CN108957213B - 电缆测试方法与测试设备 - Google Patents

Abstract

提供了电缆测试方法与测试设备。提供的电缆连通性测试方法，包括：S1：连接电缆的第一电缆插头的针脚，使得第一电缆插头的各针脚形成单向有序连接；S2：向电缆的第二电缆插头的当前测试针脚施加指定信号；S3：从第二电缆插头的其他针脚采集信号；S4：根据采集到所施加的指定信号或同所述指定信号对应的信号的针脚的数量索引第一电缆插头的当前连通针脚；以及S5：记录第二电缆插头的当前测试针脚与第一电缆插头的当前连通针脚相连通。

Description

电缆测试方法与测试设备

技术领域

本申请涉及电缆的连通性测试，具体地，涉及多芯电缆连通性测试的方法与专用测试设备。

背景技术

电子系统中常用到定制的电缆。定制电缆通常包括多根芯线，为特定应用而设计和制造。为了保证可靠性，需要测试电缆的芯线的连通性(导通或断开)。将包含多根芯线的电缆称为多芯电缆，多芯电缆可具有多个电缆插头。

图1展示了多芯电缆的示意图。多芯电缆包括容纳了多根芯线的电缆本体与耦合到电缆本体的多个插头(110、112、120与122)。插头耦合了一个或多个芯线。在图1的例子中，耦合到插头110的芯线，大部分耦合到插头120，也有部分芯线耦合到插头122；耦合到插头112的芯线，大部分耦合到插头122，也有部分芯线耦合到插头120。插头与芯线之间耦合关系的复杂性，给多芯电缆的连通性测试带来挑战。

现有技术的电缆测试方法需要已知每根芯线所耦合的插头及插头的针脚的预期对应关系，然后根据该预期的对应关系，依次检验测试每根芯线所耦合的插头的连通性(预期导通)，以及每根芯线所耦合的插头同其他插头的连通性(预期断开)。

现有技术中，也使用电缆测试仪用来自动测试电缆的连通性。

发明内容

现有技术的电缆测试仪有若干缺点：

(1)需要事先知道各插头的各针脚的耦合关系(将记录各针脚的耦合关系的信息记录载体称为连接关系表)，并按耦合关系进行定制测试；若不知各针脚的耦合关系，则无法实施测试，缺乏通用性；

(2)需要将电缆的所有插头连接到同一台测试仪上才能测试；如果电缆已经布设好，且电缆的两端距离较远，则往往需要将电缆全部拆除才能测试，带来了极大的不便；

(3)常使用指示灯进行通断指示；如果所有针脚/芯线一起测试，指示灯只能体现短路/断路错误，难以体现连接关系错误；如果依次测试各针脚/芯线，则需要人工根据指示灯和连接关系表对比确认连接关系是否正确，导致效率低下。

根据本申请的实施例，无须事先知晓电缆的各线芯与插头/针脚的耦合关系，而通过实施根据本申请实施例的测试方法，获得耦合关系。测试实施过程简便，无须拆除已安装的电缆，即使电缆的各插头被设置在彼此远离的位置，也可进行连通性测试。根据本申请实施例的电缆连通性测试设备通过适配转接头连接待测试电缆的插头，可适用于多种规格的电缆。

根据本申请的第一方面，提供了根据本申请第一方面的第一测试系统，包括有序短接插座；所述有序短接插座包括第一组N个针脚与第一组N个二极管，第一组N个针脚的第m个针脚与第m-1个针脚通过第一组N个二极管的第m-1个二极管耦合，其中来自第m个针脚的电流能够通过第m-1个二极管流向第m-1个针脚；所述N个二极管串联连接；其中N与m是自然数，2<＝m<＝N。

根据本申请第一方面的第一测试系统，提供了根据本申请第一方面的第二测试系统，其中所述有序短接插座还包括第二组N个针脚与第二组N个发光装置；其中第二组N个针脚的第k个针脚通过所述第二组N个发光装置的第k个发光装置耦合到所述第一组N个针脚的第k个针脚，其中k是自然数，且1<＝k<＝N。

根据本申请第一方面的第一或第二测试系统，提供了根据本申请第一方面的第三测试系统，其中所述有序短接插座还包括N个跳线座；第一组N个针脚的第m个针脚通过第m个跳线座耦合到第一组N个二极管的第m-1个二极管。

根据本申请第一方面的第二或第三测试系统，提供了根据本申请第一方面的第四测试系统，其中所述发光装置是发光二极管，或者串联的发光二极管与电阻。

根据本申请第一方面的第一至第四测试系统之一，提供了根据本申请第一方面的第五测试系统，其中所述有序短接插座还包括回路二极管与回路针脚；所述回路二极管的阳极耦合到所述第一组N个二极管的第1个二极管的阴极；所述回路二极管的阴极耦合到所述回路针脚。

根据本申请第一方面的第二至第五测试系统之一，提供了根据本申请第一方面的第六测试系统，其中所述第二组N个引脚与所述回路引脚用于耦合到控制器。

根据本申请第一方面的第一至第六测试系统之一，提供了根据本申请第一方面的第七测试系统，还包括无序短接插座；所述无序短接插座包括P个针脚，所述无序短接插座将所述P个针脚短接在一起；其中P是自然数。

根据本申请第一方面的第七测试系统之一，提供了根据本申请第一方面的第八测试系统，其中所述无序短接插座用于耦合被测试电缆的电缆插头。

根据本申请第一方面的第一至第八测试系统之一，提供了根据本申请第一方面的第九测试系统，还包括：适配转接头；所述适配转接头用于桥接被测试的电缆插头与所述无序短接插座、所述有序短接插座或所述控制器之一。

根据本申请第一方面的第一至第九测试系统之一，提供了根据本申请第一方面的第十测试系统，还包括控制器；当被耦合到被测试的电缆插头，所述控制器向所述电缆插头的针脚之一施加指定的信号，以及从所述电缆插头的其他针脚采集信号。

根据本申请第一方面的第一至第十测试系统之一，提供了根据本申请第一方面的第十一测试系统，其中所述有序短接插座用于耦合被测试电缆的电缆插头。

根据本申请第一方面的第一至第十一测试系统之一，提供了根据本申请第一方面的第十二测试系统，还包括计算机；所述计算机耦合所述测试系统的控制器。

根据本申请的第二方面，提供了根据本申请第二方面的第一电缆连通性测试方法，包括：S1：连接电缆的第一电缆插头的针脚，使得第一电缆插头的各针脚形成单向有序连接；S2：向电缆的第二电缆插头的当前测试针脚施加指定信号；S3：从第二电缆插头的其他针脚采集信号；S4：根据采集到所施加的指定信号或同所述指定信号对应的信号的针脚的数量索引第一电缆插头的当前连通针脚；S5：记录第二电缆插头的当前测试针脚与第一电缆插头的当前连通针脚相连通。

