CN109062178A - 一种自动化测试方法、装置、测试设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种自动化测试方法、装置、测试设备及存储介质,属于产品测试技术领域。该方法包括:接收测试请求;获取所述测试请求中携带的测试功能项;从预设用例数据库中获取与所述测试功能项相对应的测试参数;运行所述测试参数,开启所述测试功能项的测试。该方法在对测试产品进行测试时,无需手动输入测试参数,用户只需选择需要测试的功能项,软件将自动从预设用例数据库中选择与其对应功能项中的测试用例进行测试,以代替人工手动测试,测试速度明显增加,效率大幅提升,节约了人力成本。
Description
技术领域
本发明属于产品测试技术领域,具体涉及一种自动化测试方法、装置、测试设备及存储介质。
背景技术
脉冲型运动控制卡、控制器的功能测试,主要包含运动功能和IO功能测试。其中,运动功能包含:点位运动、恒速运动、PVT运动、变速变位运动、回原点运动、直线插补运动、圆弧插补运动、螺旋插补运动、连续轨迹运动等。IO功能包含:输出IO、输入IO、专用IO、高速锁存、高速比较、单轴比较、多轴比较、硬件限位、软件限位、编码器、PWM输出等。
目前对运动控制卡、控制器的功能、性能测试,大部分是人工测试。测试人员需对一个功能重复的填写多个测试用例参数(最多用例近百),然后对测试数据采集、分析,再判断测试结论是否正常,最终记录、编写测试报告。往往一个功能测试就得2-3天,整个产品测试下来需1-2个月。
发明内容
鉴于此,本发明的目的在于提供一种自动化测试方法、装置、测试设备及存储介质,以有效地改善上述问题。
本发明的实施例是这样实现的:
第一方面,本发明实施例提供了一种自动化测试方法,包括:接收测试请求;获取所述测试请求中携带的测试功能项;从预设用例数据库中获取与所述测试功能项相对应的测试参数;运行所述测试参数,开启所述测试功能项的测试。
在本发明可选的实施例中,运行所述测试参数,开启所述测试功能项的测试之后,所述方法还包括:获取待测试产品在测试所述测试功能项过程中输出的测试信号;基于所述测试信号生成相应的测试曲线。
在本发明可选的实施例中,基于所述测试信号生成相应的测试曲线之后,所述方法还包括:基于所述测试曲线获得测量参数;将所述测量参数和与所述测量参数相对应的测试参数进行比对,得到比对结果。
在本发明可选的实施例中,得到比对结果之后,所述方法还包括:基于所述比对结果生成测试报告。
在本发明可选的实施例中,从预设用例数据库中获取与所述测试功能项相对应的测试参数之前,所述方法还包括:建立包含测试各个测试功能项所需的测试参数的所述预设用例数据库。
第二方面,本发明实施例还提供了一种自动化测试装置,包括:接收模块,用于接收测试请求;第一获取模块,用于获取所述测试请求中携带的测试功能项;第二获取模块,用于从预设用例数据库中获取与所述测试功能项相对应的测试参数;测试模块,用于运行所述测试参数,开启所述测试功能项的测试。
在本发明可选的实施例中,所述装置还包括:第三获取模块,用于获取待测试产品在测试所述测试功能项过程中输出的测试信号;生成模块,用于基于所述测试信号生成相应的测试曲线。
在本发明可选的实施例中,所述装置还包括:获得模块,用于基于所述测试曲线获得测量参数;比对模块,用于将所述测量参数和与所述测量参数相对应的测试参数进行比对,得到比对结果。
在本发明可选的实施例中,所述装置还包括:报告生成模块,用于基于所述比对结果生成测试报告。
在本发明可选的实施例中,所述装置还包括:建立模块,用于建立包含测试各个测试功能项所需的测试参数的所述预设用例数据库。
第三方面,本发明实施例还提供了一种测试设备包括:存储器和处理器,所述存储器和所述处理器连接;所述存储器用于存储程序;所述处理器用于调用存储于所述存储器中的程序,以执行上述第一方面实施例提供的所述的方法。
第四方面,本发明实施例还提供了一种存储介质,所述存储介质存储有处理器可执行的程序代码于计算机内,所述存储介质包括多条指令,所述多条指令被配置成使所述处理器执行上述第一方面实施例提供的所述的方法。
本发明实施例提供的自动化测试方法,包括:接收测试请求;获取所述测试请求中携带的测试功能项;从预设用例数据库中获取与所述测试功能项相对应的测试参数;运行所述测试参数,开启所述测试功能项的测试。该方法在对测试产品进行测试时,无需手动输入测试参数,用户只需选择需要测试的功能项,软件将自动从预设用例数据库中选择与其对应功能项中的测试用例进行测试,以代替人工手动测试,测试速度明显增加,效率大幅提升,节约了人力成本。
本发明的其他特征和优点将在随后的说明书阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本发明实施例而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。通过附图所示,本发明的上述及其它目的、特征和优势将更加清晰。在全部附图中相同的附图标记指示相同的部分。并未刻意按实际尺寸等比例缩放绘制附图,重点在于示出本发明的主旨。
图1示出了本发明实施例提供的一种测试设备的结构示意图。
图2示出了本发明一实施例提供的一种自动化测试方法的流程图。
图3示出了本发明又一实施例提供的一种自动化测试方法的流程图。
