CN108664358A - 单片机参数处理方法、系统、可读存储介质及终端设备 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种单片机参数处理方法、系统、可读存储介质及终端设备,该方法包括:当对单片机的参数进行保存时,将待保存的参数信息依次写入至第一区域、第二区域内;当对单片机的参数进行读取时,根据预设校验规则依次对第一区域和第二区域内存储的参数信息进行校验;当第一区域和第二区域中的其中一个区域内存储的参数信息校验失败时,读取使用校验成功的区域内存储的参数信息,并将其写入至校验失败的区域内,以替换校验失败的区域内存储的参数信息。本发明提供的单片机参数处理方法解决了现有的单片机参数写入读取时准确性不高的问题。
Description
技术领域
本发明涉及电子技术领域,特别是涉及一种单片机参数处理方法、系统、可读存储介质及终端设备。
背景技术
随着电子技术的发展和生活水平的提高,越来越多电子产品受到消费者的普及使用,为满足各式各样的消费者的需求,其生产厂商生产的电子产品也各式各样,其中搭载单片机系统的电子产品也受到广泛的使用,其中电子产品中存在各种功能参数的设置,用户可对其电子产品的参数进行个性化的更改,以满足其使用需求,因此在对电子产品中的单片机系统进行参数更改后,其对更改后的参数进行保存为必不可少的一步。
现有参数的保存方法中,存在写入flash时出现错误,或写入一半时断电等情况导致保存出错的问题,从而使得在后续需要用该参数时,没能得到准确的参数值或者丢失数据后而只能使用系统的默认值。因此在参数保存时需要对参数的准确性进行确定。现有参数的准确性的确定主要包括:
在保存参数时,参数保存后就马上再读取出来判断是否跟刚才保存的数据一致的方法或者在保存的数据中增加数据的校验值,通过校验方法校验数据的准确性。然而其上述方案只能够保证在保存的那一刻,是正确的将数据写入了flash,但是无法保证后续的读取数据的正确性。同时,假如保存的时候断电了,数据就基本丢失,只能使用默认值。通过校验的方法中,虽然能够保证读取出来的数据是否准确;但是,假如保存的时候断电时,其数据也会丢失,只能使用默认值;因此在断电的情况下,其保存的数据会产生丢失,因此其保存的参数数据与真实需保存的参数数据之间存在比较大的偏差值。
发明内容
基于此,本发明实施例提出一种单片机参数处理方法、系统、可读存储介质及终端设备,解决现有的单片机参数写入读取时准确性不高的问题。
本发明实施例提供一种单片机参数处理方法,具体技术方案如下:
一种单片机参数处理方法,所述方法包括:
当对单片机的参数进行保存时,将待保存的参数信息依次写入至第一区域、第二区域内;
当对所述单片机的参数进行读取时,根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验;
当所述第一区域和所述第二区域中的其中一个区域内存储的参数信息校验失败时,读取使用校验成功的区域内存储的参数信息,并将其写入至校验失败的区域内,以替换校验失败的区域内存储的参数信息。
本发明实施例,通过在对单片机参数进行保存时,分别保存至第一区域和第二区域内,使得其第二区域可作为第一区域的备份区域,在对单片机参数进行读取时,通过采用预设校验规则进行校验使得可以确定出第一区域和第二区域内存储的参数信息是否完整,通过对第一区域和第二区域的参数信息的校验使得可减少读取错误的参数信息的可能性。同时通过设置的第一区域和第二区域,使得当其中一区域中写入的参数信息由于受到掉电等外界因素的影响导致的参数信息有误时,其可读取校验成功的另一区域内的参数信息,此时提高单片机的参数信息读取的准确性,解决现有的单片机参数写入读取时准确性不高的问题。同时通过将校验成功的另一区域内的参数信息写入至目标区域内,使得可实现对第一区域和第二区域内存储的参数信息的校对。
进一步地,所述根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验的步骤之后,还包括:
当所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息均校验成功时,将所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行比对;
当比对出所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息一致时,对所述参数信息进行读取;
当比对出所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息不一致时,读取使用所述第一区域内存储的所述参数信息,并将所述第一区域内存储的所述参数信息写入至所述第二区域内。
进一步地,所述根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验的步骤之后,还包括:
当所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息均校验失败时,读取使用所述单片机的默认参数信息,并将所述默认参数依次写入至所述第一区域和所述第二区域。
进一步地,所述将待保存的参数信息依次写入至第一区域、第二区域内的步骤包括:
将待保存的所述参数信息写入至所述第一区域,并在写入完成后采用所述预设校验规则对所述第一区域内存储的所述参数信息进行读取校验;
当所述第一区域内存储的所述参数信息校验成功时,将待保存的所述参数信息写入至所述第二区域,并在写入完成后采用所述预设校验规则对所述第二区域内存储的所述参数信息进行读取校验;
