CN109103600B - 用于天线阵列的相位校准的系统和方法 - Google Patents

用于天线阵列的相位校准的系统和方法 Download PDF

Info

Publication number
CN109103600B
CN109103600B CN201710661333.2A CN201710661333A CN109103600B CN 109103600 B CN109103600 B CN 109103600B CN 201710661333 A CN201710661333 A CN 201710661333A CN 109103600 B CN109103600 B CN 109103600B
Authority
CN
China
Prior art keywords
phase
device under
antenna
antenna elements
measurement unit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201710661333.2A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109103600A (zh
Inventor
法布里西奥·多拉杜
安德里亚斯·莱希纳
昂德里克·巴尔特科
亚当·坦凯伦
科比特·罗威尔
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rohde and Schwarz GmbH and Co KG
Original Assignee
Rohde and Schwarz GmbH and Co KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rohde and Schwarz GmbH and Co KG filed Critical Rohde and Schwarz GmbH and Co KG
Publication of CN109103600A publication Critical patent/CN109103600A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109103600B publication Critical patent/CN109103600B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01Q—ANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q3/00—Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system
    • H01Q3/26—Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system varying the relative phase or relative amplitude of energisation between two or more active radiating elements; varying the distribution of energy across a radiating aperture
    • H01Q3/267—Phased-array testing or checking devices
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing
    • H04B17/10—Monitoring; Testing of transmitters
    • H04B17/11—Monitoring; Testing of transmitters for calibration
    • H04B17/12—Monitoring; Testing of transmitters for calibration of transmit antennas, e.g. of the amplitude or phase
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/02—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S13/00
    • G01S7/40—Means for monitoring or calibrating
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01Q—ANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q3/00—Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system
    • H01Q3/26—Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system varying the relative phase or relative amplitude of energisation between two or more active radiating elements; varying the distribution of energy across a radiating aperture
    • H01Q3/2605—Array of radiating elements provided with a feedback control over the element weights, e.g. adaptive arrays
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing
    • H04B17/0082—Monitoring; Testing using service channels; using auxiliary channels
    • H04B17/0085—Monitoring; Testing using service channels; using auxiliary channels using test signal generators
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B17/00—Monitoring; Testing
    • H04B17/20—Monitoring; Testing of receivers
    • H04B17/21—Monitoring; Testing of receivers for calibration; for correcting measurements
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01Q—ANTENNAS, i.e. RADIO AERIALS
    • H01Q3/00—Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system
    • H01Q3/26—Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system varying the relative phase or relative amplitude of energisation between two or more active radiating elements; varying the distribution of energy across a radiating aperture
    • H01Q3/30—Arrangements for changing or varying the orientation or the shape of the directional pattern of the waves radiated from an antenna or antenna system varying the relative phase or relative amplitude of energisation between two or more active radiating elements; varying the distribution of energy across a radiating aperture varying the relative phase between the radiating elements of an array

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Variable-Direction Aerials And Aerial Arrays (AREA)

Abstract

本发明公开了一种用于天线阵列的相位校准的系统和方法。所述系统包括至少两个天线元件。所述系统还包括：包括所述天线阵列的被测设备、平面波转换器、以及相位测量单元。然而所述被测设备配置成发送或接收具有空间相关相位的测试信号，所述平面波转换器配置成将所述具有空间相关相位的测试信号转换为具有恒定相位的信号。除此之外，所述被测设备或所述相位测量单元配置成从所述具有恒定相位的信号导出用于所述天线阵列的所述相位校准的校准值。