根据本申请第二方面的第一电缆连通性测试方法，提供了根据本申请第二方面的第二电缆连通性测试方法，还包括：选择第二电缆插头的待测试针脚之一作为当前测试针脚；重复步骤S2至步骤S5，以得到当前测试针脚的连通性。

根据本申请第二方面的第一或第二电缆连通性测试方法，提供了根据本申请第二方面的第三电缆连通性测试方法，还包括：第一电缆插头的各针脚具有序号，用二极管连接具有相邻序号的针脚，使得第一电缆插头的各针脚形成单向有序连接。

根据本申请第二方面的第三电缆连通性测试方法，提供了根据本申请第二方面的第四电缆连通性测试方法，还包括：识别第一电缆插头和/或第二电缆插头的一个或多个短接针脚组，将短接针脚组中的针脚从待测试针脚中移除，使得每个短接针脚组仅具有单一待测试针脚。

根据本申请第二方面的第四电缆连通性测试方法，提供了根据本申请第二方面的第五电缆连通性测试方法，根据权利要求4所述的方法，其中每个短接针脚组中保留的待测试针脚是该短接针脚组中序号最小的针脚。

根据本申请第二方面的第四或第五电缆连通性测试方法，提供了根据本申请第二方面的第六电缆连通性测试方法，其中向第一电缆插头的第一针脚施加指定信号；从第一电缆插头的其他针脚采集信号；第一针脚与采集到所施加的指定信号或同指定信号对应的信号的所有针脚组成短接针脚组。

根据本申请第二方面的第四至第六电缆连通性测试方法之一，提供了根据本申请第二方面的第七电缆连通性测试方法，其中向第二电缆插头的第二针脚施加指定信号；从第二电缆插头的其他针脚采集信号；第二针脚与采集到所施加的指定信号或同指定信号对应的信号的所有针脚组成短接针脚组。

根据本申请第二方面的第四至第七电缆连通性测试方法之一，提供了根据本申请第二方面的第八电缆连通性测试方法，还包括：对于第一电缆插头的属于短接针脚组且被从待测试针脚中移除的一个或多个第一被移除针脚，仅使第一电缆插头的排除了第一被移除针脚的其他针脚形成单向有序连接。

根据本申请第二方面的第四至第八电缆连通性测试方法之一，提供了根据本申请第二方面的第九电缆连通性测试方法，其中为识别第一电缆插头的短接针脚组，将第二电缆插头的针脚设为开路；和/或为识别第二电缆插头的短接针脚组，将第一电缆插头的针脚设为开路。

根据本申请第二方面的第一至第九电缆连通性测试方法之一，提供了根据本申请第二方面的第十电缆连通性测试方法，还包括：识别第一电缆插头和/或第二电缆插头的一个或多个未连通针脚，将未连通针脚从待测试针脚中移除。

根据本申请第二方面的第十电缆连通性测试方法，提供了根据本申请第二方面的第十一电缆连通性测试方法，其中向第一电缆插头的第三针脚施加指定信号；从第一电缆插头的其他针脚采集信号；响应于未从第一电缆插头的任何其他针脚采集到所施加的指定信号或同指定信号对应的信号，将第三针脚识别为未连通针脚。

根据本申请第二方面的第十或第十一电缆连通性测试方法，提供了根据本申请第二方面的第十二电缆连通性测试方法，其中向第二电缆插头的第四针脚施加指定信号；从第二电缆插头的其他针脚采集信号；响应于未从第二电缆插头的任何其他针脚采集到所施加的指定信号或同指定信号对应的信号，将第四针脚识别为未连通针脚。

根据本申请第二方面的第十至第十二电缆连通性测试方法之一，提供了根据本申请第二方面的第十三电缆连通性测试方法，其中，为识别第一电缆插头的未连通针脚，将第二电缆插头的所有针脚短接在一起；和/或为识别第二电缆插头的短接针脚组，将第一电缆插头的所有针脚短接在一起。

根据本申请第二方面的第八电缆连通性测试方法，提供了根据本申请第二方面的第十四电缆连通性测试方法，其中根据第一移除针脚的序号，调整当前连通针脚的索引。

根据本申请第二方面的第十四电缆连通性测试方法，提供了根据本申请第二方面的第十五电缆连通性测试方法，其中若序号小于当前连通针脚的索引的第一移除针脚有k个，则将当前连通针脚的索引增加k，其中k为正整数。

根据本申请第二方面的第一至第十五电缆连通性测试方法之一，提供了根据本申请第二方面的第十六电缆连通性测试方法，还包括：展示第一电缆插头的针脚同第二电缆插头的针脚的连通性。

附图说明

当连同附图阅读时，通过参考后面对示出性的实施例的详细描述，将最佳地理解本申请以及优选的使用模式和其进一步的目的和优点，其中附图包括：

图1展示了多芯电缆的示意图；

图2展示了使用根据本申请实施例的电缆测试设备测试多芯电缆连通性的示意图；

图3展示了根据本申请实施例的有序短接插座的示意图；

图4展示了根据本申请实施例的测试电缆连通性的流程图；

图5展示了根据本申请又一实施例的无序短接插座的示意图；

图6A-6C是根据本申请又一实施例的测试电缆连通性的流程图；

图7A展示了识别出电缆插头的彼此短路的针脚的流程图；

图7B展示了根据本申请的再一实施例的测试电缆连通性的流程图；

图8展示了根据本申请另一实施例的有序短接插座的示意图；

图9A展示了A端电缆插头与B端电缆插头的连接关系；

图9B展示了步骤(6)执行完毕后的状态；以及

图10展示了使用根据本申请依然又一实施例的电缆测试设备测试多芯电缆连通性的示意图。

具体实施方式

下面详细描述本申请的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本申请，而不能解释为对本申请的限制。

图2展示了使用根据本申请实施例的电缆测试设备测试多芯电缆连通性的示意图。

多芯电缆200是待测试其连通性的被测试电缆，包括电缆插头210与电缆插头220。电缆插头210与电缆插头220各自包括多个针脚。插头的针脚耦合到多芯电缆的0根、1根或多根芯线，从而电缆插头210的针脚同电缆插头220的针脚的连通性可以是导通或断开。一些情况下，同一电缆插头的不同针脚彼此导通。

