CN112051456B - 表征空中测试空间的静区的系统和方法 - Google Patents

Abstract

一种用于表征空中测试空间(14)的静区(12)的系统(10)，包括至少一个测量天线(16)和至少一个散射构件(22)。测量天线(16)被配置为至少发射电磁信号。散射构件(22)包括预定义的散射特性。散射构件能够散射电磁信号，以便生成以限定的方式发射的散射电磁信号。此外，描述了一种表征空中测试空间(14)的静区(12)的方法。

Description

表征空中测试空间的静区的系统和方法

技术领域

本发明提供一种用于表征空中测试空间的静区(quiet zone)，特别是静区的质量的系统。此外，本发明提供一种表征空中测试空间的静区，特别是静区的质量的方法。

背景技术

在现有技术中，已知被用于评估空中测试空间(例如，OTA腔室)的静区的质量的系统。然而，已知的系统需要许多不同的测量，其必须以后续方式进行的。通常，这些测量是通过移动参考天线跨过需要表征静区的OTA腔室内的体积来执行的。通常，相应的天线通过射频电缆(RF电缆)连接到信号发生器或者更确切地说信号分析仪，以便将信号(即射频信号)从信号发生器转发到天线，或者更确切地说从天线转发到信号分析仪。

然而，已发现电缆的存在以及在测量期间与天线的移动相关联的电缆的移动生成电磁场扰动和不确定性，其进而对静区的质量的评估产生影响。

为了克服该问题，在现有技术中已知将射频信号变换为光，生成所谓的射频光纤(RF-over-fiber)概念。然而，将射频信号变换为光(即光学信号)通常引入关于动态范围和频率范围的限制，使得对静区的质量的评估仅覆盖关于动态和频率的一定范围。换句话说，对静区的评估(特别是其质量)是有限的。

因此，需要一种确保以可靠并且有成本效益的方式评估空中测试空间的静区的质量的系统和方法。

发明内容

为此需要，本发明提供了一种具有至少一个测量天线和至少一个散射构件的用于表征空中测试空间的静区，特别是静区的质量的系统。测量天线被配置为至少发射电磁信号。散射构件包括预定义的散射特性。散射构件还能够散射电磁信号，以便生成以限定方式发射的散射电磁信号。

因此，该系统包括至少一个与参考散射对象有关的散射构件，因为其具有预定义的散射特性。散射构件位于空中(over-the-air)测试空间内的被测静区内，例如OTA腔室。因此，散射构件由于散射构件的预定义散射特性而生成具有预定义特征的散射场。换句话说，相应的散射构件具有众所周知的散射特性。因此，关于与散射的电磁信号一起生成的电磁信号的了解以及众所周知的和预定义的散射特性确保了可以以可靠的方式评估空中测试空间的静区的质量。

散射构件的众所周知的散射特性导致具有众所周知的特征的散射场，使得与预期的场的偏差是由静区导致的，特别是由影响质量的静区的缺陷导致的。因此，由于对上述参数/特性的了解，可以确定静区的质量。可以根据相位误差、纹波幅度偏差和锥度幅度偏差来测量静区中的场的缺陷。

散射场可以用封闭形式的表达式来描述，该表达式可以在有限数量的操作中评估。

实际上，被连接至放置在被测静区内的天线的射频电缆的影响被移除，因为不需要将这种天线放置在被测静区内(即用于散射电磁信号的测量目的)。

用于测量散射电磁信号的相应天线可以位于静区之外。因为该天线接收散射电磁信号，该天线也可以称为接收天线。

此外，不会发生关于动态范围和/或频率覆盖的限制，当使用光纤射频概念时，该限制会发生，根据该概念，射频信号被转换或更确切地说变换为光以用于测试目的。

相应的散射构件可以足够小以提供静区评估的良好分辨率，但是足够大以确保电磁信号的足够功率被散射回以用于评估目的。

因此，散射构件可以具有与用于测试目的的波长的一部分直到在较高频率下的少数波长有关的尺寸。

一般而言，散射构件的预定义的和众所周知的散射特性对应于由散射构件提供的众所周知的散射函数。

(散射的)电磁信号对应于射频信号(RF信号)。

一个方面提供了散射电磁信号在限定的方向上散射。如以上提及的，散射方向尤其可以取决于散射构件的形状和尺寸。此外，散射方向(即限定的方向)取决于发射到被测静区中的电磁信号的撞击(impinging)角度。

