CN108768558B - 一种td-lte基站电磁辐射相关性检测方法 - Google Patents

一种td-lte基站电磁辐射相关性检测方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种TD‑LTE基站电磁辐射相关性检测方法，其步骤如下：通过建立TD‑LTE基站电磁辐射强度时间序列f(t)的噪声滤除公式可获得无噪序列
Figure DDA0001659477430000011
再将两个不同时间段的基站电磁辐射强度时间序列f(x)，f(y)，其中x，y为时间，单位为小时，分别代入噪声滤除公式获得两个无噪序列
Figure DDA0001659477430000012
再将两个无噪序列分别求平均获得
Figure DDA0001659477430000013
和

Description

一种TD-LTE基站电磁辐射相关性检测方法
技术领域
本发明涉及一种TD-LTE基站电磁辐射相关性检测方法。
背景技术
基站电磁辐射序列随时间的变化在不同时间段中其变化规律具有一定的相关性，而基站电磁辐射相关性检测研究中不同时段电磁辐射序列的噪声往往会影响其相关性的体现，因此在对基站电磁辐射序列不同时段序列变化相关性检测中，可以通过滤除基站电磁辐射噪声后对TD-LTE基站电磁辐射序列变化的相关性进行检测，但目前已公开文献和专利，没有通过滤除基站电磁辐射噪声后对TD-LTE基站电磁辐射相关性检测的方法。
针对现有技术中存在的不足，本专利通过建立TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(t)的噪声滤除公式可获得无噪序列
Figure GDA0002726288310000011
再将两个不同时间段的基站电磁辐射强度时间序列f(x)，f(y)，其中x，y为时间，单位为小时，分别代入噪声滤除公式获得两个无噪序列
Figure GDA0002726288310000012
再将两个无噪序列分别求平均获得
Figure GDA0002726288310000013
和
Figure GDA0002726288310000014
最后将获得的无噪序列以及无噪序列的平均值代入相关性表达式求得相关系数值p(x,y)。通过实验表明，本专利提出的TD-LTE基站电磁辐射相关性检测方法能高效且精确的检测出TD-LTE基站电磁辐射在不同时间段的相关系数值。
发明内容
为了解决上述技术问题，本发明提供一种TD-LTE基站电磁辐射相关性检测方法。
本发明解决上述技术问题的技术方案包括以下步骤：
1)、建立TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(t)的噪声滤除公式，获得无噪序列
Figure GDA0002726288310000015
Figure GDA0002726288310000016
其中：
Figure GDA0002726288310000017
Figure GDA0002726288310000018
d＝<f(t),Ψ(t)> (4)
c＝<f(t),φ(t)> (5)
在上式(1)中，
Figure GDA0002726288310000019
为基站电磁辐射强度时间序列f(t)的无噪序列，f(t)为基站电磁辐射强度时间序列，单位为V/m，t为时间，单位为小时，d为变化系数，c为尺度系数，<f(t),Ψ(t)>为f(t)与Ψ(t)的函数内积，<f(t),φ(t)>为f(t)与φ(t)的函数内积；
2)、将两个不同时间段的基站电磁辐射强度时间序列f(x)，f(y)，其中x，y为时间，单位为小时，分别代入步骤1)，获得两个无噪序列
Figure GDA0002726288310000021
Figure GDA0002726288310000022
再将两个无噪序列分别求平均获得
Figure GDA0002726288310000023
和
Figure GDA0002726288310000024
Figure GDA0002726288310000025
Figure GDA0002726288310000026
其中，
Figure GDA0002726288310000027
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(x)的无噪序列，
Figure GDA0002726288310000028
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(x)无噪序列的平均值，
Figure GDA0002726288310000029
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(y)的无噪序列，n为时间序列f(x)和f(y)中电磁辐射强度值的个数，
Figure GDA00027262883100000210
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(y)无噪序列的平均值；
3)、将步骤2)中获得的
Figure GDA00027262883100000211
代入相关性表达式求得相关系数值p(x,y)：
Figure GDA00027262883100000212
在上式中，p(x,y)为相关系数值，
Figure GDA00027262883100000213
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(x)的无噪序列，
Figure GDA00027262883100000214
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(x)无噪序列的平均值，
Figure GDA00027262883100000215
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(y)的无噪序列，n为时间序列f(x)和f(y)中电磁辐射强度值的个数，
Figure GDA00027262883100000216
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(y)无噪序列的平均值。
本发明的有益效果在于：通过建立TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(t)的噪声滤除公式可获得无噪序列
Figure GDA00027262883100000217
再将两个不同时间段的基站电磁辐射强度时间序列f(x)，f(y)，分别通过噪声滤除公式，并将获得的噪声滤除序列求平均，最后将获得的无噪序列以及无噪序列的平均值代入相关性表达式求得相关系数值p(x,y)。本专利提出的TD-LTE基站电磁辐射相关性检测方法，能高效且精确的检测出TD-LTE基站电磁辐射在不同时间段的相关系数值，该方法对基站建设和环境保护有较大的参考价值，具有一定的社会效益。
具体实施方式
本实施例在以本发明内容为前提下进行，给出了详细的实施步骤，但本发明的保护范围不限于下述的实施例。
本次实施的实验地在空旷平坦的区域,实施对象为校教学楼屋顶基站，实验仪器为频谱分析仪AT6030D，测量对象为TD-LTE基站。
下面结合具体实施例对本发明做进一步的说明，具体步骤为：
步骤一：建立TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(t)的噪声滤除公式，获得无噪序列
Figure GDA0002726288310000031
Figure GDA0002726288310000032
其中：
Figure GDA0002726288310000033
Figure GDA0002726288310000034
d＝<f(t),Ψ(t)> (12)
c＝<f(t),φ(t)> (13)
在上式(9)中，
Figure GDA0002726288310000035
为基站电磁辐射强度时间序列f(t)的无噪序列，f(t)为基站电磁辐射强度时间序列，单位为V/m，t为时间，单位为小时，d为变化系数，c为尺度系数，<f(t),Ψ(t)>为f(t)与Ψ(t)的函数内积，<f(t),φ(t)>为f(t)与φ(t)的函数内积。
步骤二：将两个不同时间段的基站电磁辐射强度时间序列f(x)，f(y)，其中x，y为时间，单位为小时，分别代入步骤1，获得两个无噪序列
Figure GDA0002726288310000036
Figure GDA0002726288310000037
再将两个无噪序列分别求平均获得
Figure GDA0002726288310000038
和
Figure GDA0002726288310000039
Figure GDA00027262883100000310
Figure GDA00027262883100000311
其中，
Figure GDA00027262883100000312
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(x)的无噪序列，
Figure GDA00027262883100000313
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(x)无噪序列的平均值，
Figure GDA00027262883100000314
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(y)的无噪序列，n为时间序列f(x)和f(y)中电磁辐射强度值的个数，
Figure GDA00027262883100000315
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(y)无噪序列的平均值。
在本次实施例中，将两个不同时间段的基站电磁辐射序列各自95个电磁辐射强度值f(x)＝[0.1397，0.1451，…，0.1431]，f(y)＝[0.1445，0.1514，…，0.1564]通过式(9)获得无噪序列
Figure GDA00027262883100000316
再将两个无噪序列
Figure GDA00027262883100000317
分别求平均获得
Figure GDA00027262883100000318
和
Figure GDA00027262883100000319
步骤三：将步骤2中获得的
Figure GDA0002726288310000041
代入相关性表达式求得相关系数值p(x,y)：
Figure GDA0002726288310000042
在上式中，p(x,y)为相关系数值，
Figure GDA0002726288310000043
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(x)的无噪序列，
Figure GDA0002726288310000044
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(x)无噪序列的平均值，
Figure GDA0002726288310000045
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(y)的无噪序列，n为时间序列f(x)和f(y)中电磁辐射强度值的个数，
Figure GDA0002726288310000046
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(y)无噪序列的平均值。
在本次实施例中，将步骤2中获得的
Figure GDA0002726288310000047
代入相关性表达式(16)，求得相关系数值p(x,y)＝0.689。

