CN108809418A - Lan_wdm光器件检测装置及方法 - Google Patents

Lan_wdm光器件检测装置及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN108809418A
CN108809418A CN201810917667.6A CN201810917667A CN108809418A CN 108809418 A CN108809418 A CN 108809418A CN 201810917667 A CN201810917667 A CN 201810917667A CN 108809418 A CN108809418 A CN 108809418A
Authority
CN
China
Prior art keywords
road
lan
wdm
standard
single mode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201810917667.6A
Other languages
English (en)
Other versions
CN108809418B (zh
Inventor
崔怀军
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SHANGHAI JOINWIT OPTOELECTRONIC TECHNOLOGY Co Ltd
Original Assignee
SHANGHAI JOINWIT OPTOELECTRONIC TECHNOLOGY Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SHANGHAI JOINWIT OPTOELECTRONIC TECHNOLOGY Co Ltd filed Critical SHANGHAI JOINWIT OPTOELECTRONIC TECHNOLOGY Co Ltd
Priority to CN201810917667.6A priority Critical patent/CN108809418B/zh
Publication of CN108809418A publication Critical patent/CN108809418A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN108809418B publication Critical patent/CN108809418B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04B—TRANSMISSION
    • H04B10/00—Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/07—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems
    • H04B10/075—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal
    • H04B10/079—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an in-service signal using measurements of the data signal
    • H04B10/0795—Performance monitoring; Measurement of transmission parameters
    • H04B10/07955—Monitoring or measuring power
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04J—MULTIPLEX COMMUNICATION
    • H04J14/00—Optical multiplex systems
    • H04J14/02—Wavelength-division multiplex systems
    • H04J14/0201—Add-and-drop multiplexing
    • H04J14/0202—Arrangements therefor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optical Communication System (AREA)

Abstract

本发明的目的是提供一种LAN_WDM光器件检测装置及方法，本发明用于检测光通信无源器件LAN_WDM的插入损耗和偏振相关损耗，能够降低成本，提高效率，增加适用范围，被测器件的主要指标为四个波长状态下的IL和四个波长状态下的PDL。本发明将所用功能组件全部连接成系统，组成多功率检测系统，然后创造性取消四台激光光源和四台偏振控制器。又创造性地分离出一个第二4X1_CWDM波分复用器，使得检测装置既低成本、又高效率多功能。能够解决检测效率，设置成本等问题。

