屏蔽装置
技术领域
本发明涉及测试设备技术领域,具体涉及一种屏蔽装置。
背景技术
PCB板(Printed Circuit Board,印制电路板)或相关电子器件在进行相关测试过程中,由于易受到外界电磁的干扰,因此,通常利用屏蔽装置对外界电磁干扰进行屏蔽或抵消以提高测试的准确性。
传统的屏蔽装置包括设有测试腔的箱体及能够与箱体相配合的盖体,使用过程中,将带测试元件放置于箱体上的测试腔内之后,将盖体罩设于测试腔的开口并利用螺钉等紧固件实现盖体与箱体的配合。传统的屏蔽装置盖体无法与箱体实现紧密的配合,无法做到完全屏蔽,影响测试的准确性。
发明内容
基于此,有必要提供一种屏蔽装置,盖体能够与箱体实现紧密的配合,做到完全屏蔽,提高测试的准确性。
其技术方案如下:
一种屏蔽装置,包括:箱体,所述箱体上设有具有开口的测试腔,所述测试腔的第一侧壁上设有第一密封部;及盖体,所述盖体包括相对的第一端和第二端,所述第一端与所述第一侧壁转动连接,所述第一端上设有能够与所述第一密封部密封配合的第二密封部;其中,当所述盖体处于第一状态时,所述第二端与所述箱体分离、使所述开口与外界连通;当所述盖体处于第二状态时,所述第二密封部与所述第一密封部密封配合、且所述盖体密封所述测试腔。
上述屏蔽装置,使用时,将盖体相对箱体转动打开,此时,盖体处于第一状态,盖体的第二端与箱体相分离,测试腔的开口与外界连通,从而可以将待测试的元件放置于测试腔内;放置完成后,将盖体相对箱体转动使得盖体封闭测试腔的开口,此时盖体处于第二状态,盖体第一端上的第二密封部与箱体上第一侧壁上的第一密封部密封配合,从而使得盖体的第一端能够与第一侧壁进行紧密的配合,使得盖体能够对测试腔实现紧密的密封,进而能够做到完全屏蔽,提高了测试的准确性;同时,盖体与箱体转动连接的形式,不会出现盖体遗失的问题,提升了测试效率。
下面进一步对技术方案进行说明:
在其中一个实施例中,所述第二密封部包括相对的第三端和第四端,所述第三端上设有第一连接孔,所述第四端上设有第二连接孔,所述第一侧壁包括与所述第三端相对应的第五端及与所述第四端相对应的第六端,所述第五端上设有能够与所述第一连接孔相连通的第三连接孔,所述第六端上设有能够与所述第二连接孔相连通的第四连接孔,还包括第一转轴和第二转轴,所述第一转轴依次与所述第三连接孔和所述第一连接孔转动配合,所述第二转轴依次与所述第四连接孔和所述第二连接孔转动配合,使所述盖体能够相对所述箱体绕所述第一转轴的轴线转动。如此设置,能够实现盖体相对箱体的自由转动。
在其中一个实施例中,所述第一转轴设置为第一螺钉,所述第三连接孔设置为能够与所述第一螺钉螺纹配合的第一螺纹孔;所述第二转轴设置为第二螺钉,所述第四连接孔设置为能够与所述第二螺钉螺纹配合的第二螺纹孔。如此设置,使得第一转轴及第二转轴不会从箱体上脱落。
在其中一个实施例中,所述第一连接孔的内径大于或等于所述第一转轴的外径;所述第二连接孔的内径大于或等于所述第二转轴的外径。如此设置,使得盖体相对箱体的转动更加顺畅。
在其中一个实施例中,所述第三连接孔设置为第一沉孔,且所述第一沉孔的头部设置于所述箱体的外壁上;所述第四连接孔设置为第二沉孔,且所述第二沉孔的头部设置于所述箱体的外壁上。如此设置,不会影响屏蔽装置的外观性。
在其中一个实施例中,屏蔽装置还包括第一转接头和第二转接头,所述第一转接头设置于所述第三端上,所述第一转接头上设有所述第一连接孔,且所述第一转接头与所述测试腔的内壁相抵接,所述第二转接头设置于所述第四端上,所述第二转接头上设有所述第二连接孔,且所述第二转接头与所述测试腔的内壁相抵接。如此设置,能够进一步提升测试腔的密封性,提升屏蔽性能。
在其中一个实施例中,所述第一密封部设置为与所述测试腔相连通的密封槽,所述第二密封部设置为能够与所述密封槽密封配合的密封件。
