CN108762591A - 一种电容式触控方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电容式触控方法及装置，应用于电容式触控面板，所述电容式触控面板包括单层电极层；所述单层电极层包括呈矩阵式排列的多个电极板；所述方法包括：获取目标位置解析度；确定与所述目标位置解析度匹配的感应单元的目标尺寸参数；根据目标尺寸参数对各个电极板进行短路控制，以将所述单层电极层划分为多个满足所述目标尺寸参数的目标感应单元。通过该技术方案，可以满足不同场景下对位置解析度的应用需求。

Description

一种电容式触控方法及装置

技术领域

本发明涉及悬浮触控技术领域，特别涉及一种电容式触控方法及装置。

背景技术

手势感应，也称，免触碰科技，主要是通过电子设备上的各种传感器感应处理用户的操作手势，来完成一系列的操控。实现手势感应的一项重要技术就是悬浮触控技术。

悬浮触控技术是通过电容式触控装置来检测用户在触控面板上执行触控操作时的触控位置。电容式触控装置通过其触控面板上各个感应单元的电容变化进行工作。当有触控物(如手指)靠近触控面板时，触控物所在位置对应的感应单元的电容会发生变化，故通过检测各个感应单元的电容变化，即可确定触控物所在位置，即上述触控位置。

实际应用中，不同场景下对位置解析度(即触控面板可以检测到的最小位移)的要求不同；如精细操作时，需要较高的位置解析度，而粗略操作时，对位置解析度的要求较低。而相关技术中，触控面板一旦制作完成，其能检测到的最小位移，即位置解析度，也固定，难以适应不同场景的应用需求。

发明内容

本发明提供一种电容式触控方法及装置，用以实现根据目标位置解析度调整感应单元的面积，从而满足不同场景下对位置解析度的应用需求。

本发明第一方面提供一种电容式触控方法，应用于电容式触控面板，所述电容式触控面板包括单层电极层；所述单层电极层包括呈矩阵式排列的多个电极板；

所述方法包括：

获取目标位置解析度；

确定与所述目标位置解析度匹配的感应单元的目标尺寸参数；其中，目标尺寸参数即用于表征当前所需感应单元尺寸的一种或多种参数。

根据目标尺寸参数对各个电极板进行短路控制，以将所述单层电极层划分为多个满足所述目标尺寸参数的目标感应单元。

在该实施例中，当对位置解析度有要求时，可以获取目标位置解析度，进而根据目标位置解析度确定与其匹配的目标尺寸参数，从而满足不同场景下对位置解析度的应用需求。

可选的，所述确定与所述目标位置解析度匹配的感应单元的目标尺寸参数包括：

获取位置解析度和感应单元的尺寸参数之间的第一对应关系，其中，所述位置解析度与所述尺寸参数负相关；

根据所述第一对应关系确定与所述目标位置解析度匹配的感应单元的目标尺寸参数。

在该实施例中，在不考虑悬浮触控高度的应用需求下，目标位置解析度可以与感应单元包含的电极板的目标个数、感应单元的目标面积等尺寸参数负相关，即目标位置解析度越高，与其匹配的目标个数、目标面积就越小，反之，目标位置解析度越低，与其匹配的目标个数、目标面积就越大。这样，根据位置解析度和感应单元的尺寸参数之间的第一对应关系，就可以确定与目标位置解析度匹配的感应单元的目标尺寸参数，从而满足不同场景下对位置解析度的应用需求。

可选的，所述获取位置解析度和感应单元的尺寸参数之间的第一对应关系，包括：

获取多个感应单元的尺寸参数；

分别针对每个尺寸参数确定一个预设测量点组；其中，所述预设测量点组包括相应各个尺寸参数下所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点；

分别获取触控物在每个预设测量点触控时触控面板的自感电容值组；该自感电容值组包括触控面板中各个感应单元的自感电容值；

根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量，以及各个预设测量点之间的间距，确定各个所述尺寸参数对应的所述触控面板的位置解析度。

在该实施例中，可以获取多个不同的目标尺寸参数，其中，不同的目标尺寸参数对应的感应单元的面积和形状的均不相同，因此，需要分别针对每个目标尺寸参数进行对应的位置解析度测量。即分别针对每个目标尺寸参数确定一个预设测量点组，预设测量点组包括相应目标尺寸参数下触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，进而根据预设测量点组测量各个目标尺寸参数对应的触控面板的位置解析度。其中，对于不同的目标尺寸参数，其对应的预设测量点组可以完全相同，也可以不同。进一步的，还可以将测量得到的各个目标尺寸参数和与其对应的触控面板的位置解析度进行关联存储，便于后续根据目标位置解析度确定目标尺寸参数时直接进行使用。