Description

LAN_WDM光器件检测装置及方法
技术领域
本发明涉及一种LAN_WDM光器件检测装置及方法。
背景技术
现有的LAN_WDM光器件检测装置用于检测光通信无源器件LAN_WDM的插入损耗(IL)和偏振相关损耗(PDL)。如图1所示，现有的LAN_WDM光器件检测装置需要4个独立光源LD1、LD2、LD3、LD4和4个电动偏振PC1、PC2、PC3、PC4。
LAN_WDM光器件(DUT)随着快速增加，图1所示的LAN_WDM光器件检测装置，只能对FC、LC、SC接口类的LAN_WDM光器件(DUT1)进行检测，而对FA接口类的LAN_WDM光器件(DUT1)测试困难或无法检测。
发明内容
本发明的一个目的是提供一种LAN_WDM光器件检测装置及方法。
根据本发明的一个方面，提供了一种LAN_WDM光器件检测装置，该LAN_WDM光器件检测装置包括：
FC/PC接口的四波长激光器；
FC/PC接口的第一4X1_CWDM波分复用器，所述FC/PC接口的四波长激光器的输出端连接至所述第一4X1_CWDM波分复用器的四个输入端；
FC/PC接口的电动高速偏振模块，所述第一4X1_CWDM波分复用器的输出端连接至所述电动高速偏振模块的输入端；
FC/PC接口的1X4_CWDM波分复用器，所述电动高速偏振模块的输出端连接至1X4_CWDM波分复用器的输入端；
FC/PC接口的四路1X1单模光开关，所述1X4_CWDM波分复用器的四个输出端分别连接所述四路1X1单模光开关的输入端；
分别与所述电动高速偏振模块和四路1X1单模光开关连接的MCU；
FC/PC接口、1X2、50:50的4路单模光分路器，所述四路1X1单模光开关4的输出端分别连接所述4路单模光分路器的输入端，所述4路单模光分路器的每路输出端分成两路，形成共8路FC/PC的输出端；
FC/PC接口的第二4X1_CWDM波分复用器，所述4路单模光分路器的每路输出端的其中一路分别连接至所述第二4X1_CWDM波分复用器的一路输入端；
五路FC/PC接口的法兰口，所述第二4X1_CWDM波分复用器的输出端连接至其中一路法兰口，所述4路单模光分路器的每路输出端的其中另一路分别连接至剩余的四路法兰口；
PD探测器。
进一步的，上述LAN_WDM光器件检测装置中，所述PD探测器的直径为5mm。
本发明还提供一种LAN_WDM光器件检测方法，采用上述的LAN_WDM光器件检测装置，该方法包括：
准备四条标准FC/PC光纤，将各条标准FC/PC光纤的一端分别连接至剩余的四路法兰口，将各条标准FC/PC光纤的另一端连接至连接PD探测器；
通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率参考值分别为dBm1、dBm2、dBm3、dBm4；
将各条标准FC/PC光纤的一端与所述剩余的四路法兰口保持连接，将各条标准FC/PC光纤的另一端与所述PD探测器断开连接；
将各条标准FC/PC光纤的另一端分别连接LAN_WDM光器件的四个输入端，将LAN_WDM光器件的输出端连接至所述PD探测器；
通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率值分别为dBm5、dBm6、dBm7、dBm8；
得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5-dBm1、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4。
进一步的，上述方法中，得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5-dBm1、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4之后，还包括：
所述MCU控制电动高速偏振模块运行，所述MCU通过按键切换到四路1X1单模光开关的四通道中的一路通道，测出此通道dBm_max和dBm_min，将dBm_max与dBm_min相减得到当前通道的偏振相关损耗。
进一步的，上述方法中，所述方法还包括：
将一条标准FC/PC光纤的一端连接第二4X1_CWDM波分复用器的输出端，另一端连接PD探测器；
通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率参考值分别为dBm1、dBm2、dBm3、dBm4；
将所述标准FC/PC光纤的一端与所述第二4X1_CWDM波分复用器的输出端保持连接，另一端与所述PD探测器断开连接；
将所述标准FC/PC光纤的另一端连接至LAN_WDM光器件的输入端；
通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率值分别为dBm5、dBm6、dBm7、dBm8；
得出LAN_WDM四路插损分别为dBm5-dBm1、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4。
进一步的，上述方法中，得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5-dBm1、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4之后，还包括：