根据本申请实施例的电缆测试设备包括短接插座240与控制器242。短接插座240与控制器242是物理上独立的实体，但可协同使用。可选地，电缆测试设备还包括适配转接头(220与222)。适配转接头用于将多种规格的电缆插头转换为统一规格，从而便于耦合到短接插座240或控制器242。依然可选地，短接插座240或控制器242直接耦合到电缆插头(210或212)，而无须使用适配转接头(220与222)。

作为一个例子，适配转接头(220，222)将任意规格的电缆插头转换为128针的标准插头，从而便于同短接插座240与控制器242相连接。可以理解地，适配转接头(220，222)可具有其他数量的针脚，以平衡成本与通用性。电缆插头(210、212)的各针脚被赋予唯一的编号。

以电缆插头210为例，将其各针脚赋予例如从1开始的自然数编号。将适配转接头220的各针脚也赋予从1开始的自然数编号。以及连接电缆插头210与适配转接头220，使得其彼此耦合的针脚各自具有相同的编号。例如，将电缆插头210的1号针脚耦合到适配转接头220的1号针脚，将电缆插头210的2号针脚耦合到适配转接头220的2号针脚……

在一个例子中，电缆插头210的针脚数小于适配转接头220的针脚数，则适配转接头220上多出来的针脚不连接到电缆插头210的任何针脚。

在又一个例子中，电缆插头210的针脚数大于适配转接头220的针脚数，则除了使用适配转接头220，还使用其他一个或多个适配转接头来连接电缆插头210的未连接到适配转接头220的针脚。例如，电缆插头210的针脚数多于128，而适配转接头220的针脚数为128，则将电缆插头210的1-128号针脚连接到适配转接头220的各针脚，而将电缆插头210的129号针脚以及其他编号大于128的针脚按编号顺序依次连接到另一个适配转接头的从1号开始的针脚。

在又一个例子中，多芯电缆的一端有多个电缆插头210，将多个电缆插头210连接到同一个适配转接头220，或者按照上面描述的方式，将多个电缆插头210连接到多个适配转接头220。

为测试连通性，短接插座240被(例如通过适配转接头220，或直接地)连接到电缆插头210；以及控制器242被(例如通过适配转接头222，或直接递)连接到电缆插头212。控制器242在多芯电缆200的一端，而短接插座240位于多芯电缆200的另一端。即使多芯电缆200很长，在测试连通性的过程中，控制器242仅对电缆插头212施加信号与采集信号，而无须再调整短接插座240，从而无须拆卸或(远距离)移动多芯电缆200，从而简化了测试过程。

短接插座240用于将同其耦合的多个针脚(适配转接头220的针脚，或电缆插头210的针脚)单向有序连通。图3展示了根据本申请实施例的有序短接插座的示意图。

有序短接插座(例如，短接插座240，也参看图2)包括多个针脚(311、312、313……31n，其中n为自然数，且n指示了针脚的编号)。作为举例，短接插座的针脚同适配转接头220的针脚数量相同，且一一对应。例如，短接插座的针脚被按用于适配转接头220的同样规则赋予唯一编号，从而短接插座240同适配转接头220相耦合时，短接插座的1-128号针脚被连接到适配转接头220的1-128号针脚。可选地，短接插座被直接耦合到电缆插头210。

有序短接插座内，相邻针脚被通过二极管(321、322……32n-1)相耦合。参看图3，短接插座的1号针脚(311)与2号针脚(312)被通过1号二极管(321)耦合，且设置1号二极管(321)的极性，使得电流从2号针脚(312)得以通过1号二极管(321)流向1号针脚(311)。类似地，短接插座的m号(2<＝m<＝N-1，N为短接插座的针脚数量)针脚与m-1号针脚通过m-1号二极管耦合，且设置m-1号二极管的极性，使得电流从m号针脚得以通过m-1号二极管流向m-1号针脚。从而短接插座通过多个二极管，使短接插座的所有针脚形成单向有序连接，第m号针脚仅同与其相邻的第m+1号针脚与第m-1号针脚连接，且来自第m号针脚的电流仅能流向第m-1号针脚(进而依次流向第m-2至第1号针脚)，而不能流向第m+1号针脚。

通过将图3所示的有序短接插座(例如通过适配转接头220，或直接地)连接到电缆插头210，使得电缆插头210的所有针脚形成单向有序连接，来自电缆插头210的第m号针脚的电流仅能流向第m-1号针脚(进而依次流向第m-2至第1号针脚)，而不能流向第m+1号针脚。

图4展示了根据本申请实施例的测试电缆连通性的流程图。

为测试多芯电缆的连通性，也参看图2，将电缆插头210同有序短接插座(例如，短接240)相连接(410)。可选地，还通过适配转接头220连接电缆插头210与短接插座240(有序短接插座)。通过连接短接插座240(有序短接插座)，使得电缆插头210的各针脚，形成单向有序连接。来自电缆插头210的第m号针脚的电流将流向第m-1号至第1号针脚，来自电缆插头210的第m-1号针脚的电流将流向第m-2号至第1号针脚，依此类推。

将电缆插头212同控制器242连接(420)，从而控制器242可向电缆插头212的每个针脚施加信号，并从每个针脚采集信号。可选地，还通过适配转接头222连接电缆插头212与控制器242。

接下来，控制器242向电缆插头212的针脚施加信号，以测试多芯电缆的连通性。控制器选择电缆插头212的针脚之一(430)，作为当前测试针脚。例如，控制器根据电缆插头212的针脚的编号顺序，选择针脚之一。又例如，控制器随机选择电缆插头212的针脚。

控制器242向被选择的当前测试针脚施加指定的信号，例如方波、正弦波或高电平，使得从同当前测试针脚连通的其他针脚能采集到相应的信号，从而区分同当前测试针脚连通的针脚与同当前测试针脚非连通的针脚。响应于向当前被测试针脚施加了指定的信号，控制器242还从电缆插头212的所有其他针脚采集信号，并识别出采集到所施加的指定信号的其他针脚，以及记录这些其他针脚的数量C(450)。

步骤450中记录的数量C作为索引，唯一确定了同当前测试针脚相连通的电缆插头210的针脚(460)。例如，若向电缆插头212的当前测试针脚P1施加指定信号，而从电缆插头212的其他m个针脚采集到指定信号，则识别出针脚P1同电缆插头210的第m+1号针脚相连通。