另一个方面提供了至少一个测量天线被配置为也接收散射电磁信号。因此，相同的测量天线用于向被测静区发射电磁信号以及接收散射电磁信号。换句话说，相同的测量天线从发射模式切换到接收模式。单个测量天线可以是可移动的或者更确切地说是被控制为移动到预期接收散射电磁信号的特定接收位置。

可替代地，至少一个测量天线是发射天线，其中该系统包括相对于发射天线单独地形成的接收天线。接收天线被配置为接收散射电磁信号。因此，该系统包括至少两个不同的天线，其被分配给发射操作以及接收操作。两个测量天线(即发射天线和接收天线)都是相对于彼此单独地形成的，使得它们就可以位于相对于被测静区不同的位置。这确保了可以在指向远离发射天线的方向上散射的散射电磁信号可以由接收天线接收。实际上，在测量期间，发射天线和接收天线可以是固定的。

通常，单个天线(即测量天线)可以被设置其被控制为使得其代表发射天线和接收天线，即相应的功能。

此外，该系统可以包括分配给测量天线的反射器。因此，该系统可以具有所谓的紧凑天线测试范围(CATR)，其中反射器被分配给测量天线，特别是发射天线。由发射天线生成的电磁信号被导向反射器，以便被反射到被测静区中。

反射器可以定形为使得电磁信号在到达被测静区时对应于平面波。

可替代地，由于电磁信号的整个行进距离，特别是由于反射器提供的附加信号路径，电磁信号可以作为平面波到达静区。

例如，反射器和测量天线(特别是发射天线)位于公共杆(common bar)上，经由该杆可以单独地设置测量天线和反射器之间的距离。该杆确保可以以预期的方式维持反射器相对于测量天线的相对取向。

通常，紧凑天线测试范围(CATR)经由反射器(或单个抛物面反射器)系统在很短的距离内生成几乎均匀的平面波。

另一个方面提供了至少一个散射构件和/或至少一个测量天线是可移动的，特别是在空中测量期间。因此，散射构件和/或测量天线可以在测量期间移动。因此，可以通过移动散射构件来分析被测静区内的不同位置，以便收集整个被测静区的信息。

例如，至少一个测量天线在测量期间移动，如果相同的测量天线被充当发射天线和接收天线。换句话说，至少一个测量天线被移动到散射电磁信号可以被散射的位置。由于散射构件具有预定义的和众所周知的散射特性的事实，使得散射电磁信号以限定的方式(即在限定的方向上)被发射，因此可以预先知道相应的位置。因此，测量天线被移动到相应的位置，以便确保散射电磁信号被测量天线接收以用于分析目的。测量天线可以被移动，使得测量天线被定位在散射功率足够高的位置。

另一方面提供了散射构件是极化的。因此，当电磁信号被散射构件散射时，散射构件会影响电磁信号(特别是散射的电磁信号)的极化。例如，散射构件被配置为改变极化或至少调整电磁信号的极化。

此外，散射构件可以以限定的方式被分配给包括多个散射构件的散射阵列。建立散射阵列的散射构件可以被布置在矩阵或任何其他规则网格(regular grid)中。多个散射构件的布置也可能对总体散射特性产生影响。换句话说，电磁信号被散射阵列的单独的散射构件以限定的(但是不同的)方式散射。散射方向尤其取决于在散射阵列内的散射构件的特定布置。

另一方面提供了至少一个散射构件具有预定义的形状和/或预定义的表面特性。至少一个散射构件的形状以及表面特性对散射构件的散射特性具有影响，使得散射的电磁信号受到散射构件的相应的参数/特征(即其形状和/或其表面特性)的影响。

