CN108732514A - 便携式led灯老化测试仪及其使用方法 - Google Patents
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- 230000032683 aging Effects 0.000 title claims abstract description 28
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 61
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 claims description 21
- 230000005611 electricity Effects 0.000 claims description 13
- 230000003760 hair shine Effects 0.000 claims description 3
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 14
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 208000037805 labour Diseases 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000006978 adaptation Effects 0.000 description 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
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Abstract
本发明公开了一种便携式LED灯老化测试仪,其技术方案要点是其包括适配器电源、电压检测电路、电流检测电路、光敏检测电路、电磁开关控制电路、稳压输出电路和单片机,适配器电源能够对LED灯进行电源输入,电压检测电路对LED灯的输入电压进行检测,并输出电压检测信号,电流检测电路对LED灯的输入电流进行检测,并输出电流检测信号,光敏检测电路对LED灯的发光功率进行检测,并输出光敏检测信号,稳压输出电路连接适配器电源,并输出工作电压,单片机接收电压检测信号和电流检测信号后,输出控制信号,电磁开关控制电路接收控制信号后,控制LED灯进行放电操作。本发明的便携式LED灯老化测试仪为工厂节约大量劳力成本,提高老化测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及一种LED灯老化测试仪,更具体的说,它涉及一种便携式LED灯老化测试仪及其使用方法。
背景技术
目前,高电池容量的便携式LED灯越来越普及,一次充电,可使用3-4小时甚至更长。这些LED灯在出厂是需要经过2-3个循环的老化测试,测试其亮度是否正常、充放电时间是否符合要求等。每个循环几乎都要耗费8个小时(充电4小时,放电4小时)以上时间,需要专人负责开关LED灯和记录充放电时间,工作量巨大。正常情况下,每个人每天只能做1次充放电循环,测试数据比较繁冗,测试效率低下。
发明内容
针对现有技术存在的不足,本发明的目的在于提供一种为工厂节约大量劳力成本,提高老化测试效率的便携式LED灯老化测试仪。
为实现上述目的,本发明提供了如下技术方案:一种便携式LED灯老化测试仪,其包括适配器电源、电压检测电路、电流检测电路、光敏检测电路、电磁开关控制电路、稳压输出电路和单片机,适配器电源能够对LED灯进行电源输入,电压检测电路对LED灯的输入电压进行检测,并输出电压检测信号,电流检测电路对LED灯的输入电流进行检测,并输出电流检测信号,光敏检测电路对LED灯的发光功率进行检测,并输出光敏检测信号,稳压输出电路连接适配器电源,并输出工作电压,单片机接收电压检测信号和电流检测信号后,输出控制信号,电磁开关控制电路接收控制信号后,控制LED灯进行放电操作。
本发明进一步设置为:所述电压检测电路包括第一比较器、第一电阻和第二电阻,适配器电源连接第一比较器的正极输入端,第一比较器的负极端与输出端连接,第一比较器的输出端依次串联第一电阻和第二电阻后接地,单片机的第一输入端连接在第一电阻与第二电阻之间。
本发明进一步设置为:所述电流检测电路包括第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻和第二比较器,第三电阻的一端连接LED灯的电源输入端,第三电阻的另一端连接第二比较器的正极输入端,第二比较器的负极输入端与输出端之间串联有第四电阻和第五电阻,第四电阻与第五电阻之间接地连接,第六电阻一端连接第三电阻远离第二比较器的一端,第六电阻的另一端接地连接,第二比较器的输出端连接单片机的第二输入端。
