CN108550653A - 一种se电池印刷对位检测防偏移补偿方法 - Google Patents

一种se电池印刷对位检测防偏移补偿方法 Download PDF

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吴俊旻
张鹏
常青
余波
谢耀辉
杨蕾
闫涛
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Tongwei Solar Hefei Co Ltd
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Tongwei Solar Hefei Co Ltd
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    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof

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Abstract

本发明公开了一种SE电池印刷对位检测防偏移补偿方法,包括以下步骤:步骤一、MARK点的设置;步骤二、电极栅线的印刷;步骤三、电池片抽查检测;步骤四、检测和补偿:使用固定位置的CCD连续采集电池片的MARK点对准图像,采集信号传输到电脑,分析处理成像,从而判断出电池片印刷过程中是否发生偏移;若发生偏移,得出具体偏移量,然后及时调整印刷机参数校准对位,进行偏移量的补偿。本发明的对位防偏移检测方法,可以通过抽取流水线上电池片的方式,定时或者随时监控印刷对位情况是否良好,同时使用该方法检测可以快速测量对位的偏移值,及时补偿调整印刷机,测量时间短、测量精度高,实用性强,非常值得推广。

Description

一种SE电池印刷对位检测防偏移补偿方法
技术领域
本发明涉及电池印刷技术领域,具体为一种SE电池印刷对位检测防偏移补偿方法。
背景技术
随太阳能电池技术的进步与发展,高光电转换效率一直是业内技术人员不断追求的目标。选择性发射极(SE)技术成功应用在PERC电池上可以有效提升电池效率,实现更高效率的目的,但是却因设备和部分技术限制,在连续工业生产过程中存在一定风险,主要是对准方面存在问题,长时间的量跑印刷中,因为设备磨损、精度下降等原因,造成SE对位结构制作出现偏差,最终使电池效率下降。
因此需要一种随时快速、有效的检测方法来定时抽测,以此防止印刷偏移,否则会出现大量不合格电池片,严重影响印刷质量、产品质量。
常规检测一般采用显微镜,检测需要调整显微镜焦距和放大倍数,而且显微镜摆放位置不便产线随时检测,现有的制作SE结构技术存在量跑时具有错位的风险,如若疏忽不能及时发现会给企业带来很大损失,并且现有检测对位方法存在是否准确、手段响应滞后、时效性不强以及操作复杂等诸多缺陷。
发明内容
本发明的目的在于提供一种SE电池印刷对位检测防偏移补偿方法,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:
一种SE电池印刷对位检测防偏移补偿方法,包括以下步骤:
步骤一、MARK点的设置:在电池片上进行镭射掺杂,形成镭射掺杂线,并且在镭射掺杂线上镭射出MARK点;
步骤二、电极栅线的印刷:将电池放在载片台上与印刷机进行对位,调整印刷机使得电极栅线在印刷时正好叠印于镭射掺杂线上;
且印刷主栅线时,会在主栅线上留有与MARK点对应的镂空区域不予印刷;
步骤三、电池片抽查检测:在印刷流水线上,每隔相同片数抽取一片电池片,进行该电池片的对位检测;
步骤四、检测和补偿:使用固定位置的CCD连续采集电池片的MARK点对准图像,采集信号传输到电脑,分析处理成像,从而判断出电池片印刷过程中是否发生偏移;
若发生偏移,得出具体偏移量,然后及时调整印刷机参数校准对位,进行偏移量的补偿。
优选的,步骤一中,所述MARK点设置有不少于4个。
优选的,步骤一中,所述MARK点设置为十字形或环形。
优选的,步骤三中,采用每隔数十片或数百片的方式进行印刷流水线上电池片的抽取。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
本发明的对位防偏移检测方法,可以通过抽取流水线上电池片的方式,定时或者随时监控印刷对位情况是否良好,同时使用该方法检测可以快速测量对位的偏移值,及时补偿调整印刷机,测量时间短、测量精度高,实用性强,非常值得推广。
附图说明
图1为本发明的检测补偿方法流程示意图;
图2为本发明实施例中所使用电脑软件的程序流程图;
图3为本发明实施例中CCD camera的位置示意图;
图4为本发明实施例中主栅线与镂空区域结构示意图;
图5为本发明实施例中四个CCD camera的屏幕显示图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-5,本发明提供一种技术方案:
一种SE电池印刷对位检测防偏移补偿方法,如说明书附图1所示,包括以下步骤:
步骤一、MARK点的设置:在电池片上进行镭射掺杂,形成镭射掺杂线,并且在镭射掺杂线上镭射出MARK点,所述MARK点设置有4个,4个MARK点不位于同一镭射掺杂线上,且MARK点均设置为四个十字形;
步骤二、电极栅线的印刷:将电池放在载片台上与印刷机进行对位,调整印刷机使得电机栅线在印刷时正好叠印于镭射掺杂线上;
且在印刷主栅线时,会在主栅线上留有与MARK点对应的镂空区域不予印刷,如说明书附图4所示,粗实线为电池片外侧的主栅线,细实线为离边缘最近的第一条副栅线,对应的镂空区域也设置为十字形,便于观察主栅线上镂空区域的十字形是否与MARK点的十字形相互重合,以观测出是否发生偏移以及偏移量;
步骤三、电池片抽查检测:在印刷流水线上,每隔相同片数抽取一片电池片,进行该电池片的对位检测,可以采用每隔10片的方式进行印刷流水线上电池片的抽取,10片的间隔能够最大化的保证抽取检测效率以及更好的防止大量低质量电池片的产生;
如说明书附图3所示,网印后随机抽检印刷烧结后的电池片,将电池片正面朝上置于台面上,台面上方有四颗CCD camera用于拍摄激光打出的十字形MARK点,MARK点位在电池外侧的两主栅线上,主栅线两端各有一个MARK点,网印时会漏空不印,CCD摄像头位置需可在X-Y方向移动,以对应不同主栅线位置;
步骤四、检测和补偿:使用四个固定位置的CCD连续采集电池片四个固定位置的MARK点对准图像,采集信号传输到电脑,分析处理成像,然后经过电脑所设计的软件SCISmart Camera进行分析,经过如说明书附图2所示的软件流程分析,从而判断出电池片印刷过程中是否发生偏移,及时给出是否发生偏移或具体偏移量;
如说明书附图5所示,四颗CCD摄像头拍摄到的画面需同时显示在屏幕上,此时镂空区域的十字形与激光打出的十字形MARK点完全重合,则正面没有发生偏移;
若发生偏移,通过观察电脑软件SCI Smart Camera的显示器的图像界面,根据十字形图形的不重合程度,得出具体偏移量,然后及时调整印刷机参数校准对位,进行偏移量的补偿,随后再接着进行流水印刷。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (4)