可选的，所述确定与所述目标位置解析度匹配的感应单元的目标尺寸参数包括：

获取预设悬浮触控高度、感应单元的尺寸参数和位置解析度之间的第二对应关系；

根据所述第二对应关系确定与所述目标位置解析度匹配且预设悬浮触控高度最高的感应单元的目标尺寸参数。

在该实施例中，在需要考虑触控面板的位置解析度和悬浮触控高度的应用需求下，可以获取预设悬浮触控高度、感应单元的尺寸参数和位置解析度之间的第二对应关系，进而根据该第二对应关系确定与目标悬浮触控高度匹配且位置解析度最高的感应单元的目标尺寸参数，从而实现同时兼顾目标悬浮触控高度和位置解析度。

可选的，所述获取预设悬浮触控高度、感应单元的尺寸参数和位置解析度之间的第二对应关系，包括：

获取多个预设悬浮触控高度和多个感应单元的尺寸参数；

分别测量每个预设悬浮触控高度下的每个尺寸参数对应的所述触控面板的位置解析度，得到所述第二对应关系。

在该实施例中，可以根据多个预设悬浮触控高度和多个感应单元的尺寸参数，预先测量每个预设悬浮触控高度下的每个尺寸参数对应的触控面板的位置解析度，得到第二对应关系，便于后续直接根据该对应关系确定感应单元的目标尺寸参数。

可选的，分别测量每个预设悬浮触控高度下的每个尺寸参数对应的所述触控面板的位置解析度，包括：

分别针对每个预设悬浮触控高度下的每个尺寸参数，确定一个预设测量点组；其中，所述预设测量点组包括相应预设悬浮触控高度及尺寸参数下所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点；

分别针对每个预设悬浮触控高度下的每个尺寸参数，获取触控物在每个预设测量点触控时所述触控面板的自感电容值组；所述自感电容值组包括所述触控面板中各个目标感应单元的自感电容值；

根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量，以及各个预设测量点之间的间距，确定各个所述预设悬浮触控高度及尺寸参数下对应的所述触控面板的位置解析度。

在该实施例中，预设悬浮触控高度和目标尺寸参数可以同时具有多个，因此，可以分别针对每个预设悬浮触控高度下的每个目标尺寸参数，确定一个预设测量点组，预设测量点组包括相应预设悬浮触控高度和目标尺寸参数下触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，进而根据预设测量点组测量各个预设悬浮触控高度和目标尺寸参数对应的触控面板的第三位置解析度。其中，对于不同的目标尺寸参数和预设悬浮触控高度，其对应的预设测量点组可以完全相同，也可以不同。这样，便于后续根据预设悬浮触控高度、目标尺寸参数和与其对应的触控面板的位置解析度确定目标尺寸参数。

可选的，所述目标尺寸参数包括以下至少一项：

目标感应单元中包含的电极板的目标个数、目标感应单元的目标面积、目标感应单元的目标长宽比，以及目标感应单元的目标形状。

可选的，所述获取目标位置解析度包括：

接收用户输入的目标位置解析度；或者，

从预设应用程序中获取所述目标位置解析度。

在该实施例中，目标位置解析度可以是用户输入的，也可以是用户从预设应用中获取的。例如，在将上述电容式触控方法应用于应用程序A时，应用程序要求的位置解析度为b，则此时就可以将b确定为目标位置解析度。

可选的，所述方法还包括：

在感应到触控操作时，获取所述单层电极层中每个目标感应单元的自感电容值；

根据各个目标感应单元的自感电容值确定所述触控操作的触控位置。

在该实施例中，在感应到触控操作时，获取单层电极层中每个目标感应单元的自感电容值，然后通过比较各个目标感应单元的自感电容值确定触控操作的触控位置。

本发明第二方面提供一种电容式触控装置，应用于电容式触控面板，所述电容式触控面板包括单层电极层；所述单层电极层包括呈矩阵式排列的多个电极板；

所述装置包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

获取目标位置解析度；

确定与所述目标位置解析度匹配的感应单元的目标尺寸参数；其中，目标尺寸参数即用于表征当前所需感应单元尺寸的一种或多种参数。

根据目标尺寸参数对各个电极板进行短路控制，以将所述单层电极层划分为多个满足所述目标尺寸参数的目标感应单元。

本发明提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，该指令被处理器执行时实现上述电容式触控方法。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

