CN109192118B - 键合不良的检测方法和检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种键合不良的检测方法和检测装置，属于显示技术领域，其可至少部分解决现有的发光二极管显示面板与驱动芯片键合不良的检测效率低的问题。本发明的键合不良的检测方法包括在步骤S1，驱动芯片向其全部数据输出引脚输出数据电压，一个数据输出引脚输出第一电平，该数据输出引脚的沿第一方向的第一侧的数据输出引脚输出第二电平，其余数据输出引脚均输出第三电平；在步骤S2，获取该驱动芯片的所有数据输出引脚的电流和；在步骤S3，判断该驱动芯片的数据输出引脚的设定的连续区域内所有数据输出引脚是否均输出过第一电平，如是则转至步骤S4；在步骤S4，根据参考电流值、该驱动芯片的各数据输出引脚对应的电流和确定键合不良的位置和性质。

Description

键合不良的检测方法和检测装置

技术领域

本发明属于显示技术领域，具体涉及一种键合不良的检测方法和一种键合不良的检测装置。

背景技术

在制作发光二极管显示装置时，通常需要将驱动芯片键合在发光二极管显示面板上。其中的一类驱动芯片也称为Source IC，其具有的数据输出引脚与该发光二极管显示面板中的数据接收线键合(也称bonding或绑定)，从而由Source IC向发光二极管显示面板提供数据电压。通常一个发光二极管显示面板对应一个Source IC，当然，如果该发光二极管显示面板的数据接收线数量过大时，也会设置两个或多个Source IC，每个Source IC仅负责驱动其中的部分数据接收线。

现有的检测数据输出引脚与数据接收线之间键合不良的方式是依靠显微镜对这些数据输出引脚逐个查看，这种检测方法效率非常低。

发明内容

本发明至少部分解决现有的驱动芯片与发光二极管显示面板之间键合不良的检测效率低的问题，提供一种键合不良的检测方法和一种键合不良的检测装置。

根据本发明第一方面，提供一种键合不良的检测方法，用于检测显示面板与至少一个驱动芯片之间的键合不良，所述显示面板为发光二极管显示面板并具有多条数据接收线，所述驱动芯片具有多个数据输出引脚，所述数据输出引脚与所述数据接收线一一对应地键合在一起，每个驱动芯片的所述数据输出引脚沿第一方向排列，所述检测方法包括：

在步骤S1中，所述驱动芯片向其全部数据输出引脚输出数据电压，其中，一个数据输出引脚输出第一电平，该数据输出引脚的沿所述第一方向的第一侧的数据输出引脚输出第二电平，其余数据输出引脚均输出第三电平，所述第一电平大于所述第二电平、所述第三电平小于或等于所述第一电平，并且所述第三电平大于或等于所述第二电平；

在步骤S2中，获取该驱动芯片的所有数据输出引脚的电流和，该电流和为当前输出第一电平的数据输出引脚对应的电流和；

在步骤S3中，判断该驱动芯片的所述数据输出引脚的设定的连续区域内所有数据输出引脚是否均输出过所述第一电平，如果否则转至步骤S1并向该连续区域中此前未输出过所述第一电平的一个数据输出引脚输出所述第一电平，如果是则转至步骤S4；

在步骤S4中，根据参考电流值、该驱动芯片的各数据输出引脚对应的电流和确定该驱动芯片的所述数据输出引脚与所述数据接收线的键合不良的位置和性质，其中，所述参考电流值为表征该驱动芯片的各所述数据输出引脚与各所述数据接收线之间均键合合格情况下步骤S2中预期的电流和。

可选地，所述步骤S4包括：在步骤S41中，在各电流和中查找是否存在大于第一阈值的电流和，若是则以大于第一阈值的电流和对应的数据输出引脚作为第一类数据输出引脚，并判定所述第一类数据输出引脚中存在相邻数据输出引脚之间的短路不良，所述第一阈值大于所述参考电流值。

可选地，所述第三电平与所述第一电平和所述第二电平均不等，所述步骤S41具体包括：判定每个所述第一类数据输出引脚均发生相邻数据输出引脚之间的短路不良。

可选地，在步骤S42中，在各电流和中查找是否存在小于第二阈值的电流和，若是则以小于第二阈值的电流和对应的数据输出引脚作为第二类数据输出引脚，并判定所述第二类数据输出引脚中存在数据输出引脚与对应的数据接收线之间的断路不良或者阻抗超标不良，所述第二阈值小于所述参考电流值。