Description

用于天线阵列的相位校准的系统和方法
技术领域
本发明涉及用于包括至少两个天线元件的天线阵列的相位校准的系统和方法。
背景技术
通常，在采用天线阵列(诸如多输入多输出(Multiple Input Multiple Output，MIMO)设备)的无线应用的数量日益增加的时期，对用于以最有效的方式相对于这些天线阵列进行相位校准的系统和方法的需求日益增长，以便允许用于保证所述无线应用的正常功能的高性能且低成本的校准装备。
US 6,771,216 B2涉及用于校准相控阵列天线的方法。不利地，特别相对于天线阵列校准，前述专利文献未考虑将任何信号转换为具有恒定相位的信号，这导致校准过程复杂且无效。
发明内容
因此，需要提供一种用于天线阵列的相位校准的系统和方法，该系统和方法使校准过程特别有效。
根据本发明的第一方面，提供一种用于包括至少两个天线元件的天线阵列的相位校准的系统。所述系统包括：包括所述天线阵列的被测设备、平面波转换器、以及相位测量单元。鉴于所述被测设备配置成发送或接收具有空间相关相位的测试信号，所述平面波转换器配置成将所述具有空间相关相位的测试信号转换为具有恒定相位的信号。除此之外，所述被测设备或所述相位测量单元配置成从所述具有恒定相位的信号导出用于所述天线阵列的所述相位校准的校准值。有利地，用无线电执行相位校准而无任何电缆需求。进一步有利地，出于相位校准的目的，不必移动任何天线。
根据第一方面的第一优选实现形式，包括所述天线阵列的所述被测设备配置成逐步地通过不同相位扫描所述测试信号，所述天线阵列包括所述至少两个天线元件。附加地或可替选地，所述相位测量单元配置成逐步地通过不同相位扫描所述测试信号。
根据第一方面的另一优选实现形式，每个相位扫描步骤触发所述被测设备中的或所述相位测量单元中的样本。
根据第一方面的另一优选实现形式，所述被测设备或所述相位测量单元配置成从具有对应测量的相位值的每个相位扫描步骤导出多个传递系数。
根据第一方面的另一优选实现形式，所述多个传递系数形成用于借助所述被测设备或所述相位测量单元导出校准值的基础。
根据第一方面的另一优选实现形式，所述至少两个天线元件彼此之间的温度差低于7摄氏度、优选地低于5摄氏度、最优选地低于3摄氏度。
根据第一方面的另一优选实现形式，当逐步地扫描所述测试信号的相位时，所述至少两个天线元件彼此之间的温度差低于7摄氏度、优选地低于5摄氏度、最优选地低于3摄氏度。
根据第一方面的另一优选实现形式，所述至少两个天线元件彼此之间的基于温度的相移低于7度相移、优选地低于5度相移、最优选地低于3度相移。
根据第一方面的另一优选实现形式，当逐步地扫描所述测试信号的相位时，所述至少两个天线元件彼此之间的基于温度的相移低于7度相移、优选地低于5度相移、最优选地低于3度相移。
根据本发明的第二方面，提供一种用于被测设备的包括至少两个天线元件的天线阵列的相位校准的方法。所述方法包括如下步骤：借助所述被测设备发送或接收具有空间相关相位的测试信号，借助平面波转换器将所述具有空间相关相位的测试信号转换为具有恒定相位的信号，以及借助所述被测设备或相位测量单元从所述具有恒定相位的信号导出用于所述天线阵列的所述相位校准的校准值。有利地，用无线电执行相位校准而无任何电缆需求。进一步有利地，出于相位校准的目的，不必移动任何天线。