接下来，选择电缆插212头另一针脚作为当前测试针脚，从通过重复步骤430-步骤460，将采集到所施加信号的其他针脚的数量作为索引，获得同该另一针脚(当前测试针脚)连通的电缆插头210的针脚。例如，参看图3，若采集到所施加信号的其他针脚的数量是2，则意味着当前测试针脚连接到图3的针脚313；若采集到所施加信号的其他针脚的数量是1，则意味着当前测试针脚连接到图3的针脚312。

重复步骤430-步骤460，直到电缆插头212的所有针脚都作为当前测试针脚完成了连通性测试，并得到了电缆插头212的每个针脚同电缆插头210的针脚的连通关系。

根据本申请的，控制器242仅连接到电缆插头212，无须将电缆插头210也连接到控制器242，从而无须拆卸电缆来实施连通性测试，使得测试过程更加便捷。

一些情况下，电缆插头210和/或电缆插头212的一个或多个针脚未连通到任何其他针脚，从而导致在根据图4展示的实施例的测试流程中，在电缆插头212采集到指定信号的其他针脚的数量m，同电缆插头210的与当前测试针脚具有连通性的针脚的序号可能不是m+1。对此情况，在根据本申请的又一实施例的测试电缆连通性的方法中提供了处理。图5展示了根据本申请又一实施例的无序短接插座的示意图。图6A-6C是根据本申请又一实施例的测试电缆连通性的流程图。

参看图5，无序短接插座(例如，短接插座240，也参看图2)包括多个针脚(511、512、513……51n，其中n为自然数，且n指示了针脚的编号)。作为举例，无序短接插座的针脚同适配转接头220的针脚数量相同，且一一对应。可选地，无序短接插座被直接耦合到电缆插头210。

在图5的例子中，无序短接插座内，相邻针脚被短接。从而无序短接插座的所有针脚彼此连通。作为另一个例子，无序短接插座的各针脚以星形拓扑连接到一起，以使得所有针脚彼此连通。可以理解地，无序短接插座可采用其他连接方式使的所有针脚彼此连通。

通过执行图6A展示的流程，将例如电缆插头212的未连通到任何其他针脚的针脚(称为未连通针脚)排除。将电缆插头210同无序短接插座(例如，短接插座240)相连接，以将电缆插头210的所针脚连通(610)。可选地，还通过适配转接头220连接电缆插头210与短接插座240(无序短接插座)。

将电缆插头212同控制器242连接(612)，从而控制器242可向电缆插头212的每个针脚施加信号，并从每个针脚采集信号。可选地，还通过适配转接头222连接电缆插头212与控制器242。

接下来，控制器242向电缆插头212的针脚施加信号。控制器选择电缆插头212的针脚之一(614)，作为当前测试针脚。响应于向当前测试针脚施加了指定的信号，控制器242还从电缆插头212的所有其他针脚采集信号(616)，并识别出采集到所施加的指定信号的其他针脚，以及记录这些其他针脚的数量C(618)。

若数量C为0，则意味着当前测试针脚为未连通针脚。以及将未连通针脚从电缆插头212的针脚中标记为排除(620)。接下来，控制器242选择电缆插头212的另一针脚作为当前测试针脚，通过重复步骤614-步骤620来得到电缆插头212的所有未连通针脚，并将其标记为排除。

若步骤618中得到的数量C大于0，则意味着当前测试针脚并非未连通针脚，接下来，控制器242选择电缆插头212的另一针脚作为当前测试针脚，通过重复步骤614-步骤620来得到电缆插头212的所有未连通针脚，并将其标记为排除。

以及，通过执行图6B展示的流程，识别出多芯电缆的另一端的电缆插头(例如，210)的所有未连通针脚，并将其标记为排除。

参看图6B，将电缆插头212同无序短接插座(例如，短接插座242)相连接，以将电缆插头212的所针脚连通(640)。

将电缆插头210同控制器242连接(642)，从而控制器242可向电缆插头210的每个针脚施加信号，并从每个针脚采集信号。此时，电缆插头210已同无序短接插头脱离。

接下来，控制器242向电缆插头210的针脚施加信号。控制器选择电缆插头210的针脚之一(644)，作为当前测试针脚。响应于向当前测试针脚施加了指定的信号，控制器242还从电缆插头210的所有其他针脚采集信号(646)，并识别出采集到所施加的指定信号的其他针脚，以及记录这些其他针脚的数量C(648)。

若数量C为0，则意味着当前测试针脚为未连通针脚。以及将未连通针脚从电缆插头210的针脚中标记为排除(650)。接下来，控制器242选择电缆插头210的另一针脚作为当前测试针脚，通过重复步骤644-步骤650来得到电缆插头210的所有未连通针脚，并将其标记为排除。

若步骤648中得到的数量C大于0，则意味着当前测试针脚并非未连通针脚，接下来，控制器242选择电缆插头210的另一针脚作为当前测试针脚，通过重复步骤644-步骤650来得到电缆插头210的所有未连通针脚，并将其标记为排除。

通过执行图6C展示的流程，测试多芯电缆的连通性。在步骤660，通过实施图6A所示的流程，以获取例如电缆插头210的所有非连通针脚，并将其识别出的所有非连通针脚从测试过程中排除。在步骤662，通过实施图6B所示的流程，以获取例如电缆插头212的所有非连通针脚，并将识别出的所有非连通针脚从测试过程中排除。

接下来，通过实施同图4的流程基本一致的步骤664-674来识别电缆插头(212与214)的各针脚的连通性。其中图6C同图4的测试流程的差异在于，在步骤664，仅将电缆插头210的被标记为未连通针脚之外的其他针脚连接到有序短接插座；在步骤668，仅将电缆插头212的被标记为未连通针脚之外的其他针脚连接到控制器242；在步骤670，仅选择电缆插头212中的被标记为未连通针脚之外的其他针脚来实施测试(作为当前测试引针脚)，在步骤672，仅从电缆插头212中的被标记为未连通针脚之外的其他针脚来实施测试(采集信号)。

一些情况下，电缆一端的电缆插头的多个针脚彼此短路。多个针脚短路，可能是由于同一插头的多个针脚彼此搭接，也可能是这些引脚连接到电缆另一插头的相同针脚，以及其他原因造成的短路。对于这些针脚，向其中一个针脚施加指定信号，将从其他针脚中采集到指定信号。然而这些针脚将误导连通性测试。为此，根据本申请的再一实施例，将电缆插头的彼此短路的多个引脚在连通性测试中，视为单一针脚，并需要识别出这些彼此短路的针脚。图7A展示了识别出电缆插头的彼此短路的针脚的流程图，图7B展示了根据本申请的再一实施例的测试电缆连通性的流程图。