下面通过附图和实施例，对本发明的技术方案做进一步的详细描述。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1为本发明实施例中触控原理的示意图；

图2为本发明实施例中触控原理的示意图；

图3为本发明实施例中触控物触控的示意图；

图4为本发明实施例中触控物触控的示意图；

图5为本发明实施例中一种电容式触控方法的流程图；

图6为本发明实施例中另一种电容式触控方法的流程图；

图7为本发明实施例中单层电极层的结构示意图；

图8为本发明实施例中一种单层电极层的结构示意图；

图9为本发明实施例中又一种电容式触控方法的流程图；

图10为本发明实施例中又一种单层电极层的结构示意图；

图11为本发明实施例中又一种电容式触控方法的流程图；

图12为本发明实施例中又一种单层电极层的结构示意图；

图13为本发明实施例中又一种电容式触控方法的流程图；

图14为本发明实施例中又一种电容式触控方法的流程图；

图15为本发明实施例中又一种电容式触控方法的流程图；

图16为本发明实施例中又一种电容式触控方法的流程图；

图17为图16所示电容式触控方法中确定第二对应关系的流程图；

图18为本发明实施例中又一种电容式触控方法的流程图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。

设计电容式触控装置时，如图1所示，若采用自电容检测法，则每个感应单元都可发射电力线，此电力线被感应单元旁边的接地端(即零电位区域)接收，从而感应单元与接地端之间产生电场，构成电容效应。在无任何触控物靠近的情况下，得到的电容值称为初始电容值，记为Cp。

根据电容原理，Cp的容量与感应单元面积成正比，与感应单元到接地端的距离成反比。

如图2所示，当触控物(如手指)触摸或靠近感应单元时，感应单元与触控物亦会产生电场与对应的电容值。此时得到的电容值称为触控电容值，记为Cf。

根据电容原理，Cf的大小与感应单元面积成正比，与感应单元到触控物的距离成反比。

对于每个感应单元，实际检测到的电容值为上述初始电容值和触控电容值之和，称为该感应单元对应的自感电容值，记为Cs，即Cs＝Cp+Cf。为了让触控物的检测更灵敏，因此设计概念是让Cf越大越好，Cp越小越好。

发明人在研究过程中发现，为了增加Cf，有以下两种方式:

1)增加感应单元的面积

如图3所示，4个方框分别为4个电极板，圆框所示区域为触控物映射到电极板上的触控区域；检测图中4个感应单元的自感电容值大小，分别记为Cs1，Cs2，Cs3，Cs4，且发现Cs1>(Cs2＝Cs3＝Cs4)，即可知道触控物位置落在感应单元1。如果单个感应单元面积过大，当触控物微幅移动时，其移动前后的位置可能始终在感应单元1内，则包括Cs1在内的每个总自感电容值都不会发生变化，也就无法感应到触控物的位置变化。参照图4(与图3类似的，图4中方框为电极板，圆框为触控区域)，如果单个感应单元的面积较小，则触控物的任何微小位移都会引起不同感应单元的电容变化，从而可以准确确定触控物的位置。

由以上分析可知：

若感应单元的面积增大，则Cf增加，位置解析度变差。

若感应单元的面积减小，则Cf减小，位置解析度变高。

本实施例所述的位置解析度，即触控面板能检测到的最小位移。

2)减少感应单元到触控物的距离

在悬浮触控应用中，感应单元到触控物的距离称为悬浮触控高度。从实际应用来说，如果悬浮触控高度过低，趋近直接触摸控制，也就失去了悬浮触控的效果。因此，悬浮触控高度不宜过低。

从电容原理来讲，由于Cf的容量与感应单元面积成正比，与感应单元到触控物的距离成反比，可推知在Cf固定的条件下，感应单元面积与悬浮触控高度成正比。

结合上述方式1)的结论，可知：

若感应单元的面积增大，则位置解析度变差，悬浮触控高度变高。

若感应单元的面积减小，则位置解析度变高，悬浮触控高度变低。

如上述结论，位置解析度与悬浮触控高度是互斥的参数。而相关技术中，触控面板一旦制作完成，其感应单元的面积就固定，故其能检测到的最小位移，即位置解析度，也固定，难以适应不同场景的应用需求。

