CN108919033A - 一种Mesh线测试方法和测试电路 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种Mesh线测试方法和测试电路，该电路包括：电阻电路、电压比较电路和报警电路；Mesh线路两端分别与所述电阻电路连接，所述电阻桥电路与所述电压比较电路输入端连接，所述电压比较电路输出端与所述报警电路连接；Mesh线测试方法是通过测试电路检测相邻Mesh线路是否短路和Mesh线路是否开路。本发明的有益效果为：通过将触控显示产品的防拆Mesh线路通过治具引出并接到本发明所述的测试电路上，可以准确测试Mesh线的开路和相邻短路状况，替代手工用万用表的操作方式，测试操作简单，并可以直接给检验员直观测试结果，便于判定；也可以预防人为误差造成测试不准和降低产品损坏和刮伤的风险。

Description

一种Mesh线测试方法和测试电路

技术领域

本发明涉及触摸显示屏的测试方法和电路技术领域，具体而言，涉及一种Mesh线测试方法和测试电路。

背景技术

金融领域，随着支付技术的发展，采用POS机刷卡消费已成为常用的支付方式。因此，提供一种POS机防拆结构以达到安全的刷卡消费变得非常有必要。需要具有防拆安全性高的产品和各零部件，其中触控显示屏上需设计有防拆Mesh线路，一般情况下防拆线路是4根引线，引线从产品的一端线路板接口引到产品的银浆线路，最后从产品的另一端引出。在触控显示产品装机后，两端的Mesh线与主板连接，主板就可以识别产品是否有正常接入，如果拆解产品，将破坏Mesh线，主板可以检测识别出来并报警或停止相关工作，或以达到“拆机自毁”的功能。

Mesh线路在产品制程中由于银浆的开短路的可能，需要相关的检测技术，4条Mesh线可能存在相邻线路短路不良现象，目前的检测方法可以通过客户的主板来检测，或者借助万用表等工具来量测。但无论采用客户主板或万用表检测都存在效率低，费用高的问题，容易判定失误，并且需要有一定的专业知识人员才能做到。

发明内容

为解决上述问题，本发明的目的在于提供一种Mesh线测试方法和测试电路，可以解决相邻Mesh线路短路和开路测试效率低、费用高的问题，并且方便操作，具有批量测试作业的可行性。

本发明提供了一种Mesh线测试电路，该测试线路包括：电阻电路、电压比较电路和报警电路；四根Mesh线两端分别与所述电阻电路连接，所述电阻桥电路与所述电压比较电路输入端连接，所述电压比较电路输出端与所述报警电路连接；

所述电阻电路包括：并联接在电压VREF与可变电阻VR2之间的电阻电路a、电阻电路b、电阻电路c和电阻电路d，所述可变电阻VR2上并联有电容C1，且所述可变电阻VR2和所述电容C1均接地，所述电阻电路a包括依次连接的电阻Ra1和电阻Ra2，所述电阻Ra1和所述电阻Ra2之间设置测试连接点A和测试连接点A1，所述电阻电路b包括依次连接的电阻Rb1和电阻Rb2，所述Rb1和所述电阻Rb2之间设置测试连接点B和测试连接点B1，所述电阻电路c包括依次连接的电阻Rc1和电阻Rc2，所述电阻Rc1和所述电阻Rc2之间设置测试连接点C和测试连接点C1，所述电阻电路d包括依次连接的电阻Rd1和电阻Rd2，所述Rd1和所述电阻Rd2之间设置测试连接点D和测试连接点D1，所述四根Mesh线路两端分别连接测试连接点A和测试连接点A1、测试连接点B和测试连接点B1、测试连接点C和测试连接点C1、测试连接点D和测试连接点D1，所述测试连接点A和所述测试连接点A1之间的等效电阻为Ra，所述测试连接点B和所述测试连接点B1之间的等效电阻为Rb，所述测试连接点C和所述测试连接点C1之间的等效电阻为Rc，所述测试连接点D和所述测试连接点D1之间的等效电阻为Rd；

