CN108803063A - 一种偏振改变及选择装置 - Google Patents

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王城强
吴季
陈伟
张星
陈秋华
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Fujian Castech Crystals Inc
Castech Inc
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Fujian Castech Crystals Inc
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    • G02B27/28—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for polarising
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Abstract

本发明公开了一种偏振改变及选择装置。本发明描述的偏振改变及选择装置，包括双折射晶体（1）、（2）、1/4波片（3）、反射镜（4）。装置通过利用晶体ne、no不同以及全反射原理，配合波片能够实现输入激光偏振态的改变以及最终的选择输出。本发明的优点在于：装置结构紧凑，成本低廉，能够实现入射激光偏振态的改变以及选择输出。

Description

一种偏振改变及选择装置
技术领域
本发明涉及一种偏振改变及选择装置，属于光学领域。
背景技术
偏振是各类激光器的普遍特性，这是由激光形成的原理所决定的。在激光应用领域，偏振光学尤为重要。偏振光源在与介质相互作用以后出来的散射光会带有其自身特性所决定的偏振信息。在大气光学、海洋光学中，人们很早就开始了对混浊介质中偏振光的散射现象进行研究，并取得了一定的成果。
在一些具体应用中，需要通过改变原有光源的偏振态进行对比测试分析，常规使用波片直接进行相位调节，但是光路上调整麻烦，且时常无法保证较高的偏振正确性。本发明针对这样的问题，利用双折射晶体中寻常光与非寻常光的折射率不同以及全反射特性进行设计，设计了一套偏振改变及选择装置，以解决偏振光具体应用过程中需要改变偏振态输出的问题。
发明内容
本发明公开了一种偏振改变及选择装置。
本发明描述的偏振改变及选择装置，包括双折射晶体（1）、（2）、1/4波片（3）、反射镜（4）。装置通过利用晶体ne、no不同以及全反射原理，配合波片能够实现输入激光偏振态的改变以及最终的选择输出。
本发明的优点在于：装置结构紧凑，成本低廉，能够实现入射激光偏振态的改变以及选择输出。
附图说明
图1. 一种偏振改变及选择装置结构图，
图2. 一种偏振改变及选择装置工作图示。
具体实施方式
参考附图，为了使本发明的特性和优点更加清晰明了，下面参照附图结合具体示例对本发明进行说明，但不仅限于附图。
首先，选择两片双折射晶体（1）、（2），它们都为等腰梯形结构且尺寸相同，光轴如图2所示，双折射晶体（1）光轴垂直于入射面，双折射晶体（2）光轴平行与入射面。取双折射晶体为正单轴晶体，ne＞no。等腰体型的角度α根据全反射临界角计算公式sinα=no/ne，90°＞α＞arcsin（no/ne），将双折射晶体（1）与（2）底面键合在一起。取入射光相对于晶体为o光。当入射光进入双折射晶体（1）时，部分光进入到双折射晶体（2）中，而后透过晶体到达1/4波片，又由反射镜（4）原路返回，此时再次经过1/4波片，光的偏振态变化π/2后，再次进入双折射晶体（2）中，此时光相当于双折射晶体为e光。当光再次达到双折射晶体（2）与双折射晶体（1）的交界面时，由于此时光的入射已满足全反射条件，光将发生全反射，不再进入双折射晶体（1）中，而是反射至双折射晶体的另一个面出射，此时达到改变原光偏振态以及选择出射的目的。

Claims (5)

1.一种偏振态改变及选择装置，其特征在于包括：双折射晶体（1）、（2）、1/4波片（3）、反射镜（4）。
2.根据权利要求1所述的一种偏振态改变及选择装置，其特征在与输入光与输出光在同侧。
3.根据权利要求1所述的双折射晶体（1）、（2），为等腰梯形，且尺寸相同，角度α大于o、e光全反射临界角。
4.根据权利要求2所述的双折射晶体（1）、（2）通光面可以镀工作波长的增透膜。
5.根据权利要求2所述的双折射晶体（1）、（2）底面需键合在一起。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101413789A (zh) * 2007-10-18 2009-04-22 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 表面轮廓检测装置及其检测方法
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CN204479796U (zh) * 2014-11-07 2015-07-15 徐州旭海光电科技有限公司 反射型光环形器阵列
CN106872036A (zh) * 2015-12-10 2017-06-20 南京衍射光电科技有限公司 基于双折射偏振干涉的高光谱成像装置及方法

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SE01 Entry into force of request for substantive examination
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Application publication date: 20181113

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