CN108693244A - 针对管状结构缺陷检测的内置s型阵列涡流检测探头及方法 - Google Patents

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Abstract

一种针对管状结构缺陷检测的内置S型阵列涡流检测探头及方法，该探头包括激励线圈部分和检出线圈部分，激励线圈部分由螺旋线型缠绕在柱状线圈骨架上多束等间距分布的激励线圈导线组成，其中间距为180°的两束导线在线圈骨架端部连接，实为同一束导线；检出线圈部分由两排相同数量、相同大小的盘式小线圈组成，且每4个呈正方形紧密排布的盘式小线圈组成一个差动涡流检测单元，最终输出信号为检测单元的对面线圈信号相加且相邻线圈信号相减；检测时，依次向激励线圈部分的导线束通入激励信号，在每次激励下，相应载流导线束外侧的各组差动涡流检测单元依次获得单元中心点处的检出信号；本发明探头可同时检测环向缺陷和轴向缺陷；具有检测速度快和检测精度高等优点。

Description

针对管状结构缺陷检测的内置S型阵列涡流检测探头及方法
技术领域
本发明涉及一种电磁无损检测探头，具体涉及一种针对管状结构缺陷检测的内置S型阵列涡流检测探头及方法。
背景技术
管状结构在能源、机械、化工等各类工业领域中得到广泛应用，如核电蒸汽发生器传热管，蒸发器传热管是核反应堆冷却剂系统压力边界，只有大约1mm的壁厚和极端的运行条件使得传热管成为一回路压力边界最薄弱的环节。长期在极端环境下服役，管内部必然产生各种缺陷，若不进行定期检测，最终导致灾难性事故的发生，因此，为了避免巨大的经济财产损失，定期对其进行无损检测和安全评价十分必要。
涡流检测方法是建立在电磁感应原理基础之上的一种无损检测方法，具有非接触，无需耦合介质，检测速度高，易于实现自动化检测，对表面缺陷的检测灵敏度高等优点。目前针对传热管壁裂纹检测的研究，主要采用的涡流检测探头有Bobbin探头、旋转探头和阵列探头，实际的工业生产中，主要采用Bobbin探头和旋转探头，Bobbin探头检测速度快，但是检测精度不够高，且不能检测环向裂纹；旋转探头可以得到管壁的C扫图像，并且能够高效地检测出轴向裂纹与环向裂纹的特征与尺寸，但是螺旋扫描过程速度慢，易于磨损探头，控制探头旋转机的机械系统复杂，易操作失败，尤其对于管内裂纹。为了弥补Bobbin探头检测精度不够高，不能检测环向裂纹和旋转探头检测速度慢的不足，研发同时具备二者优点的阵列探头十分必要。
发明内容
为了解决上述现有技术存在的问题，本发明的目的在于提供一种针对管状结构缺陷检测的内置S型阵列涡流检测探头及方法，本发明探头可同时检测环向缺陷和轴向缺陷；相对于常规的管状结构涡流检测探头，本发明具有可检测任意方向的缺陷，检测速度快和检测精度高等优点，且可以同时有效降低提离和探头倾斜等外部环境条件对检测结果的影响。
为达到以上目的，本发明采用如下技术方案：