在其中一个实施例中,所述密封槽包括呈夹角设置的第一密封内壁和第二密封内壁,所述密封件包括能够与所述第一密封内壁密封配合的第一密封面和能够与所述第二密封内壁密封配合的第二密封面。双重密封的形式,进一步提升屏蔽性能。
在其中一个实施例中,所述盖体上还设有连接柱,所述连接柱上设有第一内螺纹孔,所述测试腔的底壁上相应设有第五连接孔,所述第五连接孔内设有能够与所述第一内螺纹孔螺纹连接的不脱螺钉。不会出现螺钉丢失的问题,提升操作的便利性。
在其中一个实施例中,所述测试腔的第二侧壁上设有用于安装测试接头的第一安装部,其中,所述第二侧壁与所述第一侧壁相对间隔设置。利用测试接头传输相关信号,做到完全屏蔽。
附图说明
图1为一个实施例的屏蔽装置的结构示意图;
图2为图1的屏蔽装置一视角下的结构示意图;
图3为图2的屏蔽装置A-A方向的剖视图;
图4为图3的屏蔽装置D部分的局部放大图;
图5为图1的屏蔽装置另一视角下的结构示意图;
图6为图5的屏蔽装置B-B方向的剖视图;
图7为图6的屏蔽装置E部分的局部放大图;
图8为图1的屏蔽装置再一视角下的结构示意图;
图9为图8的屏蔽装置C-C方向的剖视图;
图10为图1的屏蔽装置的盖体的结构示意图。
附图标记说明:
100、屏蔽装置,110、箱体,111、第一侧壁,112、测试腔,113、第一密封部,114、第三连接孔,115、第四连接孔,116、第一导向部,117、第五连接孔,118、不脱螺钉,119、第二侧壁,120、盖体,121、第二密封部,122、第一连接孔,123、第二连接孔,124、第一转接头,125、第二转接头,126、第二导向部,127、连接柱,130、第一螺钉,140、第二螺钉,150、测试接头,200、待测试元件,1131、第一密封内壁,1132、第二密封内壁,1151、第二螺纹孔,1211、第一密封面,1212、第二密封面,1271、第一内螺纹孔。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及具体实施方式,对本发明进行进一步的详细说明。应当理解的是,此处所描述的具体实施方式仅用以解释本发明,并不限定本发明的保护范围。
需要说明的是,当元件被称为“设置于”、“固设于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当元件被称为“固设于”另一个元件,或与另一个元件“固定连接”,它们之间可以是可拆卸固定方式也可以是不可拆卸的固定方式。当一个元件被认为是“连接”、“转动连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”、“上”、“下”以及类似的表述只是为了说明的目的,并不表示是唯一的实施方式。
除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的,不是旨在于约束本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
本发明中所述“第一”、“第二”、“第三”等类似用语不代表具体的数量及顺序,仅仅是用于名称的区分。
如图1及图6所示,本发明的一个实施例公开了一种屏蔽装置100,包括:箱体110,箱体110上设有具有开口的测试腔112,测试腔112的第一侧壁111上设有第一密封部113;及盖体120,盖体120包括相对的第一端和第二端,第一端与第一侧壁111转动连接,第一端上设有能够与第一密封部113密封配合的第二密封部121;其中,当盖体120处于第一状态时,第二端与箱体110分离、使开口与外界连通;当盖体120处于第二状态时,第二密封部121与第一密封部113密封配合、且盖体120密封测试腔112。