为了满足用户在不同应用需求下的位置解析度，本实施例提供了一种可根据目标位置解析度改变感应单元的面积大小及形状的解决方案。

本发明第一方面提供一种电容式触控方法，应用于电容式触控面板，所述电容式触控面板包括单层电极层；所述单层电极层包括呈矩阵式排列的多个电极板。

如图5所示，上述方法包括步骤S501-S503：

步骤S501，获取目标位置解析度。

可选的，获取目标位置解析度包括：接收用户输入的目标位置解析度；或者，从预设应用程序中获取目标位置解析度。

在该实施例中，目标位置解析度可以是用户输入的，也可以是用户从预设应用中获取的。例如，在运行画图类应用程序和信息浏览类应用程序时，所接收的触控操作类型不同，前者多为精细的操作(如绘制不同长度、不同弧度的线条)，后者多为粗略的滑动操作(如通过上下滑动来滚动页面、通过左右滑动来切换页面等)；故可以分别为不同应用程序预先配置不同的位置解析度，在任一应用程序运行时，可以直接获取该运行的应用程序对应的位置解析度，作为所述目标位置解析度。

步骤S502，确定与目标位置解析度匹配的感应单元的目标尺寸参数；其中，目标尺寸参数即用于表征当前所需感应单元尺寸的一种或多种参数。

步骤S503，根据目标尺寸参数对各个电极板进行短路控制，以将单层电极层划分为多个满足目标尺寸参数的目标感应单元。

在该实施例中，当对位置解析度有要求时，可以获取目标位置解析度，进而根据目标位置解析度确定与其匹配的目标尺寸参数，并根据该目标尺寸参数改变触控面板中各个电极板的互短路关系，即改变触控面板中单个感应单元的大小，从而满足不同场景下对位置解析度的应用需求。

其中，在不同的实施例中，可以采用不同类型的参数来作为目标尺寸参数，包括：目标感应单元中包含的电极板的目标个数、目标感应单元的目标面积、目标感应单元的目标长宽比，以及目标感应单元的目标形状等。

下面以三种不同类型的目标尺寸参数为例，详细说明上述技术方案中步骤S503的具体实施方式。

实施例一

如图6所示，当目标尺寸参数包括单个目标感应单元中所包含的电极板的目标个数时，上述步骤S503包括步骤S601：

步骤S601，将多个呈矩阵式排列的电极板中每目标个数的相邻电极板为一组进行互短路，每组互短路的电极板形成一个目标感应单元。

在该实施例中，当确定了与目标位置解析度匹配的感应单元中包含的电极板的目标个数时，可以直接将多个呈矩阵式排列的电极板中每目标个数的相邻电极板为一组进行互短路，每组互短路的电极板就形成了一个目标感应单元，即所述与目标悬浮触控高度匹配的感应单元。由于目标个数不同，故目标感应单元的大小也就不同，这样，直接根据目标个数改变感应单元的大小，从而满足不同应用场景中对位置解析度的不同要求。

以图7为例，假设单层电极层400包括240个呈矩阵式排列的电极板，而确定了与目标位置解析度匹配的感应单元中包含的电极板的目标个数为30个，则如图8所示，此时将每30个相邻电极板为一组进行互短路，每组互短路的电极板形成一个目标感应单元801，则单层电极板被划分成8个目标感应单元801，当然，如果仅对感应单元的个数有要求，那么可以根据目标个数任意选择相邻的电极板进行互短路，图8只是示出了其中一种方式。而如果还对感应单元的形状或者是长宽比有要求，则可以结合目标个数和形状，或者结合目标个数和长宽比进一步确定目标感应单元。

实施例二

如图9所示，当目标尺寸参数包括目标感应单元的目标面积时，上述步骤S503包括步骤S901：

步骤S901，将面积之和满足目标面积的多个相邻电极板为一组进行互短路，每组互短路的电极板形成一个目标感应单元。

在该实施例中，当确定了与目标位置解析度匹配的目标感应单元的目标面积时，将面积之和满足目标面积的多个相邻电极板为一组进行互短路，每组互短路的电极板就形成了一个目标感应单元。这样，根据目标面积改变感应单元的大小，从而满足不同应用场景中对位置解析度的不同要求。

以图7为例，假设单层电极层400包括240个呈矩阵式排列的电极板，每个电极板的面积为0.25cm²，而确定了与目标位置解析度匹配的感应单元的目标面积为3cm²，则每个目标感应单元包括12个电极板，则如图10所示，此时将每12个相邻电极板为一组进行互短路，每组互短路的电极板形成一个目标感应单元1001，则单层电极板被划分成20个目标感应单元1001，当然，如果仅对感应单元的面积有要求，那么可以根据目标面积任意选择相邻的电极板进行互短路，图10只是示出了其中一种方式。而如果还对感应单元的形状或者是长宽比有要求，则可以结合目标面积和形状，或者结合目标面积和长宽比进一步确定目标感应单元。

