CN108535210A - 一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置 - Google Patents
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- 238000000227 grinding Methods 0.000 title claims abstract description 139
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 title claims abstract description 28
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 126
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 117
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 35
- 238000001035 drying Methods 0.000 claims abstract description 15
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 claims abstract description 13
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 claims abstract description 8
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 27
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 15
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims description 14
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 7
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 7
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 4
- 239000000725 suspension Substances 0.000 claims description 3
- 210000004209 hair Anatomy 0.000 claims 1
- 238000005086 pumping Methods 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 16
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 13
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 abstract description 8
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 abstract description 6
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 15
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 6
- 239000002585 base Substances 0.000 description 5
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 4
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 4
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000009471 action Effects 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 239000012472 biological sample Substances 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 230000001351 cycling effect Effects 0.000 description 1
- 238000007405 data analysis Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000004570 mortar (masonry) Substances 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 238000011897 real-time detection Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000005464 sample preparation method Methods 0.000 description 1
- 230000002000 scavenging effect Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3563—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing solids; Preparation of samples therefor
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3581—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light using far infrared light; using Terahertz radiation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3563—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing solids; Preparation of samples therefor
- G01N2021/3572—Preparation of samples, e.g. salt matrices
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Health & Medical Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
本发明涉及样品研磨技术领域，尤其涉及一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置。该用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置包括箱体、研磨机构、数据测量采集机构和智能驱动执行机构，所述研磨机构包括自动伸缩杆、固定杆、两个研磨球和研磨槽，所述固定杆与所述自动伸缩杆转动连接，所述固定杆上设有红外传感器和转速传感器，所述数据测量采集机构包括环境信息测量机构和样品信息测量机构，所述智能驱动执行机构包括变温控制机构、换气控制机构、报警控制机构和烘干控制机构。本发明所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，能够减少样品在研磨过程中受影响因素的干扰，获得样品最佳研磨结果，为后续样品压片的制备和测量实验提供源头保障。
Description
技术领域
本发明涉及样品研磨技术领域，尤其涉及一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置。
背景技术
太赫兹波(Terahertz,1THz＝1012Hz)是对一个特定波段的电磁福射的统称，频率在0.1～10THz，波长为3mm～30um，波数是3.3～330cm-1。在电磁波谱中，太赫兹波位于微波和红外福射之间，是电子学向光子学过渡的特殊区域，也是宏观经典理论向微观量子理论的过渡区域。太赫兹波的一个显著特点是与水强烈相互作用。由于太赫兹波对水分子响应的高灵敏度，有些研究小组尝试运用太赫兹技术测量水分子在生物样品中的存在含量及其存在形式，取得了较好的结果。正是太赫兹波与水的高灵敏度互作特性，在使用太赫兹技术进行样品定性定量理化性质测试时，由于实验环境及样品本身水分的存在，可能会造成实验的误差甚至可能造成实验的失败。因此，在使用太赫兹技术进行实验时，从样品采集、制备到样品测试完成的全过程，每个环节都需要尽可能排除水分子的存在，以免对实验造成不良的影响。
而在实验制备样品压片前，首先第一步就是进行固体样品的研磨。样品颗粒的粒径大小及均匀度会直接影响样品的数据采集结果。研磨不充分，会在测量时造成散射，直接影响到获取太赫兹光谱的有效性。
目前，大多数实验制样时，只是将样品直接进行人工研磨，尽可能做到研磨充分，然而每次研磨的颗粒大小会因操作人员的不同而造成差异，并没有指定的标准。有些样品在研磨过程中还会受到光照、氧气等周围环境的影响而变质。现有的样品研磨装置，主要是为了研磨，对于研磨过程中，样品的其他参数并不监控，比较成熟的装置尚缺乏。因此，急需一种贯穿整个研磨阶段，既可对空气湿度、光照等研磨环境参数进行实时测控，又可对所研磨样品含水量、粒径大小、均匀度等参数进行实时测控的装置和调控策略方法，从源头保障样品制备压片前整个研磨阶段的用于太赫兹数据准确测量的样品理化属性。
发明内容
(一)要解决的技术问题
本发明的目的是提供一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，能够在样品研磨过程中实时监测环境信息以及样品信息，减少样品在研磨制作过程中受影响因素的干扰，提高样品研磨质量。
(二)技术方案
为了解决上述技术问题，本发明提供了一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，包括箱体、设置在所述箱体中的研磨机构、以及分别设置在所述箱体上的数据测量采集机构、智能驱动执行机构和主控机构；其中所述研磨机构包括自动伸缩杆、与所述自动伸缩杆垂直连接的固定杆、分别与所述固定杆的两端对应连接的两个研磨球以及设置在所述研磨球下方的研磨槽，所述固定杆与所述自动伸缩杆转动连接；所述数据测量采集机构包括环境信息测量机构和样品信息测量机构；所述智能驱动执行机构包括变温控制机构、换气控制机构、报警控制机构和烘干控制机构；所述数据测量采集机构与所述主控机构电性连接，所述主控机构与所述智能驱动执行机构电性连接。
进一步地，所述研磨球通过悬挂连接组件与所述固定杆相连；所述悬挂连接组件包括悬吊杆、水平杆、两个竖直杆以及连接轴，其中所述悬吊杆的上端与所述固定杆相连，所述悬吊杆的下端与所述水平杆相连，所述水平杆的两端分别对应连接两个所述竖直杆，两个所述竖直杆分别与所述连接轴的两端对应连接，所述研磨球转动安装在所述连接轴上。
具体地，所述研磨机构还包括红外传感装置，所述红外传感装置包括两个发射端和一个接收端，两个所述发射端对称设置在所述固定杆的两端，所述接收端设置于所述数据测量采集机构中。
具体地，所述研磨机构还包括设置在所述固定杆上的转速传感器。
进一步地，所述自动伸缩杆包括固定部以及沿所述固定部进行伸缩运动的伸缩部，其中所述固定部与所述箱体的顶部连接固定，所述固定杆与所述伸缩部相连。
进一步地，所述环境信息测量机构至少包括空气湿度传感器、空气温度传感器、空气O2传感器、空气CO2传感器和光照强度传感器。
进一步地，所述样品信息测量机构至少包括样品水分传感器和样品粒径传感器。
具体地，所述箱体上设有进气口和排气口，所述进气口与氮气输送管道相连，所述氮气输送管道上设有抽气泵。
具体地，所述研磨槽的底部设有研磨底座，所述研磨底座与所述研磨槽固定连接。
具体地，所述箱体的侧壁上设有供所述研磨槽和所述研磨底座穿过的底座槽口；所述研磨底座面向所述底座槽口的一侧设有用于锁死固定所述研磨底座的槽门卡。
具体地，所述主控机构包括显示屏和控制按钮。
(三)有益效果
本发明的上述技术方案具有如下优点：
本发明提供的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，通过研磨机构能够实现对样品的研磨和对装置的清洗操作，通过环境信息测量机构能够实现对装置内部环境的实时检测，通过样品信息测量机构能够实现对样品研磨情况的实时检测，通过主控机构能够实现对装置内部环境信息和样品研磨信息的数据采集和处理，并通过智能驱动执行机构来对装置内部环境以及样品研磨状态进行调控，使得样品信息达到制备要求，装置环境稳定在一个合理的阈值范围内，从而使得样品在研磨过程中减少影响因素的干扰，获得样品最佳研磨结果，为后续样品压片的制备和测量实验提供源头保障，
本发明提供的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，能够实现自动化研磨，提高了效率，能够对样品研磨全程进行监控，保障了样品属性、均匀性，从而研磨出高质量、高品质的样品，具有集成度高、成本低、易于操作、可循环使用、清洁环保的优点。
附图说明