根据第二方面的第一优选实现形式，所述方法还包括如下步骤：借助包括所述天线阵列的所述被测设备逐步地通过不同相位扫描所述测试信号，所述天线阵列包括所述至少两个天线元件。附加地或可替选地，所述方法还包括如下步骤：借助所述相位测量单元逐步地通过不同相位扫描所述测试信号。
根据第二方面的另一优选实现形式，每个相位扫描步骤触发所述被测设备中的或所述相位测量单元中的样本。
根据第二方面的另一优选实现形式，所述方法还包括如下步骤：借助所述被测设备或所述相位测量单元从具有对应测量的相位值的每个相位扫描步骤导出多个传递系数。
根据第二方面的另一优选实现形式，所述多个传递系数形成用于借助所述被测设备或所述相位测量单元导出校准值的基础。
根据第二方面的另一优选实现形式，所述至少两个天线元件彼此之间的温度差低于7摄氏度、优选地低于5摄氏度、最优选地低于3摄氏度。
根据第二方面的另一优选实现形式，当逐步地扫描所述测试信号的相位时，所述至少两个天线元件彼此之间的温度差低于7摄氏度、优选地低于5摄氏度、最优选地低于3摄氏度。
根据第二方面的另一优选实现形式，所述至少两个天线元件彼此之间的基于温度的相移低于7度相移、优选地低于5度相移、最优选地低于3度相移。
根据第二方面的另一优选实现形式，当逐步地扫描所述测试信号的相位时，所述至少两个天线元件彼此之间的基于温度的相移低于7度相移、优选地低于5度相移、最优选地低于3度相移。
附图说明
现在仅通过示例而非限制的方式参照附图进一步阐述本发明的示例性实施方式。附图中：
图1示出本发明的第一方面的示例性实施方式的框图；以及
图2示出本发明的第二方面的示例性实施方式的流程图。
具体实施方式
图1示出了用于天线阵列的相位校准的系统10的示例性实施方式。
根据图1，用于相位校准的所述系统10包括被测设备11，该被测设备11通常包括形成天线阵列12的至少两个(在图示示例中，四个)天线元件13a、13b、13c、13d。
仅出于说明目的示出了四个天线元件。实际上，在一个天线阵列中经常具有多得多的天线元件。此外，系统10包括平面波转换器14和相位测量单元15，该相位测量单元15包括用于无线地发送或接收测试信号的测试天线16。
鉴于被测设备配置成发送或接收尤其具有空间相关相位的测试信号，平面波转换器14配置成将具有空间相关相位的测试信号转换为尤其具有恒定相位的信号。除此之外，被测设备11或相位测量单元15配置成从具有恒定相位的信号导出用于天线阵列12的相位校准的校准值。
此外，被测设备11配置成逐步地通过不同相位扫描尤其具有空间相关相位的测试信号。附加地或可替选地，相位测量单元15配置成逐步地通过不同相位扫描尤其具有空间相关相位的测试信号。
在该背景下，每个相位扫描步骤触发被测设备11中的样本。附加地或可替选地，每个相位扫描步骤触发相位测量单元15中的样本。
此外，被测设备11配置成从具有对应测量的相位值的每个相位扫描步骤导出多个传递系数。附加地或可替选地，相位测量单元15配置成从具有对应测量的相位值的每个相位扫描步骤导出多个传递系数。
除此之外，所述多个传递系数形成用于借助被测设备11或相位测量单元15导出前文提及的校准值的基础。
此外，天线元件13a、天线元件13b、天线元件13c、天线元件13d彼此之间的温度差低于7摄氏度、优选地低于5摄氏度、最优选地低于3摄氏度。
在该背景下，优选地，当逐步地扫描测试信号的相位时，天线元件13a、天线元件13b、天线元件13c、天线元件13d彼此之间的温度差低于7摄氏度、优选地低于5摄氏度、最优选地低于3摄氏度。