可选地，所述步骤S42具体包括：在所述第二类数据输出引脚中查找对应的电流和中是否存在大于第三阈值的电流和，若是则判定大于所述第三阈值的电流和对应的第二类数据输出引脚中存在发生数据输出引脚与数据接收线阻抗超标不良的数据输出引脚，所述第三阈值小于所述第二阈值；或者在所述第二类数据输出引脚中查找对应的电流和中是否存在小于第四阈值的电流和，若是则判定小于所述第四阈值的电流和对应的第二类数据输出引脚中存在发生数据输出引脚与数据接收线断路不良的数据输出引脚，所述第四阈值小于所述第二阈值。

可选地，所述第三电平与所述第一电平和所述第二电平均不等。

可选地，所述连续区域为该驱动芯片的全部的数据输出引脚。

可选地，所述连续区域为该驱动芯片的依次相邻的部分数据输出引脚。

可选地，所述参考电流值是一个预设的电流值；或者在步骤S4之前所述检测方法还包括获取所述参考电流值的步骤，该步骤包括：对该驱动芯片的各数据输出引脚对应的电流和进行统计计算以得到所述参考电流值，或者所述获取所述参考电流值的步骤包括：选取数据输出引脚与数据接收线的键合全部合格的标准驱动芯片和标准显示面板，所述标准驱动芯片与所述驱动芯片为相同型号的芯片，所述标准显示面板与所述显示面板为相同型号的面板，由该标准驱动芯片向其全部数据输出引脚输出数据电压，其中，一个数据输出引脚输出所述第一电平，该数据输出引脚的沿所述第一方向的第一侧的数据输出引脚输出所述第二电平，其余数据输出引脚均输出所述第三电平，获取该标准驱动芯片的所有数据输出引脚的电流和，根据该电流和确定所述参考电流值。

根据本发明的第二方面，提供一种键合不良的检测装置，用于检测显示面板与至少一个驱动芯片之间的键合不良，所述显示面板为发光二极管显示面板并具有多条数据接收线，所述驱动芯片具有多个数据输出引脚，所述数据输出引脚与所述数据接收线一一对应地键合在一起，每个所述驱动芯片的所述数据输出引脚沿第一方向排列，所述检测装置包括：

显示数据提供单元，用于控制所述驱动芯片向其全部数据输出引脚输出数据电压，其中，一个数据输出引脚输出第一电平，该数据输出引脚的沿所述第一方向的第一侧的数据输出引脚输出第二电平，其余数据输出引脚均输出第三电平，所述第一电平大于所述第二电平、所述第三电平小于或等于所述第一电平，并且所述第三电平大于或等于所述第二电平；

电流和获取单元，获取该驱动芯片的所有数据输出引脚的电流和，该电流和为当前输出第一电平的数据输出引脚对应的电流和；

判断单元，用于判断该驱动芯片的所述数据输出引脚的设定的连续区域内所有数据输出引脚是否均输出过所述第一电平，如果否则控制所述显示数据提供单元向该连续区域中此前未输出过所述第一电平的数据输出引脚输出所述第一电平，如果是则向计算单元发送触发信号；

所述计算单元，用于根据参考电流值、该驱动芯片的各数据输出引脚对应的电流和确定该驱动芯片的所述数据输出引脚与所述数据接收线的键合不良的位置和性质，其中，所述参考电流值为表征该驱动芯片的各所述数据输出引脚与各所述数据接收线之间均键合合格情况下电流和获取单元预期获取的电流和。

根据本发明的第三方面，提供一种键合不良的检测装置，用于检测显示面板与至少一个驱动芯片之间的键合不良，所述显示面板为发光二极管显示面板并具有多条数据接收线，所述驱动芯片具有多个数据输出引脚，所述数据输出引脚与所述数据接收线一一对应地键合在一起，每个驱动芯片的所述数据输出引脚沿第一方向排列，所述检测装置包括存储器和处理器，所述存储器存储指令，所述处理器用于运行所述指令以执行根据本发明第一方面的检测方法。