散射构件可以涉及金属球或在其外表面上提供有介电材料(特别是涂覆有介电材料)的球。然而，散射构件也可以是圆柱、盘或任何其他形状，旨在用于散射向被测静区发射的电磁信号。

取决于散射构件的形状，散射电磁信号可以在特定方向上(即在限定的方向上)散射，由于散射构件的众所周知的散射特性，导致了散射场是预期的。换句话说，根据散射构件的形状，散射的电磁信号在特定范围内或者更确切地说在场中被散射。

根据另一方面，电磁信号涉及宽带信号。实际上，电磁信号涉及空中发射的无线电信号。电磁信号的带宽很宽，使得电磁信号是宽带信号。通常，电磁信号是非光学信号(即人眼不可见)。

该系统可以包括分析模块，该分析模块与至少一个充当接收天线的测量天线相连接。因此，接收到的散射电磁信号被转发到分析模块以用于分析目的。

另外，该系统可以包括控制模块。控制模块可以被配置为控制至少一个测量天线和/或散射构件，特别是其在空中测量期间的移动。

通常，散射构件可以是仅反射/散射撞击电磁信号的无源散射构件。换句话说，当通过电子电路部件散射电磁信号时，无源散射构件不能有源地调整电磁信号的电磁特性。

此外，本发明提供一种表征空中测试空间的静区(特别是其质量)的方法，具有以下步骤：

-向静区发射电磁信号，至少具有一个具有预定义散射特性的散射构件位于其中，

-通过散射构件散射电磁信号，以便生成散射电磁信号，

-接收散射电磁信号，以及

-分析接收到的散射电磁信号，以便表征空中测试空间的静区，特别是静区的质量。

实际上，电磁信号是在被测静区之外生成的，并且向静区发射，在静区中，所生成的电磁信号撞击在至少一个散射构件上以便被散射。由于散射构件具有预定义的散射特性，因此其确保提供了散射的电磁信号，由于散射构件的预定义的和众所周知的散射特性，该电磁信号以限定的方式被散射。

散射电磁信号被接收天线(例如，以接收模式操作的测量天线)接收。

接收到的散射电磁信号由分析模块进行分析，以便表征空中测试空间的静区。换句话说，静区的特征在于评估局部偏差，因为由于发射的电磁信号以及至少一个散射构件的散射特性被预定义或者更确切地说已知的事实，可以获取撞击波参数。

例如，在分析期间获得与分配给平面波的电磁场的偏差。

一个方面提供了散射的电磁信号在限定的方向上发射。如以上提及的，散射构件具有生成电磁信号的限定的散射的预定义的散射特性。因此，确保了以限定的方式发射散射电磁信号。

另一个方面提供了散射电磁信号被也将电磁信号发射到静区的天线接收。因此，相同测量天线可用于发射和接收目的。换句话说，(单个)测量天线具有发射操作模式以及接收操作模式。

可替代地，散射电磁信号由相对于向静区发射电磁信号的发射天线是单独地形成的接收天线接收。因此，该系统包括两个不同的天线，其中一个天线用于发射目的，而另一个天线用于接收目的。因此，该系统包括发射天线以及接收天线。

此外，向静区发射的电磁信号可以在撞击散射构件之前通过反射器反射。因此，电磁信号由发射天线生成并转发到反射器，该反射器反射向被测静区发射的电磁信号。换句话说，将反射器分配给充当发射天线的测量天线。

附加地或可替代地，散射电磁信号在被接收之前通过反射器被反射。因此，源自散射构件的散射电磁信号在充当接收天线的测量天线接收之前被反射。

此外，在空中测量期间移动至少一个散射构件和/或测量天线。测量天线可以是发射天线和/或接收天线。因此，可以在不同位置分析散射场，以便分析静区内部散射场的均匀性。散射构件的移动确保了电磁信号在静区内以不同方式散射，其中可以评估相应的影响。此外，由于在空中测量期间移动测量天线以便到达不同位置，因此可以分析不同位置。