1.一种SE电池印刷对位检测防偏移补偿方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一、MARK点的设置:在电池片上进行镭射掺杂,形成镭射掺杂线,并且在镭射掺杂线上镭射出MARK点;
步骤二、电极栅线的印刷:将电池放在载片台上与印刷机进行对位,调整印刷机使得电极栅线在印刷时正好叠印于镭射掺杂线上;
且印刷主栅线时,会在主栅线上留有与MARK点对应的镂空区域不予印刷;
步骤三、电池片抽查检测:在印刷流水线上,每隔相同片数抽取一片电池片,进行该电池片的对位检测;
步骤四、检测和补偿:使用固定位置的CCD连续采集电池片的MARK点对准图像,采集信号传输到电脑,分析处理成像,从而判断出电池片印刷过程中是否发生偏移;
若发生偏移,得出具体偏移量,然后及时调整印刷机参数校准对位,进行偏移量的补偿。
2.根据权利要求1所述的一种SE电池印刷对位检测防偏移补偿方法,其特征在于:步骤一中,所述MARK点设置有不少于4个。
3.根据权利要求1所述的一种SE电池印刷对位检测防偏移补偿方法,其特征在于:步骤一中,所述MARK点设置为十字形或环形。
4.根据权利要求1所述的一种SE电池印刷对位检测防偏移补偿方法,其特征在于:步骤三中,采用每隔数十片或数百片的方式进行印刷流水线上电池片的抽取。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111370391A (zh) * 2020-01-06 2020-07-03 横店集团东磁股份有限公司 一种新型的SE Mark点图形结构及其制备方法
CN112455108A (zh) * 2020-10-30 2021-03-09 江苏润阳悦达光伏科技有限公司 一种防止se电池生产过程印刷偏移的工艺方法
CN112768365A (zh) * 2021-01-11 2021-05-07 晶澳太阳能有限公司 一种激光掺杂se电池图形精度的检测方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102145602A (zh) * 2010-11-19 2011-08-10 山东力诺太阳能电力股份有限公司 一种晶体硅选择性发射极电池的印刷对位方法
CN102673106A (zh) * 2012-05-09 2012-09-19 华中科技大学 一种用于光伏太阳能硅片的丝网印刷定位设备及定位方法
CN105091755A (zh) * 2015-08-28 2015-11-25 中国电子科技集团公司第四十八研究所 一种丝网印刷机二次印刷精度的检测方法
CN108493267A (zh) * 2018-04-24 2018-09-04 通威太阳能(合肥)有限公司 一种晶硅选择性发射极产业化印刷对位方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102145602A (zh) * 2010-11-19 2011-08-10 山东力诺太阳能电力股份有限公司 一种晶体硅选择性发射极电池的印刷对位方法
CN102673106A (zh) * 2012-05-09 2012-09-19 华中科技大学 一种用于光伏太阳能硅片的丝网印刷定位设备及定位方法
CN105091755A (zh) * 2015-08-28 2015-11-25 中国电子科技集团公司第四十八研究所 一种丝网印刷机二次印刷精度的检测方法
CN108493267A (zh) * 2018-04-24 2018-09-04 通威太阳能(合肥)有限公司 一种晶硅选择性发射极产业化印刷对位方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111370391A (zh) * 2020-01-06 2020-07-03 横店集团东磁股份有限公司 一种新型的SE Mark点图形结构及其制备方法
CN112455108A (zh) * 2020-10-30 2021-03-09 江苏润阳悦达光伏科技有限公司 一种防止se电池生产过程印刷偏移的工艺方法
CN112768365A (zh) * 2021-01-11 2021-05-07 晶澳太阳能有限公司 一种激光掺杂se电池图形精度的检测方法

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