附加地或可替选地，天线元件13a、天线元件13b、天线元件13c、天线元件13d彼此之间的基于温度的相移低于7度相移、优选地低于5度相移、最优选地低于3度相移。
在该背景下，尤其当逐步地扫描测试信号的相位时，天线元件13a、天线元件13b、天线元件13c、天线元件13d彼此之间的基于温度的相移低于7度相移、优选地低于5度相移、最优选地低于3度相移。
此外，也在本发明的范围内，应当提及的是，被测设备11尤其可以被看作组合了射频收发器和天线的有源天线系统，这尤其在被测设备发送测试信号的情况下引起由被测设备11生成的测试信号的相位和幅值加权。
在该背景下，测试信号尤其包括来自天线阵列的至少两个天线的至少两个信号，其中，至少一个天线通常为被测设备的一部分，然而其它天线可以为被测设备的一部分或为单独的参考天线。另外，生成测试信号的天线阵列的多个天线中的至少一者添加至少一个、优选地至少两个相移，尤其是随时间的相移。
此外，注意，至少两个天线元件中的多个天线元件或至少两个天线元件可以位于被测设备的近场或远场中。有利地，在该背景下，平面波转换器尤其配置成将近场特性转换为远场特性。附加地或可替选地，平面波转换器尤其配置成将远场特性转换为近场特性。
进一步有利地，如果至少两个天线元件中的多个天线元件或至少两个天线元件位于被测设备的近场中，则关于至少两个天线元件中的所述多个天线元件的或关于至少两个天线元件的相位和幅值加权被配置使得尤其包括来自所述天线元件的组合信号的测试信号具有恒定相位。
此外，优选地通过将相移添加在被测设备中，测试信号中的差别指示相移。有利地，尤其通过添加多个相移，相位差和幅值差可以借助被测设备或相位测量单元来推导以及优选地通过一组矩阵方程来计算。
除此之外，系统(尤其是被测设备或相位测量单元)优选地配置成尤其针对不同温度条件生成用于由被测设备包括的至少两个天线元件中的每一者的相位和幅值校准系数或校准值的查询表。
有利地，本发明的系统(尤其该系统的相位测量单元)可以尤其针对由被测设备包括的单个收发器链和组合收发器链二者同时测量校准值、误差矢量幅值、和等效各向同性辐射功率。
现在参照图2，示出了本发明方法的示例性实施方式的流程图。在第一步骤S200中，借助包括形成天线阵列的至少两个天线元件的被测设备发送或接收具有空间相关相位的测试信号。然后，在第二步骤S201中，借助平面波转换器将具有空间相关相位的测试信号转换为具有恒定相位的信号。最后，在第三步骤S202中，借助被测设备或相位测量单元从具有恒定相位的信号导出用于天线阵列的相位校准的校准值。
尽管上文已描述了本发明的各种实施方式，但是应当理解，仅通过示例而非限制的方式呈现了这些实施方式。在不脱离本发明的精神和范围的前提下，可以根据本文中的公开内容对所公开的实施方式进行多种修改。因此，本发明的宽度和范围不应当受上述实施方式中的任一实施方式限制。而是，本发明的范围应当根据所附权利要求及其等同物来限定。
尽管相对于一个或多个实现方式示出和描述了本发明，但是对于本领域的技术人员来说，在阅读并理解本说明书和附图之后，等同变型和修改将出现。另外，尽管可能已经相对于多个实现方式中的仅一个实现方式公开了本发明的特定特征，但是这类特征可以与其它实现方式的一个或多个其它特征组合，如对于任一给定或特定应用可以为预期的且有利的。