上述系统可以被配置为执行上述方法。

通常，至少一个测量天线在测量期间不在静区内移动。实际上，测量天线可能会在静区周围移动。

换句话说，静区可以没有任何测量天线。

实际上，该系统被配置为在静区内生成平面波，使得平面波撞击在至少一个散射构件上。

由于散射构件具有预定义的或者更确切地说众所周知的散射特性，因此可以计算所得的散射电磁信号。

即使生成的电磁信号没有作为平面波撞击在散射构件上，也可以假设使用平面波用于确定散射电磁信号的预期场。

根据另一方面，散射构件是有源的。因此，散射构件有源地调整电磁信号的电磁特性。因此，提供了有源散射构件。

特别地，散射构件具有随时间变化的阻抗。该随时间变化阻抗可以通过直流信号或低频信号来确保，其中相应的信号(即直流信号或低频信号)对与测量天线发射的电磁信号相关联的射频信号(RF信号)没有影响。换句话说，直流信号或低频信号是RF不可见的。

例如，至少一个散射构件具有阻抗改变模块，特别是电子电路或电子电路部件，其适当地改变阻抗。换句话说，阻抗变化模块影响散射构件的随时间变化的阻抗。

至少一个散射构件可以包括天线、(小)偶极和/或(小)回路。

天线、(小)偶极和/或(小)回路可以与阻抗变化模块相连接，从而建立有源散射构件。

另外地或可替代地，至少一个散射构件可以由金属制成，从而提供金属结构。

此外，散射构件可以被配置为在散射电磁信号时调制电磁信号。因此，提供了一种调制散射技术，其允许在多个位置同时测量静区均匀性(即其质量)。当散射电磁信号时，(有源)散射构件有源调整电磁信号的电磁特性，使得通过相应的散射构件对电磁信号进行调制。

例如，可以提供多个散射构件，其以单独的方式调制电磁信号，确保由相应的散射构件散射的散射电磁信号可以以明确的方式彼此区分。

通常，每个(有源)散射构件通常在低频下允许调制撞击的电磁信号，从而生成调制的散射场。

例如，可以适当地选择在每个单独的散射构件处的相应的调制和/或频率方案，以便获得区分的散射电磁信号。这允许通过使用标准解调技术将单独的散射构件对每个位置的整个散射场的贡献(contribution)分离。可以以更简单、更有效的方式评估静区的质量。

特别地，由于可以在多个位置同时执行静区均匀性(即静区的质量)的测量，而不会由于在单独的散射构件的各个散射贡献之间的耦合而导致精度过度地减少，评估可以以快速的方式执行。

另一方面，提供了多个散射构件，其被配置为生成正交的散射电磁信号。相应的散射构件被设定，使得它们生成相对于彼此正交的散射电磁信号，从而简化了单独的贡献的解调。换句话说，区分的散射电磁信号可能涉及正交信号。

附图说明

当结合附图时，通过参考以下详细描述，可以更好地理解本发明的主题的前述方面和许多附带的优点，其中：

-图1示出了根据本发明的系统的示意图概要，

-图2示出了图1所示系统使用的紧凑天线测试范围，以及

-图3示出了根据图1的系统要使用的散射阵列。

具体实施方式

下面结合附图阐述的详细描述，其中相似的附图标记指代相似的元件，旨在作为对所公开的主题的各种实施例的描述，而不旨在表示唯一的实施例。在本公开中描述的每个实施例仅仅作为示例或说明来提供，并且不应该被被解释为比其他实施例更优选或更有利。本文提供的说明性示例并非旨在穷举或将本发明的主题限制为所公开的精确形式。

为了本公开的目的，短语“A、B和C中的至少一个”例如是指(A)、(B)、(C)、(A和B)、(A和C)、(B和C)或(A、B和C)，包括列出大于三个元素时的所有进一步可能的排列。换句话说，术语“A和B中的至少一个”通常意指“A和/或B”，即单独的“A”、单独的“B”或“A和B”。