所述电压比较电路包括：运算放大器IC1和运算放大器IC2，所述运算放大器IC1的输入端3与所述可变电阻VR2连接；电压VREF通过电阻R1与所述运算放大器IC1的输入端2连接，所述电阻R1与所述运算放大器IC1的输入端2之间接有并联的可变电阻VR1和电容C2，所述可变电阻VR1和所述电容C2均接地，所述运算放大器IC1的输出端6通过电容C3接地；所述运算放大器IC2的输入端2与所述电阻电路的输出端连接；电压VREF通过电阻R3与所述运算放大器IC2的输入端3连接，所述电阻R3与所述运算放大器IC2的输入端3之间接有并联的可变电阻VR3和电容C4，所述可变电阻VR3和所述电容C4均接地，所述运算放大器IC2的输出端6通过电容C5接地；

所述报警电路包括：与所述运算放大器IC1的输出端6连接的第一报警电路和与所述运算放大器IC2的输出端6连接的第二报警电路，所述第一报警电路包括依次连接的电阻R2和第一报警装置D1，所述电阻R2一端与所述运算放大器IC1的输出端6连接，所述电阻R2另一端与所述第一报警装置D1输入端连接，所述第一报警装置D2输出端接地，所述第二报警电路包括依次连接的电阻R4和第二报警装置D2，所述电阻R4一端与所述运算放大器IC2的输出端6连接，所述电阻R4另一端与所述第二报警装置D2输入端连接，所述第二报警装置D2输出端接地。

作为本发明进一步的改进，所述可变电阻VR1、所述可变电阻VR2和所述可变电阻VR3的可调阻值范围在5KΩ-500KΩ之间。

作为本发明进一步的改进，所述报警电路中的报警装置为发光二极管或蜂鸣器。

本发明还提供了一种Mesh线测试方法，该测试方法包括：步骤1，将正常的四根Mesh线路的两端分别连接测试连接点A和测试连接点A1、测试连接点B和测试连接点B1、测试连接点C和测试连接点C1、测试连接点D和测试连接点D1，此时，所述测试连接点A和所述测试连接点A1之间的等效电阻为Ra，所述测试连接点B和所述测试连接点B1之间的等效电阻为Rb，所述测试连接点C和所述测试连接点C1之间的等效电阻为Rc，所述测试连接点D和所述测试连接点D1之间的等效电阻为Rd；

步骤2，设置电阻Ra1、电阻Ra2、电阻Rb1、电阻Rb2、电阻Rc1、电阻Rc2、电阻Rd1和电阻Rd2的电阻值，并调节可变电阻VR1、可变电阻VR2和可变电阻VR3，确保运算放大器IC1的输入端3的电压低于运算放大器IC1的输入端2的电压，运算放大器IC1的输出端6输出低电平，使得与运算放大器IC1连接的报警装置D1不响应，同时，确保运算放大器IC2的输出端6输出低电平，使得与运算放大器IC2连接的报警装置D2不响应，完成Mesh线测试电路调试；

步骤3，将调试好的Mesh线测试电路通过治具与待测的Mesh线路连接，并在Mesh线测试电路通入电压VREF，开始测试：

当待测的Mesh线路中的任何一条或多条线路开路时，对应的等效电阻Ra、Rb、Rc和Rd中的一个或多个变大，电压VREF与可变电阻VR2之间的总等效电阻变大，VR2端的电压变小，此时，运算放大器IC2的输入端2的电压变小，并低于运算放大器IC2的输入端3的电压，运算放大器IC2的输出端6输出高电平，使得所述报警装置D2响应，同时，运算放大器IC1的输入端3的电压低于运算放大器IC1的输入端2的电压，运算放大器IC1的输出端6输出低电平，使得所述报警装置D1不响应；

当待测的Mesh线中的任何一条或多条线路短路时，电压VREF与可变电阻VR2之间的总等效电阻变小，VR2端的电压变大，此时，运算放大器IC1的输入端3的电压变大，并高于运算放大器IC1的输入端2的电压，运算放大器IC1的输出端6输出高电平，所述报警装置D1响应，同时，运算放大器IC2的输入端2的电压高于运算放大器IC2的输入端3的电压，运算放大器IC2的输出端6输出低电平，所述报警装置D2不响应；