Claims (1)

1.一种TD-LTE基站电磁辐射相关性检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
1)、建立TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(t)的噪声滤除公式，获得无噪序列
Figure FDA0002726288300000011
Figure FDA0002726288300000012
其中：
Figure FDA0002726288300000013
Figure FDA0002726288300000014
d＝<f(t),Ψ(t)> (4)
c＝<f(t),φ(t)> (5)
在上式(1)中，
Figure FDA0002726288300000015
为基站电磁辐射强度时间序列f(t)的无噪序列，f(t)为基站电磁辐射强度时间序列，单位为V/m，t为时间，单位为小时，d为变化系数，c为尺度系数，<f(t),Ψ(t)>为f(t)与Ψ(t)的函数内积，<f(t),φ(t)>为f(t)与φ(t)的函数内积；
2)、将两个不同时间段的基站电磁辐射强度时间序列f(x)，f(y)，其中x，y为时间，单位为小时，分别代入步骤1)，获得两个无噪序列
Figure FDA0002726288300000016
Figure FDA0002726288300000017
再将两个无噪序列分别求平均获得
Figure FDA0002726288300000018
和
Figure FDA0002726288300000019
Figure FDA00027262883000000110
Figure FDA00027262883000000111
其中，
Figure FDA00027262883000000112
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(x)的无噪序列，
Figure FDA00027262883000000113
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(x)无噪序列的平均值，
Figure FDA00027262883000000114
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(y)的无噪序列，n为时间序列f(x)和f(y)中电磁辐射强度值的个数，
Figure FDA00027262883000000115
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(y)无噪序列的平均值；
3)、将步骤2)中获得的
Figure FDA00027262883000000116
代入相关性表达式求得相关系数值p(x,y)：
Figure FDA00027262883000000117
在上式中，p(x,y)为相关系数值，
Figure FDA00027262883000000118
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(x)的无噪序列，
Figure FDA00027262883000000119
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(x)无噪序列的平均值，
Figure FDA00027262883000000120
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(y)的无噪序列，n为时间序列f(x)和f(y)中电磁辐射强度值的个数，
Figure FDA00027262883000000121
为TD-LTE基站电磁辐射强度时间序列f(y)无噪序列的平均值。
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