CN108956928A - 绞合镀锡铜导体锡层完整性的检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了绞合镀锡铜导体锡层完整性的检测方法，包括以下步骤：步骤一：准备绞合导体测试样品；步骤二：从长度方向和圆周方向上用肉眼观察整根绞合导体试样；步骤三：截取长度约为300mm的试样一个，去除表面残余的铜粉，从绞合导体的每层结构中选取3根待测单丝试样，用黑色笔在单丝断面位置做好标记；步骤四：按照步骤三取2组导体单丝试样，其中一组在室温下静置，另一组置于烘箱中加热处理2h；步骤五：对处理好的样品按照国标GB/T 4909进行锡层连续性和锡层完整性进行检测和判定。本发明检测方法能够切实有效地对绞合镀锡铜导体锡层完整性进行检测，试验条件中考虑了电缆在实际运行过程中导体发热对锡层完整性的影响。
Description
技术领域
本发明涉及一种绞合镀锡铜导体锡层完整性检测方法。
背景技术
在电缆行业，绞合镀锡铜导体应用广泛，很多电缆都需要用到绞合镀锡铜导体以适应潮湿、一定腐蚀性的敷设环境，防止导体的氧化锈蚀，改善电流传输效率。而表面锡层的完整性决定了内层铜导体的耐氧化锈蚀能力。目前，行业内对绞合导体锡层完整性的检测是依据对原材料的检验进行判定的，即导体在绞合之前先通过测试镀锡单丝的锡层连续性和附着性，合格后进行绞制并用肉眼观察绞制后导体表面，若无露铜，即判定导体表面的锡层是完整的。但是实际上，导体单丝在绞制过程中会与成型模具产生较大的摩擦，尤其是二类紧压绞合导体，表面的镀锡层会被摩擦成细小颗粒附着在绞合导体上，即使存在露铜现象也不易被肉眼观察到，因此，制定一套完善的绞合导体锡层完整性的检测方法是十分必要的。
发明内容
本发明的目的是提供一种满足电缆实际运行要求的绞合镀锡铜导体锡层完整性检测方法。
实现本发明目的的技术方案是绞合镀锡铜导体锡层完整性检测方法，包括以下步骤：
步骤一：准备绞合镀锡铜导体测试样品；
步骤二：肉眼绞合镀锡铜导体测试样品，确保无露铜现象；
步骤三：截取长度约为300mm的试样，去除表面残余的铜粉，从绞合镀锡铜导体的每层结构中选取3根待测单丝试样，做标记；
步骤四：按照步骤三取2组导体单丝试样，其中一组在室温下静置，另一组置于烘箱中加热处理2h，烘箱温度控制在95±5℃；
步骤五：对处理好的试样按照国标GB/T 4909进行锡层连续性和附着性的检测和判定。
所述步骤一中，从每盘导体绞线的首尾各取不少于1m长度的绞合镀锡铜导体作为测试样品。
所述步骤二中，从长度方向和圆周方向上用肉眼观察绞合镀锡铜导体测试样品。
所述步骤二中，在用肉眼观察试样之前，采用酒精对试样整体进行擦拭。
所述步骤三中，采用塑料软毛刷刷去截断产生的铜粉颗粒，对所有从导体中取出的被标记单丝的表面用蘸有酒精的软布擦拭干净；所述每层结构中选取的3根待测单丝试样与导体绞合中心点的夹角为120°；从导体中心往外，第n层与第n-1层取样位置彼此错开60°角，n为自然数，n≥3。
所述步骤三中，第n层的单丝取样位置位于第n-1层的两根单丝120°夹角中心线上，当中心线位置包含两根单丝时，取其中任意一根。
所述步骤三中，绞合镀锡铜导体中心的第1层根数为1-4根，当结构为1、2、3根时，应选取其中的任意1根进行标记；当结构为4根时，应选取对角线位置上的2根单丝进行标记。
在将试样放入烘箱加热之前，按照标准GB/T 4909测试锡层连续性和附着性的要求对试样进行预处理。
所述步骤五中，常温静置和烘箱加热处理的所有试样，均通过GB/T 4909锡层连续性和附着性测试要求时，即判定绞合导体的锡层是完整的。
采用了上述技术方案，本发明提供了系统的测试紧压导体成品的锡层完整性的方法，能够更加完善的对生产过程中的绞合镀锡铜导体锡层的完整性进行检测，方法便捷，并且综合考虑了生产过程中摩擦因素对锡层完整性的影响，能够切实有效地反映出电缆实际运行过程对导体的要求。
附图说明
为了使本发明的内容更容易被清楚地理解，下面根据具体实施例并结合附图，对本发明作进一步详细的说明，其中
图1为本发明方法的示意图。
具体实施方式
(实施例1)
绞合镀锡铜导体锡层的完整性检测方法，包括以下步骤：
步骤一：在生产过程中从每盘绞合镀锡铜导体的开头和结尾各取不少于1m长度的试样，准备测试样品。