在图1中，示出了系统10，其被用于表征空中测试空间14的静区12。

在所示的实施例中，系统10包括空中测试空间14，该空中测试空间14包含被测试的静区12。

系统10具有至少一个测量天线16。在所示的实施例中，系统10包括两个测量天线16(即发射天线18以及接收天线20)。可替选地，使用一个可以在发射模式和接收模式下操作的单个测量天线16，如稍后将描述的。

将测量天线16分配给空中测试空间14，特别是静区12。因此，测量天线16被配置为向静区12发射电磁信号(例如无线电(频率)信号)并且分别从静区12接收电磁信号。

此外，系统10包括至少一个具有预定义散射特性的散射构件22。散射构件22位于静区12内，使得由发射天线18发送的电磁信号被指向散射构件22，以被散射构件22以限定的方式散射。换句话说，散射构件22散射可能撞击在其表面上的电磁信号，以便生成可以被接收天线20接收的散射电磁信号。

在所示的实施例中，散射构件22是无源的。这意味着，当散射电磁信号时，散射构件22不能有源地调整电磁信号的电磁特性，从而生成散射的电磁信号。

然而，散射特性是众所周知的，使得散射的电磁信号导致在场中其至少可以被预测，例如被计算。

系统10还包括信号发生器24，其与至少一个测量天线16，特别是发射天线18连接。信号发生器24生成被转发到发射天线18以被输出并转发到被测静区12的信号。

此外，系统10包括分析模块26，其与测量天线16(即接收天线20)连接。因此，由接收天线20接收的一个或多个散射电磁信号被转发到分析模块26以用于分析目的。

另外，系统10可以包括分配给信号发生器24和/或分析模块26的控制模块28。

控制模块28还可以连接到至少一个测量天线16和/或散射构件22，如稍后将描述的。

实际上，为评估静区12的质量而执行的测量可以由控制模块28控制，特别是以自动的方式。这意味着系统10的操作器发起评估，其中相应的测量是自动地执行的，或者更确切地说没有任何另外手动输入。

因此，控制模块28被配置为生成并输出以用于预期的方式控制系统10的组件的控制信号。

另外，系统10可以具有分配给测量天线16中的至少一个的反射器30。在所示的实施例中，在建立紧凑天线测试范围32(CATR)的同时，将反射器30分配给发射天线18。

紧凑天线测试范围32的示例在图2中更详细地示出。

反射器30以及发射天线18可以被放置在公共杆34上，其中反射器30或者更确切地说发射天线18可以沿着杆34相对于彼此移动，以便调整反射器30与发射天线18之间的距离。

如上面已经提到的，控制模块28被分配给散射构件22和/或至少一个测量天线16，特别是接收天线20。

实际上，在空中评估测量期间，散射构件22以及接收天线20可以是可移动的。

空中评估测量可以包括以随后的方式执行的一系列不同的空中测量。

控制模块28可以控制散射构件22在静区12和/或测量天线16内的移动，以便将测量天线16(特别是接收天线20)定位在相对于静区12的不同位置处，确保测量天线16(即接收天线20)接收散射的电磁信号。

在到达的不同位置处，可以执行至少一项空中测量。因此，在不同位置处进行了多个空中测量，其一起建立了空中评估测量。

在图3中，示出了散射构件22的特定实施例。

散射构件22是散射阵列36的一部分，该散射阵列36以限定的方式包括多个散射构件22。例如，散射构件22被布置成矩阵或者更确切地说规则网格，使得源自发射天线18的电磁信号被散射阵列36的规则地布置的散射构件22以限定的方式散射。