通过MCU控制电动偏振控制器运行，MCU通过按键切换到所述四路1X1单模光开关的四通道中的一路通道，测出此通道dBm_max和dBm_min，将dBm_max和dBm_min相减得到此通道的偏振相关损耗。
进一步的，上述方法中，所述方法还包括：
准备四条标准FC/PC光纤，将各条标准FC/PC光纤的一端分别连接至剩余的四路法兰口，将各条标准FC/PC光纤的另一端连接至连接PD探测器；
通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率参考值分别为dBm1、dBm2、dBm3、dBm4；
将各条标准FC/PC光纤的一端与所述剩余的四路法兰口保持连接，将各条标准FC/PC光纤的另一端与所述PD探测器断开连接；
将各条标准FC/PC光纤的另一端分别连接LAN_WDM光器件的四个对应于CH1、CH2、CH3、CH4的接品，将LAN_WDM光器件的COM端连接至所述PD探测器；
通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率值分别为dBm5、dBm6、dBm7、dBm8；
得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5-dBm1、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4。
进一步的，上述方法中，得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5-dBm1、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4之后，还包括：
所述MCU控制电动高速偏振模块运行，所述MCU通过按键切换到四路1X1单模光开关4的四通道中的一路通道，测出此通道dBm_max和dBm_min，将dBm_max与dBm_min相减得到当前通道的偏振相关损耗。
与现有技术相比，本发明用于检测光通信无源器件LAN_WDM的插入损耗和偏振相关损耗，为集成度较高的检测装置。本发明能够降低成本，提高效率，增加适用范围，被测器件的主要指标为四个波长状态下的IL和四个波长状态下的PDL。本发明将所用功能组件全部连接成系统，组成多功率检测系统，然后创造性取消四台激光光源和四台偏振控制器。又创造性地分离出一个第二4X1_CWDM波分复用器，使得检测装置既低成本、又高效率多功能。能够解决检测效率，设置成本等问题。
附图说明
通过阅读参照以下附图所作的对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
图1示出现有的LAN_WDM光器件检测装置的示意图；
图2示出本发明一实施例的FC LC SC ST等接口、基于AWG芯片的LAN_WDM被测器件的PDL、IL测试光路搭建图；
图3示出本发明一实施例的FA接口(一进四出分在两端)基于AWG芯片的LAN_WDM光器件PDL IL测试光路搭建图；
图4示出本发明一实施例的FA接口(一进四出在同一端)基于AWG芯片的LAN_WDM光器件PDL IL测试光路搭建图。
附图中相同或相似的附图标记代表相同或相似的部件。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步详细描述。
如图2～4所示，本发明提供一种LAN_WDM光器件检测装置，包括：
FC/PC接口的四波长激光器；
FC/PC接口的第一4X1_CWDM波分复用器1，所述FC/PC接口的四波长激光器的输出端连接至所述第一4X1_CWDM波分复用器1的四个输入端；
FC/PC接口的电动高速偏振模块2，所述第一4X1_CWDM波分复用器1的输出端连接至所述电动高速偏振模块2的输入端；
FC/PC接口的1X4_CWDM波分复用器3，所述电动高速偏振模块2的输出端连接至1X4_CWDM波分复用器3的输入端；
FC/PC接口的四路1X1单模光开关4，所述1X4_CWDM波分复用器3的四个输出端分别连接所述四路1X1单模光开关4的输入端；
分别与所述电动高速偏振模块2和四路1X1单模光开关4连接的MCU(微控制单元，Microcontroller Unit)；
FC/PC接口、1X2、50:50的4路单模光分路器5，所述四路1X1单模光开关4的输出端分别连接所述4路单模光分路器5的输入端，所述4路单模光分路器5的每路输出端分成两路，形成共8路FC/PC的输出端；其中，50:50表示把每路输入光功率平均分成两路光输出，两路光输出中每路输出占输入光功率的一半；
FC/PC接口的第二4X1_CWDM波分复用器6，所述4路单模光分路器5的每路输出端的其中一路分别连接至所述第二4X1_CWDM波分复用器的一路输入端6；
五路FC/PC接口的法兰口7，所述第二4X1_CWDM波分复用器6的输出端连接至其中一路法兰口7，所述4路单模光分路器5的每路输出端的其中另一路分别连接至剩余的四路法兰口7；
PD探测器8。
在此，本发明用于检测光通信无源器件LAN_WDM的插入损耗和偏振相关损耗，为集成度较高的检测装置。本发明能够降低成本，提高效率，增加适用范围，被测器件的主要指标为四个波长状态下的IL和四个波长状态下的PDL。本发明将所用功能组件全部连接成系统，组成多功率检测系统，然后创造性取消四台激光光源和四台偏振控制器。又创造性地分离出一个第二4X1_CWDM波分复用器6，使得检测装置既低成本、又高效率多功能。能够解决检测效率，设置成本等问题。