上述实施例的屏蔽装置100,使用时,将盖体120相对箱体110转动打开,此时,盖体120处于第一状态,盖体120的第二端与箱体110相分离,测试腔112的开口与外界连通,从而可以将待测试元件200放置于测试腔112内;放置完成后,将盖体120相对箱体110转动使得盖体120封闭测试腔112的开口,此时盖体120处于第二状态,盖体120第一端上的第二密封部121与箱体110上第一侧壁111上的第一密封部113密封配合,从而使得盖体120的第一端能够与第一侧壁111进行紧密的配合,使得盖体120能够对测试腔112实现紧密的密封,进而能够做到完全屏蔽,提高了测试的准确性;同时,盖体120与箱体110转动连接的形式,不会出现盖体120遗失的问题,提升了测试效率。
需要进行说明的是,盖体120的第一端与第一侧壁111的转动连接,可以通过铰接的方式实现,也可以通过转轴与孔配合的方式实现,只需满足能够使得盖体120相对箱体110进行转动即可。为了方便放置待测试元件200,测试腔112内还可以设置为多个开槽的形式。
如图3及图4所示,在一个实施例中,第二密封部121包括相对的第三端和第四端,第三端上设有第一连接孔122,第四端上设有第二连接孔123,第一侧壁111包括与第三端相对应的第五端及与第四端相对应的第六端,第五端上设有能够与第一连接孔122相连通的第三连接孔114,第六端上设有能够与第二连接孔123相连通的第四连接孔115,还包括第一转轴和第二转轴,第一转轴依次与第三连接孔114和第一连接孔122转动配合,第二转轴依次与第四连接孔115和第二连接孔123转动配合,使盖体120能够相对箱体110绕第一转轴的轴线转动。如此设置,使得盖体120能够相对箱体110绕第一转轴或第二转轴的轴线上下转动,自由的打开或关闭测试腔112。
如图3及图4所示,在上述任一实施例的基础上,第一转轴设置为第一螺钉130,第三连接孔114设置为能够与第一螺钉130螺纹配合的第一螺纹孔;第二转轴设置为第二螺钉140,第四连接孔115设置为能够与第二螺钉140螺纹配合的第二螺纹孔1151。如此设置,在盖体120相对箱体110转动的过程中,第一螺钉130不会从第三连接孔114中脱落,第二螺钉140不会从第四连接孔115中脱落,保证盖体120能够可靠的相对箱体110转动。
在另一个实施例中,第一连接孔122设置为能够与第一螺钉130螺纹配合的第三螺纹孔,第二连接孔123设置为能够与第二螺钉140螺纹配合的第四螺纹孔。如此,也能够保证第一螺钉130不会从第一连接孔122中脱落,第二螺钉140不会从第二连接孔123中脱落,提高了盖体120相对箱体110转动的可靠性。
在另一个实施例中,第一螺钉130与第一连接孔122和第三连接孔114均螺纹配合,第二螺钉140与第二连接孔123和第四连接孔115均螺纹配合。如此,能够使得第一螺钉130和第二螺钉140更不会脱落,进一步提高了盖体120相对箱体110转动的可靠性。
在上述任一实施例的基础上,第一连接孔122的内径大于或等于第一转轴的外径;第二连接孔123的内径大于或等于第二转轴的外径。如此设置,使得盖体120在相对箱体110进行转动的过程中不会受到很大的阻力,转动能够顺畅的进行。
在上述任一实施例的基础上,第三连接孔114设置为第一沉孔,且第一沉孔的头部设置于箱体110的外壁上;第四连接孔115设置为第二沉孔,且第二沉孔的头部设置于箱体110的外壁上。如此设置,能够使得第一转轴的端部缩进第一沉孔内,使得第二转轴的端部缩进第二沉孔内,不会影响产品的外观性。
如图3及图10所示,在上述任一实施例的基础上,屏蔽装置100还包括第一转接头124和第二转接头125,第一转接头124设置于第三端上,第一转接头124上设有第一连接孔122,且第一转接头124与测试腔112的内壁相抵接,第二转接头125设置于第四端上,第二转接头125上设有第二连接孔123,且第二转接头125与测试腔112的内壁相抵接。如此,第一转接头124能够使得第二密封部121的第三端与测试腔112的内壁实现紧密的配合,第二转接头125能够使得第二密封部121的第四端与测试腔112的内壁实现紧密的配合,进而进一步提升了测试腔112的密封性,进一步加强了完全屏蔽性能,提高了测试的准确性。