当所述第一区域内存储的所述参数信息校验失败时,继续将待保存的所述参数信息写入至所述第一区域,直至所述第一区域内存储的所述参数信息校验成功;
当所述第二区域内存储的所述参数信息校验失败时,继续将待保存的所述参数信息写入至所述第二区域,直至所述第二区域内存储的所述参数信息校验成功。
进一步地,所述读取使用校验成功的区域内存储的参数信息,并将其写入至校验失败的区域内的步骤包括:
当所述第一区域内存储的所述参数信息校验失败,且所述第二区域内存储的所述参数信息校验成功时,读取使用所述第二区域内存储的所述参数信息,且将所述第二区域内存储的所述参数信息写入至所述第一区域内;
当所述第一区域内存储的所述参数信息校验成功,且所述第二区域内存储的所述参数信息校验失败时,读取使用所述第一区域内存储的所述参数信息,且将所述第一区域内存储的所述参数信息写入至所述第二区域内。
进一步地,所述预设校验规则为CRC校验规则。
本发明的另一个实施例提出一种单片机参数处理系统,所述系统包括:
保存模块,用于当对单片机的参数进行保存时,将待保存的参数信息依次写入至第一区域、第二区域内;
校验模块,用于当对所述单片机的参数进行读取时,根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验;
第一读取模块,用于当所述第一区域和所述第二区域中的其中一个区域内存储的参数信息校验失败时,读取使用校验成功的区域内存储的参数信息,并将其写入至校验失败的区域内,以替换校验失败的区域内存储的参数信息。
进一步地,所述系统还包括:
比对模块,用于当所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息均校验成功时,将所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行比对;
第二读取模块,用于当所述比对模块比对出所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息一致时,对所述参数信息进行读取;
第三读取模块,用于当所述比对模块比对出所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息不一致时,读取使用所述第一区域内存储的所述参数信息,并将所述第一区域内存储的所述参数写入至所述第二区域内;
第四读取模块,用于当所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息均校验失败时,读取使用所述单片机的默认参数信息,并将所述默认参数依次写入至所述第一区域和所述第二区域。
本发明的另一个实施例提出一种可读存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现上述实施例提出的方法的步骤。
本发明的另一个实施例提出一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现上述实施例提出的方法的步骤。
附图说明
图1为本发明第一实施例提出的单片机参数处理方法的流程图。
图2为本发明第二实施例提出的单片机参数处理方法的流程图。
图3为本发明一实施例提出的单片机参数处理系统的结构框图。
图4为本发明另一实施例提出的单片机参数处理系统的结构框图。
具体实施方式
为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本发明的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明。但是本发明能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似改进,因此本发明不受下面公开的具体实施的限制。
请查阅图1,为本发明的第一实施例提出的单片机参数处理方法的流程图,该方法包括:
步骤S101,当对单片机的参数进行保存时,将待保存的参数信息依次写入至第一区域、第二区域内;
其中,本实施例中,该单片机系统应用于电子产品、终端设备中,其用户可对终端设备(如抽油烟机、洗衣机等)的参数进行个性化的更换,当用户对参数进行更改时,其需对终端设备中更改后的参数进行保存,当终端设备进行上电时,其单片机系统会读取预先存储的参数,并使终端设备以该参数进行运行。其中该终端设备的单片机系统中设有两个用于存储参数信息的存储区域,其分别为第一区域和第二区域,用于在对单片机的参数进行设置以及需要保存时,其需先将该第一区域和第二区域中原先存储的信息数据进行擦除、并在数据擦除后重新进行参数信息的写入保存。本实施例中,其第一区域为单片机存储及读取参数信息时的主区域,其第二区域为单片机存储及读取参数信息时的备份区域。本实施例中,当对单片机的参数进行保存时,其需将待保存的参数信息依次写入至第一区域和第二区域中,以使得主区域和备份区域均有对参数信息进行保存。具体的,上述步骤中,其具体可以参照如下步骤实现:
(1)将待保存的所述参数信息写入至所述第一区域,并在写入完成后采用所述预设校验规则对所述第一区域内存储的所述参数信息进行读取校验;
(2)当所述第一区域内存储的所述参数信息校验成功时,将待保存的所述参数信息写入至所述第二区域,并在写入完成后采用所述预设校验规则对所述第二区域内存储的所述参数信息进行读取校验;
(3)当所述第一区域内存储的所述参数信息校验失败时,继续将待保存的所述参数信息写入至所述第一区域,直至所述第一区域内存储的所述参数信息校验成功;