图4示出了本发明实施例提供的一种自动化测试装置的模块示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
因此,以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围,而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
在本发明的描述中,需要说明的是,术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本发明的描述中,还需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
目前对运动控制卡、控制器的功能、性能测试,大部分是人工测试。测试人员需对一个功能重复的填写多个测试用例参数(最多用例近百),然后对测试数据采集、分析,再判断测试结论是否正常,最终记录、编写测试报告。往往一个功能测试就得2-3天,整个产品测试下来需1-2个月。
现有方案存在的不足有:第一,人工测试,由于产品功能多、用例多,从而人工测试的时间长,效率低。第二,出现误测、漏测等影响最终产品质量。第三,人工测试需测试人员有较高的测试水平,需掌握至少一种编程语言,熟练操作各种测试仪器及快速分析所测功能结论,判断该功能是否符合标准。第四,针对不同的产品测试,我们需搭建不同的测试环境,耗时耗力。第五,测试记录可追溯性差、测试报告编写效率低下。
针对以上方案所存在的缺陷,均是发明人在经过实践并仔细研究后得出的结果,因此,上述问题的发现过程以及下文中本发明实施例针对上述问题所提出的解决方案,都应该是发明人在本发明过程中对本发明做出的贡献。
如图1所示,图1示出了本发明实施例提供的一种测试设备100的结构框图。所述测试设备100包括:自动化测试装置110、存储器120、存储控制器130和处理器140。
所述存储器120、存储控制器130、处理器140各元件相互之间直接或间接地电性连接,以实现数据的传输或交互。例如,这些元件相互之间可通过一条或多条通讯总线或信号线实现电性连接。所述自动化测试装置110包括至少一个可以软件或固件(firmware)的形式存储于所述存储器120中或固化在所述测试设备100的操作系统(operating system,OS)中的软件功能模块。所述处理器140用于执行存储器120中存储的可执行模块,例如所述自动化测试装置110包括的软件功能模块或计算机程序。
其中,存储器120可以是,但不限于,随机存取存储器(Random Access Memory,RAM),只读存储器(Read Only Memory,ROM),可编程只读存储器(Programmable Read-Only Memory,PROM),可擦除只读存储器(Erasable Programmable Read-Only Memory,EPROM),电可擦除只读存储器(Electric Erasable Programmable Read-Only Memory,EEPROM)等。其中,存储器120用于存储程序,所述处理器140在接收到执行指令后,执行所述程序,后述本发明实施例任一实施例揭示的流程定义的测试设备100所执行的方法可以应用于处理器140中,或者由处理器140实现。
处理器140可能是一种集成电路芯片,具有信号的处理能力。上述的处理器可以是通用处理器,包括中央处理器(Central Processing Unit,CPU)、网络处理器(NetworkProcessor,NP)等;还可以是数字信号处理器(DSP)、专用集成电路(ASIC)、现场可编程门阵列(FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。可以实现或者执行本发明实施例中的公开的各方法、步骤及逻辑框图。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
其中,需要说明的是,该测试设备100用于对待测试产品(如,脉冲型运动控制卡、控制器等)进行功能测试,在测试时,将该脉冲型运动控制卡安装在该测试设备100上,或者安装在待测试设备上,然后将测试设备100与该待测试设备连接,然后利用安装于该测试设备100上的测试软件对该待测产品进行测试,在测试过程中,利用采集卡(例如PCI5105采集卡)对该待测产品输出的测试信号进行采集,然后对该测试信号进行分析,得到测试结果。其中,该采集卡也可以安装在该测试设备100上。
第一实施例
请参阅图2,为本发明实施例提供的一种应用于上述测试设备100的自动化测试方法,下面将结合图2对其所包含的步骤进行说明。
步骤S101:接收测试请求;
测试设备接收用户发起的测试请求,例如,当需要对某一测试产品的功能进行测试时,建立测试产品与该测试设备的通讯,然后利用安装在测试设备上的测试软件,在用户选择需要测试的测试项目点击启动测试时,或者点击一键测试时,该测试设备便可以接收到用户发起的测试请求。
其中,该测试请求中携带有需要测试的项目,选择单个测试功能项,只测试当前选择功能;选择多个测试项时,将按顺序依次执行。例如,有5个测试项目,用户想测试项目A时,则勾选项目A然后点击启动测试,该软件便自动完成项目A的测试。或者,用户想对所有的项目均测试时,直接点击一键测试,则该软件便自动完成所有项目的测试。