实施例三

如图11所示，当目标尺寸参数包括目标感应单元的目标长宽比时，上述步骤S503包括步骤S1101：

步骤S1101，将长度和与宽度和之比满足目标长宽比的多个相邻电极板为一组进行互短路，每组互短路的电极板形成一个目标感应单元。

在该实施例中，当确定了与目标位置解析度匹配的感应单元的目标长宽比时，进而将长度和与宽度和之比满足目标长宽比的多个相邻电极板为一组进行互短路，每组互短路的电极板就形成了一个目标感应单元，这样，根据目标长宽比改变感应单元的大小，从而满足不同应用场景中对目标位置解析度的不同要求。

以图7为例，假设单层电极层400包括240个呈矩阵式排列的电极板，而而确定了与目标位置解析度匹配的感应单元的目标长宽比为2：2，则如图12所示，以单个电极板为单位，此时，目标感应单元1201为2×2的电极板矩阵，即分别将横向和纵向的相邻两个电极板进行互短路，形成一个目标感应单元1201。当然，如果仅对感应单元的长宽比有要求，那么可以根据目标长宽比以不同个数的电极板为单位，任意选择相邻的电极板进行互短路，图12只是示出了其中一种方式，还可以以两个电极板为单位，这样标感应单元就为4×4的电极板矩阵。而如果还对感应单元的面积或者是个数有要求，则可以结合目标长宽比和面积，或者结合目标长宽比和个数进一步确定目标感应单元。

图8、图10和图12三种位置解析度相比较，图8中的触控面板的位置解析度最低(即只有在触控物位移较大时，相应的触控面板才能检测到该触控物的位置变化)，对应的目标感应单元包含的互短路电极板最多，即感应单元的面积最大；图10中为中等的位置解析度，因此目标感应单元的面积为中等大小；图12中位置解析度最高(即触控物位移较小时，触控面板也可以额检测到其位置变化)，目标感应单元的面积也较小。

根据目标位置解析度的不同，可以确定不同的感应单元的目标尺寸参数，而根据悬浮触控高度和位置解析度的不同要求，对于目标尺寸参数的确定方式(即上述步骤S502)，也可以有多种，以下介绍其中两种。

方式一

如图13所示，可选的，上述步骤S502包括步骤S1301-S1302：

步骤S1301，获取位置解析度和感应单元的尺寸参数之间的第一对应关系，其中，位置解析度与尺寸参数负相关；

步骤S1302，根据第一对应关系确定与目标位置解析度匹配的感应单元的目标尺寸参数。

在该实施例中，在不考虑悬浮触控高度的应用需求下，目标位置解析度可以与感应单元包含的电极板的目标个数、感应单元的目标面积等尺寸参数负相关，即目标位置解析度越高，与其匹配的目标个数、目标面积就越小，反之，目标位置解析度越低，与其匹配的目标个数、目标面积就越大。这样，根据位置解析度和感应单元的尺寸参数之间的第一对应关系，就可以确定与目标位置解析度匹配的感应单元的目标尺寸参数，从而满足不同场景下对位置解析度的应用需求。

可选的，如图14所示，上述步骤S1301包括步骤S1401-S1404：

步骤S1401，获取多个感应单元的尺寸参数；

步骤S1402，分别针对每个尺寸参数确定一个预设测量点组；其中，预设测量点组包括相应各个尺寸参数下触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点(即预设测量点)；

例如，对于目标尺寸参数S₁，需确定其预设测量点组R₁＝{P_{1_i}|i＝1,2,3，……T1}，其中，P_{1_i}表示S₁对应的任意一个预设测量点，T1表示S₁对应的预设测量点的个数；对于目标尺寸参数S₂，需确定其预设测量点组R₂＝{P_{2_i}|i＝1,2,3，……T2}，其中，P_{2_i}表示S₂对应的任意一个预设测量点，T2表示S₂对应的预设测量点的个数：以此类推，可以针对每个目标尺寸参数确定对应的预设测量点组。

其中，预设测量点可以是随机选定的，也可以通过相应的用户交互界面(UserInterface，UI)引导用户设定等。各个预设测量点之间的间距已知，间距不完全相同，即有的间距可以只设置一对预设测量点，有的间距可以设置多对预设测量点，例如，确定间距包括d1,d2,d3,d4,d5,d6,d7,d8,d9,d10,其中，d1-d10可以成递增或递减趋势，那么对于每个间距，可以只对应一对预设测量点，也可以对应多个预设测量点，例如间距d1，可以只有一对预设测量点的之间的间距为d1，也可以有多对预设测量点之间的间距均为d1。对于落在常见位置解析度附近的“间距”，可以多设置几对预设测量点，以避免测量误差。