(4)当所述第二区域内存储的所述参数信息校验失败时,继续将待保存的所述参数信息写入至所述第二区域,直至所述第二区域内存储的所述参数信息校验成功。
其中,其单片机首先将待保存的参数信息写入至第一区域中,其在写入完成后需对写入的参数信息进行校验,以确定写入的参数信息的准确性。其中,本实施例中,其校验的方法采用常见于应用单片机系统中的CRC校验方法。其主要实现为在将参数信息的数据写入至第一区域时,在写入的数据帧中最后位置加入校验帧,该校验帧为根据参数信息的数据所确定,使得其校验帧与参数信息的数据帧存在一特定的关系,当参数信息中存在数据丢失时,即参数信息写入至第一区域时写入的数据不完整时(可能存在掉电导致数据写入不全),其参数信息的数据帧与校验帧的特定关系被破坏,此时校验失败,因此通过校验时其校验帧与参数信息的数据帧之间的特定关系是否正常即可确定其写入的参数信息是否完整。
此时在对写入至第一区域的参数信息进行校验时,若校验成功,则确定成功将参数信息写入至第一区域,此时将参数信息继续写入至第二区域,依次上述,在写入完成后,对写入至第二区域的参数信息进行校验。当对写入至第一区域的参数信息校验失败时,则确定未成功将参数信息写入至第一区域,此时继续将参数信息写入至第一区域,并在写入完成后进行校验,直至第一区域内的参数信息校验成功。依次上述,当对写入至第二区域的参数信息校验失败时,继续将参数信息写入至第二区域,直至第二区域内的参数信息校验成功。
此时,单片机中待保存的参数信息可完整的写入至第一区域和第二区域内,其第二区域可作为备份区域保存着参数信息,当第一区域内的参数信息由于掉电等外部因素导致的丢失时,其可通过读取第二区域中存储的参数信息,以实现对参数信息的完整读取。
步骤S102,当对所述单片机的参数进行读取时,根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验;
其中,当单片机在上电后,其需对预先存储的参数信息进行读取,以确定单片机系统以该参数信息进行运行,其中在读取参数信息时,首先对第一区域内存储的参数信息采用预设的校验规则进行校验,在对第一区域内存储的参数信息校验完成后,继续对第二区域内存储的参数信息进行校验。
步骤S103,当所述第一区域和所述第二区域中的其中一个区域内存储的参数信息校验失败时,读取使用校验成功的区域内存储的参数信息,并将其写入至校验失败的区域内,以替换校验失败的区域内存储的参数信息;
其中,当在对第一区域和第二区域中存储的参数信息进行校验时,确定出一目标区域内存储的目标参数信息校验失败,且另一区域内存储的参数信息校验成功时,其单片机读取使用校验成功的另一区域内存储的参数信息,同时将校验成功的另一区域内存储的参数信息写入至目标区域内,以使得替换目标区域内存储的目标参数信息。其具体包括以下两种可能:
(一)、当所述第一区域内存储的所述参数信息校验失败,且所述第二区域内存储的所述参数信息校验成功时,读取使用所述第二区域内存储的所述参数信息,且将所述第二区域内存储的所述参数信息写入至所述第一区域内;
(二)、当所述第一区域内存储的所述参数信息校验成功,且所述第二区域内存储的所述参数信息校验失败时,读取使用所述第一区域内存储的所述参数信息,且将所述第一区域内存储的所述参数信息写入至所述第二区域内。
其中,单片机系统在上电时通过读取第一区域和第二区域内存储的参数信息并进行校验,当其中一目标区域的目标参数信息存在校验失败(即在将参数信息写入至第一区域或第二区域时存在掉电等外界因素导致该区域内存储的数据不完整)时,此时读取并使用校验成功的区域内存储的参数信息,并将校验成功的区域内存储的参数信息重新写入至校验失败的区域内,使得可完成各个区域内存储的参数信息的校对,并可实现参数信息的正确的读取,而现有技术中,当其存储区域内存储的参数信息校验失败时,其只能采用系统默认的参数信息,使得无法提高参数信息的读取以及写入的准确性。
本发明实施例,通过在对单片机参数进行保存时,分别保存至第一区域和第二区域内,使得其第二区域可作为第一区域的备份区域,在对单片机参数进行读取时,通过采用预设校验规则进行校验使得可以确定出第一区域和第二区域内存储的参数信息是否完整,通过对第一区域和第二区域的参数信息的校验使得可减少读取错误的参数信息的可能性。而现有技术中,存在大多不会对数据进行校对的问题,使得产生读取错误的数据的问题,同时现有技术中,其存储的参数信息存在一个固定区域,当由于掉电等外界因素时,还存在其数据产生丢失不完整等问题,因而只能使用系统默认参数信息,本实施例中,通过设置的第一区域和第二区域,使得当其中一区域中写入的参数信息由于受到掉电等外界因素的影响导致的参数信息有误时,其可读取校验成功的另一区域内的参数信息,此时提高单片机的参数信息读取的准确性,解决现有的单片机参数写入读取时准确性不高的问题。其可同时通过将校验成功的另一区域内的参数信息写入至目标区域内,使得可实现对第一区域和第二区域内存储的参数信息的校对。
请查阅图2,本发明的第二实施例中提供的单片机参数处理方法的流程图,其中,该方法包括:
步骤S201,当对单片机的参数进行保存时,将待保存的参数信息依次写入至第一区域、第二区域内。
步骤S202,当对所述单片机的参数进行读取时,根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验。
步骤S203,当所述第一区域和所述第二区域中的其中一个区域内存储的参数信息校验失败时,读取使用校验成功的区域内存储的参数信息,并将其写入至校验失败的区域内,以替换校验失败的区域内存储的参数信息。