步骤S102:获取所述测试请求中携带的测试功能项;
在接收到用户发起的测试请求后,获取所述测试请求中携带的测试功能项,即获取需要测试的项目。其中,测试的项目为用户勾选的项目,或者为一键测试时,则测试所有的项目。
步骤S103:从预设用例数据库中获取与所述测试功能项相对应的测试参数;
在获取到要测试的项目后,从预设用例数据库中获取与要测试的项目相对应的测试参数。
其中,当测试项目为一个时,则只获取与该测试项目对应的测试参数;当测试项目为多个时,分别获取各个测试项目对应的测试参数,例如,测试项目为两个时,分别为A、B,则获取A对应的参数a,以及获取B对应的参数b。
其中,该预设用例数据库为事先建立的包含测试各个测试功能项所需的测试参数的数据库。即在执行方法之前,还包括:建立包含测试各个测试功能项所需的测试参数的用例数据库,该用例数据库即为所述预设用例数据库。
其中,通过建立用例数据库,使得修改、增加测试用例方便,只需对数据库修改即可。
步骤S104:运行所述测试参数,开启所述测试功能项的测试。
在获取到测试项目对应的测试参数后,运行所述测试参数,开启所述测试功能项的测试。其中,需要说明的是,当测试项目为多个时,顺次运行各个测试项目对应的参数,直至完成所有测试项目的测试,例如,测试项目为3个时,分别为A、B、C,则顺次运行A对应的参数a,完成A的测试后,运行B对应的参数b,完成B的测试后,运行C对应的参数c。
该方法在对测试产品进行测试时,无需手动输入测试参数,用户只需选择需要测试的功能项,软件将自动从预设用例数据库中选择与其对应功能项中的测试用例进行测试,以代替人工手动测试,测试速度明显增加,效率大幅提升,节约了人力成本。
第二实施例
请参阅图3,为本发明实施例提供的一种应用于上述测试设备100的自动化测试方法,下面将结合图3对其所包含的步骤进行说明。
步骤S201:接收测试请求;
该步骤与上述步骤S101相同,具体可参阅上述步骤S101的描述。
步骤S202:获取所述测试请求中携带的测试功能项;
该步骤与上述步骤S102相同,具体可参阅上述步骤S102的描述。
步骤S203:从预设用例数据库中获取与所述测试功能项相对应的测试参数;
该步骤与上述步骤S103相同,具体可参阅上述步骤S103的描述。
步骤S204:运行所述测试参数,开启所述测试功能项的测试;
该步骤与上述步骤S104相同,具体可参阅上述步骤S104的描述。
步骤S205:获取待测试产品在测试所述测试功能项过程中输出的测试信号;
在对某个测试功能进行测试时,获取待测试产品在测试该测试功能项的过程中输出的测试信号。例如,在测试功能A时,则获取在该测试过程中,输出的测试信号。
其中,可以利用采集卡采集待测试产品在测试过程中输出的测试信号,然后再由采集卡将采集到的信号传输给测试设备。
步骤S206:基于所述测试信号生成相应的测试曲线。
获取待测试产品在测试过程中输出的测试信号后,基于该测试信号生成影相对应的测试曲线,例如,运动速度、位置、轨迹、IO等曲线,以便于测试人员直观的观测到测试曲线,了解测试的结果。
作为一种可选的实施方式,基于所述测试信号生成相应的测试曲线之后,所述方法还包括:基于所述测试曲线获得测量参数;将所述测量参数和与所述测量参数相对应的测试参数进行比对,得到比对结果。即,在得到测试曲线后,基于该测试曲线获得该测试曲线中包含的测量参数,然后将该实测得到的测试参数与该预设的测试参数进行比对,得到比对结果。例如,在对项目A进行测试时,会从预设用例数据库中获取与A对应的测试参数a,然后在测试的过程中,会获取到对应的测量参数a′,然后将实测得到的测试参数与该预设的测试参数进行比对,也就是说,将a和a′进行比对,对比两者数据是否一致。
该实施例中,通过对测试曲线进行的分析,得到测试曲线中的实测数据,然后将测试数据预设数据进行比对,通过自动判断将大幅减少误测、漏测用例等,大幅提高最终产品质量。
作为一种可选的实施方式,得到比对结果之后,所述方法还包括:基于所述比对结果生成测试报告。即得到比对结果后,根据对比的结果,例如,两者结果一致,或在允许误差内,则表示测试合格,若两者结果不一致,或不在允许误差内,则表示测试不合格,进而生成测试报告。
其中,该测试报告包括:实测参数和理论参数,以及测试合格与否等内容。
该实施例中,通过对比对结果进行分析,基于设定的测试标准,自动判断该功能是否符合标准,减少测试人员编程、分析、判断、绘图等测试需求。此外,测试数据可追溯性方便,可查询测试数据结果。
本发明实施例还提供了一种自动化测试装置110,如图4所示。该自动化测试装置110,包括:接收模块111、第一获取模块112、第二获取模块113以及测试模块114。
接收模块111,用于接收测试请求。
第一获取模块112,用于获取所述测试请求中携带的测试功能项。
第二获取模块113,用于从预设用例数据库中获取与所述测试功能项相对应的测试参数。
测试模块114,用于运行所述测试参数,开启所述测试功能项的测试。
此外,该自动化测试装置110还包括:第三获取模块、生成模块、获得模块、比对模块、报告生成模块以及建立模块(图中未示出)。
第三获取模块,用于获取待测试产品在测试所述测试功能项过程中输出的测试信号。
生成模块,用于基于所述测试信号生成相应的测试曲线。
获得模块,用于基于所述测试曲线获得测量参数。