以识别电缆插头210的彼此短接的针脚为例，参看图7A，将例如电缆插头212的所有针脚同短接插座242断开(710)。将电缆插头210同控制器242连接(712)，从而控制器242可向电缆插头210的每个针脚施加信号，并从每个针脚采集信号。

接下来，控制器242向电缆插头210的针脚施加信号。控制器选择电缆插头210的针脚之一(714)，作为当前测试针脚。响应于向当前测试针脚施加了指定的信号，控制器242还从电缆插头210的所有其他针脚采集信号(716)，并识别出采集到所施加的指定信号的其他针脚，以及相关联地记录当前测试针脚与这些其他针脚(718)，其中当前测试针脚与这些其他针脚彼此短接(当前测试针脚与这些其他针脚组成短接针脚组)。接下来，控制器242选择电缆插头210的(未被选为当前测试针脚，也未被识别为彼此短接的针脚的)另一针脚作为当前测试针脚，通过重复步骤714-步骤718来得到电缆插头210的所有短接针脚组。

在进行连通性测试时，将彼此短接的多个针脚作为一个针脚进行测试。

还应用图7A展示的流程识别电缆插头212的短接针脚组。

通过执行图7B展示的流程，测试多芯电缆的连通性。在步骤750，通过实施图7A所示的流程，以获取例如电缆插头212的所有短接针脚组。在步骤752，通过实施图7A所示的流程，以获取例如电缆插头210的所有短接针脚组。

在步骤754，通过实施图6A所示的流程，以获取例如电缆插头210的所有非连通针脚，并将其识别出的所有非连通针脚从测试过程中排除。在步骤756，通过实施图6B所示的流程，以获取例如电缆插头212的所有非连通针脚，并将识别出的所有非连通针脚从测试过程中排除。

接下来，通过实施同图6C的流程基本一致的步骤758-766来识别电缆插头(212与210)的各针脚的连通性。其中图7B同图6C的测试流程的差异在于，在步骤758，除了仅将电缆插头210的被标记为未连通针脚之外的其他针脚连接到有序短接插座，以及对于电缆插头210的每个短接针脚组，仅将其中一个针脚连接到有序短接插座；在步骤760，除了仅将电缆插头212的被标记为未连通针脚之外的其他针脚连接到控制器242，以及对于电缆插头212的每个短接针脚组，仅将其中一个针脚连接到控制器242；在步骤762，仅选择电缆插头212中的被连接到控制器242的针脚来实施测试(作为当前测试针脚)，在步骤764，仅从电缆插头212中的被连接到控制器242的针脚来实施测试(采集信号)。

图8展示了根据本申请另一实施例的有序短接插座的示意图。

有序短接插座(例如，短接插座240，也参看图2)包括第一组多个针脚(811、812、813……81n，其中n为自然数，且n指示了针脚的编号)，以及第二组多个针脚(841、842、843……84n，其中n为自然数，且n指示了针脚的编号)。第一组多个针脚的每个同第二组多个针脚的每个一一对应。例如，第一组的针脚同第二组中具有相同编号的针脚相耦合。

有序短接插座的第一组针脚用于耦合适配转接头或电缆插头。有序短接插座的针脚同适配转接头220的针脚数量相同，且一一对应。可选地，有序短接插座被直接耦合到电缆插头210。

有序短接插座的第二组针脚用于耦合控制器。

有序短接插座内，第一组针脚的相邻针脚被通过第一组二极管(821、822……82n-1)相耦合。从而有序短接插座通过第一组二极管，使短接插座的第一组针脚的所有针脚形成单向有序连接。在第一组针脚的每个针脚与对应的二极管之间通过跳线座连接。参看图8，有序短接插座包括多个跳线座(831、832、……83n)。跳线座同第一组针脚的每个针脚一一对应。跳线座被设置了跳线帽时，跳线座的两端导通；跳线座的跳线帽被取下后，跳线座的两端断开。通过设置跳线座，使得易于将有序短接插座的一个或多个针脚同有序短接插座的二极管断开。

通过将图8所示的有序短接插座(例如通过适配转接头220，或直接地)的第一组针脚连接到电缆插头210，使得电缆插头210的所有针脚形成单向有序连接，来自电缆插头210的第m号针脚的电流仅能流向第m-1号针脚(进而依次流向第m-2至第1号针脚)，而不能流向第m+1号针脚。

第二组针脚的每个针脚通过发光装置(851、852、853……85n)连接到第一组针脚的对应针脚，以及第一组二极管的序号最小的二极管(821)的阴极还耦合到回路二极管820的阳极，回路二极管820的阴极还耦合到回路针脚840。从而在第二组针脚的每个针脚、发光装置、第一组二极管之间形成回路，使得当第二组针脚的一个或多个针脚被施加了电信号时，有机会通过回路而使发光装置发光。发光装置用于向用户指示对应的第二组针脚的一个或多个被施加了电信号。第二组针脚被连接到控制器，以及回路针脚也被连接到控制器。从而控制器得以用相同的参考电压向第二组针脚以及回路针脚提供信号。

作为举例，发光装置(851、852、853……85n)包括串联的电阻与发光二极管。当例如针脚841被施加高电平，跳线座831被设置跳线帽，回路针脚840被接地时，发光装置851被点亮。当回路针脚840被接地时，与控制耦合相同到相同的地。可选地，回路针脚840被连接到低电平，以同被施加高电平的针脚851、设置了跳线帽的跳线座831与发光装置851形成回路。

通过使用图8展示的有序短接插座，来将未连通针脚和/或短接针脚组中的针脚同有序短接插座断开。作为举例，通过施加根据本申请实施例的测试过程，控制器242已经识别出电缆插头212的第2号针脚是未连通针脚。将控制器242连接到有序短接插座，控制器242向第二组针脚的第2号针脚(842)施加信号以点亮发光装置852。用于依据发光装置852被点亮，将有序短接插座的同被点亮的发光装置对应的第2号跳线座(832)的跳线帽取下，从而断开了第一组针脚的第2号针脚(812)同第一组二极管的连接。

从而图8展示的有序短接插座具有多种用途。既用来使同第一组针脚耦合的电缆插座的各针脚形成单向有序连接，也用来在控制器的协助下，设置第一组针脚中的一个或多个针脚同第一组二极管连接或断开。

根据本申请的再一实施例，提供了测试多芯电缆的再一方法。所提供的实施例，可应用于多芯电缆的任何一端的电缆插头。为了清楚了目的，将多芯电缆的一端称为A端，将另一端称为B端。也参看图2，例如，A端为电缆插头210，而B端为电缆插头212。