附图说明

图1为驱动芯片与显示面板键合不良的示意图；

图2为本发明的实施例的键合不良的检测方法中得到的键合不良情况下的电流和的分布图；

图3为本发明的实施例的一种键合不良的检测方法的流程示意图；

图4为本发明的实施例的键合不良的检测装置的框图；

图5是本发明另一实施例的键合不良的检测装置的框图；

其中，附图标记为：1、驱动芯片；11、数据输出引脚；2、显示面板；21、数据接收线；301、显示数据提供单元；302、电流和获取单元；303、判断单元；304、计算单元；401、存储器；402、处理器。

具体实施方式

为使本领域技术人员更好地理解本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细描述。

实施例1：

本实施例提供一种键合不良的检测方法，用于检测显示面板2与至少一个驱动芯片1之间的键合不良。图1示出的是该显示面板2与驱动芯片1之间键合不良的几种情况的示意图。该显示面板2为发光二极管显示面板并具有多条数据接收线21。显示面板中的发光二极管可以是有机发光二极管，也可以是无机的微发光二极管。这些数据接收线21接收数据电压并将这些数据电压传递到该显示面板2的亚像素中，驱动这些亚像素发出与该数据电压对应亮度的光。驱动芯片1具有多个数据输出引脚11，数据输出引脚11与数据接收线21一一对应地键合在一起，每个驱动芯片1的数据输出引脚11沿第一方向排列。按照图1当前视角，第一方向也就是左右的方向。该驱动芯片1可以是源驱动芯片1(Source IC)，当然也可以是集成有源驱动芯片1功能的驱动芯片1。对于一个显示面板2，可以是如图1那样仅有一个驱动芯片1去驱动所有的数据接收线21，当然也可以是例如两个驱动芯片1分别驱动该显示面板2的一半的数据接收线21。各驱动芯片1的键合不良的检测方法相同，故以下的介绍中仅对其中一个驱动芯片1及其驱动的数据接收线21的工作方式进行介绍。实际执行该检测方法的可以是上述的驱动芯片1本身，当然也可以是与该驱动芯片1通信的一个测试仪器。参见图3，该检测方法包括以下步骤。

在步骤S1中，驱动芯片1向其全部数据输出引脚11输出数据电压，其中，一个数据输出引脚11输出第一电平，该数据输出引脚11的沿第一方向的第一侧的数据输出引脚11输出第二电平，其余数据输出引脚11均输出第三电平，第一电平大于第二电平、第三电平小于或等于第一电平，并且第三电平大于或等于第二电平。

也就是驱动芯片1向相邻的两个数据输出引脚11分别输出高电平和低的电平，向其余数据输出引脚11输出的电平可以是该高电平、该第电平、或者介于二者之间的电平。按照图1当前视角，第一方向的第一侧可以是左侧，也可以是右侧。以该第一方向的第一侧为左侧为例，上述相邻的两个数据输出引脚11中，左侧的那个输出低电平、右侧的那个输出高电平。

对于同一个驱动芯片1，每次执行步骤S1时，输出第一电平的数据输出引脚11的编号可能是不同的，但上述位置关系以及第一电平、第二电平、第三电平的值是固定的。

驱动芯片1的各个数据输出引脚11输出特定的数据电压，可以是测试仪器向驱动芯片1提供特定的图像数据，也可以是向驱动芯片1提供特定的指令。以下以测试仪器向驱动芯片1提供特定图像数据为例介绍上述第一电平、第二电平、第三电平对应的图像。

例如向驱动芯片1提供第一测试图片，第一测试图片中第一列像素显示为白色(对应第一电平，该数据电压最大)，第二列像素显示黑色(对应第二电平，该数据电压最小)，其余列像素显示相同灰阶的灰色(对应第三电平，该数据电压介于前两者之间)。或者向驱动芯片1提供第二测试图片，第二测试图片中，第二列像素显示为白色(对应第一电平，该数据电压最大)，第三列像素显示黑色(对应第二电平，该数据电压最小)，其余列像素显示相同灰阶的灰色(对应第三电平，该数据电压介于前两者之间)。

又例如向驱动芯片1提供第一测试图片，第一测试图片中第一列像素显示为白色(对应第一电平，该数据电压最大)，第二列像素显示黑色(对应第二电平，该数据电压最小)，其余列像素显示均显示白色(对应第三电平，该数据电压也是最大的数据电压)。或者向驱动芯片1提供第二测试图片，第二测试图片中，第二列像素显示为白色(对应第一电平，该数据电压最大)，第三列像素显示黑色(对应第二电平，该数据电压最小)，其余列像素显示白色(对应第三电平，该数据电压也是最大的数据电压)。