Claims (18)

1.一种用于包括至少两个天线元件的天线阵列的相位校准的系统，所述系统包括：
包括所述天线阵列的被测设备，
平面波转换器，以及
相位测量单元，
其中，所述被测设备配置成发送或接收具有空间相关相位的测试信号，
其中，所述测试信号包括来自所述天线阵列的所述至少两个天线元件的至少两个信号，
其中，至少一个天线元件是所述被测设备的一部分，
其中，至少一个天线元件是单独的参考天线的一部分，
其中，所述平面波转换器配置成将所述具有空间相关相位的测试信号转换为具有恒定相位的信号，以及
其中，所述相位测量单元配置成从所述具有恒定相位的信号导出用于所述天线阵列的所述相位校准的校准值。
2.根据权利要求1所述的系统，
其中，包括所述天线阵列的所述被测设备配置成逐步地通过不同相位扫描所述测试信号，所述天线阵列包括所述至少两个天线元件，或
其中，所述相位测量单元配置成逐步地通过不同相位扫描所述测试信号。
3.根据权利要求2所述的系统，
其中，每个相位扫描步骤触发所述被测设备中的或所述相位测量单元中的样本。
4.根据权利要求2或3所述的系统，
其中，所述相位测量单元配置成从具有对应测量的相位值的每个相位扫描步骤导出多个传递系数。
5.根据权利要求4所述的系统，
其中，所述多个传递系数形成用于借助所述相位测量单元导出校准值的基础。
6.根据权利要求1至3中任一项所述的系统，
其中，所述至少两个天线元件彼此之间的温度差低于7摄氏度。
7.根据权利要求2或3所述的系统，
其中，当逐步地扫描所述测试信号的相位时，所述至少两个天线元件彼此之间的温度差低于7摄氏度。
8.根据权利要求1至3中任一项所述的系统，
其中，所述至少两个天线元件彼此之间的基于温度的相移低于7度相移。
9.根据权利要求2或3所述的系统，
其中，当逐步地扫描所述测试信号的相位时，所述至少两个天线元件彼此之间的基于温度的相移低于7度相移。
10.一种用于被测设备的包括至少两个天线元件的天线阵列的相位校准的方法，所述方法包括如下步骤：
借助所述被测设备发送或接收具有空间相关相位的测试信号，其中，所述测试信号包括来自所述天线阵列的所述至少两个天线元件的至少两个信号，其中，至少一个天线元件是所述被测设备的一部分，并且其中，至少一个天线元件是单独的参考天线的一部分，
借助平面波转换器将所述具有空间相关相位的测试信号转换为具有恒定相位的信号，以及
借助相位测量单元从所述具有恒定相位的信号导出用于所述天线阵列的所述相位校准的校准值。
11.根据权利要求10所述的方法，
其中，所述方法还包括如下步骤：借助包括所述天线阵列的所述被测设备逐步地通过不同相位扫描所述测试信号，所述天线阵列包括所述至少两个天线元件，或
其中，所述方法还包括如下步骤：借助所述相位测量单元逐步地通过不同相位扫描所述测试信号。
12.根据权利要求11所述的方法，
其中，每个相位扫描步骤触发所述被测设备中的或所述相位测量单元中的样本。
13.根据权利要求11或12所述的方法，
其中，所述方法还包括如下步骤：借助所述相位测量单元从具有对应测量的相位值的每个相位扫描步骤导出多个传递系数。
14.根据权利要求13所述的方法，
其中，所述多个传递系数形成用于借助所述相位测量单元导出校准值的基础。
15.根据权利要求10至12中任一项所述的方法，
其中，所述至少两个天线元件彼此之间的温度差低于7摄氏度。
16.根据权利要求11或12所述的方法，
其中，当逐步地扫描所述测试信号的相位时，所述至少两个天线元件彼此之间的温度差低于7摄氏度。
17.根据权利要求10至12中任一项所述的方法，
其中，所述至少两个天线元件彼此之间的基于温度的相移低于7度相移。
18.根据权利要求11或12所述的方法，
其中，当逐步地扫描所述测试信号的相位时，所述至少两个天线元件彼此之间的基于温度的相移低于7度相移。
CN201710661333.2A 2017-06-21 2017-08-04 用于天线阵列的相位校准的系统和方法 Active CN109103600B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US15/629,239 US10658751B2 (en) 2017-06-21 2017-06-21 System and method for phase calibration of an antenna array
US15/629,239 2017-06-21

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109103600A CN109103600A (zh) 2018-12-28
CN109103600B true CN109103600B (zh) 2021-07-02

Family

ID=64693564

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201710661333.2A Active CN109103600B (zh) 2017-06-21 2017-08-04 用于天线阵列的相位校准的系统和方法

Country Status (2)