步骤二：对所取的1m绞合导体试样用蘸有酒精的软布擦拭干净，然后从长度和圆周方向上肉眼观察整根绞合导体试样，导体无露铜。选取1m的长度是为了尽可能的提高取样的覆盖性，而且也确保操作的便捷性，如果直接在生产中盘状导体上直接取 300mm，还要去精确的测量就会比较麻烦，同时取1m后要先进行肉眼的观察判断，无露铜现象才可进行步骤三，故而取到1m可规避漏检的风险，提高试验的准确度。
步骤三：从1m导体上截取长度约为300mm的试样，用塑料软毛刷去除截断产生的铜粉颗粒，准备下一步取样；。如图1所示，截面积为800mm2绞合镀锡铜导体，共有五层绞合单丝，五层结构的单丝根数1+6+12+18+24，其中第一层选取一根，其余各层结构中各选取3根，用黑色笔在单丝断面位置做好标记；取样规则为：每层结构中的3 根试样位置在圆周方向上为等间距的，彼此成120°角，第n层与第n-1层取样位置彼此错开60°角，图1中标黑的即为选出的单丝。从导体中取出标记好的导体单丝，用蘸有酒精的软布擦拭干净，并按照GB/T4909中测试锡层连续性和附着性的试验要求，对单丝试样进行预处理。
步骤四：按照步骤三取2组导体单丝试样，其中一组放入干燥洁净的容器中在室温条件下静置，另一组置于烘箱中加热处理2h，烘箱温度控制在95±5℃。根据铜的比热容和导热系数计算，并反复多次试验确定加热处理时间为2h，根据电缆在实际运行过程中导体最大允许运行温度90℃将烘箱温度控制在95±5℃。
步骤五：准备足够大的敞口容器盛放测试溶液，对室温和加热处理好的试样，分别按照标准GB/T 4909锡层连续性和附着性的方法进行检测和判定，其中测试加热处理的试样时，应迅速从烘箱取出放入到测试溶液中，取样消耗的时间尽可能的短；当2组试样中的所有导体单丝均通过锡层连续性和附着性的检测时，则判定绞合导体的锡层是完整的。
以上所述的具体实施例，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (9)
1.绞合镀锡铜导体锡层完整性的检测方法，其特征在于包括以下步骤：
步骤一：准备绞合镀锡铜导体测试样品；
步骤二：肉眼绞合镀锡铜导体测试样品，确保无露铜现象；
步骤三：截取长度约为300mm的试样，去除表面残余的铜粉，从绞合镀锡铜导体的每层结构中选取3根待测单丝试样，做标记；
步骤四：按照步骤三取2组导体单丝试样，其中一组在室温下静置，另一组置于烘箱中加热处理2h，烘箱温度控制在95±5℃；
步骤五：对处理好的试样按照国标GB/T 4909进行锡层连续性和附着性的检测和判定。
2.根据权利要求1所述的绞合镀锡铜导体锡层完整性检测方法，其特征在于：所述步骤一中，从每盘导体绞线的首尾各取不少于1m长度的绞合镀锡铜导体作为测试样品。
3.根据权利要求1所述的绞合镀锡铜导体锡层完整性检测方法，其特征在于：所述步骤二中，从长度方向和圆周方向上用肉眼观察绞合镀锡铜导体测试样品。
4.根据权利要求3所述的绞合镀锡铜导体锡层完整性检测方法，其特征在于：所述步骤二中，在用肉眼观察试样之前，采用酒精对试样整体进行擦拭。
5.根据权利要求1所述的绞合镀锡铜导体锡层完整性检测方法，其特征在于：所述步骤三中，采用塑料软毛刷刷去截断产生的铜粉颗粒，对所有从导体中取出的被标记单丝的表面用蘸有酒精的软布擦拭干净；所述每层结构中选取的3根待测单丝试样与导体绞合中心点的夹角为120°；从导体中心往外，第n层与第n-1层取样位置彼此错开60°角，n为自然数，n≥3。
6.根据权利要求5所述的绞合镀锡铜导体锡层完整性检测方法，其特征在于：所述步骤三中，第n层的单丝取样位置位于第n-1层的两根单丝120°夹角中心线上，当中心线位置包含两根单丝时，取其中任意一根。
7.根据权利要求6所述的绞合镀锡铜导体锡层完整性检测方法，其特征在于：所述步骤三中，绞合镀锡铜导体中心的第1层根数为1-4根，当结构为1、2、3根时，应选取其中的任意1根进行标记；当结构为4根时，应选取对角线位置上的2根单丝进行标记。
8.根据权利要求1所述的绞合镀锡铜导体锡层完整性检测方法，其特征在于：在将试样放入烘箱加热之前，按照标准GB/T 4909测试锡层连续性和附着性的要求对试样进行预处理。
9.根据权利要求1所述的绞合镀锡铜导体锡层完整性检测方法，其特征在于：所述步骤五中，常温静置和烘箱加热处理的所有试样，均通过GB/T 4909锡层连续性和附着性测试要求时，即判定绞合导体的锡层是完整的。
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