本实施例中，对于不同的目标尺寸参数，其对应的预设测量点组可以完全相同，也可以不同。

步骤S1403，分别获取触控物在每个预设测量点触控时触控面板的自感电容值组；该自感电容值组包括触控面板中各个感应单元的自感电容值。

例如，对于目标尺寸参数S₁，分别获取触控物在预设测量点组R₁中每个预设测量点P_{1_i}触控时触控面板的自感电容值组C_1i＝{C_{f1_j}|j＝1,2,3，……N1}，其中，C_{f1_j}表示触控物在预设测量点P_{1_i}触按时任意一个感应单元的自感电容值，N1表示目标尺寸参数S₁下触控面板中感应单元的个数。对于目标尺寸参数S₂，分别获取触控物在预设测量点组Q₂中每个预设测量点P_{2_i}触控时触控面板的自感电容值组C_2i＝{C_{f2_j}|j＝1,2,3，……N2}，其中，C_{f2_j}表示触控物在每个预设测量点P_{2_i}触按时任意一个感应单元的自感电容值，N2表示目标尺寸参数S₂下触控面板中感应单元的个数；依此类推，可以获取每个目标尺寸参数的预设测量点组中的每个预设测量点对应的自感电容值组。

步骤S1404，根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量及各个预设测量点之间的间距，确定各个尺寸参数对应的触控面板的位置解析度。

例如，对于目标尺寸参数S₁，预设测量点P_{1_1}对应的自感电容值组C₁₁＝{C_{f1_j}|j＝1,2,3，……N1},预设测量点P_{1_2}对应的自感电容值组C₁₂＝{C_{f2_j}|j＝1,2,3，……N2},如果C₁₁相对于C₁₂有变化，即存在电容变化量，那么说明触控面板能够检测出触控物由P_{1_1}移动到P_{1_2}时的触控位置变化，假设P_{1_1}和P_{1_2}之间的间距为d2，即说明触控面板至少能检测出位移为d2的触控操作，而其能检测出的最小位移，即该触控面板的位置解析度。

本实施例可以获取多个不同的目标尺寸参数，其中，不同的目标尺寸参数对应的感应单元的面积和形状的均不相同，因此，需要分别针对每个目标尺寸参数进行对应的位置解析度测量。即分别针对每个目标尺寸参数确定一个预设测量点组，预设测量点组包括相应目标尺寸参数下触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，进而根据预设测量点组测量各个目标尺寸参数对应的触控面板的第一位置解析度。本实施例可以测量出触控面板中电极板之间不同互短路情况下，即利用不同大小的感应单元来检测悬浮触控时，触控面板的位置解析度分别是什么，便于根据不同的位置解析度要求来选择合适的互短路控制方案。

方式二

如图15所示，可选的，上述步骤S502包括步骤S1501-S1502：

步骤S1501，获取预设悬浮触控高度、感应单元的尺寸参数和位置解析度之间的第二对应关系；

步骤S1502，根据第二对应关系确定与目标位置解析度匹配且预设悬浮触控高度最高的感应单元的目标尺寸参数。

在该实施例中，在需要考虑触控面板的位置解析度和悬浮触控高度的应用需求下，可以获取预设悬浮触控高度、感应单元的尺寸参数和位置解析度之间的第二对应关系，进而根据该第二对应关系确定与目标悬浮触控高度匹配且位置解析度最高的感应单元的目标尺寸参数，从而实现同时兼顾目标悬浮触控高度和位置解析度。

如图16所示，可选的，上述步骤S1501包括步骤S1601-步骤S1602：

步骤S1601，获取多个预设悬浮触控高度和多个感应单元的尺寸参数；

步骤S1602，分别测量每个预设悬浮触控高度下的每个尺寸参数对应的触控面板的位置解析度，得到第二对应关系。

在该实施例中，可以根据多个预设悬浮触控高度和多个感应单元的尺寸参数，预先测量每个预设悬浮触控高度下的每个尺寸参数对应的触控面板的位置解析度，得到第二对应关系，便于后续直接根据该对应关系确定感应单元的目标尺寸参数。

如图17所示，可选的，上述步骤S1602包括步骤S1701-步骤S1703：

步骤S1701，分别针对每个预设悬浮触控高度下的每个尺寸参数，确定一个预设测量点组；其中，预设测量点组包括相应预设悬浮触控高度及尺寸参数下触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点；