本发明进一步设置为:所述光敏检测电路包括第七电阻、第八电阻和光敏电阻,第七电阻一端连接工作电压,另一端连接光敏电阻的一端,光敏电阻的另一端接地,第八电阻一端连接在第七电阻与光敏电阻之间,另一端连接单片机的第三输入端。
本发明进一步设置为:所述电磁开关控制电路包括电磁控制接口、第一电容、二极管、三极管、第九电阻和第十电阻,适配器电源的正极端连接二极管的负极端,电磁控制接口并联在二极管上,第一电容并联在二极管上,三极管的集电极连接二极管的正极端,三极管的发射极接地,第九电阻一端连接三极管的基极,另一端连接单片机的第一输出端,第十电阻串联在三极管的基极与发射极之间。
本发明进一步设置为:所述稳压输出电路包括第二电容、稳压芯片、第三电容,适配器电源连接第二电容的正极端,第二电容的负极端接地,稳压芯片的输入端连接第二电容的正极端,稳压芯片的接地端接地,稳压芯片的输出端输出工作电压,第三电容的正极端连接稳压芯片的输出端,第三电容的负极端接地。
本发明进一步设置为:所述单片机为STM8单片机。
本发明进一步设置为:所述稳压芯片为7805三端稳压集成电路。
本发明具有下述优点:大大节约老化测试人力成本,同时更有利于测试数据的统计与分析。充分考虑到工厂产品老化测试需求,可为工厂节约大量劳力成本,提高老化测试效率,通过检测LED泛光灯的充电电压与电流,确定充电开始与结束时间,通过检测LED泛光灯的亮度,确定放电开始与结束时间,通过贯通式电磁铁的击打,实现自动开关灯的目的,通过对LED灯充电电流电压的检测,计算出充电时间;通过对LED灯放电亮度的检测,计算出放电时间;靠击锤击打开关实现自动循环充放电;通过RS485通讯,能把数据传送到上位机进行汇总。
一种便携式LED灯老化测试仪的使用方法,其步骤为,
(1)、适配器电源接入便携式LED灯的电源输入端口,对LED 灯进行充电输入;
(2)、电压检测电路通过比较适配器电源电压和LED灯的电源输入端口的电压是否正常;
(3)、电流检测电路通过检测LED灯的电源输入端口的电流大小;
(4)、单片机接收电压检测电路和电流检测电路的检测信号,当检测到电压检测信号正常,且电流检测信号为零时,LED灯电源充满,单片机输出控制信号;
(5)、电磁开关控制电路接收控制信号,使得三极管导通,电磁控制接口接通适配器电源,电磁铁击打LED灯的按钮,使LED灯打开;
(6)、然后光敏检测电路检测LED灯的发光情况,当光敏电阻检测到LED灯发光时,输出低电平信号,当光敏电阻检测到LED灯为发光时,输出高电平信号;
(7)、若单片机接收到低电平信号时,单片机开始累计LED灯的放电时间,当单片机接收到高电平时,单片机记录LED灯的放电时间。
附图说明
图1为本发明便携式LED灯老化测试仪的系统框图;
图2为本发明便携式LED灯老化测试仪的电路原理图;
图3为本发明便携式LED灯老化测试仪的电压检测电路原理图;
图4为本发明便携式LED灯老化测试仪的电流检测电路原理图;
图5为本发明便携式LED灯老化测试仪的光敏检测电路原理图;
图6为本发明便携式LED灯老化测试仪的电磁开关控制电路原理图;
图7为本发明便携式LED灯老化测试仪的稳压输出电路原理图。
图中:1、适配器电源;2、电压检测电路;3、电流检测电路;4、光敏检测电路;5、电磁开关控制电路;6、稳压输出电路;7、单片机;8、第一比较器;9、第一电阻;10、第二电阻;11、第三电阻;12、第四电阻;13、第五电阻;14、第六电阻;15、第二比较器;16、第七电阻;17、第八电阻;18、光敏电阻;19、电磁控制接口;20、第一电容;21、二极管;22、三极管;23、第九电阻;24、第十电阻;25、第二电容;26、稳压芯片;27、第三电容。
具体实施方式
参照图1-2所示,本实施例的一种便携式LED灯老化测试仪,其包括适配器电源1、电压检测电路2、电流检测电路3、光敏检测电路4、电磁开关控制电路5、稳压输出电路6和单片机7,适配器电源1能够对LED灯进行电源输入,电压检测电路2对LED灯的输入电压进行检测,并输出电压检测信号,电流检测电路3对LED灯的输入电流进行检测,并输出电流检测信号,光敏检测电路4对LED灯的发光功率进行检测,并输出光敏检测信号,稳压输出电路6连接适配器电源1,并输出工作电压,单片机7接收电压检测信号和电流检测信号后,输出控制信号,电磁开关控制电路5接收控制信号后,控制LED灯进行放电操作。
