CN109239520A - 连接器焊接测试装置 - Google Patents

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史建雄
邹立洪
张争
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Shaoxing Jicheng Packaging Machinery Co ltd
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Shaoxing Jicheng Packaging Machinery Co ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
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    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints

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Abstract

一种连接器焊接测试装置,用于对焊接在PCBA上的第一连接器进行测试。所述连接器焊接测试装置包括电源、第二连接器及多个发光二极管。所述第二连接器与所述第一连接器匹配,所述第一连接器与所述第二连接器均包括多个引脚。所述电源的正极电连接于所述第二连接器的第一引脚,所述每一发光二极管的正极一一对应电连接于所述第二连接器的第二引脚至第N引脚,所述每一发光二极管的负极电连接于所述电源的负极。当第二连接器插接于第一连接器时,根据所述每一发光二极管的发光状态来判断所述第一连接器的每一引脚与所述PCBA的焊接状态。上述连接器焊接测试装置可以通过发光二极管快速地量测出连接器的焊接状态,有效地降低量测所花时间。

Description

连接器焊接测试装置
技术领域
本发明涉及测试技术领域,尤其涉及一种连接器焊接测试装置。
背景技术
现有的电子设备主电路板一般均会焊接有一个或者多个连接器,例如USB类型连接器,视频/音频接口连接器等,该些连接器包括多个引脚,可能会出现焊接不良。当测试时发现连接器通信故障时,只能依靠测试人员通过测试仪表依次对连接器的每一引脚进行测量,如果连接器的引脚较多时,需要花费不少时间进行测试,占用了大量的人力与物力。
发明内容
鉴于以上内容,有必要提供一种连接器焊接测试装置,其能有效地降低测量时间。
本发明一实施方式提供一种连接器焊接测试装置,用于对焊接在PCBA上的第一连接器进行测试,所述连接器焊接测试装置包括电源及第二连接器,所述第二连接器与所述第一连接器匹配且能相互插接,所述第一连接器与所述第二连接器均包括多个引脚。所述连接器焊接测试装置还包括多个发光二极管,所述电源的正极电连接于所述第二连接器的第一引脚,所述每一发光二极管的正极一一对应电连接于所述第二连接器的第二引脚至第N引脚,所述每一发光二极管的负极电连接于所述电源的负极,当所述第二连接器插接于所述第一连接器时,根据所述每一发光二极管的发光状态来判断所述第一连接器的每一引脚与所述PCBA的焊接状态。
优选地,所述连接器焊接测试装置还包括开关及第一电阻,所述开关的一端电连接于所述电源的正极,所述开关的另一端电连接于所述第一电阻的一端,所述第一电阻的另一端电连接于所述第二连接器的第一引脚。
优选地,所述发光二极管的数量与所述第二连接器的引脚数量相同,第一发光二极管的正极电连接于所述第一电阻的另一端,第一发光二极管的负极电连接于所述电源的负极,第二至第N发光二极管的正极一一对应电连接于所述第二连接器的第二引脚至第N引脚。
优选地,所述连接器焊接测试装置还包括第二电阻、第三电阻及第四电阻,所述第二至第四电阻具有不同的电阻值,所述多个引脚包括电源引脚组、接地引脚组及信号引脚组,所述第二电阻的一端电连接于所述电源的负极,所述第二电阻的另一端电连接于所述接地引脚组对应的发光二极管的负极,所述第三电阻的一端电连接于所述电源的负极,所述第三电阻的另一端电连接于所述电源引脚组对应的发光二极管的负极,所述第四电阻的一端电连接于所述电源的负极,所述第四电阻的另一端电连接于所述信号引脚组对应的发光二极管的负极。
优选地,所述第二电阻的阻值大于所述第三电阻的阻值,所述第三电阻的阻值大于所述第四电阻的阻值。
优选地,当所述发光二极管为常规亮度状态时,与所述发光二极管对应的第一连接器的引脚焊接正常;当所述发光二极管为不亮状态或者非常规亮度状态时,与所述发光二极管对应的第一连接器的引脚焊接异常。
优选地,所述第一连接器为USB Type-C连接器。
与现有技术相比,上述连接器焊接测试装置,可以通过发光二极管快速地量测出连接器的焊接状态,有效地降低量测所花时间,节约维修成本,提高工作效率。
附图说明
图1是本发明连接器焊接测试装置一实施方式的使用环境图。
图2是本发明连接器焊接测试装置的一实施方式的功能模块图。
图3是本发明连接器焊接测试装置的电路图。
主要元件符号说明
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1-3,本发明一实施方式提供一种连接器焊接测试装置100。连接器焊接测试装置100可以对焊接在PCBA 200上的第一连接器10进行测试,PCBA 200可以是笔记本电脑主板、服务器主板等等。