例如，对于预设悬浮触控高度H₁和目标尺寸参数S₁，需确定其预设测量点组E_{1_1}＝{P_{11_i}|i＝1,2,3，……F1}，其中，P_{11_i}表示H₁和S₁对应的任意一个预设测量点，F1表示H₁和S₁对应的预设测量点的个数；对于预设悬浮触控高度H₁和目标尺寸参数S₂，需确定其预设测量点组E_{1_2}＝{P_{12_i}|i＝1,2,3，……F2}，其中，P_{12_i}表示H₁和S₂对应的任意一个预设测量点，F2表示H₁和S₂对应的预设测量点的个数；对于预设悬浮触控高度H₂和目标尺寸参数S₂，需确定其预设测量点组E_{2_2}＝{P_{22_i}|i＝1,2,3，……F3}，其中，P_{22_i}表示H₂和S₂对应的任意一个预设测量点，F3表示H₂和S₂对应的预设测量点的个数；以此类推，可以针对每个预设悬浮触控高度下的每个目标尺寸参数确定对应的预设测量点组。

其中，对于不同的目标尺寸参数和预设悬浮触控高度，其对应的预设测量点组可以完全相同，也可以不同。

步骤S1702，分别针对每个预设悬浮触控高度下的每个尺寸参数，获取触控物在每个预设测量点触控时触控面板的自感电容值组；自感电容值组包括触控面板中各个目标感应单元的自感电容值；

对于预设悬浮触控高度H₁和目标尺寸参数S₁，分别获取触控物在预设测量点组E_{1_1}中每个预设测量点P_{11_i}触控时触控面板的自感电容值组C_{11_i}＝{C_{f11_j}|j＝1,2,3，……X1}，其中，C_{f11_j}表示触控物在预设测量点P_{11_i}触按时任意一个感应单元的自感电容值，X1表示目标尺寸参数S₁下触控面板中感应单元的个数。对于预设悬浮触控高度H₂和目标尺寸参数S₂，分别获取触控物在预设测量点组E_{2_2}中每个预设测量点P_{22_i}触控时触控面板的自感电容值组C_{22_i}＝{C_{f22_j}|j＝1,2,3，……X2}，其中，C_{f22_j}表示触控物在每个预设测量点P_{22_i}触按时任意一个感应单元的自感电容值，X2表示目标尺寸参数S₂下触控面板中感应单元的个数；依此类推，可以获取每个预设悬浮触控高度下的每个目标尺寸参数的预设测量点组中的每个预设测量点对应的自感电容值组。

步骤S1703，根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量，以及各个预设测量点之间的间距，确定各个预设悬浮触控高度及尺寸参数下对应的触控面板的位置解析度。

例如，对于预设悬浮触控高度H₁和目标尺寸参数S₁，预设测量点P_{11_1}对应的自感电容值组C_{11_1}＝{C_{f1_j}|j＝1,2,3，……N1},预设测量点P_{11_2}对应的自感电容值组C_{11_2}＝{C_{f2_j}|j＝1,2,3，……N2},如果C_{11_1}相对于C_{11_2}有变化，即存在电容变化量，那么说明触控面板能够检测出触控物由P_{11_1}移动到P_{11_2}时的触控位置变化，假设P_{11_1}和P_{11_2}之间的间距为d3，即说明触控面板至少能检测出位移为d3的触控操作，而其能检测出的最小位移，即该触控面板的位置解析度。

对于预设悬浮触控高度和目标尺寸参数同时具有多个的应用场景，本实施例可以分别针对每个预设悬浮触控高度下的每个目标尺寸参数，确定一个预设测量点组，预设测量点组包括相应预设悬浮触控高度和目标尺寸参数下触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点，即预设测量点，进而根据预设测量点组测量各个预设悬浮触控高度和目标尺寸参数对应的触控面板的第三位置解析度。其中，对于不同的目标尺寸参数和预设悬浮触控高度，其对应的预设测量点组可以完全相同，也可以不同。这样，便于后续根据预设悬浮触控高度、目标尺寸参数和与其对应的触控面板的位置解析度确定目标尺寸参数。