参照图3所示,所述电压检测电路2包括第一比较器8、第一电阻9和第二电阻10,适配器电源1连接第一比较器8的正极输入端,第一比较器8的负极端与输出端连接,第一比较器8的输出端依次串联第一电阻9和第二电阻10后接地,单片机7的第一输入端连接在第一电阻9与第二电阻10之间。
参照图4所示,所述电流检测电路3包括第三电阻11、第四电阻12、第五电阻13、第六电阻14和第二比较器15,第三电阻11的一端连接LED灯的电源输入端,第三电阻11的另一端连接第二比较器15的正极输入端,第二比较器15的负极输入端与输出端之间串联有第四电阻12和第五电阻13,第四电阻12与第五电阻13之间接地连接,第六电阻14一端连接第三电阻11远离第二比较器15的一端,第六电阻14的另一端接地连接,第二比较器15的输出端连接单片机7的第二输入端。
参照图5所示,所述光敏检测电路4包括第七电阻16、第八电阻17和光敏电阻18,第七电阻16一端连接工作电压,另一端连接光敏电阻18的一端,光敏电阻18的另一端接地,第八电阻17一端连接在第七电阻16与光敏电阻18之间,另一端连接单片机7的第三输入端。
参照图6所示,所述电磁开关控制电路5包括电磁控制接口19、第一电容20、二极管21、三极管22、第九电阻23和第十电阻24,适配器电源1的正极端连接二极管21的负极端,电磁控制接口19并联在二极管21上,第一电容20并联在二极管21上,三极管22的集电极连接二极管21的正极端,三极管22的发射极接地,第九电阻23一端连接三极管22的基极,另一端连接单片机7的第一输出端,第十电阻24串联在三极管22的基极与发射极之间。
参照图7所示,所述稳压输出电路6包括第二电容25、稳压芯片26、第三电容27,适配器电源1连接第二电容25的正极端,第二电容25的负极端接地,稳压芯片26的输入端连接第二电容25的正极端,稳压芯片26的接地端接地,稳压芯片26的输出端输出工作电压,第三电容27的正极端连接稳压芯片26的输出端,第三电容27的负极端接地。
所述单片机7为STM8单片机7。
所述稳压芯片26为7805三端稳压集成电路。
VIN、GND为适配器输入接口,电压范围8.4V-28V,当适配器接入后,单片机7首先通过以第一比较器8为核心的电压跟随电路检测适配器输出电压V_DET是否正常,然后通过以第二比较器15为核心的运算放大电路将电流转换为电压,从而检测到充电电流I_DET,若充电电压正常而电流检测为零,判断为充满。此时单片机7驱动CLICK信号,通过三极管22驱动贯通式电磁铁击打LED灯的按钮,使LED灯打开。然后通过光敏电阻18检测LIGHT_DET信号是否为低电平,若检测到低电平,判断为灯已经打开,通过通讯电路给上位机计时信号,上位机开始累计开灯放电时间。当LED灯放电完毕灯自动熄灭,检测到LIGHT_DET为高电平时,放电结束,记录放电时间。
一种便携式LED灯老化测试仪的使用方法,其步骤为,
(1)、适配器电源1接入便携式LED灯的电源输入端口,对LED 灯进行充电输入;
(2)、电压检测电路2通过比较适配器电源1电压和LED灯的电源输入端口的电压是否正常;
(3)、电流检测电路3通过检测LED灯的电源输入端口的电流大小;
(4)、单片机7接收电压检测电路2和电流检测电路3的检测信号,当检测到电压检测信号正常,且电流检测信号为零时,LED灯电源充满,单片机7输出控制信号;
(5)、电磁开关控制电路5接收控制信号,使得三极管22导通,电磁控制接口19接通适配器电源1,电磁铁击打LED灯的按钮,使LED灯打开;
(6)、然后光敏检测电路4检测LED灯的发光情况,当光敏电阻18检测到LED灯发光时,输出低电平信号,当光敏电阻18检测到LED灯为发光时,输出高电平信号;
(7)、若单片机7接收到低电平信号时,单片机7开始累计LED灯的放电时间,当单片机7接收到高电平时,单片机7记录LED灯的放电时间。
通过采用上述技术方案,大大节约老化测试人力成本,同时更有利于测试数据的统计与分析。充分考虑到工厂产品老化测试需求,可为工厂节约大量劳力成本,提高老化测试效率,通过检测LED泛光灯的充电电压与电流,确定充电开始与结束时间,通过检测LED泛光灯的亮度,确定放电开始与结束时间,通过贯通式电磁铁的击打,实现自动开关灯的目的,通过对LED灯充电电流电压的检测,计算出充电时间;通过对LED灯放电亮度的检测,计算出放电时间;靠击锤击打开关实现自动循环充放电;通过RS485通讯,能把数据传送到上位机进行汇总。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,本发明的保护范围并不仅局限于上述实施例,凡属于本发明思路下的技术方案均属于本发明的保护范围。应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理前提下的若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (9)