比对模块,用于将所述测量参数和与所述测量参数相对应的测试参数进行比对,得到比对结果。
报告生成模块,用于基于所述比对结果生成测试报告。
建立模块,用于建立包含测试各个测试功能项所需的测试参数的所述预设用例数据库。
需要说明的是,本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。
本发明实施例所提供的自动化测试装置110,其实现原理及产生的技术效果和前述方法实施例相同,为简要描述,装置实施例部分未提及之处,可参考前述方法实施例中相应内容。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的装置和方法,也可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,附图中的流程图和框图显示了根据本发明的多个实施例的装置、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上,流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或代码的一部分,所述模块、程序段或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意,在有些作为替换的实现方式中,方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如,两个连续的方框实际上可以基本并行地执行,它们有时也可以按相反的顺序执行,这依所涉及的功能而定。也要注意的是,框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合,可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的系统来实现,或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。
另外,在本发明各个实施例中的各功能模块可以集成在一起形成一个独立的部分,也可以是各个模块单独存在,也可以两个或两个以上模块集成形成一个独立的部分。
所述功能如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,笔记本电脑,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种自动化测试方法,其特征在于,包括:
接收测试请求;
获取所述测试请求中携带的测试功能项;
从预设用例数据库中获取与所述测试功能项相对应的测试参数;
运行所述测试参数,开启所述测试功能项的测试。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,运行所述测试参数,开启所述测试功能项的测试之后,所述方法还包括:
获取待测试产品在测试所述测试功能项过程中输出的测试信号;
基于所述测试信号生成相应的测试曲线。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,基于所述测试信号生成相应的测试曲线之后,所述方法还包括:
基于所述测试曲线获得测量参数;
将所述测量参数和与所述测量参数相对应的测试参数进行比对,得到比对结果。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,得到比对结果之后,所述方法还包括:
基于所述比对结果生成测试报告。
5.根据权利要求1-4任一项所述的方法,其特征在于,从预设用例数据库中获取与所述测试功能项相对应的测试参数之前,所述方法还包括:
建立包含测试各个测试功能项所需的测试参数的所述预设用例数据库。
6.一种自动化测试装置,其特征在于,包括:
接收模块,用于接收测试请求;
第一获取模块,用于获取所述测试请求中携带的测试功能项;
第二获取模块,用于从预设用例数据库中获取与所述测试功能项相对应的测试参数;
测试模块,用于运行所述测试参数,开启所述测试功能项的测试。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
第三获取模块,用于获取待测试产品在测试所述测试功能项过程中输出的测试信号;
生成模块,用于基于所述测试信号生成相应的测试曲线。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:
获得模块,用于基于所述测试曲线获得测量参数;
比对模块,用于将所述测量参数和与所述测量参数相对应的测试参数进行比对,得到比对结果。
9.一种测试设备,其特征在于,包括:存储器和处理器,所述存储器和所述处理器连接;
所述存储器用于存储程序;
所述处理器用于调用存储于所述存储器中的程序,以执行如权利要求1-5任一项所述的方法。
10.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质存储有处理器可执行的程序代码于计算机内,所述存储介质包括多条指令,所述多条指令被配置成使所述处理器执行如权利要求1-5任一项所述的方法。
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