CN108733526A - 一种批量检测raid卡健康状态的测试方法及系统 - Google Patents

一种批量检测raid卡健康状态的测试方法及系统 Download PDF

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Abstract

本发明提供了一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法及系统,均基于预先设定的用于检测用于反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的值的零组件检测工具,且均基于零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的该各相应参数的参考阈值范围,判定并得出各待测测试机内RAID卡的健康状态,整个测试过程只需一台主控测试机、其他通过软件实现,避免了串口工具及RAID卡通信的使用,既能降低测试成本,又能解放测试人力。

Description

一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法及系统
技术领域
本发明涉及RAID健康状态检测领域,具体是一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法及系统。
背景技术
RAID是英文Redundant Array of Independent Disks的缩写,翻译成中文即为独立磁盘冗余阵列,或简称磁盘阵列。
RAID卡是用来实现RAID功能的板卡,其通常是由I/O处理器、硬盘控制器、硬盘连接器、缓存和内存颗粒等一系列零组件以及一系列相应的软件控制程序构成的,可以让很多磁盘驱动器同时传输数据,是存储子系统的心脏,其健康状态与存储子系统的性能和稳定性密切相关。然而现有技术中用于检测RAID卡健康状态的技术方案,基本都是需要串口工具和RAID卡通信来发布命令进行测试的,必须手动进行且无法批量测试,测试步骤繁琐此为现有技术的不足之处。
本发明提供了一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法,用于批量检测RAID卡的健康状态,并用于解放人力、简化测试以及降低测试成本。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是,提供一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法及系统,用于批量检测RAID卡的健康状态,并用于解放人力、简化测试以及降低测试成本。
为解决上述技术问题,本发明提供了一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法,该方法基于预先设定的用于检测用于反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的值的零组件检测工具,该测试方法包括步骤:
分别获取当前各待测测试机的IP地址;
基于上述获取到的各IP地址,将所述的零组件检测工具和用于基于所述零组件检测工具的检测值测试RAID卡各零组件的健康状态的测试程序均发送至各相应的待测测试机;
基于上述获取到的IP地址,对应获取各相应待测测试机的root权限,并对应控制各待测测试机内测试程序和零组件检测工具运行;
各测试程序分别基于其对应零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围,判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态。
进一步地,所述RAID卡的零组件包括RAID卡的缓冲存储器和内存颗粒。
进一步地,该方法在各测试程序分别基于其对应零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围,判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态之前,还包括步骤:
检测当前待测测试机内RAID卡的数量,并在检测到当前待测测试机内RAID卡的数量大于1时,遍历所述的RAID卡,并分别基于当前待测测试机内的零组件检测工具检测到的相应参数的值以及预先设定的该相应参数的参考阈值范围,判定并获取该当前待测测试机内RAID卡的健康状态。
该测试方法在各测试程序分别基于其对应零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围,判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态时,还包括步骤:
各测试程序分别抓取其所在待测测试机的系统日志和RAID卡日志,并分别通过关键字分析法,进一步判定各待测测试机内RAID卡的健康状态。
另外,本发明还提供了一种批量检测RAID卡健康状态的测试系统,该系统基于预先设定的用于检测用于反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的值的零组件检测工具,包括:
IP地址采集单元,用于获取当前各待测测试机的IP地址;
数据传输单元,用于基于上述IP地址采集单元获取到的各IP地址,将所述的零组件检测工具和用于基于所述零组件检测工具的检测值测试RAID卡各零组件的健康状态的测试程序均发送至各相应的待测测试机;
启动单元,分别与所述的IP地址采集单元和数据传输单元相连,用于基于IP地址采集单元获取到的各IP地址,对应获取各相应待测测试机的root权限,并对应控制各待测测试机内测试程序和零组件检测工具运行;
健康状态判定单元,应用于待测测试机,包括所述的测试程序,其用于基于该所述的测试程序,调取零组件检测工具检测到的各相应参数的值、依据调取到的参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围、以及判定并得出各待测测试机内RAID卡的健康状态。