一种针对管状结构缺陷检测的内置S型阵列涡流检测探头，该探头为内置S型阵列涡流探头，置于待测管状结构1内部，包括激励线圈部分和检出线圈部分；所述激励线圈部分为N束激励线圈导线2呈螺旋线型缠绕在同一个柱状线圈骨架3上，在柱状线圈骨架3的横截面上，多束激励线圈导线2等间距分布，其中间距为180°的两束激励线圈导线2在柱状线圈骨架3端部连接，实为同一束激励线圈导线，即共有N/2组激励线圈导线束；所述检出线圈部分由两排完全相同的盘式小线圈5组成，整体上均呈螺旋线型分布于激励线圈导线2外侧，每排中任意两个相邻的盘式小线圈5与另一排相同位置的两个相邻的盘式小线圈5组成一组差动涡流检测单元4，则每个差动涡流检测单元4中的4个盘式小线圈5呈正方形紧密排布；检测时，依次向所述激励线圈部分的N/2组激励线圈导线束通入激励信号，在每次激励下，相应载流导线外侧的各组差动涡流检测单元4依次得到一个差分检出信号，同时有效降低提离和探头倾斜等外界环境对检测结果的影响，从而具有较高的检测精度。
所述激励线圈部分中激励线圈导线2的数量为6束，且在柱状线圈骨架3横截面上呈60°等间距分布，其中间距为180°的两束激励线圈导线2在柱状线圈骨架3端部连接，实为同一束激励线圈导线，即共有3组激励线圈导线束。
所述激励线圈部分中激励线圈导线2呈螺旋线型缠绕在柱状线圈骨架3上，该螺旋线的升角为45°。
所述检出线圈部分的盘式小线圈5整体上均呈升角为45°的螺旋线型分布于激励线圈导线2外侧，两排中相同位置的两个盘式小线圈5在垂直于该螺旋线切线的方向上紧密排布。
所述检出线圈部分最终输出信号为差动涡流检测单元4对面盘式小线圈5信号相加且相邻盘式小线圈5信号相减结果。
所述的一种针对管状结构缺陷检测的内置S型阵列涡流检测探头进行缺陷检测的方法，首先，向激励线圈部分通入稳态正弦激励电流6，该稳态正弦激励电流会产生交变磁场，置于该交变磁场中的待测管状结构1内部会感生出涡流，交变的涡流又会感生出二次磁场，两个磁场叠加后的复合磁场会使盘式小线圈5两端产生电压信号，受到待测管状结构1内部不同的缺陷形态的影响，感生出的二次磁场也将产生相应的变化，进而产生不同的电压信号；
其次，每个检测位置处激励分为三个阶段，即依次向激励线圈部分中的N/2组激励线圈导线束通入稳态正弦激励电流6，在每个阶段的激励过程中，相应载流激励线圈导线束外侧的各组差动涡流检测单元4依次产生一个差分检出信号，每次工作的差动涡流检测单元4的4个盘式小线圈5均产生检出信号，每排非两端的盘式小线圈5连续工作两次，通过差动涡流检测单元4中对面盘式小线圈5信号相加且相邻盘式小线圈5信号相减进行差分计算处理得到差动涡流检测单元4中心处检出信号，则该检出信号携带缺陷信息且同时有效降低提离和探头倾斜等外部环境的干扰。
最后，柱状线圈骨架3沿管道1轴向运动，带动激励线圈部分和检出线圈部分构成的探头对待测管状结构1进行轴向扫描，将检出信号与无缺陷管道的检出信号进行对比，判断当前扫描区域是否存在缺陷，若存在缺陷信号，对该段扫描区域进行重复扫描，进而确定该缺陷的位置。
和现有技术相比较，本发明具备如下优点：
由于激励线圈和检出线圈的形状和排布方式，本发明探头可同时检测环向缺陷和轴向缺陷；相对于常规的管状结构涡流检测探头，本发明具有可检测任意方向的缺陷，检测速度快和检测精度高等优点，且可以同时有效降低提离和探头倾斜等外部环境条件对检测结果的影响。
附图说明
图1为本发明探头服役中与待测管状结构的位置示意图。
图2为本发明探头的结构示意图。
图3为本发明激励线圈部分的结构示意图。