从每个数据接收线21看去，显示面板2相当于一个接地的电阻。在该驱动芯片1向其全部数据输出引脚11输出数据电压的同时，显示面板2的数据接收线21所连接的亚像素可以是开启的也可以是关闭的。在一个具体的结构中，显示面板2的栅线可以是接收有效电压，也可以是未接收有效电压。只需要保证每次执行步骤S1时，显示面板2的亚像素是否开启保持一致即可，这样每次执行步骤S1时，显示面板2整体呈现的阻抗是一致的。

在步骤S2中，获取该驱动芯片1的所有数据输出引脚11的电流和，该电流和为当前输出第一电平的数据输出引脚11对应的电流和。

现有的发光二极管显示面板2的源驱动芯片1已经具备测量其所有数据输出引脚11的电流和的功能，本方法正是借用这一电流和数据对键合不良进行分析。

在步骤S3中，判断该驱动芯片1的数据输出引脚11的设定的连续区域内所有数据输出引脚11是否均输出过第一电平，如果否则转至步骤S1并向该连续区域中此前未输出过第一电平的一个数据输出引脚11输出第一电平，如果是则转至步骤S4。

可选地，连续区域为该驱动芯片1的全部的数据输出引脚11或者该驱动芯片1的依次相邻的部分数据输出引脚11。

例如本领域技术人员关注的是该驱动芯片1的中部的数据输出引脚11是否存在键合不良，那么只需要让中部的数据输出引脚11均输出过第一电平即可。当然本领域技术人员关注的是该驱动芯片1的全部数据输出引脚11是否存在键合不良，那么需要让每个数据输出引脚11都输出过一次第一电平。

当然，由于输出第一电平和输出第二电平的数据输出引脚11的相对位置关系是确定的，上述步骤S3也可以是：判断该驱动芯片1的数据输出引脚11的设定的连续区域内所有数据输出引脚11是否均输出过第二电平，如果否则转至步骤S1并向该连续区域中此前未输出过第二电平的一个数据输出引脚11输出第二电平，如果是则转至步骤S4。

在步骤S4中，根据参考电流值、该驱动芯片1的各数据输出引脚11对应的电流和确定该驱动芯片1的数据输出引脚11与数据接收线21的键合不良的位置和性质，其中，参考电流值为表征该驱动芯片1的各数据输出引脚11与各数据接收线21之间均键合合格情况下步骤S2中预期的电流和。

以上参考电流值作为一个标准，通过比较各个电流和与这个标准之间的关系可以定位不良的性质以及确切的位置或者确定该不良发生在一个相对小的区域内，从而便于技术人员进一步排查。

参考电流值可以是一个预设的电流值，即该参考电流值可以是一个经验值。

或者在步骤S4之前该检测方法还包括获取参考电流值的步骤。即参考电流值是经测量得到的。以下介绍两种测量方法。

第一种方法是对该驱动芯片1的各数据输出引脚11对应的电流和进行统计计算以得到参考电流值。具体例如取上述电流和的平均值、众数、中位数、方均根等各种计算方法。

第二种方法是选取数据输出引脚11与数据接收线21的键合全部合格的标准驱动芯片和标准显示面板，标准驱动芯片与驱动芯片1为相同型号的芯片，标准显示面板与显示面板2为相同型号的面板，驱动按照与步骤S1中相同的规则输出数据电压，根据这个标准驱动芯片的电流和作为上述参考电流值。具体步骤如下：由该标准驱动芯片向其全部数据输出引脚11输出数据电压，其中，一个数据输出引脚11输出上述的第一电平，该数据输出引脚11的沿第一方向的第一侧的数据输出引脚11输出上述的第二电平，其余数据输出引脚11均输出上述的第三电平，获取该标准驱动芯片的所有数据输出引脚11的电流和，根据该电流和确定参考电流值。

可选地，步骤S4包括：在步骤S41中，在各电流和中查找是否存在大于第一阈值的电流和，若是则以大于第一阈值的电流和对应的数据输出引脚11作为第一类数据输出引脚，并判定第一类数据输出引脚中存在相邻数据输出引脚11之间的短路不良，第一阈值大于参考电流值，第一阈值大于参考电流值。

