CN109211404A - 光纤光栅测试系统及光纤光栅性能测试方法 - Google Patents
光纤光栅测试系统及光纤光栅性能测试方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN109211404A CN109211404A CN201811348432.6A CN201811348432A CN109211404A CN 109211404 A CN109211404 A CN 109211404A CN 201811348432 A CN201811348432 A CN 201811348432A CN 109211404 A CN109211404 A CN 109211404A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- fiber grating
- optical fiber
- tested optical
- spectrometer
- grating
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000835 fiber Substances 0.000 title claims abstract description 59
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 46
- 238000011056 performance test Methods 0.000 title claims abstract description 30
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 29
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims abstract description 62
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims abstract description 15
- 238000005086 pumping Methods 0.000 claims description 11
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 5
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 claims description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000009533 lab test Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 1
- 230000002269 spontaneous effect Effects 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/12—Generating the spectrum; Monochromators
- G01J3/18—Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
- G01M11/333—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face using modulated input signals
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
本发明涉及一种光纤光栅测试系统及光纤光栅性能测试方法,其中,光纤光栅测试系统包括:ASE光源、环形器、合束器、被测光纤光栅以及光谱仪;所述ASE光源产生的宽带光谱依次通过所述环形器、所述合束器传输到所述被测光纤光栅;所述被测光纤光栅适于将满足布拉格条件的波长进行反射,且反射光通过合束器、环形器传输到光谱仪上;所述光谱仪适于对反射光的数据进行测试,从而完成对光栅的性能测试。通过光纤光栅测试系统形成一个测试工位,对光纤光栅进行批量测试,结构简单,易于操作。
Description
技术领域
本发明涉及光纤光栅领域,具体涉及一种光纤光栅测试系统及光纤光栅性能测试方法。
背景技术
光纤光栅是制作光纤激光器的核心器件,起到筛选波长、提供反馈的功能;所以光栅的好坏会直接影响光纤激光器的最终参数。
因此如何测试光纤光栅的性能,是目前亟待解决的。
发明内容
本发明的目的是提供一种光纤光栅测试系统及光纤光栅性能测试方法。
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种光纤光栅测试系统,包括:
ASE光源、环形器、合束器、被测光纤光栅以及光谱仪;
所述ASE光源产生的宽带光谱依次通过所述环形器、所述合束器传输到所述被测光纤光栅;
所述被测光纤光栅适于将满足布拉格条件的波长进行反射,且反射光通过合束器、环形器传输到光谱仪上;
所述光谱仪适于对反射光的数据进行测试,从而完成对光栅的性能测试。
进一步地,所述数据包括中心波长、3dB带宽以及稳定性。
进一步地,所述光纤光栅测试系统还包括挡光板;
所述被测光纤还适于将不满足布拉格条件的波长透过所述被测光栅传输至遮光板。
进一步地,所述光纤光栅测试系统还包括泵浦源;
所述泵浦源适于产生泵浦光通过所述合束器传输到所述被测光纤光栅;
所述被测光纤光栅适于将满足布拉格条件的波长的泵浦光进行反射,且反射光通过合束器、环形器传输到光谱仪上。
进一步地,所述环形器、合束器、被测光纤光栅设置于一个散热片上。