源自发射天线18的电磁信号撞击在散射构件22的相应的表面上，以便以限定的方式被散射。

为此目的，散射构件22可以具有预定义的形状和/或预定义的表面特性，以确保特定预定义的散射特性。

特别地，单独的散射构件22的散射特性均是预定义的并且是众所周知的，使得单独的散射构件22对导向静区12的平面波的影响可以被计算。

因此，可以通过考虑散射构件22的众所周知的和预定义的散射特性以及所生成或更确切地说被发射的电磁信号来评估静区12的质量。

接收天线20接收散射的电磁信号，该电磁信号也被考虑用于表征静区12，特别是其质量。

实际上，系统10被用于通过引入放置在被测的静区12中的参考散射构件来表征空中测试空间14的静区12。在测量期间，至少一个散射构件22或者更确切地说散射阵列36是放置在静区12内的唯一物体。

为了表征目的，电磁信号，例如无线电(频率)信号(特别是宽带信号)由信号发生器24生成并通过发射天线18向静区12发射。

如果提供了分配给发射天线18的反射器30，则所发射的电磁信号被反射器30反射，以便向静区1反射。因此，当信号路径通过反射器30延伸，尤其是在反射器30与发射天线18之间的附加信号路径延伸时，可以在紧凑范围内生成平面波。

生成的电磁信号的至少一部分到达位于静区12中的散射构件22。如上所述，散射构件22具有预定义的散射特性，使得散射的电磁信号限定的方向导向，从而导致一个或多个散射电磁信号的场。

可以预测(一个或多个)散射电磁信号的功率分布，使得可以将接收天线20放置在预期具有相对较高功率的散射电磁信号所处的位置。

接收天线20接收散射的电磁信号，并且将接收的散射的电磁信号转发给分析模块26以用于分析目的。

为了分析的目的，假设散射构件22的散射特性是已知的。因此，可以获得撞击波参数，以便评估来自平面波的局部偏差。

该信息被用于表征静区12的质量。

为了改善表征，散射构件22可以在静区12内四处移动，以便位于静区12内的不同位置。因此，可以获取更多的数据，这些数据可以进行评估以用于表征目的。

此外，散射构件22可以是如图3所示的散射阵列36的一部分，使得散射构件22的矩阵或者更确切地说网格被提供。散射阵列36确保生成具有不同特性的散射电磁信号的场。

即使仅使用单个(静止的)散射构件22，也可以通过在空中测量期间移动至少一个接收天线22来感测不同的位置。换句话说，可以在空中测量期间移动至少一个接收天线22，以获得不同位置处的信息。

通过考虑多个不同的位置来接收一个或多个散射电磁信号，可以分析静区12内的散射场的均匀性。

因此，可以以可靠和有成本效益的方式表征静区12，特别是其质量。

此外，至少一个散射构件22可以是有源的。

这意味着，当散射撞击在散射构件22上的电磁信号时，散射构件22主动地调整电磁信号的电磁特性，从而生成散射的电磁信号。

由于有源散射构件22有源地调整电磁信号的电磁特性，因此散射的电磁信号可以对应于调制的电磁信号，从而调制电磁信号。(有源)散射构件22通常在低频下允许调制撞击的电磁信号，从而生成调制的散射场。

在多个散射构件22位于静区12中的情况下，例如通过散射阵列36，在散射撞击到相应的散射构件22的电磁信号时，每个(有源)散射构件22单独地调整电磁信号的电磁特性。

因此，每个散射构件22不同地(特别是以可区分的方式)调整或者更确切地说调制电磁信号。因此，施加了一种调制散射技术，其允许在多个位置处同时测量静区12的均匀性(即其质量)。

例如，可以提供几个测量天线16，特别是几个接收天线20。可替代地，在测量期间移动单个接收天线20，从而到达不同的位置以在不同的位置处执行相应的测量。

因为由相应的散射构件22散射的散射电磁信号可以以明确的方式彼此区分，例如由于施加在相应的散射构件22上的相应调制和/或频率方案，因此单独的散射构件22对整个散射场的贡献可以通过使用标准解调技术分离或更确切地说确定。

因此，可以以更简单、更有效的方式评估静区12的质量。实际上，由于可以在多个位置处同时执行对静区12的均匀性的测量(即静区12的质量)而不会由于在散射构件22的各种贡献之间耦合而导致精度降低，因此可以以快速的方式执行评估。

