控制模块，与电源模块电连接；

检测模块，与控制模块电连接；

显示器，用于显示检测结果，与控制模块电连接；

若干按键，安装于装置一侧，与控制模块电连接；

调节旋钮，安装于装置另一侧，与检测模块电连接；

检测模块包括：

检测卡槽，与控制模块电连接，位于装置顶部；

检测电压源供给模块，与检测卡槽电连接；

检测恒流源供电模块，与检测卡槽电连接；

检测负电压源供给模块，与检测卡槽电连接；

所述的检测卡槽的电路为：

电流表1的第一端与检测电压供电模块连接，电流表1的第二端与电阻R10的第一端连接，电阻R10的第二端与电容C7的第一端连接；电容C7的第一端与芯片卡槽的1VCC端连接；电容C7的第二端与芯片卡槽的2GND端连接；芯片卡槽的3GND端与电容C7的第二端连接，芯片卡槽的2GND端接地；芯片卡槽4VM端与芯片卡槽5VM端连接，芯片卡槽6VM端与芯片卡槽5VM端连接；芯片卡槽5VM端与检测恒流源供电模块或检测负电压源供给模块连接；芯片卡槽5VM端与电磁继电器SW4的第一端连接；电磁继电器SW4的第二端与电压表的第一端连接；电压表的第二端接地。

2.根据权利要求1所述的一种充电管理集成电路的测试装置，其特征在于，所述的调节旋钮包括：

一号可变电阻调节钮，与检测电压源供给模块拧接；

二号可变电阻调节钮，与检测电压源供给模块拧接；

三号可变电阻调节钮，与检测恒流源供电模块拧接。

3.根据权利要求2所述的一种充电管理集成电路的测试装置，其特征在于，所述的检测电压源供给模块的电路为：

电容C1的第一端接+5V电压源，电容C1的第二端接地；电阻R1的第一端接电容C1第一端，电阻R1的第二端接可调电压稳定器U1的EN引脚；可调电压稳定器U1的GND引脚接地；可调电压稳定器U1的VCC引脚与电阻R1的第一端连接；可调电压稳定器U1的VOUT引脚与可变电阻R2的第一端连接，可调电压稳定器U1的VREF引脚与可变电阻R3的第一端连接；可变电阻R2的第二端与可变电阻R3的第一端连接，可变电阻R1的调节端，与一号可变电阻调节钮拧接；可变电阻R3的第二端接地，可变电阻R3的调节端与二号可变电阻调节钮拧接；电容C2的第一段与可调电压稳定器U1的VOUT引脚连接，电容C2的第二端接地；电容C2的第一端与电磁继电器SW1的第一端连接，电磁继电器SW1的第二端与检测卡槽连接。

4.根据权利要求3所述的一种充电管理集成电路的测试装置，其特征在于，所述的检测恒流源供电模块的电路为：

电容C3的第一端接地，电容C3的第二端与电阻R4的第一端连接；电阻R4的第一端接+5V电压源，电阻R4的第二端与稳压源U101的阴极连接；稳压源U101的阳极与电阻滑动变阻器R6的第二端连接；滑动变阻器R6的第一端与电阻R5连接，滑动变阻器R6的滑动端与放大器U102的同相输入端连接；电阻R5的第一端与稳压源U101的参考级连接；稳压源U101的参考级与稳压源U101的阴极连接；放大器U102的反相输入端与电流表2的第一端连接，电流表2的第二端与电磁继电器SW2的第一端连接，电磁继电器SW2的第二端接检测卡槽；放大器U102的正电源端与极性电容E2的正极连接；极性电容E2的正极接+5V电压源，极性电容E2的负极接地；放大器U102的负电压源与极性电容E1的负极连接，极性电容E1的负极接-5V电压源，极性电容E1的正极接地；放大器U102的输出端与电阻R6的第一端连接；电阻R6的第二端与三极管Q1的基极连接；三极管Q1的发射级与电流表2的第一端连接；三极管Q1的集电极与可变电阻R7的第二端连接；可变电阻R7的第一端与电流表3的第一端连接，可变电阻R7的调节端与三号可变电阻调节钮拧接；电流表3的第二端与电容C4的第一端连接；电容C4的第一端接+5V电压源；电容C4的第二端接地。