本发明还提供了一种光纤光栅性能测试方法,所述光纤光栅性能测试方法通过将ASE光源产生的宽带光谱传输至被测光纤光栅,并对被测光纤光栅的放射光通过光谱仪进行分析,从而完成对光栅的性能测试。
进一步地,所述通过将ASE光源产生的宽带光谱传输至被测光纤光栅的方法为所述ASE光源产生的宽带光谱依次通过环形器、合束器传输到所述被测光纤光栅。
进一步地,所述对被测光纤光栅的放射光通过光谱仪进行分析的方法为所述被测光纤光栅适于将满足布拉格条件的波长进行反射,且反射光通过合束器、环形器传输到光谱仪上,所述光谱仪适于对反射光的数据进行测试。
进一步地,所述光纤光栅性能测试方法还包括:
将泵浦光传输至被测光纤光栅,并对被测光纤光栅的放射光通过光谱仪进行分析,从而完成对光栅在泵浦光下的性能测试。
进一步地,所述将泵浦光传输至被测光纤光栅的方法为泵浦源适于产生泵浦光依次通过环形器、合束器传输到被测光纤光栅。
本发明的有益效果是,本发明提供了一种光纤光栅测试系统及光纤光栅性能测试方法,其中,光纤光栅测试系统包括:ASE光源、环形器、合束器、被测光纤光栅以及光谱仪;所述ASE光源产生的宽带光谱依次通过所述环形器、所述合束器传输到所述被测光纤光栅;所述被测光纤光栅适于将满足布拉格条件的波长进行反射,且反射光通过合束器、环形器传输到光谱仪上;所述光谱仪适于对反射光的数据进行测试,从而完成对光栅的性能测试。通过光纤光栅测试系统形成一个测试工位,对光纤光栅进行批量测试,结构简单,易于操作。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。
图1示出了本发明实施例所提供的光纤光栅测试系统的结构示意图。
图中:1-ASE光源;2-环形器;3-合束器;4-被测光纤光栅;5、光谱仪;6-遮光板;7-散热片;8-泵浦源。
具体实施方式
现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图,仅以示意方式说明本发明的基本结构,因此其仅显示与本发明有关的构成。
实施例
如图1所示,本发明实施例提供了一种光纤光栅测试系统。光纤光栅测试系统包括:ASE光源1、环形器2、合束器3、被测光纤光栅4以及光谱仪5;所述ASE光源1产生的宽带光谱依次通过所述环形器2、所述合束器3传输到所述被测光纤光栅4;所述被测光纤光栅4适于将满足布拉格条件的波长进行反射,且反射光通过合束器3、环形器2传输到光谱仪5上;所述光谱仪5适于对反射光的数据进行测试,从而完成对光栅的性能测试。通过光纤光栅测试系统形成一个测试工位,对光纤光栅进行批量测试,结构简单,易于操作。
其中,ASE(放大自发辐射)光源是专为生产和实验室实验设计的。光源主体部分是增益介质掺铒光纤和高性能的泵浦激光器。独特的atc(自动温度控制)和apc(自动功率控制)电路通过控制泵浦激光器的输出保证了输出功率的稳定。通过调节apc,可在一定范围内调节输出功率。简便和智能的操作与远程控制。
在本实施例中,所述数据包括中心波长、3dB带宽以及稳定性。
在本实施例中,所述光纤光栅测试系统还包括挡光板;所述被测光纤还适于将不满足布拉格条件的波长透过所述被测光栅传输至遮光板6。
在本实施例中,所述光纤光栅测试系统还包括泵浦源8;所述泵浦源8适于产生泵浦光通过所述合束器3传输到所述被测光纤光栅4;所述被测光纤光栅4适于将满足布拉格条件的波长的泵浦光进行反射,且反射光通过合束器3、环形器2传输到光谱仪5上。把泵浦光引入到光纤光栅,充分还原在整机中的工作情况,提高数据的可靠性。
其中,
在本实施例中,所述环形器2、合束器3、被测光纤光栅4设置于一个散热片7上。对每个光学器件进行散热,而且,每个光学器件都放在一个散热片7上,并适于更换被测光纤光栅4。
本发明实施例还提供了一种光纤光栅性能测试方法,所述光纤光栅性能测试方法通过将ASE光源1产生的宽带光谱传输至被测光纤光栅4,并对被测光纤光栅4的放射光通过光谱仪5进行分析,从而完成对光栅的性能测试。
具体的,所述通过将ASE光源1产生的宽带光谱传输至被测光纤光栅4的方法为所述ASE光源1产生的宽带光谱依次通过环形器2、合束器3传输到所述被测光纤光栅4。
在本实施例中,所述对被测光纤光栅4的放射光通过光谱仪5进行分析的方法为所述被测光纤光栅4适于将满足布拉格条件的波长进行反射,且反射光通过合束器3、环形器2传输到光谱仪5上,所述光谱仪5适于对反射光的数据进行测试。
在本实施例中,所述光纤光栅性能测试方法还包括:将泵浦光传输至被测光纤光栅4,并对被测光纤光栅4的反射光通过光谱仪5进行分析,从而完成对光栅在泵浦光下的性能测试。通过调节泵浦光,获取光纤光栅的参数变化。在本实施例中,光纤光栅的参数变化,可以是,但不仅限于,中心波长的漂移情况。
具体的,所述将泵浦光传输至被测光纤光栅4的方法为泵浦源8适于产生泵浦光通过合束器3传输到被测光纤光栅4。
综上所述,本发明提供了一种光纤光栅测试系统,其特征在于,包括:ASE光源、环形器、合束器、被测光纤光栅以及光谱仪;所述ASE光源产生的宽带光谱依次通过所述环形器、所述合束器传输到所述被测光纤光栅;所述被测光纤光栅适于将满足布拉格条件的波长进行反射,且反射光通过合束器、环形器传输到光谱仪上;所述光谱仪适于对反射光的数据进行测试,从而完成对光栅的性能测试。通过光纤光栅测试系统形成一个测试工位,对光纤光栅进行批量测试,结构简单,易于操作。
以上述依据本发明的理想实施例为启示,通过上述的说明内容,相关工作人员完全可以在不偏离本项发明技术思想的范围内,进行多样的变更以及修改。本项发明的技术性范围并不局限于说明书上的内容,必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。