测试方法由若干个针脚遍历测试过程组成(称为“遍历过程”)。

以对B端电缆插头的针脚进行遍历为例，建立待测试针脚集合T，集合T的初始元素是B端电缆插头的所有针脚。

步骤(1)，将集合T中的针脚全部连接到控制器(242)；建立连通针脚集合C与未连通针脚集合U，集合C与集合U初始为空集。以及令序号n＝1。

步骤(2)，根据序号n，从集合T中以序号n为索引，获得针脚T[n]。若针脚T[n]存在于连通针脚集合C中，则转向步骤(4)。若针脚T[n]未存在于连通针脚集合C中，则通过控制器242向针脚T[n]施加指定的信号，以及通过控制器242从集合T的其他针脚采集信号。控制器242向针脚T[n]施加的信号是例如持续的方波。控制器242识别从集合T的其他针脚采集到的信号，若采集到所施加到针脚T[n]的指定信号，或者同指定信号相关的信号(由于信号在电缆中传输引起损耗而引起信号变化)，则识别出这些针脚同针脚T[n]连通。

步骤(3)，如果存在与针脚T[n]连通的针脚，则将它们与针脚T[n]构成集合(记为Ca)，并将集合Ca作为集合C的元素添加到集合C。可选地，集合C的元素Ca是一个有序集合，其包括一组按针脚序号由小到大排列的彼此连通的针脚。例如在步骤(2)识别出针脚T[i]、T[j]与T[k]彼此连通，且i<j<k，则针脚T[i]、T[j]与T[k]所构成的集合Ca为{T[i],T[j],T[k]}。如果在步骤(2)中未找到任何其他针脚与针脚T[n]连通，则将针脚T[n]作为元素添加到未连通针脚集合U。

步骤(4)，使序号递增，例如设置n＝n+1，并重复上述步骤(2)、(3)与(4)，直到n>|T|，|T|表示集合T中针脚的数量。

通过上述遍历过程，根据针脚集合T，得到了连通针脚集合C与未连通针脚集合U。当对B端电缆插头(212)的针脚进行遍历后，连通针脚集合C是B端电缆插头212的针脚的连通针脚集合，而未连通针脚集合U是B端电缆插头212的针脚的未连通针脚集合。上述遍历过程也可应用于对A端电缆插头(210)，并得到A端电缆插头210的针脚的连通针脚集合，以及A端电缆插头212的针脚的未连通针脚集合。

根据本申请的实施例，通过在多种条件下实施上述遍历过程，来测试电缆的连通性。

作为举例，也参看图2，A端为电缆插头210，而B端为电缆插头212。

(1)将A端电缆插头210的所有针脚添加到待测试针脚集合TA，将B端电缆插头212的所有针脚添加到待测试针脚集合TB，作为对集合TA与集合TB的初始化。

(2)识别A端电缆插头210的短接针脚组。使A端电缆插头210与B端电缆插头212未连接到短接插座(将断开A端电缆插头210与B端电缆插头212同任何插座断开)。对A端电缆插头210的针脚集合TA实施上述遍历过程，将得到的连通针脚集合作为A端电缆插头210的短接针脚组集合(记为Short_A)。集合Short_A的元素是彼此短接的多个引脚。从集合TA中移除属于集合Short_A的每个元素的序号非最小的所有针脚。例如，Short_A中的元素为{1,6,7}与{2,8}。元素{1,6,7}指示了A端电缆插头210的1号引脚、6号引脚与7号引脚彼此短接，而其中序号非最小的所有针脚是6号针脚与7号针脚，则从集合TA中移除6号针脚与7号针脚。元素{2,8}指示了A端电缆插头210的2号引脚与8号引脚彼此短接，而其中序号非最小的所有针脚是8号针脚，则从集合TA中移除8号针脚。将从集合TA中移除的针脚加入集合Remove_A。

(3)识别B端电缆插头210的短接针脚组。使A端电缆插头210与B端电缆插头212未连接到短接插座(将断开A端电缆插头210与B端电缆插头212同任何插座断开)。对B端电缆插头212的针脚集合TB实施上述遍历过程，将得到的连通针脚集合作为B端电缆插头212的短接针脚组集合(记为Short_B)。集合Short_B的元素是彼此短接的多个引脚。从集合TB中移除属于集合Short_B的每个元素的序号非最小的所有针脚。将从集合TB中移除的针脚加入集合Remove_B。

上面的用于识别短接针脚组的步骤(2)与(3)的顺序可以是任意顺序。可选地，为测试连通性，可以省略步骤(2)与(3)，例如已知电缆插头210与电缆插头212都不存在短接针脚组。

(4)识别A端电缆插头210的未连通针脚。使A端电缆插头210同任何插座断开，将B端电缆插头212的所有针脚短接，例如连接到无序短接插座(也参看图5)。然后，对A端电缆插头210的针脚集合TA实施上述遍历过程，将得到的未连通针脚集合作为A端电缆插头210的未连通针脚集合(记为Disconnect_A)。从集合TA中移除所有属于集合Disconnect_A的针脚。

(5)识别B端电缆插头212的未连通针脚。使B端电缆插头212同任何插座断开，将A端电缆插头210的所有针脚短接，例如连接到无序短接插座(也参看图5)。然后，对B端电缆插头212的针脚集合TB实施上述遍历过程，将得到的未连通针脚集合作为B端电缆插头212的未连通针脚集合(记为Disconnect_B)。从集合TB中移除所有属于集合Disconnect_B的针脚。

上面的用于识别短接针脚组的步骤(2)与(3以及用于识别未连通针脚的步骤(4)与(5)的顺序可以是任意顺序。

可选地，为测试连通性，可以省略步骤(4)与(5)，例如已知电缆插头210与电缆插头212都不存在未连通针脚。

(6)将单向有序短接插座(参看图8)的所有跳线座都设置跳线帽，使其连通。将单向有序短接插座、控制器与A端电缆插头210连接。控制器根据集合Remove_A，向集合Remove_A的元素对应的针脚施加指定的信号以点亮单向有序短接插座中的对应发光装置。将同被点亮的发光装置对应的跳线座断开(例如，通过移除其跳线帽)。从而使得A端电缆插头210的每个短接针脚组中，仅有序号最小的针脚被连接到有序短接插座的第一组二极管(812、822……82n)(也参看图8)。

(7)将单向有序短接插座同控制器断开，并使单向有序短接插座连接A端电缆插头210。此时，单向有序短接插座的跳线帽/跳线座是根据步骤(6)而经设置的。将控制器连接到B端电缆插头212。并实施下列由步骤T1-步骤T3的测试过程。