基于AWG的LAN_WDM器件检测主要包含MUX与DEMUX两种结构的检测。MUX与DEMUX的主要区别：MUX器件是四波长输入复合波长单输出，DEMUX器件是单通道复合波输入4波长解复输出。
本发明的LAN_WDM光器件检测装置一实施例中，所述PD探测器的直径为5mm。
在此，本光路采用一个Φ5mmPD。由于FA接口的LAN_WDM结构间距100um级别，间距非常小，不能用四个普通Φ0.3mm探测器。因为同时4个普通Φ0.3mm探测器不仅成本过高，同时不能直接检测FA接口的四个通道功率，必须分别引出了极不方便，用一个ΦPD探测器可直接测4路FA接口，如图3所示，FA接口被测器件直接顶在ΦPD探测器上，相当方便。
如图2所示，本发明还提供一种LAN_WDM光器件检测方法，采用上述LAN_WDM光器件检测装置，所述方法包括：
准备四条标准FC/PC光纤，将各条标准FC/PC光纤的一端分别连接至剩余的四路法兰口7，将各条标准FC/PC光纤的另一端连接至连接PD探测器8；
通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关4，记录当前功率参考值分别为dBm1、dBm2、dBm3、dBm4；
将各条标准FC/PC光纤的一端与所述剩余的四路法兰口7保持连接，将各条标准FC/PC光纤的另一端与所述PD探测器断开连接；
将各条标准FC/PC光纤的另一端分别连接LAN_WDM光器件的四个输入端，将LAN_WDM光器件的输出端连接至所述PD探测器；
通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率值分别为dBm5、dBm6、dBm7、dBm8；
得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5-dBm1、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4。
如图2所示，本发明的LAN_WDM光器件检测方法一实施例中，得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5-dBm1、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4之后，还包括：
所述MCU控制电动高速偏振模块2运行，所述MCU通过按键切换到四路1X1单模光开关4的四通道中的一路通道，测出此通道dBm_max(最大值)和dBm_min(最小值)，dBm_max与dBm_min相减即可得到当前通道的偏振相关损耗。
具体的，FC_PC接口的LAN_WDM器件测试如图2所示，具体测试原理如下：
四进一出基于AWG的LAN_WDM的插损IL检测方法MUX(4路输出和1路输入)：
首先将四条标准FC/PC光纤的一端连接至四个FC_PC法兰7四路输出端，另一端依次连接PD探测器8，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率参考值分别为dBm1、dBm2、dBm3、dBm4。
此后，依次将标准FC/PC光纤从连接至PD探测器8的取出，连接至LAN_WDM的四个输入端。LAN_WDM的输出端连接至PD探测器8。此时依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率值分别为dBm5、dBm6、dBm7、dBm8。此时可以得出LAN_WDM四路插损分别为dBm5-dBm1、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4。
一进四出基于AWG的LAN_WDM插损的检测方法DEMUX：
此方法和四进一出检测一样。器件倒过来检测即可。
LAN_WDM的PDL测试:
MCU控制电动高速偏振模块运行，MCU通过按键切换到四路1X1单模光开关的四通道中的一路通道，测出此通道dBm_max和dBm_min，相减即可得到当前通道的PDL。
如图3所示，本发明的LAN_WDM光器件检测方法一实施例中，所述方法，还包括：
将一条标准FC/PC光纤的一端连接第二4X1_CWDM波分复用器的输出端6，另一端连接PD探测器8；
通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关4，记录当前功率参考值分别为dBm1、dBm2、dBm3、dBm4；
将所述标准FC/PC光纤的一端与所述第二4X1_CWDM波分复用器6的输出端保持连接，另一端与所述PD探测器8断开连接；
将所述标准FC/PC光纤的另一端连接至LAN_WDM光器件的输入端；
通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率值分别为dBm5、dBm6、dBm7、dBm8；
得出LAN_WDM四路插损分别为dBm5-dBm1、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4。