该第一阈值可以是参考电流值的设定倍数，或者对二者取对数后，第一阈值对应的数值是参考电流值对应的数值的设定倍数，等等。

参加图2，如果发现某个数据输出引脚11输出第一电平时采集到的电流和明显大于参考电流值，那么可以确定出现这种情况的数据输出引脚11中一定存在有数据输出引脚11发生了短路不良。

可选地，第三电平与第一电平和第二电平均不等，步骤S41具体包括：判定每个第一类数据输出引脚均发生相邻数据输出引脚11之间的短路不良。

例如参见图1，当图1中左侧第五个数据输出引脚11输出高电平、第六个数据输出引脚11输出低电平，其余数据输出引脚11输出二者的平均电平时，由于左侧第五个数据输出引脚11与左侧第六个数据输出引脚11之间发生因异物造成的短路不良，此时得到的电流和会明显增大。相比之下，如果图1中左侧第六个数据输出引脚11输出高电平、第七个数据输出引脚11输出低电平，其余数据输出引脚11输出二者的平均电平，那么此时得到的电流和虽然也会比较大，但只是约为前者的一半(左侧第五个数据输出引脚11与最侧第六个数据输出引脚11之间的电压差只是前者的一半，二者这两个数据输出引脚11对电流和的贡献最大)。

可选地，步骤S4包括：在步骤S42中，在各电流和中查找是否存在小于第二阈值的电流和，若是则以小于第二阈值的电流和对应的数据输出引脚11作为第二类数据输出引脚，并判定第二类数据输出引脚中存在数据输出引脚11与对应的数据接收线21之间的断路不良或者阻抗超标不良，第二阈值小于参考电流值。

同第一阈值相类似，该第二阈值可以是参考电流值的设定百分比，或者对二者取对数后，第二阈值对应的数值是参考电流值对应的数值的设定百分比，等等。

参见图2，当某个出现短路不良的数据输出引脚11(例如图1中右侧第一个数据输出引脚11)输出第一电平时与其输出其他电平相比，由于其对地呈现的电阻非常大，此时得到的电流和一定是非常小的(其余情况下第一电平驱动的可能是键合正常的数据输出引脚11，电流和会相对大一些)。同理，当某个出现阻抗过大不良的数据输出引脚11(例如图1中右侧第二个和第三个数据输出引脚11)输出第一电平时与其输出其他电平相比，由于其对地呈现的电阻也是相对较大的(当然该电阻比断路不良时的电阻会小一些)，故可以设置第二阈值将这两类不良筛选出来，但还不能确定具体是断路不良还是阻抗过大。

可选地，步骤S42具体包括：在第二类数据输出引脚中查找对应的电流和中是否存在大于第三阈值的电流和，若是则判定大于第三阈值的电流和对应的第二类数据输出引脚中存在发生数据输出引脚11与数据接收线21阻抗超标不良的数据输出引脚11，第三阈值小于第二阈值。

如此也即是选取一个比第二阈值还小的第三阈值作为标准，在第二类数据输出引脚中查找出是否存在阻抗超标不良。

同理，在第二类数据输出引脚中也可以查找对应的电流和中是否存在小于第四阈值的电流和，若是则判定小于第四阈值的电流和对应的第二类数据输出引脚中存在发生数据输出引脚11与数据接收线21断路不良的数据输出引脚11，第四阈值小于第二阈值。

容易理解，如果同时需要判断第二类数据输出引脚中是否存在阻抗超标和断路不良，那么第四阈值应当小于第三阈值。而如果值判断第二类输出引脚中是否存在阻抗超标或断路，那么第三阈值等于第二阈值，或者第四阈值等于第二阈值。

可选地，第三电平与第一电平和第二电平均不等。对于第一电平、第二电平、第三电平均不等的情况，输出第一电平的数据输出引脚11发生变化时，得到的电流和的变化也会更加明显，更有利于对其进行分析。

实施例2：

参见图4，本实施例提供一种键合不良的检测装置，用于检测显示面板与至少一个驱动芯片之间的键合不良，显示面板为发光二极管显示面板并具有多条数据接收线，驱动芯片具有多个数据输出引脚，数据输出引脚与数据接收线一一对应地键合在一起，每个驱动芯片的数据输出引脚沿第一方向排列。该检测装置至少包括以下单元。

显示数据提供单元301，用于控制驱动芯片向其全部数据输出引脚输出数据电压，其中，一个数据输出引脚输出第一电平，该数据输出引脚的沿第一方向的第一侧的数据输出引脚输出第二电平，其余数据输出引脚均输出第三电平，第一电平大于第二电平、第三电平小于或等于第一电平，并且第三电平大于或等于第二电平。