1.一种便携式LED灯老化测试仪,其特征在于:其包括适配器电源、电压检测电路、电流检测电路、光敏检测电路、电磁开关控制电路、稳压输出电路和单片机,适配器电源能够对LED灯进行电源输入,电压检测电路对LED灯的输入电压进行检测,并输出电压检测信号,电流检测电路对LED灯的输入电流进行检测,并输出电流检测信号,光敏检测电路对LED灯的发光功率进行检测,并输出光敏检测信号,稳压输出电路连接适配器电源,并输出工作电压,单片机接收电压检测信号和电流检测信号后,输出控制信号,电磁开关控制电路接收控制信号后,控制LED灯进行放电操作。
2.根据权利要求1所述的便携式LED灯老化测试仪,其特征在于:所述电压检测电路包括第一比较器、第一电阻和第二电阻,适配器电源连接第一比较器的正极输入端,第一比较器的负极端与输出端连接,第一比较器的输出端依次串联第一电阻和第二电阻后接地,单片机的第一输入端连接在第一电阻与第二电阻之间。
3.根据权利要求1所述的便携式LED灯老化测试仪,其特征在于:所述电流检测电路包括第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻和第二比较器,第三电阻的一端连接LED灯的电源输入端,第三电阻的另一端连接第二比较器的正极输入端,第二比较器的负极输入端与输出端之间串联有第四电阻和第五电阻,第四电阻与第五电阻之间接地连接,第六电阻一端连接第三电阻远离第二比较器的一端,第六电阻的另一端接地连接,第二比较器的输出端连接单片机的第二输入端。
4.根据权利要求1所述的便携式LED灯老化测试仪,其特征在于:所述光敏检测电路包括第七电阻、第八电阻和光敏电阻,第七电阻一端连接工作电压,另一端连接光敏电阻的一端,光敏电阻的另一端接地,第八电阻一端连接在第七电阻与光敏电阻之间,另一端连接单片机的第三输入端。
5.根据权利要求1所述的便携式LED灯老化测试仪,其特征在于:所述电磁开关控制电路包括电磁控制接口、第一电容、二极管、三极管、第九电阻和第十电阻,适配器电源的正极端连接二极管的负极端,电磁控制接口并联在二极管上,第一电容并联在二极管上,三极管的集电极连接二极管的正极端,三极管的发射极接地,第九电阻一端连接三极管的基极,另一端连接单片机的第一输出端,第十电阻串联在三极管的基极与发射极之间。
6.根据权利要求1所述的便携式LED灯老化测试仪,其特征在于:所述稳压输出电路包括第二电容、稳压芯片、第三电容,适配器电源连接第二电容的正极端,第二电容的负极端接地,稳压芯片的输入端连接第二电容的正极端,稳压芯片的接地端接地,稳压芯片的输出端输出工作电压,第三电容的正极端连接稳压芯片的输出端,第三电容的负极端接地。
7.根据权利要求1-6任意一项所述的便携式LED灯老化测试仪,其特征在于:所述单片机为STM8单片机。
8.根据权利要求6所述的便携式LED灯老化测试仪,其特征在于:所述稳压芯片为7805三端稳压集成电路。
9.一种便携式LED灯老化测试仪的使用方法,其特征在于:其步骤为,
(1)、适配器电源接入便携式LED灯的电源输入端口,对LED 灯进行充电输入;
(2)、电压检测电路通过比较适配器电源电压和LED灯的电源输入端口的电压是否正常;
(3)、电流检测电路通过检测LED灯的电源输入端口的电流大小;
(4)、单片机接收电压检测电路和电流检测电路的检测信号,当检测到电压检测信号正常,且电流检测信号为零时,LED灯电源充满,单片机输出控制信号;
(5)、电磁开关控制电路接收控制信号,使得三极管导通,电磁控制接口接通适配器电源,电磁铁击打LED灯的按钮,使LED灯打开;
(6)、然后光敏检测电路检测LED灯的发光情况,当光敏电阻检测到LED灯发光时,输出低电平信号,当光敏电阻检测到LED灯为发光时,输出高电平信号;
(7)、若单片机接收到低电平信号时,单片机开始累计LED灯的放电时间,当单片机接收到高电平时,单片机记录LED灯的放电时间。
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---|---|---|---|
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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GR01 | Patent grant | ||
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