如图3所示，本发明的LAN_WDM光器件检测方法一实施例中，得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5-dBm1、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4之后，还包括：
通过MCU控制电动偏振控制器运行，MCU通过按键切换到所述四路1X1单模光开关4的四通道中的一路通道，测出此通道dBm_max和dBm_min，将dBm_max和dBm_min相减即可得到此通道的偏振相关损耗。
具体的，一进四出分在两端组成FA接口的LAN_WDM器件测试如图3所示：
由于FA接口的LAN_WDM结构间距100um级别，间距非常小，不能用四个普通Φ0.3mm的PD，本光路采用一个Φ5mmPD检测具体测试原理如下：
首先将一条标准FC/PC光纤的一端连接第二4X1_CWDM波分复用器6的输出端，另一端连接PD探测器8，依次切换四路1X1单模光开关4，记录当前功率参考值分别为dBm1、dBm2、dBm3、dBm4。
此后，将所述标准FC/PC光纤连接至PD探测器8的断开后，连接至LAN_WDM的输入端。LAN_WDM的输出端直接对接至PD探测器8上。此时依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率值分别为dBm5、dBm6、dBm7、dBm8。此时可以得出LAN_WDM四路插损分别为dBm5-dBm1、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4。
LAN_WDM的PDL测试:
MCU控制电动偏振控制器运行，MCU通过按键切换到所述四路1X1单模光开关4的四通道中的一路通道，测出此通道dBm_max和dBm_min，相减即可得到此通道的PDL。
如图4所示，本发明的LAN_WDM光器件检测方法一实施例中，还包括：
准备四条标准FC/PC光纤，将各条标准FC/PC光纤的一端分别连接至剩余的四路法兰口7，将各条标准FC/PC光纤的另一端连接至连接PD探测器8；
通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关4，记录当前功率参考值分别为dBm1、dBm2、dBm3、dBm4；
将各条标准FC/PC光纤的一端与所述剩余的四路法兰口7保持连接，将各条标准FC/PC光纤的另一端与所述PD探测器断开连接；
将各条标准FC/PC光纤的另一端分别连接LAN_WDM光器件的四个对应于CH1、CH2、CH3、CH4的接品，将LAN_WDM光器件的COM端连接至所述PD探测器8；
通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率值分别为dBm5、dBm6、dBm7、dBm8；
得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5-dBm1、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4。
如图4所示，本发明的LAN_WDM光器件检测方法一实施例中，得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5-dBm1、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4之后，还包括：
所述MCU控制电动高速偏振模块2运行，所述MCU通过按键切换到四路1X1单模光开关4的四通道中的一路通道，测出此通道dBm_max(最大值)和dBm_min(最小值)，dBm_max与dBm_min相减即可得到当前通道的偏振相关损耗。
具体的，一进四出在同一端组成FA接口的LAN_WDM器件测试如图4所示，对于此种器件的检测将同一段五个端口分别接至五路FC_PC引出，其中，对应于CH1、CH2、CH3、CH4的接口连接至剩余的四路法兰口7。COM端连接至5MM探测器，具体检测方法和图2一样。
如图4所示，LAN_WDM光器件的五路FC_PC的接口中，从左到右依次是1330nmFC_PC接口、1310nmFC_PC接口、1290nm FC_PC接口、1270nmFC_PC接口和COM端探测器FC_PC接口。
CH1、CH2、CH3、CH4分别代表LAN_WDM光器件的四个波长，COM端代表被测器件公共端。具体CH1、CH2、CH3、CH4代表哪个波长看LAN_WDM光器件的波长参数。
综上所述，本发明具有如下优点：
①效率提高：5倍。
②成本降低：70％。
③结果准确：减少插拔误差。
④操作简单：一键自动化检测。
显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。
对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化涵括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。此外，显然“包括”一词不排除其他单元或步骤，单数不排除复数。装置权利要求中陈述的多个单元或装置也可以由一个单元或装置通过软件或者硬件来实现。第一，第二等词语用来表示名称，而并不表示任何特定的顺序。