5.根据权利要求4所述的一种充电管理集成电路的测试装置，其特征在于，所述的检测负电压源供给模块电路为：电容C5的第二端接地，电容C5的第一端与固定电压稳定器U2的VCC端连接；固定电压稳定器U2的VCC端接+5V电压源，固定电压稳定器U2的GND端接地，固定电压稳定器U2的EN端与电阻R8的第二端连接；电阻R8的第一端与电容R5的第二端连接,固定电压稳定器U2的VOUT端与电容C6的第一端连接，电容C6的第二端接地，电容C6的第一端与开关稳压器U3的V+端连接电容C6的第二端接地；开关稳压器U3的SD反接端与电容C6的第一端连接；开关稳压器U2的CAP+端与极性电容E4的正极连接；开关稳压器U2的CAP-端与极性电容E4的第二端连接；开关稳压器的GND端接地，开关稳压器的OUT端与极性电容E3的负极连接；极性电容E3的第二端接地；电阻R9的第一端与极性电容E3的负极连接，电阻R9的第二端与电磁继电器SW3的第一端连接，电磁继电器SW3的第二端与检测卡槽连接。

6.一种充电管理集成电路的测试装置的工作方法，适用于如权利要求5所述的一种充电管理集成电路的测试装置，其特征在于，包括以下步骤：

S1：初始化；

S2：装入待测芯片；

S3：选择测试选项，如果选择测试工作电流，则跳转S4；如果选择测试过充保护截止电压，则跳转S7；如果选择测试过充保护启动电压，跳转S10；如果选择测试过放电流保护启动阀值，跳转S13；如果选择测试过放电流截止阀值，跳转S17；如果选择测试输入阻抗，跳转S21；如果选择结束测试，跳转S25；

S4：如果选择测试工作电流，在控制模块的控制下，接通SW1，同时调整可变电阻R2和可变电阻R3的值，使得0.8*(1+R2/R3)＝3.7V，此时读取电流表显示的电流值，此电流值即为当前芯片的工作电流；

S5：将测试获得的工作电流与设计值做对比，如果测试获得的工作电流大于设计值，则该待测芯片不通过，如果测试电流小于等于设计值，则该待测芯片通过；

S6：并将比对结果和测试值显示与显示器上，完成测试，并断掉相应测试开关，跳转S3；

S7：如果选择测试过充保护截止电压，在控制模块的控制下，SW1、SW3和SW4接通；

S8：调整可变电阻R2和可变电阻R3的值，使其符合0.8*(1+R2/R3)＝4.37V，此时读取电压表上的电压值，此电压值即为当前芯片的过充保护截止电压；

S9：将测试获得的过充保护截止电压与设计值做对于，如果测量的过充保护截止电压大于等于设计值，则待测芯片通过；如果测量的过充保护截止电压小于设计值，则待测芯片不通过，跳转S6；

S10：如果选择测试过充保护启动电压，在控制模块的控制下，SW1、SW3和SW4接通；

S11：调整可变电阻R2和可变电阻R3的值，使其符合0.8*(1+R2/R3)＝4.47V，此时读取电压表上的电压值，此电压值即为当前芯片的过充保护启动电压；

S12：将测试获得的过充保护启动电压与设计值做对于，如果测量的过充保护启动电压小于等于设计值，则待测芯片通过；如果测量的过充保护启动电压大于设计值，则待测芯片不通过，跳转S6；

S13：如果选择测试过放电流启动阀值，在控制模块的控制下，接通SW1，SW2和SW4；

S14：调整可变电阻R2和可变电阻R3的值，使其符合0.8*(1+R2/R3)＝3.7V；

S15：调整可变电阻R7，使得电流表2和电流表3的数值为设定值；读取电压表上的电压值，通过此电压值即判断当前芯片是否符合规格；

S16：如果该电压值小于等于设计值，则待测芯片通过；如果该电压值大于设计值，则待测芯片不通过，跳转S6；

S17：如果选择测试过充电流截止阀值，在控制模块的控制下，SW1、SW2和SW4接通；

S18：调整可变电阻R2和可变电阻R3的值，使其符合0.8*(1+R2/R3)＝3.7V；

S19：调整可变电阻R7，使得电流表2和电流表3的数值为设定值；读取电压表上的电压值，通过此电压值即判断当前芯片是否符合规格；

S20：如果该电压值大于等于设计值，则待测芯片通过；如果该电压值小于设计值，则待测芯片不通过，跳转S6；

S21：如果选择测试输入阻抗，在控制模块的控制下，SW1、SW2和SW4接通；

S22：调整可变电阻R2和可变电阻R3的值，使其符合0.8*(1+R2/R3)＝4.47V；

S23：调整可变电阻R7，使得电流表2和电流表3的数值为设定值；读取电压表上的电压值VOUT，通过此电压值即获得该芯片的输入阻抗；

S24：输入阻抗＝VOUT/2，并跳转S6；

S25：如果选择的结束测试，断开所有连接，弹出待测芯片。