其中,在该批量检测RAID卡健康状态的测试系统中,所述RAID卡的零组件包括RAID卡的缓冲存储器和内存颗粒。
进一步地,所述的健康状态判定单元在其基于相应的零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围,判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态之前,还用于检测当前待测测试机内RAID卡的数量,并用于在检测到当前待测测试机内RAID卡的数量大于1时,遍历所述的RAID卡,并分别基于当前待测测试机内的零组件检测工具检测到的相应参数的值以及预先设定的该相应参数的参考阈值范围,判定并获取该当前待测测试机内RAID卡的健康状态。
所述的健康状态判定单元,基于其测试程序,还分别用于抓取其所在待测测试机的系统日志和RAID卡日志,并分别用于通过关键字分析法,进一步判定各待测测试机内RAID卡的健康状态。
与现有技术相比,本发明的优点在于:
(1)本发明所述的批量检测RAID卡健康状态的测试方法及系统,均基于预先设定的用于检测用于反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的值的零组件检测工具,且均基于零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的该各相应参数的参考阈值范围,判定并得出各待测测试机内RAID卡的健康状态,整个测试过程只需一台主控测试机、其他通过软件实现,避免了串口工具及RAID卡通信的使用,可见降低了测试成本,便于推广使用。
(2)本发明所述的批量检测RAID卡健康状态的测试方法及系统,均可批量进行测试机RAID卡健康状态的测试,解放了测试人力,适于大型机房定期检测维护等任务时使用,较为实用。
由此可见,本发明与现有技术相比,具有突出的实质性特点和显著的进步,其实施的有益效果也是显而易见的。
附图说明
图1为本发明所述批量检测RAID卡健康状态的测试方法的方法流程示意图。
具体实施方式
为使本发明的技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图,对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述。
图1为本发明所述批量检测RAID卡健康状态的测试方法的一种具体实施方式。在本实施方式中,批量检测RAID卡健康状态的测试方法,该方法基于预先设定的用于检测用于反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的值的零组件检测工具,该测试方法包括步骤s1-s4。
在本实施方式中,所述的零组件检测工具,可以直接采用特定RAID卡生产厂家的程序代码工具包,用于向外界(本申请中为本发明所述的批量检测RAID卡健康状态的测试方法)提供用于反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的获取接口。
步骤s1、分别获取当前各待测测试机的IP地址。
该步骤s1的执行主体是主控测试机。主控测试机用作测试主控,用于控制各待测测试机的RAID卡的健康状态测试。
在获取当前各待测测试机的IP地址之前,预先建立主控测试机与各待测测试机的网络连接,用于主控测试机获取当前各待测测试机的IP地址。
步骤s2、基于上述获取到的各IP地址,将所述的零组件检测工具和用于基于所述零组件检测工具的检测值测试RAID卡各零组件的健康状态的测试程序均发送至各相应的待测测试机。
在主控测试机基于上述获取到的各IP地址,将所述的零组件检测工具和用于基于所述零组件检测工具的检测值测试RAID卡各零组件的健康状态的测试程序均发送至各相应的待测测试机后,每个待测测试机中均对应有其接收到的零组件检测工具和测试程序。
步骤s3、基于上述获取到的IP地址,对应获取各相应待测测试机的root权限,并对应控制各待测测试机内测试程序和零组件检测工具运行。
具体地,主控测试机基于上述步骤s1中获取到的各IP地址,对应获取各相应待测测试机的root权限,之后对应控制各相应待测测试机内测试程序和零组件检测工具的运行。
步骤s4、各测试程序分别基于其对应零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围,判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态。
在本实施方式中,对于零组件检测工具检测到的每个相应参数的值,若其超出其对应的预先设定的参考阈值范围(与所述零组件的选取相关),则有其对应待测测试机内RAID卡的健康状态为“差”,否则其所对应待测测试机内RAID卡的健康状态为良好。
进一步地,所述RAID卡的零组件包括RAID卡的缓冲存储器和内存颗粒。还可以为其他零组件,本领域技术人员可依据实际需求选择RAID卡的相应零组件。其中本发明在实现所述的测试程序时,其涉及的RAID卡零组件的用于表征RAID卡的健康状态的参数以所述零组件检测工具所能检测到的相应结果为基准。比如,零组件检测工具中使用线性反馈移位寄存器(LFSR)的缓存测试检测RAID卡的缓冲存储器的健康状态,对应有该线性反馈移位寄存器(LFSR)的缓存测试的测试反馈结果为本发明中涉及的用于表征待测RAID卡的缓冲存储器的健康状态的参数(下简记此参数为“参数L”),即有该线性反馈移位寄存器(LFSR)的缓存测试的测试反馈结果的具体值为上述参数L的取值。再比如,零组件检测工具通过错误检查和纠正(ECC)计数测试检测RAID卡的内存颗粒的健康状态,该错误检查和纠正(ECC)计数测试的测试反馈结果为本发明中涉及的用于表征待测RAID卡的内存颗粒的健康状态的参数(下简记此参数为“参数M”),即有该错误检查和纠正(ECC)计数测试的测试反馈结果的具体值为上述参数M的取值。
进一步地,该方法在各测试程序分别基于其对应零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围,判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态之前,还包括步骤:检测当前待测测试机内RAID卡的数量,并在检测到当前待测测试机内RAID卡的数量大于1时,遍历所述的RAID卡,并分别基于当前待测测试机内的零组件检测工具检测到的相应参数的值以及预先设定的该相应参数的参考阈值范围,判定并获取该当前待测测试机内RAID卡的健康状态。