步骤S204,当所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息均校验成功时,将所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行比对;
其中,当第一区域和第二区域内存储的参数信息均通过预设校验方法校验成功后,其无法确定第一区域与第二区域内存储的参数信息是否一致,因此需将第一区域内存储的参数信息与第二区域内存储的参数信息进行比对,以确定读取使用哪个区域内存储的参数信息。
步骤S205,当比对出所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息一致时,对所述参数信息进行读取;
其中,当第一区域和第二区域内存储的参数信息均相同时,即说明在参数信息写入至第一区域和第二区域内时,均写入成功,此时对第一区域和第二区域内的参数信息进行读取以及使用。
步骤S206,当比对出所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息不一致时,读取使用所述第一区域内存储的所述参数信息,并将所述第一区域内存储的所述参数信息写入至所述第二区域内;
其中,当第一区域内存储的参数信息与第二区域内存储的参数信息不一致时,则说明在第一区域内存储参数信息成功,且将要将参数信息写入至第二区域内时受到掉电等外界因素影响,此时第一区域内存储的为用户最新设置并写入的参数信息,第二区域内存储的为用户先前设置的旧参数信息,此时将第一区域内存储的参数信息写入至第二区域内,使得第二区域内的参数信息完成更新以及与第一区域内的相同,其中需要指出的是,将第一区域内存储的参数信息写入至第二区域内后,其需对第二区域内写入的参数信息进行校验,以确定是否成功将第一区域内存储的参数信息写入至第二区域内,当校验失败时,则继续将第一区域内存储的参数信息写入至第二区域内,直至校验成功。
步骤S207,当所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息均校验失败时,读取使用所述单片机的默认参数信息,并将所述默认参数依次写入至所述第一区域和所述第二区域;
其中,当第一区域和第二区域内存储的参数信息均校验失败时,则可能由于外界因素导致的单片机中存储的数据发生错误,此时无法读取到单片机中存储的参数数据,此时将单片机中预设的默认参数分别写入至第一区域和第二区域内,并读取使用默认参数信息。
请查阅图3,为本发明的一实施例中提供的单片机参数处理系统的结构框图,所述系统100包括:
保存模块101,用于当对单片机的参数进行保存时,将待保存的参数信息依次写入至第一区域、第二区域内。
校验模块102,用于当对所述单片机的参数进行读取时,根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验。
第一读取模块103,用于当其中一目标区域内存储的目标参数信息校验失败时,读取使用校验成功的另一区域内存储的所述参数信息,并将所述参数信息写入至所述目标区域内,以替换所述目标区域内存储的所述目标参数信息。
请查阅图4,为本发明的另一实施例中提供的单片机参数处理系统的结构框图,所述系统200包括:
保存模块201,用于当对单片机的参数进行保存时,将待保存的参数信息依次写入至第一区域、第二区域内。
校验模块202,用于当对所述单片机的参数进行读取时,根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验。
第一读取模块203,用于当所述第一区域和所述第二区域中的其中一个区域内存储的参数信息校验失败时,读取使用校验成功的区域内存储的参数信息,并将其写入至校验失败的区域内,以替换校验失败的区域内存储的参数信息。
比对模块204,用于当所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息均校验成功时,将所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行比对。
第二读取模块205,用于当所述比对模块204比对出所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息一致时,对所述参数信息进行读取。
第三读取模块206,用于当所述比对模块204比对出所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息不一致时,读取使用所述第一区域内存储的所述参数信息,并将所述第一区域内存储的所述参数写入至所述第二区域内。
第四读取模块207,用于当所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息均校验失败时,将所述单片机的默认参数分别写入至所述第一区域和所述第二区域,并对所述默认参数信息进行读取。
其中,所述预设校验规则为CRC校验规则。
其中,保存模块201包括:
校验单元,用于将待保存的所述参数信息写入至所述第一区域,并在写入完成后采用所述预设校验规则对所述第一区域内存储的所述参数信息进行读取校验。
第一写入单元,用于当所述第一区域内存储的所述参数信息校验成功时,将待保存的所述参数信息写入至所述第二区域,并在写入完成后采用所述预设校验规则对所述第二区域内存储的所述参数信息进行读取校验。