如图7所示,在上述任一实施例的基础上,第一侧壁111上还设有第一导向部116,第一端上设有能够与第一导向部116导向配合的第二导向部126。如此设置,能够对盖体120相对箱体110的转动进行导向,使得盖体120在频繁的转动操作之后不会发生径向偏移,保证了盖体120转动的可靠性。
在一个实施例中,第一导向部116设置为弧形导向槽,第二导向部126设置为能够与弧形导向槽滑动配合的弧形凸块。如此设置,不仅能够对盖体120的转动进行导向,而且还能在转动的过程中对盖体120进行支撑,缓解第一转轴或第二转轴受到的径向压力,并且还能进一步提升测试腔112的密封性能,做到完全屏蔽。
在上述任一实施例的基础上,第一密封部113设置为与测试腔112相连通的密封槽,第二密封部121设置为能够与密封槽密封配合的密封件。利用密封件与密封槽的密封配合,从而使得测试腔112能够隔绝外界电磁干扰,实现完全屏蔽,保证测试的准确性。
如图7所示,在一个实施例中,密封槽包括呈夹角设置的第一密封内壁1131和第二密封内壁1132,密封件包括能够与第一密封内壁1131密封配合的第一密封面1211和能够与第二密封内壁1132密封配合的第二密封面1212。利用第一密封面1211与第一密封内壁1131的密封配合以及第二密封面1212与第二密封内壁1132的密封配合,在两个不同平面进行密封配合,进一步的保证了密封的紧密性,提升了第二密封部121与第一密封部113的密封性能,实现完全屏蔽,保证测试的准确性。
在另一个实施例中,密封槽设置为弧形槽,密封件设置为能够与弧形槽相配合的半球形。如此,盖体120相关箱体110转动的过程中,半球形的密封件能够与弧形槽的内壁相互摩擦,使得密封更加紧密,达到完全屏蔽的目的。
如图6、图9及图10所示,在上述任一实施例的基础上,盖体120上还设有连接柱127,连接柱127上设有第一内螺纹孔1271,测试腔112的底壁上相应设有第五连接孔117,第五连接孔117内设有能够与第一内螺纹孔1271螺纹连接的不脱螺钉118。利用不脱螺钉118与第一内螺纹孔1271的螺纹配合,使得盖体120能够紧密的罩设于箱体110上,保证了盖体120对测试腔112的密封性;同时,不脱螺钉118的设置也解决了螺钉易丢失的问题,提高了操作的便利性。
在一个实施例中,沿盖体120的边缘均匀分布有四个连接柱127。从四个连接点将盖体120紧密的与箱体110实现连接,使得盖体120能够紧密的密封测试腔112。在其他实施例中,连接柱127还可以为六个、八个,只需满足能够将盖体120紧密的罩设于箱体110上即可。
进一步地,第五连接孔117设置为第三沉孔,且第三沉孔的头部设置于箱体110的承压面上。如此,不脱螺钉118的头部能够缩进第三沉孔内,不会影响产品的外观性。
如图1、图2、图5及图8所示,在上述任一实施例的基础上,测试腔112的第二侧壁119上设有用于安装测试接头150的第一安装部,其中,第二侧壁119与第一侧壁111相对间隔设置。利用测试接头150对待测试元件200进行信号的传输,例如,对具有微带电路的PCB板进行测试的过程中,利用测试接头150传输微带PCB信号,相比传统的开始通信孔的形式,能够进一步的提升测试腔112的密封效果,做到完全屏蔽,保证测试的准确性。
在一个实施例中,第一安装部包括用于供测试接头150穿过的安装孔和用于固定测试接头150及待测试元件200的连接孔,同时,该连接孔也可以设置为沉孔,使得螺钉等紧固件的头部能够缩进沉孔内,不会影响产品的外观性。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的约束。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。