在检测到当前待测测试机内RAID卡的数量为1时,测试程序直接基于当前待测测试机内的零组件检测工具检测到的相应参数的值以及预先设定的该相应参数的参考阈值范围,判定并获取该当前待测测试机内RAID卡的健康状态。
该测试方法在各测试程序分别基于其对应零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围,判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态时,还包括步骤:各测试程序分别抓取其所在待测测试机的系统日志和RAID卡日志,并分别通过关键字分析法,进一步判定各待测测试机内RAID卡的健康状态。其中,待测测试机通过其内测试程序分别抓取其所在待测测试机的系统日志和RAID卡日志通过关键字分析法检测各待测测试机内RAID卡的健康状态的方式,结合反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的使用,测试结果涉及RAID卡的软件方面和硬件方面的健康状态两方面,从而使得测试结果更为可靠。
综上,本发明所述的批量检测RAID卡健康状态的测试方法,其在整个测试过程只需一台主控测试机、其他通过软件实现,避免了串口工具及RAID卡通信的使用,降低了测试成本。另外,本发明所述的批量检测RAID卡健康状态的测试方法,可批量进行测试机RAID卡健康状态的测试,解放了测试人力,适于大型机房定期检测维护等任务时使用,较为实用。
另外,本发明还提供了一种与上述批量检测RAID卡健康状态的测试方法相对应地批量检测RAID卡健康状态的测试系统,该系统基于预先设定的用于检测用于反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的值的零组件检测工具,包括:
IP地址采集单元,用于获取当前各待测测试机的IP地址;
数据传输单元,用于基于上述IP地址采集单元获取到的各IP地址,将所述的零组件检测工具和用于基于所述零组件检测工具的检测值测试RAID卡各零组件的健康状态的测试程序均发送至各相应的待测测试机;
启动单元,分别与所述的IP地址采集单元和数据传输单元相连,用于基于IP地址采集单元获取到的各IP地址,对应获取各相应待测测试机的root权限,并对应控制各待测测试机内测试程序和零组件检测工具运行;
健康状态判定单元,应用于待测测试机,包括所述的测试程序,其用于基于该所述的测试程序,调取零组件检测工具检测到的各相应参数的值、依据调取到的参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围、以及判定并得出各待测测试机内RAID卡的健康状态。
使用时,主控测试机通过IP地址采集单元获取当前各待测测试机的IP地址,并基于上述IP地址采集单元获取到的各IP地址,通过数据传输单元将所述的零组件检测工具和用于基于所述零组件检测工具的检测值测试RAID卡各零组件的健康状态的测试程序均发送至各相应的待测测试机,之后再次基于IP地址采集单元获取到的各IP地址,通过启动单元对应获取各相应待测测试机的root权限,并对应控制各待测测试机内测试程序和零组件检测工具运行。继而有健康状态判定单元基于所述的测试程序,调取零组件检测工具检测到的各相应参数的值、依据调取到的参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围、以及判定并得出各待测测试机内RAID卡的健康状态。
其中,在该批量检测RAID卡健康状态的测试系统中,所述RAID卡的零组件包括RAID卡的缓冲存储器和内存颗粒。
进一步地,所述的健康状态判定单元在其基于相应的零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围,判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态之前,还用于检测当前待测测试机内RAID卡的数量,并用于在检测到当前待测测试机内RAID卡的数量大于1时,遍历所述的RAID卡,并分别基于当前待测测试机内的零组件检测工具检测到的相应参数的值以及预先设定的该相应参数的参考阈值范围,判定并获取该当前待测测试机内RAID卡的健康状态。
所述的健康状态判定单元,基于其测试程序,还分别用于抓取其所在待测测试机的系统日志和RAID卡日志,并分别用于通过关键字分析法,进一步判定各待测测试机内RAID卡的健康状态。同样地,待测测试机通过其内测试程序分别抓取其所在待测测试机的系统日志和RAID卡日志通过关键字分析法检测各待测测试机内RAID卡的健康状态的方式,结合反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的使用,测试结果涉及RAID卡的软件方面和硬件方面的健康状态两方面,从而使得测试结果更为可靠。
综上,本发明所述的批量检测RAID卡健康状态的测试系统,其在整个测试过程也只需一台主控测试机、其他通过软件实现,避免了串口工具及RAID卡通信的使用,降低了测试成本。另外,本发明所述的批量检测RAID卡健康状态的测试系统,可批量进行测试机RAID卡健康状态的测试,解放了测试人力,适于大型机房定期检测维护等任务时使用,较为实用。
另外需要说明的是,本说明书中未详细记载的内容均不属于本发明的保护范围,本领域技术人员可依据实际需要,选择合适的现有技术进行实现。
以上实施方式仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施方式对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施方式所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施方式技术方案的范围。