(T1)设置序号n＝1；

(T2)从集合TB获取针脚TB[n]。控制器向针脚TB[n]施加指定的信号，以及从集合TB的TB[n]之外的其他针脚采集所施加的指定信号(或同指定信号对应的信号)。将采集到所施加的指定信号的针脚数量记为Cnt[n]；识别出B端电缆插头212的针脚TB[n]与A端电缆插头210的针脚TA[Cnt[n]+1]连通，以及将识别出的连接关系记录在集合Interconnet中。

进一步地，若A端电缆插头的一个或多个针脚被同单向有序短接插座断开，还根据这些被断开的针脚调整连通性关系中A端针脚的序号。例如，若存在k个序号比Cnt[n]+1小的被断开针脚，则B端电缆插头212的针脚TB[n]与A端电缆插头210的针脚TA[Cnt[n]+1+k]连通，其中k是正整数。

(T3)另n＝n+1，并重复步骤T2-步骤T3，直到n>N(N为集合TB的元素数量)。可选地，若经过了上述步骤(2)-步骤(5)，则集合TA与集合TB的元素数量相同

在由于n>N，使得步骤T3退出后，在集合Interconnet中记录了A端电缆插头210的针脚与B端电缆插头212的针脚的连接关系。

在可选的实施方式中，控制器还连接到计算机。控制器将集合Interconnect、集合Short_A、集合Disconnect_A、集合Short_B和/或集合Disconnect_B提供给计算机，计算机向用户展示集合Interconnect、集合Short_A、集合Disconnect_A、集合Short_B和/或集合Disconnect_B作为对多芯电缆的连通性测试结果展示给用户。

依然可选地，在步骤(6)，将单向有序短接插座、控制器与B端电缆插头212连接。控制器根据集合Remove_B，向集合Remove_B的元素对应的针脚施加指定的信号以点亮单向有序短接插座中的对应发光装置。将同被点亮的发光装置对应的跳线座断开。从而使得B端电缆插头212的每个短接针脚组中，仅有序号最小的针脚被连接到有序短接插座的第一组二极管(812、822……82n)(也参看图8)。以及在步骤(7)，将单向有序短接插座同控制器断开，并使单向有序短接插座连接B端电缆插头212。此时，单向有序短接插座的跳线帽/跳线座是根据步骤(6)的上述可选实施方式而经设置的。将控制器连接到A端电缆插头210。并实施上述由步骤T1-步骤T3的测试过程。

下面根据图9A-图9B展示的例子，描述根据上面步骤(1)到步骤(7)的连通性测试过程。

图9A展示了A端电缆插头与B端电缆插头的连接关系。

A端电缆插头包括10个针脚，分别由序号1-10指示。B端电缆插头包括10个针脚，分别由序号1-10指示。图9A中的连线指示了A端电缆插头的针脚与B端电缆插头的针脚相连通。A端电缆插头的10号针脚与B端电缆插头的1号针脚由虚线连接，指示其本应连通，但由于故障而断开。以及图9A还展示了A端电缆插头的8号针脚，连通B端电缆插头的7号针脚与8号针脚。而B端电缆插头的9号针脚连通A端电缆插头的3号针脚与6号针脚。

在上面步骤(1)执行完毕后，

集合TA＝{1,2,3,4,5,6,7,8,9,10}，集合TB＝{1,2,3,4,5,6,7,8,9,10}。

执行上面步骤(2)，将控制器连接到A端电缆插头，并实施遍历过程。在步骤(2)执行完毕后，识别出A端电缆插头的针脚3与针脚6属于同一短接针脚组。得到集合Short_A＝{{3,6}}，根据集合Short_A，将针脚6从集合TA中移除，得到集合TA＝{1,2,3,4,5,7,8,9,10}，以及集合Remove_A＝{6}。

执行上面步骤(3)，将控制器连接到B端电缆插头，并实施遍历过程。在步骤(3)执行完毕后，识别出B端电缆插头的针脚7与针脚8属于同一短接针脚组。得到集合Short_B＝{{7,8}}，根据集合Short_B，将针脚8从集合TB中移除，得到集合TB＝{1,2,3,4,5,7,9,10}，以集合Remove_B＝{8}。

执行上面步骤(4)，将B端电缆插头的所有针脚短接，将控制器连接到A端电缆插头。在步骤(4)执行完毕后，识别出A端电缆插头的针脚10为未连通针脚，得到集合Disconnect_A＝{10}，以及集合TA＝{1,2,3,4,5,7,8,9}。

执行上面步骤(5)，将A端电缆插头的所有针脚短接，将控制器连接到B端电缆插头。在步骤(5)执行完毕后，识别出B端电缆插头的针脚1为未连通针脚，得到集合Disconnect_B＝{1}，以及集合TB＝{2,3,4,5,7,9,10}。

执行上面步骤(6)，将图8的单向有序短接插座、控制器与A端电缆插头210连接。控制器根据集合Remove_A，向集合Remove_A的元素对应的针脚6施加指定的信号以点亮单向有序短接插座中的对应发光装置。将同被点亮的发光装置对应的跳线座断开(例如，通过移除其跳线帽)。从而使得A端电缆插头210的针脚6同单向有序插座断开，而A端电缆插头210的其他针脚连接到单向有序短接插座。图9B展示了步骤(6)执行完毕后的状态。

执行上面步骤(7)，将单向有序短接插座连接A端电缆插头，将控制器连接到B端插头，并得到

Cnt[2]＝0

Cnt[3]＝4

Cnt[4]＝7(这里是7，而不是8，因为A端电缆插头的6号针脚被同单向有序短接插座断开)

Cnt[5]＝1

Cnt[6]＝3

Cnt[7]＝6(这里是6，而不是7，因为A端电缆插头的6号针脚被同单向有序短接插座断开)

Cnt[9]＝2

Cnt[10]＝5(这里是5，而不是6，因为A端电缆插头的6号针脚被同单向有序短接插座断开)，

从而得到针脚TB[2]与针脚TA[1]连通，针脚TB[3]与针脚TA[5]连通，针脚TB[4]与针脚TA[9]连通，针脚TB[5]与针脚TA[2]连通，针脚TB[6]与针脚TA[4]连通，针脚TB[7]与针脚TA[8]连通，针脚TB[9]与针脚TA[3]连通，针脚TB[10]与针脚TA[7]连通，记为