特别地，多个散射构件22生成相对于彼此正交的散射电磁信号。这显著地简化了散射构件22的单独的贡献的解调。

至少一个有源散射构件22具有随时间变化的阻抗，该阻抗可以通过施加的直流信号或低频信号来确保，然而该信号不会对用于测量目的的射频(RF)信号产生影响。

例如，至少一个有源散射构件22具有(集成)阻抗变化模块38，例如电子电路或电子电路部件，其影响散射构件22的随时间变化阻抗。

通常，有源散射构件22还可以包括天线、(小)偶极和/或(小)环路，其可以用于通过随时间变化的阻抗来有源地调整电磁信号的电磁特性，以便以限定的方式调制电磁信号。

因此，至少一个有源散射构件22可能不仅由于其预定义的散射特性而将电磁信号散射到限定的方向，而且在以限定的方式散射电磁信号时调整电磁信号的电磁特性。

Claims (15)

1.一种用于表征空中测试空间的静区的系统，包括：

至少一个测量天线和至少一个散射构件，其中所述散射构件位于所述空中测试空间内的被测静区中，其中所述测量天线被配置为至少发射电磁信号，其中由于所述散射构件包括预定义的散射特性，所述散射构件与参考散射对象有关，其中所述散射构件能够散射电磁信号以生成以限定的方式发射的散射电磁信号；并且其中所述系统还包括分析电路，其被配置为分析所述散射电磁信号以便表征所述静区，其是由于散射构件的预定义散射特性导致具有众所周知的特征的散射场，使得与预期场的偏差由静区引起。

2.根据权利要求1所述的系统，其中所述散射电磁信号在限定的方向上散射。

3.根据权利要求1或2所述的系统，其中所述至少一个测量天线被配置为还接收所述散射电磁信号。

4.根据权利要求1或2所述的系统，其中所述至少一个测量天线是发射天线，其中所述系统包括相对于所述发射天线单独地形成的接收天线，并且其中所述接收天线被配置成接收所述散射电磁信号。

5.根据权利要求1或2所述的系统，其中所述系统包括分配给所述测量天线的反射器。

6.根据权利要求1或2所述的系统，其中所述至少一个散射构件或所述至少一个测量天线是能够移动的。

7.根据权利要求1或2所述的系统，其中所述散射构件是极化的。

8.根据权利要求1或2所述的系统，其中所述散射构件是以限定的方式包括多个散射构件的散射阵列的一部分。

9.根据权利要求1或2所述的系统，其中所述至少一个散射构件具有预定义的形状或预定义的表面特性。

10.根据权利要求1或2所述的系统，其中所述电磁信号是宽带信号。

11.一种表征空中测试空间的静区的方法，包括：

向所述静区发射电磁信号，至少一个散射构件位于所述静区中，由于所述散射构件具有预定义的散射特性，所述至少一个散射构件与参考散射对象有关；

通过所述散射构件来散射所述电磁信号，以便生成散射电磁信号，

接收所述散射电磁信号，并且

分析接收到的所述散射电磁信号以便表征所述空中测试空间的静区，其中散射构件的预定义散射特性导致具有众所周知的特征的散射场，使得与预期场的偏差由静区引起。

12.根据权利要求11所述的方法，其中所述散射电磁信号在限定的方向上发射。

13.根据权利要求11或12所述的方法，其中所述散射电磁信号由天线接收，所述天线还向所述静区发射所述电磁信号，或者其中所述散射电磁信号由相对于向所述静区发射电磁信号的发射天线单独地形成的接收天线接收。

14.根据权利要求11或12所述的方法，其中向所述静区发射的所述电磁信号在撞击所述散射构件之前通过反射器被反射或其中所述散射电磁信号在被接收以前通过反射器反射。

15.根据权利要求11或12所述的方法，其中所述至少一个散射构件或测量天线在空中测量期间被移动。