Claims (8)

1.一种LAN_WDM光器件检测装置，其中，该装置包括：
FC/PC接口的四波长激光器；
FC/PC接口的第一4X1_CWDM波分复用器，所述FC/PC接口的四波长激光器的输出端连接至所述第一4X1_CWDM波分复用器的四个输入端；
FC/PC接口的电动高速偏振模块，所述第一4X1_CWDM波分复用器的输出端连接至所述电动高速偏振模块的输入端；
FC/PC接口的1X4_CWDM波分复用器，所述电动高速偏振模块的输出端连接至1X4_CWDM波分复用器的输入端；
FC/PC接口的四路1X1单模光开关，所述1X4_CWDM波分复用器的四个输出端分别连接所述四路1X1单模光开关的输入端；
分别与所述电动高速偏振模块和四路1X1单模光开关连接的MCU；
FC/PC接口、1X2、50:50的4路单模光分路器，所述四路1X1单模光开关4的输出端分别连接所述4路单模光分路器的输入端，所述4路单模光分路器的每路输出端分成两路，形成共8路FC/PC的输出端；
FC/PC接口的第二4X1_CWDM波分复用器，所述4路单模光分路器的每路输出端的其中一路分别连接至所述第二4X1_CWDM波分复用器的一路输入端；
五路FC/PC接口的法兰口，所述第二4X1_CWDM波分复用器的输出端连接至其中一路法兰口，所述4路单模光分路器的每路输出端的其中另一路分别连接至剩余的四路法兰口；
PD探测器。
2.根据权利要求1所述的LAN_WDM光器件检测装置，其中，所述PD探测器的直径为5mm。
3.一种LAN_WDM光器件检测方法，其中，采用如权利要求1或2所述的LAN_WDM光器件检测装置，该方法包括：
准备四条标准FC/PC光纤，将各条标准FC/PC光纤的一端分别连接至剩余的四路法兰口，将各条标准FC/PC光纤的另一端连接至连接PD探测器；
通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率参考值分别为dBm1、dBm2、dBm3、dBm4；
将各条标准FC/PC光纤的一端与所述剩余的四路法兰口保持连接，将各条标准FC/PC光纤的另一端与所述PD探测器断开连接；
将各条标准FC/PC光纤的另一端分别连接LAN_WDM光器件的四个输入端，将LAN_WDM光器件的输出端连接至所述PD探测器；
通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率值分别为dBm5、dBm6、dBm7、dBm8；
得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5-dBm1、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4。
4.如权利要求3所述的LAN_WDM光器件检测方法，其中，得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5-dBm1、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4之后，还包括：
所述MCU控制电动高速偏振模块运行，所述MCU通过按键切换到四路1X1单模光开关的四通道中的一路通道，测出此通道dBm_max和dBm_min，将dBm_max与dBm_min相减得到当前通道的偏振相关损耗。
5.如权利要求3所述的LAN_WDM光器件检测方法，其中，所述方法还包括：
将一条标准FC/PC光纤的一端连接第二4X1_CWDM波分复用器的输出端，另一端连接PD探测器；
通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率参考值分别为dBm1、dBm2、dBm3、dBm4；
将所述标准FC/PC光纤的一端与所述第二4X1_CWDM波分复用器的输出端保持连接，另一端与所述PD探测器断开连接；
将所述标准FC/PC光纤的另一端连接至LAN_WDM光器件的输入端；
通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率值分别为dBm5、dBm6、dBm7、dBm8；
得出LAN_WDM四路插损分别为dBm5-dBm1、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4。
6.如权利要求5所述的LAN_WDM光器件检测方法，其中，得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5-dBm1、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4之后，还包括：
通过MCU控制电动偏振控制器运行，MCU通过按键切换到所述四路1X1单模光开关的四通道中的一路通道，测出此通道dBm_max和dBm_min，将dBm_max和dBm_min相减得到此通道的偏振相关损耗。
7.如权利要求3所述的LAN_WDM光器件检测方法，其中，所述方法还包括：
准备四条标准FC/PC光纤，将各条标准FC/PC光纤的一端分别连接至剩余的四路法兰口，将各条标准FC/PC光纤的另一端连接至连接PD探测器；
通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率参考值分别为dBm1、dBm2、dBm3、dBm4；
将各条标准FC/PC光纤的一端与所述剩余的四路法兰口保持连接，将各条标准FC/PC光纤的另一端与所述PD探测器断开连接；
将各条标准FC/PC光纤的另一端分别连接LAN_WDM光器件的四个对应于CH1、CH2、CH3、CH4的接品，将LAN_WDM光器件的COM端连接至所述PD探测器；
通过所述MCU，依次切换四路1X1单模光开关，记录当前功率值分别为dBm5、dBm6、dBm7、dBm8；
得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5-dBm1、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4。
8.如权利要求7所述的LAN_WDM光器件检测方法，其中，得出LAN_WDM的四路插损分别为dBm5-dBm1、dBm6-dBm2、dBm7-dBm3、dBm8-dBm4之后，还包括：
所述MCU控制电动高速偏振模块运行，所述MCU通过按键切换到四路1X1单模光开关4的四通道中的一路通道，测出此通道dBm_max和dBm_min，将dBm_max与dBm_min相减得到当前通道的偏振相关损耗。
CN201810917667.6A 2018-08-13 2018-08-13 Lan_wdm光器件检测装置及方法 Active CN108809418B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810917667.6A CN108809418B (zh) 2018-08-13 2018-08-13 Lan_wdm光器件检测装置及方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810917667.6A CN108809418B (zh) 2018-08-13 2018-08-13 Lan_wdm光器件检测装置及方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN108809418A true CN108809418A (zh) 2018-11-13
CN108809418B CN108809418B (zh) 2024-03-29