集合Interconnect＝{

{B[2],A[1]}，

{B[3],A[5]},

{B[4],A[9]}，

{B[5],A[2]},

{B[6],A[4]},

{B[7],A[8]},

{B[9],A[3]},

{B[10],A[7]}}。

图10展示了使用根据本申请依然又一实施例的电缆测试设备测试多芯电缆连通性的示意图。

多芯电缆1000是待测试其连通性的被测试电缆，包括多个电缆插头(1010、1012、1014与1012。电缆插头的针脚耦合到多芯电缆的0根、1根或多根芯线，从而多个电缆插头的多个针脚的连通性可以是导通或断开。

根据本申请图10展示的实施例的电缆测试设备包括短接插座1040与控制器1042。可选地，电缆测试设备还包括适配转接头(1020与1022)。适配转接头用于将多种规格的电缆插头转换为统一规格，从而便于耦合到短接插座1040或控制器1042。可选地，适配转接头1020将多个电缆插头(1010、1012与1014)耦合到同一短接插座1040，适配转接头1020提供足够多的针脚以容纳多个电缆插头的每个的所有针脚。

依然可选地，短接插座1040或控制器1042直接耦合到各电缆插头(1010、1012与1014)，而无须使用适配转接头(1020与1022)。

在一个例子中，电缆插头(1010、1012与1014)的针脚数之和小于适配转接头1020的针脚数，则适配转接头1020上多出来的针脚不连接到电缆插头(1010、1012与1014)的任何针脚。

在又一个例子中，电缆插头(1010、1012与1014)的针脚数之和大于适配转接头1020的针脚数，则除了使用适配转接头1020，还使用其他一个或多个适配转接头来连接电缆插头(1010、1012与1014)的未连接到适配转接头1020的针脚。

控制器1042还耦合到计算机1050。计算机1050用于指示控制器1042实施连通性测试，以及获取控制器1042提供的连通性测试结果并向用户展示。

可由软件、硬件、固件、FPGA(现场可编程门阵列，Field Programmable GateArray)、单片机、微处理器、微控制器和/或ASIC(应用专用集成电路，ApplicationSpecific Integrated Circuit)等实现根据本申请实施例的控制器。

虽然当前申请参考的示例被描述，其只是为了解释的目的而不是对本申请的限制，对实施方式的改变，增加和/或删除可以被做出而不脱离本申请的范围。

这些实施方式所涉及的、从上面描述和相关联的附图中呈现的教导获益的领域中的技术人员将认识到这里记载的本申请的很多修改和其他实施方式。因此，应该理解，本申请不限于公开的具体实施方式，旨在将修改和其他实施方式包括在所附权利要求书的范围内。尽管在这里采用了特定的术语，但是仅在一般意义和描述意义上使用它们并且不是为了限制的目的而使用。

Claims (10)

1.一种电缆连接关系测试方法，包括：

S1：连接电缆的第一电缆插头的待测试针脚，使得第一电缆插头的各待测试针脚形成单向有序连接；

S2：向电缆的第二电缆插头的当前测试针脚施加指定信号；

S3：从第二电缆插头的所有其他待测试针脚采集信号；

S4：根据采集到所施加的指定信号或同所述指定信号对应的信号的针脚的数量m索引第一电缆插头的当前连通针脚，其中当前连通针脚为第一线缆插头的第m+1号针脚；

S5：记录第二电缆插头的当前测试针脚与第一电缆插头的第m+1号待测试针脚相连通；

其中，待测试针脚是电缆插头的不包括未连通针脚的针脚。

2.一种电缆连接关系测试方法，包括：

识别第一电缆插头和第二电缆插头的一个或多个未连通针脚，将未连通针脚从待测试针脚中移除；

S1：连接电缆的第一电缆插头的待测试针脚，使得第一电缆插头的各待测试针脚形成单向有序连接；

S2：向电缆的第二电缆插头的当前测试针脚施加指定信号；

S3：从第二电缆插头的所有其他待测试针脚采集信号；

S4：根据采集到所施加的指定信号或同所述指定信号对应的信号的针脚的数量m索引第一电缆插头的当前连通针脚，其中当前连通针脚为第一线缆插头的第m+1号待测试针脚；

S5：记录第二电缆插头的当前测试针脚与第一电缆插头的第m+1号待测试针脚相连通。

3.根据权利要求2所述的方法，其中

向第一电缆插头的第三针脚施加指定信号；

从第一电缆插头的其他针脚采集信号；

响应于未从第一电缆插头的任何其他针脚采集到所施加的指定信号或同指定信号对应的信号，将第三针脚识别为未连通针脚。

4.根据权利要求1或2所述的方法，还包括：

选择第二电缆插头的待测试针脚之一作为当前测试针脚；

重复步骤S2至步骤S5，以得到当前测试针脚的连通性。

5.根据权利要求4所述的方法，还包括：

第一电缆插头的各待测试针脚具有序号，用二极管连接具有相邻序号的针脚，使得第一电缆插头的各待测试针脚形成单向有序连接。

6.根据权利要求5所述的方法，还包括：

识别第一电缆插头和/或第二电缆插头的一个或多个短接针脚组，将短接针脚组中的针脚从待测试针脚中移除，使得每个短接针脚组仅具有单一待测试针脚。

7.根据权利要求6所述的方法，其中

每个短接针脚组中保留的待测试针脚是该短接针脚组中序号最小的针脚。

8.根据权利要求6所述的方法，其中

向第一电缆插头的第一针脚施加指定信号；

从第一电缆插头的其他针脚采集信号；

第一针脚与采集到所施加的指定信号或同指定信号对应的信号的所有针脚组成短接针脚组。

9.根据权利要求8所述的方法，其中

为识别第一电缆插头的短接针脚组，将第二电缆插头的针脚设为开路；和/或

为识别第二电缆插头的短接针脚组，将第一电缆插头的针脚设为开路。

10.一种用于测试电缆连接关系的测试系统，包括有序短接插座，所述有序短接插座用于耦合被测试电缆的电缆插头；

所述有序短接插座包括第一组N个针脚与第一组N个二极管，

第一组N个针脚的第m个针脚与第m-1个针脚通过第一组N个二极管的第m-1个二极管耦合，其中来自第m个针脚的电流能够通过第m-1个二极管流向第m-1个针脚；

所述N个二极管串联连接；其中

N与m是自然数，2<=m<=N；

以及其中，所述有序短接插座还包括第二组N个针脚与第二组N个发光装置；其中第二组N个针脚的第k个针脚通过所述第二组N个发光装置的第k个发光装置耦合到所述第一组N个针脚的第k个针脚，其中k是自然数，且1<=k<=N；所述发光装置是发光二极管，或者串联的发光二极管与电阻。