Claims (10)
1.一种光纤光栅测试系统,其特征在于,包括:
ASE光源、环形器、合束器、被测光纤光栅以及光谱仪;
所述ASE光源产生的宽带光谱依次通过所述环形器、所述合束器传输到所述被测光纤光栅;
所述被测光纤光栅适于将满足布拉格条件的波长进行反射,且反射光通过合束器、环形器传输到光谱仪上;
所述光谱仪适于对反射光的数据进行测试,从而完成对光栅的性能测试。
2.如权利要求1所述的光纤光栅测试系统,其特征在于,所述数据包括中心波长、3dB带宽以及稳定性。
3.如权利要求1所述的光纤光栅测试系统,其特征在于,所述光纤光栅测试系统还包括挡光板;
所述被测光纤还适于将不满足布拉格条件的波长透过所述被测光栅传输至遮光板。
4.如权利要求1所述的光纤光栅测试系统,其特征在于,所述光纤光栅测试系统还包括泵浦源;
所述泵浦源适于产生泵浦光通过所述合束器传输到所述被测光纤光栅;
所述被测光纤光栅适于将满足布拉格条件的波长的泵浦光进行反射,且反射光通过合束器、环形器传输到光谱仪上。
5.如权利要求1所述的光纤光栅测试系统,其特征在于,
所述环形器、合束器、被测光纤光栅设置于一个散热片上。
6.一种光纤光栅性能测试方法,其特征在于,所述光纤光栅性能测试方法通过将ASE光源产生的宽带光谱传输至被测光纤光栅,并对被测光纤光栅的反射光通过光谱仪进行分析,从而完成对光栅的性能测试。
7.如权利要求6所述的光纤光栅性能测试方法,其特征在于,所述通过将ASE光源产生的宽带光谱传输至被测光纤光栅的方法为所述ASE光源产生的宽带光谱依次通过环形器、合束器传输到所述被测光纤光栅。
8.如权利要求6所述的光纤光栅性能测试方法,其特征在于,所述对被测光纤光栅的反射光,通过光谱仪进行分析的方法为所述被测光纤光栅适于将满足布拉格条件的波长进行反射,且反射光通过合束器、环形器传输到光谱仪上,所述光谱仪适于对反射光的数据进行测试。
9.如权利要求6所述的光纤光栅性能测试方法,其特征在于,所述光纤光栅性能测试方法还包括:
将泵浦光传输至被测光纤光栅,并对被测光纤光栅的反射光通过光谱仪进行分析,从而完成对光栅在泵浦光下的性能测试。
10.如权利要求9所述的光纤光栅性能测试方法,其特征在于,所述将泵浦光传输至被测光纤光栅的方法为泵浦源适于产生泵浦光通过合束器传输到被测光纤光栅。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201811348432.6A CN109211404A (zh) | 2018-11-13 | 2018-11-13 | 光纤光栅测试系统及光纤光栅性能测试方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201811348432.6A CN109211404A (zh) | 2018-11-13 | 2018-11-13 | 光纤光栅测试系统及光纤光栅性能测试方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN109211404A true CN109211404A (zh) | 2019-01-15 |
Family
ID=64995432
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201811348432.6A Pending CN109211404A (zh) | 2018-11-13 | 2018-11-13 | 光纤光栅测试系统及光纤光栅性能测试方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN109211404A (zh) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112254934A (zh) * | 2020-10-20 | 2021-01-22 | 武汉一三光电科技有限公司 | 光纤光栅滤波器的双向测试系统及方法 |
CN113567090A (zh) * | 2021-09-23 | 2021-10-29 | 武汉锐科光纤激光技术股份有限公司 | 光纤激光器用高功率光栅性能自动测试装置及方法 |
CN113686545A (zh) * | 2021-10-26 | 2021-11-23 | 武汉锐科光纤激光技术股份有限公司 | 一种激光器整机用光栅测试系统 |
CN115541193A (zh) * | 2022-11-29 | 2022-12-30 | 武汉光谷航天三江激光产业技术研究院有限公司 | 一种用于大芯径光纤光栅测试系统及方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2211154A1 (en) * | 2009-01-22 | 2010-07-28 | CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement | Monochromator having a tunable grating |
CN102829958A (zh) * | 2012-08-10 | 2012-12-19 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 精确测量光纤光栅反射率的方法 |
-
2018
- 2018-11-13 CN CN201811348432.6A patent/CN109211404A/zh active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2211154A1 (en) * | 2009-01-22 | 2010-07-28 | CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement | Monochromator having a tunable grating |