第二写入单元,用于当所述第一区域内存储的所述参数信息校验失败时,继续将待保存的所述参数信息写入至所述第一区域,直至所述第一区域内存储的所述参数信息校验成功。
第三写入模块,用于当所述第二区域内存储的所述参数信息校验失败时,继续将待保存的所述参数信息写入至所述第二区域,直至所述第二区域内存储的所述参数信息校验成功。
其中,第一读取模块203包括:
第一读取单元,用于当所述第一区域内存储的所述参数信息校验失败,且所述第二区域内存储的所述参数信息校验成功时,读取使用所述第二区域内存储的所述参数信息,且将所述第二区域内存储的所述参数信息写入至所述第一区域内。
第二读取单元,用于当所述第一区域内存储的所述参数信息校验成功,且所述第二区域内存储的所述参数信息校验失败时,读取使用所述第一区域内存储的所述参数信息,且将所述第一区域内存储的所述参数信息写入至所述第二区域内。
本发明实施例提出的单片机参数处理系统的技术特征和技术效果与本发明实施例提出的方法相同,在此不予赘述。
本发明实施例还提供了一种存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现上述实施例1、2中任意一个方法的步骤,
本发明实施例还提供了一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述程序时实现上述实施例1、2中任意一项所述的方法的步骤。
在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤,例如,可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表,可以具体实现在任何计算机可读介质中,以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用,或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言,“计算机可读介质”可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。
计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下:具有一个或多个布线的电连接部(电子装置),便携式计算机盘盒(磁装置),随机存取存储器(RAM),只读存储器(ROM),可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器),光纤装置,以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外,计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质,因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描,接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序,然后将其存储在计算机存储器中。
应当理解,本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中,多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如,如果用硬件来实现,和在另一实施方式中一样,可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现:具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路,具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路,可编程门阵列(PGA),现场可编程门阵列(FPGA)等。
在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种单片机参数处理方法,其特征在于,所述方法包括:
当对单片机的参数进行保存时,将待保存的参数信息依次写入至第一区域、第二区域内;
当对所述单片机的参数进行读取时,根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验;
当所述第一区域和所述第二区域中的其中一个区域内存储的参数信息校验失败时,读取使用校验成功的区域内存储的参数信息,并将其写入至校验失败的区域内,以替换校验失败的区域内存储的参数信息。
2.根据权利要求1所述的单片机参数处理方法,其特征在于,所述根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验的步骤之后,还包括:
当所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息均校验成功时,将所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行比对;
当比对出所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息一致时,对所述参数信息进行读取;
当比对出所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息不一致时,读取使用所述第一区域内存储的所述参数信息,并将所述第一区域内存储的所述参数信息写入至所述第二区域内。
3.根据权利要求1所述的单片机参数处理方法,其特征在于,所述根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验的步骤之后,还包括:
当所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息均校验失败时,读取使用所述单片机的默认参数信息,并将所述默认参数依次写入至所述第一区域和所述第二区域。
4.根据权利要求1所述的单片机参数处理方法,其特征在于,所述将待保存的参数信息依次写入至第一区域、第二区域内的步骤包括:
将待保存的所述参数信息写入至所述第一区域,并在写入完成后采用所述预设校验规则对所述第一区域内存储的所述参数信息进行读取校验;
当所述第一区域内存储的所述参数信息校验成功时,将待保存的所述参数信息写入至所述第二区域,并在写入完成后采用所述预设校验规则对所述第二区域内存储的所述参数信息进行读取校验;
当所述第一区域内存储的所述参数信息校验失败时,继续将待保存的所述参数信息写入至所述第一区域,直至所述第一区域内存储的所述参数信息校验成功;
当所述第二区域内存储的所述参数信息校验失败时,继续将待保存的所述参数信息写入至所述第二区域,直至所述第二区域内存储的所述参数信息校验成功。
5.根据权利要求1所述的单片机参数处理方法,其特征在于,所述读取使用校验成功的区域内存储的参数信息,并将其写入至校验失败的区域内的步骤包括:
当所述第一区域内存储的所述参数信息校验失败,且所述第二区域内存储的所述参数信息校验成功时,读取使用所述第二区域内存储的所述参数信息,且将所述第二区域内存储的所述参数信息写入至所述第一区域内;
当所述第一区域内存储的所述参数信息校验成功,且所述第二区域内存储的所述参数信息校验失败时,读取使用所述第一区域内存储的所述参数信息,且将所述第一区域内存储的所述参数信息写入至所述第二区域内。
6.根据权利要求1所述的单片机参数处理方法,其特征在于,所述预设校验规则为CRC校验规则。
7.一种单片机参数处理系统,其特征在于,所述系统包括:
保存模块,用于当对单片机的参数进行保存时,将待保存的参数信息依次写入至第一区域、第二区域内;
校验模块,用于当对所述单片机的参数进行读取时,根据预设校验规则依次对所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行校验;
第一读取模块,用于当所述第一区域和所述第二区域中的其中一个区域内存储的参数信息校验失败时,读取使用校验成功的区域内存储的参数信息,并将其写入至校验失败的区域内,以替换校验失败的区域内存储的参数信息。
8.根据权利要求7所述的单片机参数处理系统,其特征在于,所述系统还包括:
比对模块,用于当所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息均校验成功时,将所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息进行比对;
第二读取模块,用于当所述比对模块比对出所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息一致时,对所述参数信息进行读取;
第三读取模块,用于当所述比对模块比对出所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息不一致时,读取使用所述第一区域内存储的所述参数信息,并将所述第一区域内存储的所述参数写入至所述第二区域内;
第四读取模块,用于当所述第一区域和所述第二区域内存储的所述参数信息均校验失败时,读取使用所述单片机的默认参数信息,并将所述默认参数依次写入至所述第一区域和所述第二区域。
9.一种可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-6中任意一项所述的方法的步骤。
10.一种终端设备,包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-6中任意一项所述的方法的步骤。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201810482814.1A CN108664358A (zh) | 2018-05-18 | 2018-05-18 | 单片机参数处理方法、系统、可读存储介质及终端设备 |
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CN108664358A true CN108664358A (zh) | 2018-10-16 |
Family
ID=63777079
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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CN201810482814.1A Pending CN108664358A (zh) | 2018-05-18 | 2018-05-18 | 单片机参数处理方法、系统、可读存储介质及终端设备 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN108664358A (zh) |
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