电流和获取单元302，获取该驱动芯片的所有数据输出引脚的电流和，该电流和为当前输出第一电平的数据输出引脚对应的电流和。

判断单元303，用于判断该驱动芯片的数据输出引脚的设定的连续区域内所有数据输出引脚是否均输出过第一电平，如果否则控制显示数据提供单元向该连续区域中此前未输出过第一电平的数据输出引脚输出第一电平，如果是则向计算单元304发送触发信号。

计算单元304，用于接收到上述触发信号后根据参考电流值、该驱动芯片的各数据输出引脚对应的电流和确定该驱动芯片的数据输出引脚与数据接收线的键合不良的位置和性质，其中，参考电流值为表征该驱动芯片的各数据输出引脚与各数据接收线之间均键合合格情况下电流和获取单元预期获取的电流和。

该检测装置用于执行实施例1的检测方法，具体单元的工作机制以及单元的增减等可参照实施例1。例如该检测装置可以还包括参考电流值确定单元，用于获取或者按照实施例1提供的方法测量或计算得到参考电流值。

实施例3：

参见图5，本实施例提供一种键合不良的检测装置，用于检测显示面板与至少一个驱动芯片之间的键合不良，显示面板为发光二极管显示面板并具有多条数据接收线，驱动芯片具有多个数据输出引脚，数据输出引脚与数据接收线一一对应地键合在一起，每个驱动芯片的数据输出引脚沿第一方向排列。该检测装置包括存储器401和处理器402，存储器401存储指令，处理器402用于运行该指令以执行根据本发明实施例1的检测方法。

具体地，存储器401例如是随机存储器(RAM)或只读存储器(ROM)等能够存储指令的器件。处理器402例如是中央处理器(CPU)等进行运算和控制的器件。

可以理解的是，以上实施方式仅仅是为了说明本发明的原理而采用的示例性实施方式，然而本发明并不局限于此。对于本领域内的普通技术人员而言，在不脱离本发明的精神和实质的情况下，可以做出各种变型和改进，这些变型和改进也视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种键合不良的检测方法，用于检测显示面板与至少一个驱动芯片之间的键合不良，所述显示面板为发光二极管显示面板并具有多条数据接收线，所述驱动芯片具有多个数据输出引脚，所述数据输出引脚与所述数据接收线一一对应地键合在一起，每个驱动芯片的所述数据输出引脚沿第一方向排列，其特征在于，所述检测方法包括：

在步骤S1中，所述驱动芯片向其全部数据输出引脚输出数据电压，其中，一个数据输出引脚输出第一电平，该数据输出引脚的沿所述第一方向的第一侧的数据输出引脚输出第二电平，其余数据输出引脚均输出第三电平，所述第一电平大于所述第二电平、所述第三电平小于或等于所述第一电平，并且所述第三电平大于或等于所述第二电平；

在步骤S2中，获取该驱动芯片的所有数据输出引脚的电流和，该电流和为当前输出第一电平的数据输出引脚对应的电流和；

在步骤S3中，判断该驱动芯片的所述数据输出引脚的设定的连续区域内所有数据输出引脚是否均输出过所述第一电平，如果否则转至步骤S1并向该连续区域中此前未输出过所述第一电平的一个数据输出引脚输出所述第一电平，如果是则转至步骤S4；

在步骤S4中，根据参考电流值、该驱动芯片的各数据输出引脚对应的电流和确定该驱动芯片的所述数据输出引脚与所述数据接收线的键合不良的位置和性质，其中，所述参考电流值为表征该驱动芯片的各所述数据输出引脚与各所述数据接收线之间均键合合格情况下步骤S2中预期的电流和。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤S4包括：

在步骤S41中，在各电流和中查找是否存在大于第一阈值的电流和，若是则以大于第一阈值的电流和对应的数据输出引脚作为第一类数据输出引脚，并判定所述第一类数据输出引脚中存在相邻数据输出引脚之间的短路不良，所述第一阈值大于所述参考电流值。

3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述第三电平与所述第一电平和所述第二电平均不等，所述步骤S41具体包括：判定每个所述第一类数据输出引脚均发生相邻数据输出引脚之间的短路不良。