当Mesh线既有开路又有短路时，电阻电路的阻值会有变高或变低，电压也会相应的减小或增大，从而使报警装置有响应。

作为本发明进一步的改进，所述电阻Ra1、所述电阻Rb2、所述电阻Rc1和所述电阻Rd2的电阻值相等，均为R，所述电阻Ra2、所述电阻Rb1、所述电阻Rc2和所述电阻Rd1的电阻值相等，均为Rˊ，且R/Rˊ≥2。

本发明的有益效果为：通过将触控显示产品的防拆Mesh线路通过治具引出并接到本发明所述的测试电路上，可以准确测试Mesh线的开路和相邻短路状况，替代手工用万用表的操作方式，测试操作简单，并可以直接给检验员直观测试结果，便于判定；也可以预防人为误差造成测试不准和降低产品损坏和刮伤的风险。

附图说明

图1为本发明实施例所述的一种Mesh线测试方法和测试电路的Mesh线结构示意图；

图2为本发明实施例所述的一种Mesh线测试方法和测试电路的电路功能模块图；

图3为本发明实施例所述的一种Mesh线测试方法和测试电路的测试电路的电路图。

图中，

1、产品的基材；2、银浆或ITO引线；3、FPC或PCB板上的接口或探点；4、FPC或PCB板。

具体实施方式

下面通过具体的实施例并结合附图对本发明做进一步的详细描述。

本发明实施例所述的一种Mesh线测试电路，该线测试电路包括：电阻电路、电压比较电路和报警电路；四根Mesh线两端分别与电阻电路连接，电阻桥电路与电压比较电路输入端连接，电压比较电路输出端与报警电路连接；

电阻电路包括：并联接在电压VREF与可变电阻VR2之间的电阻电路a、电阻电路b、电阻电路c和电阻电路d，可变电阻VR2上并联有电容C1，且可变电阻VR2和电容C1均接地，电阻电路a包括依次连接的电阻Ra1和电阻Ra2，电阻Ra1和电阻Ra2之间设置测试连接点A和测试连接点A1，电阻电路b包括依次连接的电阻Rb1和电阻Rb2，电阻Rb1和电阻Rb2之间设置测试连接点B和测试连接点B1，电阻电路c包括依次连接的电阻Rc1和电阻Rc2，电阻Rc1和电阻Rc2之间设置测试连接点C和测试连接点C1，电阻电路d包括依次连接的电阻Rd1和电阻Rd2，电阻Rd1和电阻Rd2之间设置测试连接点D和测试连接点D1，四根Mesh线路两端分别连接测试连接点A和测试连接点A1、测试连接点B和测试连接点B1、测试连接点C和测试连接点C1、测试连接点D和测试连接点D1，测试连接点A和测试连接点A1之间的等效电阻为Ra，测试连接点B和测试连接点B1之间的等效电阻为Rb，测试连接点C和测试连接点C1之间的等效电阻为Rc，测试连接点D和测试连接点D1之间的等效电阻为Rd；电容C1起滤波稳压的作用。

电压比较电路包括：运算放大器IC1和运算放大器IC2，运算放大器IC1的输入端3与可变电阻VR2连接；电压VREF通过电阻R1与运算放大器IC1的输入端2连接，电阻R1与运算放大器IC1的输入端2之间接有并联的可变电阻VR1和电容C2，可变电阻VR1和电容C2均接地，运算放大器IC1的输出端6通过电容C3接地；运算放大器IC2的输入端2与电阻电路的输出端连接；电压VREF通过电阻R3与运算放大器IC2的输入端3连接，电阻R3与运算放大器IC2的输入端3之间接有并联的可变电阻VR3和电容C4，可变电阻VR3和电容C4均接地，运算放大器IC2的输出端6通过电容C5接地；运算放大器IC1和运算放大器IC2的参考型号为MP1518，电容C2起稳压滤波作用，电容C3起滤波稳压的作用，电容C4起稳压滤波作用，电容C5起滤波稳压的作用；当运算放大器3端的电压高于2端的电压时，运算放大器6端会输出高电平。

报警电路包括：与运算放大器IC1的输出端6连接的第一报警电路和与运算放大器IC2的输出端6连接的第二报警电路，第一报警电路包括依次连接的电阻R2和第一报警装置D1，电阻R2一端与运算放大器IC1的输出端6连接，电阻R2另一端与第一报警装置D1输入端连接，第一报警装置D2输出端接地，第二报警电路包括依次连接的电阻R4和第二报警装置D2，电阻R4一端与运算放大器IC2的输出端6连接，电阻R4另一端与第二报警装置D2输入端连接，第二报警装置D2输出端接地；高电平驱动发光二极管发光或蜂鸣器响应。

进一步的，可变电阻VR1、可变电阻VR2和可变电阻VR3的可调阻值范围在5KΩ-500KΩ之间。

进一步的，报警电路中的报警装置为发光二极管或蜂鸣器。根据实际情况，在不同的环境中使用不同的报警装置。

本发明还提供了一种基于Mesh线测试电路的Mesh线测试方法，该测方法包括：

步骤1，将正常的四根Mesh线路的两端分别连接测试连接点A和测试连接点A1、测试连接点B和测试连接点B1、测试连接点C和测试连接点C1、测试连接点D和测试连接点D1，此时，测试连接点A和测试连接点A1之间的等效电阻为Ra，测试连接点B和测试连接点B1之间的等效电阻为Rb，测试连接点C和测试连接点C1之间的等效电阻为Rc，测试连接点D和测试连接点D1之间的等效电阻为Rd；

步骤2，设置电阻Ra1、电阻Ra2、电阻Rb1、电阻Rb2、电阻Rc1、电阻Rc2、电阻Rd1和电阻Rd2的电阻值，并调节可变电阻VR1、可变电阻VR2和可变电阻VR3，确保运算放大器IC1的输入端3的电压低于运算放大器IC1的输入端2的电压，运算放大器IC1的输出端6输出低电平，使得与运算放大器IC1连接的报警装置D1不响应，同时，确保运算放大器IC2的输出端6输出低电平，使得与运算放大器IC2连接的报警装置D2不响应，完成Mesh线测试电路调试；

步骤3，将调试好的Mesh线测试电路通过治具与待测的Mesh线路连接，并在Mesh线测试电路通入电压VREF，开始测试：

当待测的Mesh线路中的任何一条或多条线路开路时，对应的等效电阻Ra、Rb、Rc和Rd中的一个或多个变大，电压VREF与可变电阻VR2之间的总等效电阻变大，VR2端的电压变小，此时，运算放大器IC2的输入端2的电压变小，并低于运算放大器IC2的输入端3的电压，运算放大器IC2的输出端6输出高电平，使得报警装置D2响应，同时，运算放大器IC1的输入端3的电压低于运算放大器IC1的输入端2的电压，运算放大器IC1的输出端6输出低电平，使得报警装置D1不响应；

当待测的Mesh线中的任何一条或多条线路短路时，电压VREF与可变电阻VR2之间的总等效电阻变小，VR2端的电压变大，此时，运算放大器IC1的输入端3的电压变大，并高于运算放大器IC1的输入端2的电压，运算放大器IC1的输出端6输出高电平，报警装置D1响应，同时，运算放大器IC2的输入端2的电压高于运算放大器IC2的输入端3的电压，运算放大器IC2的输出端6输出低电平，报警装置D2不响应；

当Mesh线既有开路又有短路时，电阻电路的阻值会有变高或变低，电压也会相应的减小或增大，从而使报警装置有响应。

进一步的，电阻Ra1、电阻Rb2、电阻Rc1和电阻Rd2的电阻值相等(Ra1＝Rb2＝Rc1＝Rd2)，均为R，电阻Ra2、电阻Rb1、电阻Rc2和电阻Rd1的电阻值相等(Ra2＝Rb1＝Rc2＝Rd1)，均为Rˊ，且R/Rˊ≥2；便于电路的调试。

具体测试时：

如图1所示的一种触控显示产品的防拆Mesh线路，包括：产品的基材1，基材1上有银浆或ITO引线2；连接在基材1上的两个FPC或PCB板4；以及在FPC或PCB板4上的接口或探点3。A、B、C、D代表4根Mesh线的一端，A1、B1、C1、D1代表四根Mesh线的另一端，四根Mesh线是相互独立的，正常的产品四根Mesh线本身需要在两个FPC或PCB板4之间联通，但又两两之间不能互相短路。

为了测试上述触控显示产品的防拆Mesh线之间是否有短路或开路的情况发生，使用了如图2所示的测试电路，四根Mesh线的A、B、C、D、A1、B1、C1、D1分别与测试电路的电阻电路中相应的连接点连接，电阻电路与电压比较器连接，电压比较电路输出端与报警电路连接。图2所示的测试电路的具体电路连接如图3所示。

开始测量前，在测试电路连入预先验证的正常Mesh线或等效电阻，调节可变电阻VR1、VR2和VR3，使得发光二极管D1和D2刚好不亮。测试时，用治具将FPC或PCB板4上的接口或探点3引出，并分别与图3所示电路的A、B、C、D、A1、B1、C1、D1连接点连接，给测试电路通入VREF，如果Mesh线是正常的，发光二极管D1和D2都不响应；如果Mesh线中的任何一条或多条线路开路时，发光二极管D2响应，发光二极管D1不响应；如果Mesh线中的任何一条或多条线路短路时，发光二极管D1响应，发光二极管D2不响应。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (5)

1.一种Mesh线测试电路，其特征在于，该测试电路包括：电阻电路、电压比较电路和报警电路；四根Mesh线两端分别与所述电阻电路连接，所述电阻桥电路与所述电压比较电路输入端连接，所述电压比较电路输出端与所述报警电路连接；

所述电阻电路包括并联接在电压VREF与可变电阻VR2之间的电阻电路a、电阻电路b、电阻电路c和电阻电路d，所述可变电阻VR2上并联有电容C1，且所述可变电阻VR2和所述电容C1均接地，所述电阻电路a包括依次连接的电阻Ra1和电阻Ra2，所述电阻Ra1和所述电阻Ra2之间设置测试连接点A和测试连接点A1，所述电阻电路b包括依次连接的电阻Rb1和电阻Rb2，所述Rb1和所述电阻Rb2之间设置测试连接点B和测试连接点B1，所述电阻电路c包括依次连接的电阻Rc1和电阻Rc2，所述电阻Rc1和所述电阻Rc2之间设置测试连接点C和测试连接点C1，所述电阻电路d包括依次连接的电阻Rd1和电阻Rd2，所述Rd1和所述电阻Rd2之间设置测试连接点D和测试连接点D1，所述四根Mesh线路两端分别连接测试连接点A和测试连接点A1、测试连接点B和测试连接点B1、测试连接点C和测试连接点C1、测试连接点D和测试连接点D1，所述测试连接点A和所述测试连接点A1之间的等效电阻为Ra，所述测试连接点B和所述测试连接点B1之间的等效电阻为Rb，所述测试连接点C和所述测试连接点C1之间的等效电阻为Rc，所述测试连接点D和所述测试连接点D1之间的等效电阻为Rd；

所述电压比较电路包括：运算放大器IC1和运算放大器IC2，所述运算放大器IC1的输入端3与所述可变电阻VR2连接；电压VREF通过电阻R1与所述运算放大器IC1的输入端2连接，所述电阻R1与所述运算放大器IC1的输入端2之间接有并联的可变电阻VR1和电容C2，所述可变电阻VR1和所述电容C2均接地，所述运算放大器IC1的输出端6通过电容C3接地；所述运算放大器IC2的输入端2与所述电阻电路的输出端连接；电压VREF通过电阻R3与所述运算放大器IC2的输入端3连接，所述电阻R3与所述运算放大器IC2的输入端3之间接有并联的可变电阻VR3和电容C4，所述可变电阻VR3和所述电容C4均接地，所述运算放大器IC2的输出端6通过电容C5接地；

所述报警电路包括：与所述运算放大器IC1的输出端6连接的第一报警电路和与所述运算放大器IC2的输出端6连接的第二报警电路，所述第一报警电路包括依次连接的电阻R2和第一报警装置D1，所述电阻R2一端与所述运算放大器IC1的输出端6连接，所述电阻R2另一端与所述第一报警装置D1输入端连接，所述第一报警装置D2输出端接地，所述第二报警电路包括依次连接的电阻R4和第二报警装置D2，所述电阻R4一端与所述运算放大器IC2的输出端6连接，所述电阻R4另一端与所述第二报警装置D2输入端连接，所述第二报警装置D2输出端接地。

2.根据权利要求1所述的一种Mesh线测试电路，其特征在于，所述可变电阻VR1、所述可变电阻VR2和所述可变电阻VR3的可调阻值范围在5KΩ-500KΩ之间。

3.根据权利要求1所述的一种Mesh线测试电路，其特征在于，所述报警装置D1和D2均为发光二极管或蜂鸣器。

4.一种基于权利要求1所述的一种Mesh线测试电路的Mesh线测试方法，其特征在于，该测试方法包括：

步骤1，将正常的四根Mesh线路的两端分别连接测试连接点A和测试连接点A1、测试连接点B和测试连接点B1、测试连接点C和测试连接点C1、测试连接点D和测试连接点D1，此时，所述测试连接点A和所述测试连接点A1之间的等效电阻为Ra，所述测试连接点B和所述测试连接点B1之间的等效电阻为Rb，所述测试连接点C和所述测试连接点C1之间的等效电阻为Rc，所述测试连接点D和所述测试连接点D1之间的等效电阻为Rd；

步骤2，设置电阻Ra1、电阻Ra2、电阻Rb1、电阻Rb2、电阻Rc1、电阻Rc2、电阻Rd1和电阻Rd2的电阻值，并调节可变电阻VR1、可变电阻VR2和可变电阻VR3，确保运算放大器IC1的输入端3的电压低于运算放大器IC1的输入端2的电压，运算放大器IC1的输出端6输出低电平，使得与运算放大器IC1连接的报警装置D1不响应，同时，确保运算放大器IC2的输出端6输出低电平，使得与运算放大器IC2连接的报警装置D2不响应，完成Mesh线测试电路调试；

步骤3，将调试好的Mesh线测试电路通过治具与待测的Mesh线路连接，并在Mesh线测试电路通入电压VREF，开始测试：

当待测的Mesh线路中的任何一条或多条线路开路时，对应的等效电阻Ra、Rb、Rc和Rd中的一个或多个变大，电压VREF与可变电阻VR2之间的总等效电阻变大，VR2端的电压变小，此时，运算放大器IC2的输入端2的电压变小，并低于运算放大器IC2的输入端3的电压，运算放大器IC2的输出端6输出高电平，使得所述报警装置D2响应，同时，运算放大器IC1的输入端3的电压低于运算放大器IC1的输入端2的电压，运算放大器IC1的输出端6输出低电平，使得所述报警装置D1不响应；

当待测的Mesh线中的任何一条或多条线路短路时，电压VREF与可变电阻VR2之间的总等效电阻变小，VR2端的电压变大，此时，运算放大器IC1的输入端3的电压变大，并高于运算放大器IC1的输入端2的电压，运算放大器IC1的输出端6输出高电平，所述报警装置D1响应，同时，运算放大器IC2的输入端2的电压高于运算放大器IC2的输入端3的电压，运算放大器IC2的输出端6输出低电平，所述报警装置D2不响应。

5.根据权利要求书4所述的Mesh线测试方法，其特征在于，所述电阻Ra1、所述电阻Rb2、所述电阻Rc1和所述电阻Rd2的电阻值相等，均为R，所述电阻Ra2、所述电阻Rb1、所述电阻Rc2和所述电阻Rd1的电阻值相等，均为Rˊ，且R/Rˊ≥2。