如图18所示，可选的，在步骤S503之后(即根据目标悬浮触控高度对触控面板的感应单元大小调整完毕之后)，上述方法还包括步骤S1801-S1802：

步骤S1801，在感应到触控操作时，获取单层电极层中每个目标感应单元的自感电容值；

步骤S1802，根据各个目标感应单元的自感电容值确定触控操作的触控位置。

在该实施例中，在感应到触控操作时，获取单层电极层中每个目标感应单元的自感电容值，然后通过比较各个目标感应单元的自感电容值确定触控操作的触控位置。

本发明第二方面提供一种电容式触控装置，应用于电容式触控面板，电容式触控面板包括单层电极层；单层电极层包括呈矩阵式排列的多个电极板；

装置包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，处理器被配置为：

获取目标位置解析度；

确定与目标位置解析度匹配的感应单元的目标尺寸参数；其中，目标尺寸参数即用于表征当前所需感应单元尺寸的一种或多种参数。

根据目标尺寸参数对各个电极板进行短路控制，以将单层电极层划分为多个满足目标尺寸参数的目标感应单元。

本发明实施例还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，该指令被处理器执行时实现上述电容式触控方法。

上述实施例可根据实际需要进行自由组合。

本领域内的技术人员应明白，本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器和光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。

本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。

这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。

这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种电容式触控方法，其特征在于，应用于电容式触控面板，所述电容式触控面板包括单层电极层；所述单层电极层包括呈矩阵式排列的多个电极板；

所述方法包括：

获取目标位置解析度；

确定与所述目标位置解析度匹配的感应单元的目标尺寸参数；

根据目标尺寸参数对各个电极板进行短路控制，以将所述单层电极层划分为多个满足所述目标尺寸参数的目标感应单元。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定与所述目标位置解析度匹配的感应单元的目标尺寸参数包括：

获取位置解析度和感应单元的尺寸参数之间的第一对应关系，其中，所述位置解析度与所述尺寸参数负相关；

根据所述第一对应关系确定与所述目标位置解析度匹配的感应单元的目标尺寸参数。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取位置解析度和感应单元的尺寸参数之间的第一对应关系，包括：

获取多个感应单元的尺寸参数；

分别针对每个尺寸参数确定一个预设测量点组；其中，所述预设测量点组包括相应各个尺寸参数下所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点；

分别获取触控物在每个预设测量点触控时触控面板的自感电容值组；该自感电容值组包括触控面板中各个感应单元的自感电容值；

根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量，以及各个预设测量点之间的间距，确定各个所述尺寸参数对应的所述触控面板的位置解析度。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定与所述目标位置解析度匹配的感应单元的目标尺寸参数包括：

获取预设悬浮触控高度、感应单元的尺寸参数和位置解析度之间的第二对应关系；

根据所述第二对应关系确定与所述目标位置解析度匹配且预设悬浮触控高度最高的感应单元的目标尺寸参数。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述获取预设悬浮触控高度、感应单元的尺寸参数和位置解析度之间的第二对应关系，包括：

获取多个预设悬浮触控高度和多个感应单元的尺寸参数；

分别测量每个预设悬浮触控高度下的每个尺寸参数对应的所述触控面板的位置解析度，得到所述第二对应关系。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，分别测量每个预设悬浮触控高度下的每个尺寸参数对应的所述触控面板的位置解析度，包括：

分别针对每个预设悬浮触控高度下的每个尺寸参数，确定一个预设测量点组；其中，所述预设测量点组包括相应预设悬浮触控高度及尺寸参数下所述触控面板的感应区域内间距不完全相同的多个可触控点；

分别针对每个预设悬浮触控高度下的每个尺寸参数，获取触控物在每个预设测量点触控时所述触控面板的自感电容值组；所述自感电容值组包括所述触控面板中各个目标感应单元的自感电容值；

根据各个预设测量点对应的自感电容值组之间的电容变化量，以及各个预设测量点之间的间距，确定各个所述预设悬浮触控高度及尺寸参数下对应的所述触控面板的位置解析度。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标尺寸参数包括以下至少一项：

目标感应单元中包含的电极板的目标个数、目标感应单元的目标面积、目标感应单元的目标长宽比，以及目标感应单元的目标形状。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取目标位置解析度包括：

接收用户输入的目标位置解析度；或者，

从预设应用程序中获取所述目标位置解析度。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

在感应到触控操作时，获取所述单层电极层中每个目标感应单元的自感电容值；

根据各个目标感应单元的自感电容值确定所述触控操作的触控位置。

10.一种电容式触控装置，其特征在于，应用于电容式触控面板，所述电容式触控面板包括单层电极层；所述单层电极层包括呈矩阵式排列的多个电极板；

所述装置包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

获取目标位置解析度；

确定与所述目标位置解析度匹配的感应单元的目标尺寸参数；

根据目标尺寸参数对各个电极板进行短路控制，以将所述单层电极层划分为多个满足所述目标尺寸参数的目标感应单元。