Country Link
US (1) US10658751B2 (zh)
CN (1) CN109103600B (zh)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109462447A (zh) * 2019-01-28 2019-03-12 南京捷希科技有限公司 通信基站ota射频性能测试方法及系统
CN113938167B (zh) * 2021-10-22 2024-03-15 上海创远仪器技术股份有限公司 实现5g mimo信道模拟器外接电缆校准的系统及其方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101483273A (zh) * 2009-02-24 2009-07-15 中国航天科技集团公司第五研究院第五○四研究所 一种幅度和相位可变的阵列天线的校准方法
CN103701543A (zh) * 2013-12-30 2014-04-02 大唐移动通信设备有限公司 检测天线校准的方法及设备
WO2014148958A1 (en) * 2013-03-20 2014-09-25 Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) Method and arrangement for phase calibration of transmit and/or receive paths of an antenna array
CN106788798A (zh) * 2015-11-23 2017-05-31 中国移动通信集团公司 一种天线校准方法及装置
CN106872932A (zh) * 2017-01-24 2017-06-20 四川九洲电器集团有限责任公司 一种进行相位校准的系统及方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2003019722A1 (en) 2001-08-23 2003-03-06 Paratek Microwave, Inc. Nearfield calibration method for phased array containing tunable phase shifters
US7199753B2 (en) * 2005-06-16 2007-04-03 Raytheon Company Calibration method for receive only phased array radar antenna
CN101483274B (zh) * 2009-02-24 2012-06-13 中国航天科技集团公司第五研究院第五○四研究所 一种相位可变功率检测的阵列天线外校准的方法
EP2372836B1 (en) * 2010-03-18 2017-05-03 Alcatel Lucent Antenna array calibration
JP6464151B2 (ja) 2013-06-07 2019-02-06 ライトポイント・コーポレイションＬｉｔｅＰｏｉｎｔ Ｃｏｒｐｏｒａｔｉｏｎ 無線試験信号を用いて無線周波数無線信号送受信機を試験するためのシステム及び方法
CN105425185A (zh) * 2014-12-30 2016-03-23 北京无线电计量测试研究所 一种平面波幅相性能直角坐标扫描校准系统及方法
US9967081B2 (en) * 2015-12-04 2018-05-08 Hon Hai Precision Industry Co., Ltd. System and method for beamforming wth automatic amplitude and phase error calibration
US10128894B1 (en) * 2017-05-09 2018-11-13 Analog Devices Global Active antenna calibration

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101483273A (zh) * 2009-02-24 2009-07-15 中国航天科技集团公司第五研究院第五○四研究所 一种幅度和相位可变的阵列天线的校准方法
WO2014148958A1 (en) * 2013-03-20 2014-09-25 Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) Method and arrangement for phase calibration of transmit and/or receive paths of an antenna array
CN103701543A (zh) * 2013-12-30 2014-04-02 大唐移动通信设备有限公司 检测天线校准的方法及设备
CN106788798A (zh) * 2015-11-23 2017-05-31 中国移动通信集团公司 一种天线校准方法及装置
CN106872932A (zh) * 2017-01-24 2017-06-20 四川九洲电器集团有限责任公司 一种进行相位校准的系统及方法

Also Published As

Publication number Publication date
US20180375207A1 (en) 2018-12-27
US10658751B2 (en) 2020-05-19
CN109103600A (zh) 2018-12-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1941501B (zh) 智能天线阵的校准方法
US9188618B2 (en) System for simulating electromagnetic environments including a network of a plurality of probes
EP3565134B1 (en) Antenna correction method and device
US20040063469A1 (en) Antenna unit and radio base station therewith
JP2017191033A (ja) Ｍｉｍｏレーダ装置及び車両
JP2019088001A (ja) フェーズドアレイ増幅器線形化
KR102459683B1 (ko) 무선 주파수 모듈에서의 교정장치 및 방법
US11349208B2 (en) Antenna apparatus with switches for antenna array calibration
CN109067476B (zh) 一种多天线系统发射通道校准方法及其校准信号
CN109103600B (zh) 用于天线阵列的相位校准的系统和方法
US20160077158A1 (en) Testing device and its calibration method
CN110873826B (zh) 天线阵列测试电路、相控天线阵列及测试其的方法
US20120281744A1 (en) Method and Arrangement of Delay Calibration for OFDM System
JP2017150938A (ja) 信号処理装置、レーダ装置、およびレーダ装置の設定方法
CN107919922B (zh) 用于测试天线阵列的系统和方法
CN108631886B (zh) 具有数字静区的测量系统和方法
US10908258B2 (en) Method for calibrating an active sensor system
CN111342911B (zh) 校准射频链路的方法和装置
US20180102859A1 (en) Antenna array, method for testing a device under test and test system
CN106532276A (zh) 用于阵列天线系统的温度补偿系统和方法
US10680327B2 (en) Calibration system and method for calibrating an antenna array
EP3465952B1 (en) Method and apparatus for antenna array calibration using on-board receiver
KR20180074542A (ko) 대용량 안테나 시스템에서 안테나 위상 보정 방법 및 장치
CN108075841B (zh) 关于其波束成形行为测试被测设备的测试设备和方法
KR102132629B1 (ko) 빔 제어장치 및 기지국에서 수행되는 빔 제어 방법

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant