CN108871191B - 框胶宽度测量设备及测量框胶宽度的方法 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种框胶宽度测量设备以及测量框胶宽度的方法，该框胶宽度测量设备用于检查显示面板的对位精度，其包括：光源；摄像装置，摄像装置包括沿光路依序设置的第一光学镜头以及偏光组件，第一光学镜头为彩色镜头，用于当光源发出光照射在待检查显示面板上时，摄像装置通过第一光学镜头拍摄待检查显示面板而形成第一图像；处理装置，用于对第一图像进行处理以获得显示面板的框胶的宽度，其中，框胶的宽度为框胶远离液晶一侧的边缘和框胶与液晶交界处的边缘之间的距离，通过该框胶宽度测量设备不仅能够检查显示面板的对位精度，还能够在框胶被走线遮挡时测量其宽度。

Description

框胶宽度测量设备及测量框胶宽度的方法

技术领域

本申请涉及显示技术领域，特别是涉及一种框胶宽度测量设备及测量框胶宽度的方法。

背景技术

随着科技的进步，液晶显示器已经成为显示领域的主流产品，其主要包括：阵列基板、彩膜基板、夹在阵列基板和彩膜基板之间的液晶以及框胶。

MAI(Mis-Alignment Inspection)对位检查设备主要是检查阵列基板与彩膜基板贴合后精度的设备，能够及时检查以及反馈显示面板的对位精度，保证良品产出。通过依据目前产品的实际特性以及品质要求，框胶压合后其宽度也需要及时检出，以利于及时指导产线框胶涂布制程，降低不良风险。

本申请的发明人在长期的研究中发现，现有技术中MAI对位检查设备无法测量出框胶宽度，特别是在框胶被走线遮挡的情况下，因此在实际中多采用Offline显微镜检查框胶的宽度，从而指导产线生产，这种方式会耗费大量的人力、物力以及时间，不符合自动化生产线高效率生产模式，且在生产过程中无法实现及时抽检，产品质量存在较大风险。

发明内容

本申请主要解决的技术问题是提供一种框胶宽度测量设备以及测量框胶宽度的方法，既能够检查显示面板的对位精度，还能够在框胶被走线遮挡时测量其宽度。

为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种框胶宽度测量设备，用于检查显示面板的对位精度，其中，所述显示面板包括阵列基板、彩膜基板、夹设在所述阵列基板和所述彩膜基板之间的液晶以及用于将所述阵列基板和所述彩膜基板粘贴在一起的框胶，所述框胶宽度测量设备包括：

光源；

摄像装置，所述摄像装置包括沿光路依序设置的第一光学镜头以及偏光组件，所述第一光学镜头为彩色镜头，用于当所述光源发出光照射在待检查显示面板上时，所述摄像装置通过所述第一光学镜头拍摄所述待检查显示面板而形成第一图像；

处理装置，用于对所述第一图像进行处理以获得所述显示面板的框胶的宽度，其中，所述框胶的宽度为所述框胶远离液晶一侧的边缘和所述框胶与所述液晶交界处的边缘之间的距离。

为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种测量框胶宽度的方法，所述方法利用上述的框胶宽度测量设备，所述方法包括：

所述光源发出光照射在所述待检查显示面板上；

所述摄像装置通过所述第一光学镜头拍摄所述待检查显示面板而形成第一图像；

所述处理装置对所述第一图像进行处理以获得所述框胶的宽度，其中，所述框胶的宽度为所述框胶远离液晶一侧的边缘和所述框胶与液晶交界处的边缘之间的距离。

本申请的有益效果是：区别于现有技术的情况，本申请中的框胶宽度测量设备包括：光源；摄像装置，摄像装置包括沿光路依序设置的第一光学镜头以及偏光组件，第一光学镜头为彩色镜头，用于当光源发出光照射在待检查显示面板上时，摄像装置通过第一光学镜头拍摄待检查显示面板而形成第一图像；处理装置，用于对第一图像进行处理以获得显示面板的框胶的宽度，其中，框胶的宽度为框胶远离液晶一侧的边缘和框胶与液晶交界处的边缘之间的距离，通过该框胶宽度测量设备不仅能够检查显示面板的对位精度，还能够在框胶被走线遮挡时测量其宽度。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：

图1是现有技术中显示面板一实施方式的结构示意图；

图2是本申请框胶宽度测量设备一实施方式的结构示意图；

图3是图2实施方式中的框胶宽度测量设备在工作时的示意图；

图4是图2实施方式中摄像装置20在一应用场景中通过第一光学镜头21拍摄的第一图像的示意图；

图5是本申请框胶宽度测量设备另一实施方式的结构示意图；

图6是本申请测量框胶宽度的方法一实施方式的流程示意图。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性的劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

参阅图1，图1是现有技术中显示面板的结构示意图，本申请中的框胶宽度测量设备能够用于检查显示面板的对位精度，具体地，该显示面板100包括阵列基板1、彩膜基板2、夹设在阵列基板1和彩膜基板2之间的液晶3以及用于将阵列基板1和彩膜基板2粘贴在一起的框胶4，框胶宽度测量设备检查显示面板100的对位精度具体是指检查阵列基板1和彩膜基板2之间的对位精度。

在现有技术中，随着显示器的功能越来越多、精密度越来越高，其走线也越来越多，且更加密集，当阵列基板1和彩膜基板2通过框胶4对位贴合在一起时，框胶4邻近液晶3的一侧容易被走线遮挡，因此一般的检查设备无法测量出显示面板100上框胶4的宽度，特别是被走线遮挡时框胶4的宽度。

参阅图2和图3，图2是本申请框胶宽度测量设备一实施方式的结构示意图，图3是图2实施方式中框胶宽度测量设备工作时的示意图，该框胶宽度测量设备包括：光源10、摄像装置20以及处理装置30。

光源10用于发出光照射在待检查显示面板100上，照亮待检查显示面板100，以便摄像装置20能够拍摄到待检查显示面板100内部的结构。

摄像装置20包括沿光路依序设置的第一光学镜头21以及偏光组件22，其中，第一光学镜头21为彩色镜头。

彩色镜头区别于黑白镜头，其拍摄的画面具有各种颜色，能够真实地还原现实中的事物，且在彩色镜头拍摄的画面中，不同事物之间的区别更加明显，第一光学镜头21与偏光组件22沿光路依序设置，偏光组件22用于消除、减弱非金属表面的强反光，减轻光斑，摄像装置20通过第一光学镜头21和偏光组件22的配合能够拍摄到玻璃后面的景物。

当光源10发出光照射在待检查显示面板100上时，摄像装置20通过第一光学镜头21拍摄待检查显示面板100而形成第一图像。

处理装置30用于对第一图像进行处理以获得显示面板100的框胶4的宽度，其中，框胶4的宽度为框胶4远离液晶3一侧的边缘和框胶4与液晶3交界处的边缘之间的距离。

具体地，参阅图4，图4是图2实施方式中摄像装置20在一应用场景中通过第一光学镜头21拍摄的第一图像的示意图，可以理解是，在现实场景中，第一图像为彩色图像，其中，第一画面31为液晶，第二画面41为框胶，第一边缘411为框胶4与液晶3交界处的边缘画面，第二边缘412为框胶4远离液晶3一侧的边缘画面。

由于摄像装置20通过为彩色镜头的第一光学镜头21拍摄的画面为彩色画面，在该彩色画面中，不同物质之间的对比度更加明显，框胶4与液晶3交界处的第一边缘411为一道亮线，因此无论框胶4是否被走线或其他物质遮挡，只需要根据第一图像中的亮线确定框胶4与液晶3交界处的边缘即可，同时由于第二边缘412为框胶4远离液晶3一侧的边缘，其不容易被走线或其他物质遮挡，在第一图像中能够很容易地确定其位置，最后再计算第一边缘411与第二边缘412之间的距离确定框胶4的宽度。

从上述内容可以看出，本申请中的框胶宽度测量设备保留了测量阵列基板和彩膜基板之间对位精度的功能，同时还增加了测量显示面板中框胶的宽度的功能，能够有效减少ODF(One Drop Filling，液晶滴下制程)产线开线的时间，提高生产线产能，同时无论显示面板上框胶是否被走线或其他物质遮挡，都能够及时地对框胶的宽度进行检查，利于指导产线框胶涂布制程，降低不良风险。

参阅图5，图5是本申请框胶宽度测量设备另一实施方式的结构示意图，与上述实施方式不同的是，在本实施方式中，摄像装置20还包括：第二光学镜头23。

第二光学镜头23为黑白镜头，当光源10发出光照射在待检查显示面板100上时，摄像装置20通过第二光学镜头23拍摄待检查显示面板100而形成第二图像，此时，处理装置30还用于对第二图像进行处理以获得阵列基板1和彩膜基板2之间的对位精度。

也就是说，通过两个光学镜头中的黑白镜头拍摄的画面来获得阵列基板1和彩膜基板2的对位精确，彩色镜头拍摄的画面来计算显示面板100上框胶4的宽度，从而让框胶宽度测量设备兼具两种功能，实现两种功能的切换。

可选的，在一应用场景中，偏光组件22设置在第一光学镜头21邻近待检查显示面板100的一侧，也就是说，光线在经过偏光组件22后进入第一光学镜头21，以消除非金属表面的反光。当然，在其他实施方式中，偏光组件22也可以设置在第一光学镜头21远离待检查显示面板100的一侧，也就是说，偏光组件22对第一光学镜头21拍摄的画面进行偏光处理，同样可以达到预期的效果。

可选的，在一应用场景中，偏光组件22包括：偏光镜片。当然在其他实施方式中，偏光组件22也可以包括偏光镜头，在此不做限制。

可选的，在一应用场景中，摄像装置20为电荷耦合元器件摄像装置，电荷耦合元器件摄像装置简称为CCD(Charge Coupled Device)摄像装置，CCD摄像装置具有体积小、重量轻、不受磁场影响等优点，可缩小框胶宽度测量设备的体积、重量。

可选的，在一应用场景中，光源10和第一光学镜头21位于待检查显示面板100的相对两侧，也就是说，在检查显示面板100的框胶4的宽度时，光源100发出的透射光穿过待显示面板100进入第一光学镜头21中。

参阅图6，图6是本申请测量框胶宽度的方法一实施方式的流程示意图，该方法利用上述任一项实施方式中的框胶宽度测量设备，详细的框胶宽度测量设备可参见上述实施方式，在此不再赘述，下面结合图3对本申请中测量框胶宽度的方法进行详细的说明，该方法包括：

S110：光源10发出光照射在待检查显示面板100上。

光源10和第一光学镜头21位于显示面板100的相对两侧，即光源10发出的透射光穿过显示面板100后进入第一光学镜头21。

S120：摄像装置20通过第一光学镜头21拍摄待检查显示面板100而形成第一图像。

第一光学镜头21和偏光组件22沿着光路依序设置，且可选的，偏光组件22设置在第一光学镜头21邻近待检查显示面板100的一侧，偏光组件22包括：偏光镜片。可选的，摄像装置20为电荷耦合元器件摄像装置。

由于第一光学镜头21为彩色镜头，因此形成的第一图像为彩色图像，在该第一图像中，显示面板100上的液晶3与框胶4交界处的边缘为一道亮线，因此无论框胶4是否被走线或其他物质遮挡，均能够根据亮线的位置确定液晶3与框胶4交界处的边缘。

S130：处理装置30对第一图像进行处理以获得框胶4的宽度，其中，框胶4的宽度为框胶4远离液晶3一侧的边缘和框胶4与液晶3交界处的边缘之间的距离。

由于框胶4远离液晶3一侧不容易被走线或其他物质遮挡，因此在第一图像中能够很容易地确定框胶4远离液晶3一侧的边缘，从而根据框胶4远离液晶3一侧的边缘和框胶4与液晶3交界处的边缘之间的距离确定框胶4的宽度。

可选的，在一应用场景中，步骤S130具体包括：

S131：处理装置30从第一图像中提取框胶4远离液晶3一侧的边缘的第一成像和框胶4与液晶3交界处的边缘的第二成像；

S132：处理装置30获取第一成像与第二成像之间的第一距离，第一距离为框胶的宽度。

由于摄像装置20配合使用了为彩色镜头的第一光学镜头21和偏光组件22，因此在第一图像中，框胶4与液晶3交界处的边缘的第二成像为一道亮线，如图4所示，第二成像为第一边缘411，同时由于框胶4远离液晶3一侧不容易被遮挡，处理装置30能够很容易地从第一图像中提出框胶4远离液晶3一侧的边缘的第一成像，如图4所示，第一成像为第二边缘412，通过获取两个边缘之间的距离，即第一成像与第二成像之间的第一距离，从而确定框胶的宽度。

可选的，如图5所示，当摄像装置20还包括第二光学镜头23，且第二光学镜头23为黑白镜头时，本申请中的方法还包括：

S140：摄像装置20通过第二光学镜头23拍摄待检查显示面板100而形成第二图像。

S150：处理装置30根据第二图像计算出阵列基板1与彩膜基板2之间的对位精度。

通过步骤S140、步骤S150实现框胶宽度测量设备检查阵列基板1和彩膜基板2对位精度的功能。其中，步骤S140既可以和步骤S120同步进行，也可以不同步进行。

总而言之，区别于现有技术的情况，本申请中的框胶宽度测量设备通过设置摄像装置包括沿光路依序设置的第一光学镜片以及偏光组件，且该第一光学镜片为彩色镜头，通过该框胶宽度测量设备不仅能够检查显示面板的对位精度，还能够在无论框胶是否被走线或其他物质遮挡的情况下，测量框胶的宽度。

以上所述仅为本申请的实施方式，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种框胶宽度测量设备，用于检查显示面板的对位精度，其中，所述显示面板包括阵列基板、彩膜基板、夹设在所述阵列基板和所述彩膜基板之间的液晶以及用于将所述阵列基板和所述彩膜基板粘贴在一起的框胶，其特征在于，所述框胶宽度测量设备包括：

光源；

摄像装置，所述摄像装置包括沿光路依序设置的第一光学镜头以及偏光组件，所述第一光学镜头为彩色镜头，用于当所述光源发出光照射在待检查显示面板上时，所述摄像装置通过所述第一光学镜头拍摄所述待检查显示面板而形成第一图像；

处理装置，用于对所述第一图像进行处理以获得所述显示面板的框胶的宽度，其中，所述框胶的宽度为所述框胶远离液晶一侧的边缘和所述框胶与所述液晶交界处的边缘之间的距离。

2.根据权利要求1所述的框胶宽度测量设备，其特征在于，所述框胶宽度测量设备还包括：

第二光学镜头，所述第二光学镜头为黑白镜头，当所述光源发出光照射在所述待检查显示面板上时，所述摄像装置通过所述第二光学镜头拍摄所述待检查显示面板而形成第二图像，

所述处理装置还用于对所述第二图像进行处理以获得所述阵列基板和所述彩膜基板之间的对位精度。

3.根据权利要求1所述的框胶宽度测量设备，其特征在于，

所述偏光组件设置在所述第一光学镜头邻近所述待检查显示面板的一侧。

4.根据权利要求1所述的框胶宽度测量设备，其特征在于，

所述偏光组件包括：偏光镜片。

5.根据权利要求1所述的框胶宽度测量设备，其特征在于，

所述摄像装置为电荷耦合元器件摄像装置；和/或，所述光源和所述第一光学镜头位于所述显示面板的相对两侧。

6.一种测量框胶宽度的方法，其特征在于，所述方法利用权利要求1所述的框胶宽度测量设备，所述方法包括：

所述光源发出光照射在所述待检查显示面板上；

所述摄像装置通过所述第一光学镜头拍摄所述待检查显示面板而形成第一图像；

所述处理装置对所述第一图像进行处理以获得所述框胶的宽度，其中，所述框胶的宽度为所述框胶远离液晶一侧的边缘和所述框胶与液晶交界处的边缘之间的距离。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述处理装置对所述第一图像进行处理以获得所述框胶的宽度，包括：

所述处理装置从所述第一图像中提取所述框胶远离液晶一侧的边缘的第一成像和所述框胶与所述液晶交界处的边缘的第二成像；

所述处理装置获取所述第一成像与所述第二成像之间的第一距离，所述第一距离为所述框胶的宽度。

8.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述摄像装置还包括第二光学镜头，所述第二光学镜头为黑白镜头，所述方法还包括：

所述摄像装置通过所述第二光学镜头拍摄所述待检查显示面板而形成第二图像；

所述处理装置根据所述第二图像计算出所述阵列基板与所述彩膜基板之间的对位精度。

9.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，

所述偏光组件设置在所述第一光学镜头邻近所述待检查显示面板的一侧，所述偏光组件包括：偏光镜片。

10.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，

所述摄像装置为电荷耦合元器件摄像装置；和/或，所述光源和所述第一光学镜头位于所述显示面板的相对两侧。

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