图4为本发明检测线圈部分的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图及具体实施例对本发明作进一步的详细描述。
如图1所示，本实施例一种针对管状结构缺陷检测的内置阵列涡流检测探头，该探头为内置阵列涡流探头，置于待测管状结构1内部，并命名为S型探头。
如图2所示，所述内置阵列涡流检测探头包括激励线圈部分和检出线圈部分；所述激励线圈部分为6束激励线圈导线2呈升角为45°的螺旋线型缠绕在同一个柱状线圈骨架3上，在柱状线圈骨架3的横截面上，6束激励线圈导线2呈60°等间距分布，其中间距为180°的两束激励线圈导线2在柱状线圈骨架3端部连接，实为同一束导线，即共有3组导线束；所述检出线圈部分由两排完全相同的盘式小线圈5组成，整体上均呈升角为45°的螺旋线型排布于激励线圈导线2外侧，每排中任意两个相邻的盘式小线圈5与另一排相同位置的两个相邻盘式小线圈5组成一组差动涡流检测单元4，则每组差动涡流检测单元4中的4个盘式小线圈5呈正方形紧密排布。
如图3所示，所述激励线圈部分为6束激励线圈导线2呈升角为45°的螺旋线型缠绕在同一个柱状线圈骨架3上，在柱状线圈骨架3的横截面上，6束激励线圈导线2呈60°等间距分布，其中间距为180°的两束激励线圈导线2在柱形线圈骨架3端部连接，实为同一束激励线圈导线，即共有3组激励线圈导线束，工作中，稳态正弦激励电流6从一束激励线圈导线2中流入，绕过骨架端部，从同组的另一束激励线圈导线2流出。
如图4所示，所述检出线圈部分由两排完全相同的盘式小线圈5组成，整体上均呈升角为45°的螺旋线型分布于激励线圈导线2外侧，每排中任意两个相邻的盘式小线圈5与另一排相同位置的两个相邻盘式小线圈5组成一组差动涡流检测单元4，则每组差动涡流检测单元4中的4个盘式小线圈5呈正方形紧密排布，工作中，每次激励下，两排中相同位置的两个盘式小线圈5先后与两侧的盘式小线圈5组成一组差动涡流检测单元4，即每排非两端的盘式小线圈5连续工作两次。
本发明的工作原理为：本发明是为了实现待测管状结构1管壁缺陷的检测评价。
首先，向激励线圈部分通入稳态正弦激励电流6，该稳态正弦激励电流会产生交变磁场，置于该交变磁场中的待测管状结构1内部会感生出涡流，交变的涡流又会感生出二次磁场，两个磁场叠加后的复合磁场会使盘式小线圈5两端产生电压信号，受到待测管状结构1内部不同的缺陷形态的影响，感生出的二次磁场也将产生相应的变化，进而产生不同的电压信号；
其次，每个检测位置处激励分为三个阶段，即依次向激励线圈部分中的3组激励线圈导线束通入稳态正弦激励电流6，在每个阶段的激励过程中，相应载流激励线圈导线束外侧的各组差动涡流检测单元4依次产生一个差分检出信号，每次工作的差动涡流检测单元4的4个盘式小线圈5均产生检出信号(每排非两端的盘式小线圈5连续工作两次)，通过差动涡流检测单元4中对面盘式小线圈5信号相加且相邻盘式小线圈5信号相减进行差分计算处理得到差动涡流检测单元4中心处检出信号，则该检出信号携带缺陷信息且可有效同时降低提离和探头倾斜等外部环境的干扰。
最后，柱状线圈骨架3沿管道1轴向运动，带动激励线圈部分和检出线圈部分构成的探头对待测管状结构1进行轴向扫描，将检出信号与无缺陷管道的检出信号进行对比，判断当前扫描区域是否存在缺陷，若存在缺陷信号，对该段扫描区域进行重复扫描，进而确定该缺陷的位置。

Claims (6)

1.一种针对管状结构缺陷检测的内置S型阵列涡流检测探头，其特征在于：该探头为内置S型阵列涡流探头，置于待测管状结构(1)内部，包括激励线圈部分和检出线圈部分；所述激励线圈部分为N束激励线圈导线(2)呈螺旋线型缠绕在同一个柱状线圈骨架(3)上，在柱状线圈骨架(3)的横截面上，多束激励线圈导线(2)等间距分布，其中间距为180°的两束激励线圈导线(2)在柱状线圈骨架(3)端部连接，实为同一束激励线圈导线，即共有N/2组激励线圈导线束；所述检出线圈部分由两排完全相同的盘式小线圈(5)组成，整体上均呈螺旋线型分布于激励线圈导线(2)外侧，每排中任意两个相邻的盘式小线圈(5)与另一排相同位置的两个相邻的盘式小线圈(5)组成一组差动涡流检测单元(4)，则每个差动涡流检测单元(4)中的4个盘式小线圈(5)呈正方形紧密排布；检测时，依次向所述激励线圈部分的N/2组激励线圈导线束通入激励信号，在每次激励下，相应载流导线外侧的各组差动涡流检测单元(4)依次得到一个差分检出信号，同时有效降低提离和探头倾斜等外界环境对检测结果的影响，从而具有较高的检测精度。
2.根据权利要求1所述的一种针对管状结构缺陷检测的内置S型阵列涡流检测探头，其特征在于：所述激励线圈部分中激励线圈导线(2)的数量为6束，且在柱状线圈骨架(3)横截面上呈60°等间距分布，其中间距为180°的两束激励线圈导线(2)在柱状线圈骨架(3)端部连接，实为同一束激励线圈导线，即共有3组激励线圈导线束。
3.根据权利要求1所述的一种针对管状结构缺陷检测的内置S型阵列涡流检测探头，其特征在于：所述激励线圈部分中激励线圈导线(2)呈螺旋线型缠绕在柱状线圈骨架(3)上，该螺旋线的升角为45°。
4.根据权利要求1所述的一种针对管状结构缺陷检测的内置S型阵列涡流检测探头，其特征在于：所述检出线圈部分的盘式小线圈(5)整体上均呈升角为45°的螺旋线型分布于激励线圈导线(2)外侧，两排中相同位置的两个盘式小线圈(5)在垂直于该螺旋线切线的方向上紧密排布。
5.根据权利要求1所述的一种针对管状结构缺陷检测的内置S型阵列涡流检测探头，其特征在于：所述检出线圈部分最终输出信号为差动涡流检测单元(4)对面的盘式小线圈(5)信号相加且相邻的盘式小线圈(5)信号相减结果。
6.根据权利要求1至5所述的一种针对管状结构缺陷检测的内置S型阵列涡流检测探头进行缺陷检测的方法，其特征在于：
首先，向激励线圈部分通入稳态正弦激励电流(6)，该稳态正弦激励电流会产生交变磁场，置于该交变磁场中的待测管状结构(1)内部会感生出涡流，交变的涡流又会感生出二次磁场，两个磁场叠加后的复合磁场会使盘式小线圈(5)两端产生电压信号，受到待测管状结构(1)内部不同的缺陷形态的影响，感生出的二次磁场也将产生相应的变化，进而产生不同的电压信号；
其次，每个检测位置处激励分为三个阶段，即依次向激励线圈部分中的N/2组激励线圈导线束通入稳态正弦激励电流(6)，在每个阶段的激励过程中，相应载流激励线圈导线束外侧的各组差动涡流检测单元(4)依次产生一个差分检出信号，每次工作的差动涡流检测单元(4)的4个盘式小线圈(5)均产生检出信号，每排非两端的盘式小线圈(5)连续工作两次，通过差动涡流检测单元(4)中对面的盘式小线圈(5)信号相加且相邻的盘式小线圈(5)信号相减进行差分计算处理得到差动涡流检测单元(4)中心处检出信号，则该检出信号携带缺陷信息且同时有效降低提离和探头倾斜外部环境的干扰。
最后，柱状线圈骨架(3)沿待测管状结构(1)轴向运动，带动激励线圈部分和检出线圈部分构成的探头对待测管状结构(1)进行轴向扫描，将检出信号与无缺陷管道的检出信号进行对比，判断当前扫描区域是否存在缺陷，若存在缺陷信号，对该段扫描区域进行重复扫描，进而确定该缺陷的位置。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019205891A1 (zh) * 2018-04-27 2019-10-31 西安交通大学 针对管状结构缺陷检测的内置s型阵列涡流检测探头及方法
CN111076029A (zh) * 2019-12-31 2020-04-28 中国人民解放军92578部队 一种用于微小管路腐蚀涡流内检测装置
CN111351840A (zh) * 2018-12-21 2020-06-30 核动力运行研究所 一种基于分段正交激励的管材内穿阵列探头
CN111487313A (zh) * 2019-01-25 2020-08-04 国核电站运行服务技术有限公司 用于核电蒸汽发生器螺旋传热管的全滚动涡流探头
CN111879852A (zh) * 2020-08-18 2020-11-03 西安交通大学 一种针对管状结构涡流检测的内插式tr探头及方法
CN112114031A (zh) * 2020-10-14 2020-12-22 西安石油大学 一种测量石油管道基体金属缺陷的探测仪
CN112378993A (zh) * 2020-11-12 2021-02-19 北京航空航天大学 一种用于无损检测的传感系统
CN113567544A (zh) * 2020-04-29 2021-10-29 核动力运行研究所 一种适用于角形件检查的涡流阵列探头

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09189682A (ja) * 1996-01-10 1997-07-22 Nuclear Fuel Ind Ltd 探傷検査方法
CN102841136A (zh) * 2012-09-01 2012-12-26 爱德森（厦门）电子有限公司 一种基于阵元线圈的变阵列涡流扫描规则
CN103487503A (zh) * 2013-09-26 2014-01-01 上海海事大学 一种旋转磁场涡流检测探头
CN103760232A (zh) * 2014-01-22 2014-04-30 中国人民解放军国防科学技术大学 一种圆形周期结构的柔性阵列式电涡流传感器
CN103868986A (zh) * 2012-12-13 2014-06-18 上海海事大学 一种金属管道内表面缺陷的涡流检测探头及其检测方法
WO2017019755A1 (en) * 2015-07-28 2017-02-02 Zetec, Inc. Drive coil for eddy current inspection probe
CN107941904A (zh) * 2017-12-21 2018-04-20 西安交通大学 航空金属小径管缺陷内检探头及检测方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5049817A (en) * 1990-06-08 1991-09-17 Atomic Energy Of Canada Limited Eddy current probe, incorporating multi-bracelets of different pancake coil diameters, for detecting internal defects in ferromagnetic tubes
US5565633A (en) 1993-07-30 1996-10-15 Wernicke; Timothy K. Spiral tractor apparatus and method
JP4284663B2 (ja) * 2006-12-26 2009-06-24 住友金属工業株式会社 内面フィン付き管の渦流探傷方法、渦流探傷用差動コイル及び渦流探傷用プローブ
JP4905560B2 (ja) * 2010-01-14 2012-03-28 トヨタ自動車株式会社 渦流計測用センサ、及び、渦流計測用センサによる検査方法
US8884614B2 (en) * 2011-10-31 2014-11-11 General Electric Company Eddy current array probe
CN105301096B (zh) 2015-11-20 2019-04-23 清华大学 用于空心车轴内壁探伤的阵列式柔性涡流探头
CN106645393B (zh) 2016-12-02 2017-11-28 西安交通大学 航空非铁磁金属管件腐蚀缺陷内检成像探头及方法
CN106770636B (zh) 2017-01-18 2018-03-13 西安交通大学 一种针对管道缺陷检测的磁力传动式阵列涡流探头及方法
CN108693244B (zh) 2018-04-27 2019-02-26 西安交通大学 针对管状结构缺陷检测的内置s型阵列涡流检测探头及方法
CN109115869B (zh) 2018-09-29 2020-05-15 西安交通大学 针对钢丝绳断丝缺陷检测的s型阵列涡流探头及检测方法

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09189682A (ja) * 1996-01-10 1997-07-22 Nuclear Fuel Ind Ltd 探傷検査方法
CN102841136A (zh) * 2012-09-01 2012-12-26 爱德森（厦门）电子有限公司 一种基于阵元线圈的变阵列涡流扫描规则
CN103868986A (zh) * 2012-12-13 2014-06-18 上海海事大学 一种金属管道内表面缺陷的涡流检测探头及其检测方法
CN103487503A (zh) * 2013-09-26 2014-01-01 上海海事大学 一种旋转磁场涡流检测探头
CN103760232A (zh) * 2014-01-22 2014-04-30 中国人民解放军国防科学技术大学 一种圆形周期结构的柔性阵列式电涡流传感器
WO2017019755A1 (en) * 2015-07-28 2017-02-02 Zetec, Inc. Drive coil for eddy current inspection probe
CN107941904A (zh) * 2017-12-21 2018-04-20 西安交通大学 航空金属小径管缺陷内检探头及检测方法

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
杨理践 等: "基于涡流效应的管道内壁缺陷检测与识别", 《无损探伤》 *

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019205891A1 (zh) * 2018-04-27 2019-10-31 西安交通大学 针对管状结构缺陷检测的内置s型阵列涡流检测探头及方法
US10823702B2 (en) 2018-04-27 2020-11-03 Xi'an Jiaotong University Built-in S-typed array eddy current testing probe and method for detecting defects of tubular structure
CN111351840A (zh) * 2018-12-21 2020-06-30 核动力运行研究所 一种基于分段正交激励的管材内穿阵列探头
CN111487313A (zh) * 2019-01-25 2020-08-04 国核电站运行服务技术有限公司 用于核电蒸汽发生器螺旋传热管的全滚动涡流探头
CN111076029A (zh) * 2019-12-31 2020-04-28 中国人民解放军92578部队 一种用于微小管路腐蚀涡流内检测装置
CN113567544A (zh) * 2020-04-29 2021-10-29 核动力运行研究所 一种适用于角形件检查的涡流阵列探头
CN111879852A (zh) * 2020-08-18 2020-11-03 西安交通大学 一种针对管状结构涡流检测的内插式tr探头及方法
CN112114031A (zh) * 2020-10-14 2020-12-22 西安石油大学 一种测量石油管道基体金属缺陷的探测仪
CN112114031B (zh) * 2020-10-14 2023-10-17 西安石油大学 一种测量石油管道基体金属缺陷的探测仪
CN112378993A (zh) * 2020-11-12 2021-02-19 北京航空航天大学 一种用于无损检测的传感系统
CN112378993B (zh) * 2020-11-12 2023-12-12 北京航空航天大学 一种用于无损检测的传感系统

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