连接器焊接测试装置100包括电源20、第二连接器30及发光二极管组件40。发光二极管组件40包括多个发光二极管LED1~LEDm(m为整数且m>1)。第二连接器30与第一连接器10匹配且能相互插接。即,第一连接器10与第二连接器30优选为相同型号的连接器,第一连接器10优选为母头连接器,第二连接器30优选为公头连接器。第一连接器10包括多个引脚A1~An,第二连接器30包括多个引脚B1~Bn。电源20的正极电连接于第二连接器30的引脚B1,每一发光二极管LED1~LEDm的正极一一对应电连接于第二连接器30的每一引脚B2~Bn(m=n-1)。每一发光二极管LED1~LEDm的负极电连接于电源20的负极。当第二连接器30插接于第一连接器10时,根据每一发光二极管LED1~LEDm的发光状态来判断第一连接器10的每一引脚A1~An与PCBA 200的焊接状态。
举例而言,当第二连接器30插接于第一连接器10时且第一连接器10的引脚A1~An分别与第二连接器30的引脚B1~Bn一一对应电连接,若每一发光二极管LED1~LEDm均不亮时,表明第一连接器10的引脚A1焊接异常。若有其他发光二极管正常点亮而发光二极管LED1不亮,表明第一连接器10的引脚A2焊接异常,若有其他发光二极管正常点亮而发光二极管LEDm不亮,表明第一连接器10的引脚An焊接异常。
在一实施方式中,连接器焊接测试装置100还包括开关SW1及第一电阻R1。开关SW1的一端电连接于电源20的正极,开关SW1的另一端电连接于第一电阻R1的一端,第一电阻R1的另一端电连接于第二连接器30的第一引脚B1。
在一实施方式中,发光二极管LED1~LEDm的数量也可以与第二连接器30的引脚B1~Bn数量相同(m=n)。此时,发光二极管LED1的正极电连接于第一电阻R1的另一端,发光二极管LED1的负极电连接于电源20的负极,发光二极管LED2~LEDm的正极一一对应电连接于第二连接器30的引脚B2~Bn。若仅有发光二极管LED1点亮(LED2~LEDm均不亮)时,表明第一连接器10的引脚A1焊接异常。
在一实施方式中,第一连接器10优选为USB Type-C母头连接器,第二连接器20优选为USB Type-C公头连接器。
在一实施方式中,连接器焊接测试装置100还包括第二电阻R2、第三电阻R4及第四电阻R4,第二至第四电阻R2、R3、R4优选具有不同的电阻值。第一连接器10或者第二连接器30的引脚均可以按功能被划分为三种类型引脚,三种类型引脚包括电源引脚,接地引脚及信号引脚。
以第二连接器30为例,假设第二连接器30包括24个引脚(n=24,B1~B24),第二连接器30的引脚B1~B24可以被划分为接地引脚组(包括接地引脚B1~B4)、电源引脚组(包括电源引脚B5~B8)及信号引脚组(包括信号引脚B9~B24)。第二电阻R2的一端电连接于电源20的负极,第二电阻R2的另一端电连接于所述接地引脚组对应的发光二极管的负极。第三电阻R3的一端电连接于电源20的负极,第三电阻R3的另一端电连接于所述电源引脚组对应的发光二极管的负极。第四电阻R4的一端电连接于电源20的负极,第四电阻R4的另一端电连接于所述信号引脚组对应的发光二极管的负极。
在一实施方式中,当第二连接器20为USB Type-C连接器时,第二连接器30的引脚B1~B24的信号明细可以是如下表1所示:
表1
PIN脚序号 信号名称 PIN脚序号 信号名称 PIN脚序号 信号名称
B1 GND4 B9 SSTXp2 B17 SSTXp1
B2 GND3 B10 SSTXn2 B18 SSTXn1
B3 GND2 B11 CC2 B19 CC1
B4 GND1 B12 Dp2 B20 Dp1
B5 VBUS4 B13 Dn2 B21 Dn1
B6 VBUS3 B14 SBU2 B22 SBU1
B7 VBUS2 B15 SSRXn1 B23 SSRXn2
B8 VBUS1 B16 SSRXp1 B24 SSRXp2
在一实施方式中,当第二连接器30插接于第一连接器10进行测试时,信号引脚的等效电阻最大,电源引脚的等效电阻次之,接地引脚的等效电阻最小。第二电阻R2的阻值优选大于第三电阻R3的阻值,第三电阻R3的阻值优选大于第四电阻R4的阻值。
下面对本发明一实施方式中的连接器焊接测试装置100的工作原理进行说明,其中第一连接器10与第二连接器30均以24个引脚为例。
当第二连接器30插接于第一连接器10且开关SW1闭合时,PCBA 200等效于有一定阻抗的电阻,电流从第二连接器30的引脚B1流入至第一连接器10的引脚A1,再经PCBA 200后从第一连接器10的其他引脚A2~A24分别回到第二连接器30的引脚B2~B24,最后分别通过对应的发光二极管回到电源20的负极形成回路,进而可以根据每一发光二极管LED1~LED24的发光状态来判断第一连接器10的每一引脚A1~A24与PCBA 200的焊接状态。当有引脚焊接断路时,对应的发光二极管不亮,当有引脚焊接短路时,对应的发光二极管特亮。
若发光二极管LED1~LED24均为常规亮度时,表明第一连接器10的每一引脚A1~A24在PCBA 200上焊接正常。若仅有发光二极管LED1为常规亮度,其他发光二极管LED2~LED24均不亮时,表明引脚A1焊接断路。若发光二极管LED1为常规亮度,某一发光二极管不亮时(并不是发光二极管LED2~LED24都不亮),则表明该发光二极管对应的第一连接器10的引脚焊接断路。若发光二极管LED1为常规亮度,某一发光二极管非常规亮度(特亮)时,则表明该发光二极管对应的第一连接器10的引脚焊接短路。
上述连接器焊接测试装置,可以通过发光二极管快速地量测出连接器的焊接状态,有效地降低量测所花时间,节约维修成本,提高工作效率。
对本领域的技术人员来说,可以根据本发明的发明方案和发明构思结合生产的实际需要做出其他相应的改变或调整,而这些改变和调整都应属于本发明所公开的范围。