CN102829958A (zh) * | 2012-08-10 | 2012-12-19 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 精确测量光纤光栅反射率的方法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN112254934A (zh) * | 2020-10-20 | 2021-01-22 | 武汉一三光电科技有限公司 | 光纤光栅滤波器的双向测试系统及方法 |
CN113567090A (zh) * | 2021-09-23 | 2021-10-29 | 武汉锐科光纤激光技术股份有限公司 | 光纤激光器用高功率光栅性能自动测试装置及方法 |
CN113686545A (zh) * | 2021-10-26 | 2021-11-23 | 武汉锐科光纤激光技术股份有限公司 | 一种激光器整机用光栅测试系统 |
CN115541193A (zh) * | 2022-11-29 | 2022-12-30 | 武汉光谷航天三江激光产业技术研究院有限公司 | 一种用于大芯径光纤光栅测试系统及方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN109211404A (zh) | 光纤光栅测试系统及光纤光栅性能测试方法 | |
Di Mitri et al. | Cancellation of coherent synchrotron radiation kicks with optics balance | |
Jaroszynski et al. | Radiation sources based on laser–plasma interactions | |
Akre et al. | Commissioning the linac coherent light source injector | |
CN105428193B (zh) | 离子注入装置及离子束的调整方法 | |
CN105973871B (zh) | 一种光谱检测元素分布的微区扫描装置及其微区扫描方法 | |
Brinker | Commissioning of the European XFEL injector | |
CN103512868A (zh) | 一种基于光纤波导的微区激光探针成分分析仪 | |
CN106053400B (zh) | 用于测量荧光寿命的装置 | |
Barbisan et al. | Design and preliminary operation of a laser absorption diagnostic for the SPIDER RF source | |
CN110380335A (zh) | 一种基于单点探测器的中远红外外腔激光调试装置及方法 | |
JP2018521444A (ja) | 測定装置及び方法 | |
CN205643850U (zh) | 一种由衰减片调节的激光功率调控装置 | |
CN102393292A (zh) | 一种在保偏光纤中刻写光栅时的光栅参数测量方法及其装置 | |
Aleksandrov | Beam halo characterization and mitigation | |
CN112051456B (zh) | 表征空中测试空间的静区的系统和方法 | |
Łasocha et al. | Experimental Verification of Several Theoretical Models for ChDR Description | |
Rimjaem et al. | Emittance for different bunch charges at the upgraded PITZ facility | |
Bartkowiak et al. | The design of the inelastic neutron scattering mode for the Extreme Environment Diffractometer with the 26 T High Field Magnet | |
KR20180047134A (ko) | 파장 가변 레이저의 파장 잠금 구조 및 파장 가변 레이저의 파장 잠금 방법 | |
England et al. | Experiment to demonstrate acceleration in optical photonic bandgap structures | |
CN105811227A (zh) | 一种飞秒级超平坦超连续谱激光获取方法 | |
CN105717637B (zh) | 由衰减片调节的激光功率调控装置 | |
KR20150032987A (ko) | 다수의 셀프 플라즈마 발광분광기 및 다수의 공정챔버 간의 셀프 플라즈마 발광분광기의 캘리브레이션 장치 및 이를 이용한 캘리브레이션 방법 | |
Grakhova et al. | UWB RoF bench experimental testing with radio link based on phased antenna array |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20190115 |