Claims (8)

1.一种批量检测RAID卡健康状态的测试方法,其特征在于,该方法基于预先设定的用于检测用于反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的值的零组件检测工具,该测试方法包括步骤:
分别获取当前各待测测试机的IP地址;
基于上述获取到的各IP地址,将所述的零组件检测工具和用于基于所述零组件检测工具的检测值测试RAID卡各零组件的健康状态的测试程序均发送至各相应的待测测试机;
基于上述获取到的IP地址,对应获取各相应待测测试机的root权限,并对应控制各待测测试机内测试程序和零组件检测工具运行;
各测试程序分别基于其对应零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围,判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态。
2.根据权利要求1所述的批量检测RAID卡健康状态的测试方法,其特征在于,进一步地,所述RAID卡的零组件包括RAID卡的缓冲存储器和内存颗粒。
3.根据权利要求1或2所述的批量检测RAID卡健康状态的测试方法,其特征在于,进一步地,该方法在各测试程序分别基于其对应零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围,判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态之前,还包括步骤:
检测当前待测测试机内RAID卡的数量,并在检测到当前待测测试机内RAID卡的数量大于1时,遍历所述的RAID卡,并分别基于当前待测测试机内的零组件检测工具检测到的相应参数的值以及预先设定的该相应参数的参考阈值范围,判定并获取该当前待测测试机内RAID卡的健康状态。
4.根据权利要求1或2所述的批量检测RAID卡健康状态的测试方法,其特征在于,该方法在各测试程序分别基于其对应零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围,判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态时,还包括步骤:
各测试程序分别抓取其所在待测测试机的系统日志和RAID卡日志,并分别通过关键字分析法,进一步判定各待测测试机内RAID卡的健康状态。
5.一种批量检测RAID卡健康状态的测试系统,其特征在于,该系统基于预先设定的用于检测用于反映RAID卡各零组件的健康状态的参数的值的零组件检测工具,该测试系统包括:
IP地址采集单元,用于获取当前各待测测试机的IP地址;
数据传输单元,用于基于上述IP地址采集单元获取到的各IP地址,将所述的零组件检测工具和用于基于所述零组件检测工具的检测值测试RAID卡各零组件的健康状态的测试程序均发送至各相应的待测测试机;
启动单元,分别与所述的IP地址采集单元和数据传输单元相连,用于基于IP地址采集单元获取到的各IP地址,对应获取各相应待测测试机的root权限,并对应控制各待测测试机内测试程序和零组件检测工具运行;
健康状态判定单元,应用于待测测试机,包括所述的测试程序,其用于基于该所述的测试程序,调取零组件检测工具检测到的各相应参数的值、依据调取到的参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围、以及判定并得出各待测测试机内RAID卡的健康状态。
6.根据权利要求5所述的批量检测RAID卡健康状态的测试系统,其特征在于,所述RAID卡的零组件包括RAID卡的缓冲存储器和内存颗粒。
7.根据权利要求5或6所述的批量检测RAID卡健康状态的测试系统,其特征在于,进一步地,所述的健康状态判定单元在其基于相应的零组件检测工具检测到的各相应参数的值以及预先设定的上述各相应参数的参考阈值范围,判定得出各待测测试机内RAID卡的健康状态之前,还用于检测当前待测测试机内RAID卡的数量,并用于在检测到当前待测测试机内RAID卡的数量大于1时,遍历所述的RAID卡,并分别基于当前待测测试机内的零组件检测工具检测到的相应参数的值以及预先设定的该相应参数的参考阈值范围,判定并获取该当前待测测试机内RAID卡的健康状态。
8.根据权利要求5或6所述的批量检测RAID卡健康状态的测试系统,其特征在于,所述的健康状态判定单元,基于其测试程序,还分别用于抓取其所在待测测试机的系统日志和RAID卡日志,并分别用于通过关键字分析法,进一步判定各待测测试机内RAID卡的健康状态。
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