Claims (7)

1.一种连接器焊接测试装置,用于对焊接在PCBA上的第一连接器进行测试,所述连接器焊接测试装置包括电源及第二连接器,所述第二连接器与所述第一连接器匹配且能相互插接,所述第一连接器与所述第二连接器均包括多个引脚,其特征在于,所述连接器焊接测试装置还包括多个发光二极管,所述电源的正极电连接于所述第二连接器的第一引脚,所述每一发光二极管的正极一一对应电连接于所述第二连接器的第二引脚至第N引脚,所述每一发光二极管的负极电连接于所述电源的负极,当所述第二连接器插接于所述第一连接器时,根据所述每一发光二极管的发光状态来判断所述第一连接器的每一引脚与所述PCBA的焊接状态。
2.如权利要求1所述的连接器焊接测试装置,其特征在于,所述连接器焊接测试装置还包括开关及第一电阻,所述开关的一端电连接于所述电源的正极,所述开关的另一端电连接于所述第一电阻的一端,所述第一电阻的另一端电连接于所述第二连接器的第一引脚。
3.如权利要求2所述的连接器焊接测试装置,其特征在于,所述发光二极管的数量与所述第二连接器的引脚数量相同,第一发光二极管的正极电连接于所述第一电阻的另一端,第一发光二极管的负极电连接于所述电源的负极,第二至第N发光二极管的正极一一对应电连接于所述第二连接器的第二引脚至第N引脚。
4.如权利要求1所述的连接器焊接测试装置,其特征在于,所述连接器焊接测试装置还包括第二电阻、第三电阻及第四电阻,所述第二至第四电阻具有不同的电阻值,所述多个引脚包括电源引脚组、接地引脚组及信号引脚组,所述第二电阻的一端电连接于所述电源的负极,所述第二电阻的另一端电连接于所述接地引脚组对应的发光二极管的负极,所述第三电阻的一端电连接于所述电源的负极,所述第三电阻的另一端电连接于所述电源引脚组对应的发光二极管的负极,所述第四电阻的一端电连接于所述电源的负极,所述第四电阻的另一端电连接于所述信号引脚组对应的发光二极管的负极。
5.如权利要求4所述的连接器焊接测试装置,其特征在于,所述第二电阻的阻值大于所述第三电阻的阻值,所述第三电阻的阻值大于所述第四电阻的阻值。
6.如权利要求1所述的连接器焊接测试装置,其特征在于,当所述发光二极管为常规亮度状态时,与所述发光二极管对应的第一连接器的引脚焊接正常;当所述发光二极管为不亮状态或者非常规亮度状态时,与所述发光二极管对应的第一连接器的引脚焊接异常。
7.如权利要求1所述的连接器焊接测试装置,其特征在于,所述第一连接器为USBType-C连接器。
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