Family

ID=64079973

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810917667.6A Active CN108809418B (zh) 2018-08-13 2018-08-13 Lan_wdm光器件检测装置及方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN108809418B (zh)

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1292609A (zh) * 1999-10-08 2001-04-25 深圳市华为技术有限公司 光功率监测系统
US6233261B1 (en) * 1997-08-11 2001-05-15 Eci Telecom Ltd. Optical communications system
US20080019693A1 (en) * 2006-07-18 2008-01-24 Novera Optics, Inc. Open access service model using WDM-PON
CN102177667A (zh) * 2008-10-09 2011-09-07 韩国科学技术院 无源光网络中的故障定位方法和故障定位设备、以及具有该故障定位设备的无源光网络
CN102201864A (zh) * 2011-07-08 2011-09-28 武汉光迅科技股份有限公司 一种多通道光器件的损耗测试装置
CN102594443A (zh) * 2011-01-10 2012-07-18 上海坤腾光电科技有限公司 光分路器性能测试系统
CN202978941U (zh) * 2012-12-06 2013-06-05 上海光家仪器仪表有限公司 多通道光分路器回波损耗测试分析仪
CN103297125A (zh) * 2013-03-21 2013-09-11 镇江奥菲特光电科技有限公司 光纤分路器自动测试系统
CN208508947U (zh) * 2018-08-13 2019-02-15 上海嘉慧光电子技术有限公司 Lan_wdm光器件检测装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6233261B1 (en) * 1997-08-11 2001-05-15 Eci Telecom Ltd. Optical communications system
CN1292609A (zh) * 1999-10-08 2001-04-25 深圳市华为技术有限公司 光功率监测系统
US20080019693A1 (en) * 2006-07-18 2008-01-24 Novera Optics, Inc. Open access service model using WDM-PON
CN102177667A (zh) * 2008-10-09 2011-09-07 韩国科学技术院 无源光网络中的故障定位方法和故障定位设备、以及具有该故障定位设备的无源光网络
CN102594443A (zh) * 2011-01-10 2012-07-18 上海坤腾光电科技有限公司 光分路器性能测试系统
CN102201864A (zh) * 2011-07-08 2011-09-28 武汉光迅科技股份有限公司 一种多通道光器件的损耗测试装置
CN202978941U (zh) * 2012-12-06 2013-06-05 上海光家仪器仪表有限公司 多通道光分路器回波损耗测试分析仪
CN103297125A (zh) * 2013-03-21 2013-09-11 镇江奥菲特光电科技有限公司 光纤分路器自动测试系统
CN208508947U (zh) * 2018-08-13 2019-02-15 上海嘉慧光电子技术有限公司 Lan_wdm光器件检测装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
刘健;周沅韬;: "PLC型光分路器光学特性测试", 广东通信技术, no. 09 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN108809418B (zh) 2024-03-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102201864B (zh) 一种多通道光器件的损耗测试装置
CN105049113B (zh) 一种有源光模块多通道自动化测试系统及方法
CN103630331B (zh) 多通道光纤插回损测试仪及测试校准方法
CN101430242B (zh) 用于对掺铒光纤放大器性能进行自动测试的装置及方法
US20160349145A1 (en) Mpo switch, fiber test device, system and kit
CN104467959B (zh) 使用光损耗测试仪器的免提光纤测试的方法及装置
KR20000048848A (ko) 광섬유 시스템 부품 테스트용 장치 및 방법
CN107332101A (zh) 一种可动态执行光时域反射检测的组件和检测方法
CN105099546B (zh) 一种双工光纤跳线插回损快速测试和极性判断的方法
CN208508947U (zh) Lan_wdm光器件检测装置
CN103297125B (zh) 光纤分路器自动测试系统
US20140072297A1 (en) Optical fiber loopback adapter
CN109039445A (zh) 一种多通道光猫调测试系统及其调测试方法
CN108809418A (zh) Lan_wdm光器件检测装置及方法
CN104506233A (zh) 一种1xN多通道光开关的轮询测试系统
CN102855167B (zh) 可实现100%bit覆盖的双通道计算机ain功能电路
KR102491712B1 (ko) 광섬유 연결성 측정기
CN203340083U (zh) 光纤分路器自动测试系统
CN114726435A (zh) 无源光器件测试系统
CN104363044B (zh) 一种光线路保护设备的校准及测试系统
CN207703454U (zh) 一种手持式光纤检测仪
CN208254643U (zh) 一种多路多功能光功率检测设备
CN108955876A (zh) 一种新型光功率检测设备
US6930767B2 (en) Measurement system for multiple optical components
CN210426954U (zh) 一种光量子交换机插损测量系统

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
CB03 Change of inventor or designer information
CB03 Change of inventor or designer information

Inventor after: Cui Huaijun

Inventor after: Qu Lei

Inventor after: Zhang Yang

Inventor after: Cui Tongjun

Inventor before: Cui Huaijun

GR01 Patent grant
GR01 Patent grant