4.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述步骤S4包括：

在步骤S42中，在各电流和中查找是否存在小于第二阈值的电流和，若是则以小于第二阈值的电流和对应的数据输出引脚作为第二类数据输出引脚，并判定所述第二类数据输出引脚中存在数据输出引脚与对应的数据接收线之间的断路不良或者阻抗超标不良，所述第二阈值小于所述参考电流值。

5.根据权利 要求4所述的检测方法，其特征在于，所述步骤S42具体包括：

在所述第二类数据输出引脚中查找对应的电流和中是否存在大于第三阈值的电流和，若是则判定大于所述第三阈值的电流和对应的第二类数据输出引脚中存在发生数据输出引脚与数据接收线阻抗超标不良的数据输出引脚，所述第三阈值小于所述第二阈值；或者

在所述第二类数据输出引脚中查找对应的电流和中是否存在小于第四阈值的电流和，若是则判定小于所述第四阈值的电流和对应的第二类数据输出引脚中存在发生数据输出引脚与数据接收线断路不良的数据输出引脚，所述第四阈值小于所述第二阈值。

6.根据权利要求4或5所述的检测方法，其特征在于，所述第三电平与所述第一电平和所述第二电平均不等。

7.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述连续区域为该驱动芯片的全部的数据输出引脚。

8.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述参考电流值是一个预设的电流值；

或者在步骤S4之前所述检测方法还包括获取所述参考电流值的步骤，该步骤包括：对该驱动芯片的各数据输出引脚对应的电流和进行统计计算以得到所述参考电流值，或者所述获取所述参考电流值的步骤包括：选取数据输出引脚与数据接收线的键合全部合格的标准驱动芯片和标准显示面板，所述标准驱动芯片与所述驱动芯片为相同型号的芯片，所述标准显示面板与所述显示面板为相同型号的面板，由该标准驱动芯片向其全部数据输出引脚输出数据电压，其中，一个数据输出引脚输出所述第一电平，该数据输出引脚的沿所述第一方向的第一侧的数据输出引脚输出所述第二电平，其余数据输出引脚均输出所述第三电平，获取该标准驱动芯片的所有数据输出引脚的电流和，根据该电流和确定所述参考电流值。

9.一种键合不良的检测装置，用于检测显示面板与至少一个驱动芯片之间的键合不良，所述显示面板为发光二极管显示面板并具有多条数据接收线，所述驱动芯片具有多个数据输出引脚，所述数据输出引脚与所述数据接收线一一对应地键合在一起，每个所述驱动芯片的所述数据输出引脚沿第一方向排列，其特征在于，所述检测装置包括：

显示数据提供单元，用于控制所述驱动芯片向其全部数据输出引脚输出数据电压，其中，一个数据输出引脚输出第一电平，该数据输出引脚的沿所述第一方向的第一侧的数据输出引脚输出第二电平，其余数据输出引脚均输出第三电平，所述第一电平大于所述第二电平、所述第三电平小于或等于所述第一电平，并且所述第三电平大于或等于所述第二电平；

电流和获取单元，获取该驱动芯片的所有数据输出引脚的电流和，该电流和为当前输出第一电平的数据输出引脚对应的电流和；

判断单元，用于判断该驱动芯片的所述数据输出引脚的设定的连续区域内所有数据输出引脚是否均输出过所述第一电平，如果否则控制所述显示数据提供单元向该连续区域中此前未输出过所述第一电平的数据输出引脚输出所述第一电平，如果是则向计算单元发送触发信号；

所述计算单元，用于根据参考电流值、该驱动芯片的各数据输出引脚对应的电流和确定该驱动芯片的所述数据输出引脚与所述数据接收线的键合不良的位置和性质，其中，所述参考电流值为表征该驱动芯片的各所述数据输出引脚与各所述数据接收线之间均键合合格情况下电流和获取单元预期获取的电流和。

10.一种键合不良的检测装置，用于检测显示面板与至少一个驱动芯片之间的键合不良，所述显示面板为发光二极管显示面板并具有多条数据接收线，所述驱动芯片具有多个数据输出引脚，所述数据输出引脚与所述数据接收线一一对应地键合在一起，每个驱动芯片的所述数据输出引脚沿第一方向排列，其特征在于，所述检测装置包括存储器和处理器，所述存储器存储指令，所述处理器用于运行所述指令以执行根据权利要求1-8任意一项所述的检测方法。

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