图1是本发明实施例用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置的主视图；
图2是本发明实施例用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置的图1的俯视图；
图3是本发明实施例用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置的图1的右视图；
图4是本发明实施例用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置的轴测图。
图中：1：槽门卡；2：底座槽口；3：固定杆；4：主控机构；5：数据测量采集机构；6：自动伸缩杆；7：排气口；8：智能驱动执行机构；9：发射端；10：转速传感器；11：悬挂连接组件；11-1：悬吊杆；11-2：水平杆；11-3：竖直杆；11-4：连接轴；12：箱体；13：研磨球；14：进气口；15：研磨底座；16：研磨槽。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
如图1～4所示，本发明实施例提供一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，包括箱体12、设置在所述箱体12中的研磨机构、以及分别设置在所述箱体12上的数据测量采集机构5、智能驱动执行机构8和主控机构4。
所述研磨机构包括自动伸缩杆6、与所述自动伸缩杆6垂直连接的固定杆3、分别与所述固定杆3的两端对应连接的两个研磨球13以及设置在所述研磨球13下方的研磨槽16。所述研磨槽16为环形槽，所述自动伸缩杆6对应设置在所述研磨槽16的中心位置处。所述自动伸缩杆6能够带动所述固定杆3以及所述研磨球13进行升降运动，从而使所述研磨球13能够接触所述研磨槽16中的样品。所述固定杆3与所述自动伸缩杆6转动连接，也即，固定杆3能够绕所述自动伸缩杆6进行转动，使所述研磨球13能够沿所述研磨槽16内的固定轨迹运转，从而实现对所述研磨槽16内样品的研磨操作。
所述数据测量采集机构5包括环境信息测量机构和样品信息测量机构，通过所述环境信息测量机构来实时采集所述箱体12内的环境信息，通过所述样品信息测量机构来实时采集所述箱体12内的样品信息。
所述智能驱动执行机构8包括变温控制机构、换气控制机构、报警控制机构和烘干控制机构，通过所述变温控制机构能够实现对所述箱体12内的温度控制，通过所述换气控制机构能够实现对所述箱体12内的换气控制，通过所述报警控制机构能够实现对装置异常运行时的报警控制，通过所述烘干控制机构能够对所述研磨槽16中的样品进行烘干控制，或对清洗后的所述研磨槽16进行烘干控制。
其中，所述数据测量采集机构5与所述主控机构4电性连接，所述主控机构4与所述智能驱动执行机构8电性连接，所述智能驱动执行机构8与所述研磨机构电性连接。所述数据测量采集机构5检测的数据发送至所述主控机构4，所述主控机构4对采集的数据进行分析处理，并根据处理结果向所述智能驱动执行机构8发出相应控制指令，所述智能驱动执行机构8根据接收的控制指令启动相应的控制机构，从而实现对装置的及时调控，使得装置环境稳定在一个合理的阈值范围内，从而使得研磨的样品在制作过程中减少影响因素的干扰，最终得到样品最佳研磨结果，为后续样品压片的制备和测量实验提供源头保障。
进一步来说，所述环境信息测量机构至少包括空气湿度传感器、空气温度传感器、空气O2传感器、空气CO2传感器和光照强度传感器，从而获取所述箱体12内的空气湿度、空气温度、空气中O2含量、空气中CO2含量以及光照强度信息。
进一步来说，所述样品信息测量机构至少包括样品水分传感器和样品粒径传感器，从而获得样品水分含量信息以及样品粒径信息。
进一步来说，所述研磨球13通过悬挂连接组件11与所述固定杆3相连。
其中，所述悬挂连接组件11包括悬吊杆11-1、水平杆11-2、两个竖直杆11-3以及连接轴11-4，其中所述悬吊杆11-1的上端与所述固定杆3相连，所述悬吊杆11-1的下端与所述水平杆11-2相连，所述水平杆11-2的两端分别对应连接两个所述竖直杆11-3，两个所述竖直杆11-3分别与所述连接轴11-4的两端对应连接，所述研磨球13转动安装在所述连接轴11-4上。
具体来说，所述研磨机构还包括红外传感装置，所述红外传感装置包括两个发射端9和一个接收端，所述发射端9与所述接收端相配合。两个所述发射端9对称设置在所述固定杆3的两端，所述接收端设置于所述数据测量采集机构5中，所述发射端9将采集的感应信息发送至所述数据测量采集机构5，通过所述接收端来接收感应信息。
具体来说，所述研磨机构还包括设置在所述固定杆3上的转速传感器10，所述转速传感器10与所述数据测量采集机构5电性连接，所述转速传感器10将采集的感应信息发送至所述数据测量采集机构5。
其中，所述红外传感装置的作用是，在研磨过程中，当将检测到所述固定杆3与所述数据采集模块5处于同一垂直平面时，有效触发控制所述数据采集模块5暂停采集此时的样品理化信息，因为此时所述研磨球13正位于所述数据采集模块5的正下方，从而避免了样品信息的错误采集。因此，在初始状态时，设定所述固定杆3所在的垂直平面为第一垂直平面，设定所述数据测量采集模块5与所述自动伸缩杆6之间连线所在的垂直平面为第二垂直平面，第一垂直平面与第二垂直平面之间的夹角为y0，则180°>y0>0°，使得在装置在初始运作时，可根据所述粒径传感器获得的参数，通过所述智能驱动执行机构8直接驱动所述研磨机构进行动作。
其中，所述转速传感器10的作用是，计算和记录所述研磨球13旋转的正、反转圈数，防止内部连接线缠绕过紧。当正转圈数f1大于等于设定的阈值f0时，停止正转，反转开始，当反转圈数f2大于等于设定的阈值f0时，停止反转，正转开始，如此循环操作。
进一步来说，所述自动伸缩杆6包括固定部以及沿所述固定部进行伸缩运动的伸缩部，其中所述固定部与所述箱体12的顶部连接固定，所述固定杆3与所述伸缩部相连。通过所述自动伸缩杆6能够调整所述研磨球13的高度位置。
在样品开始研磨前，所述自动伸缩杆6的伸缩部下降至高度H1，使得所述研磨球13接触所述研磨槽16内的物体，开始进行研磨或者清洗工作。当研磨或清洗工作结束后，所述自动伸缩杆6的伸缩部能够自动升到初始位置H0高度，使得所述研磨球13脱离所述研磨槽16。
进一步来说，所述箱体12上设有进气口14和排气口7。
其中，所述进气口14与换气装置相连通，所述换气装置与所述智能驱动执行机构8中的换气控制机构电性连接，所述换气装置包括与所述进气口14连接的氮气输送管道以及设置在所述氮气输送管道上的抽气泵。
进一步来说，所述研磨槽16的底部设有研磨底座15，所述研磨底座15与所述研磨槽16固定连接。
具体来说，所述箱体12的侧壁上设有供所述研磨槽16和所述研磨底座18穿过的底座槽口2，通过所述底座槽口2能够将所述研磨槽16和所述研磨底座18从所述箱体12中取出。
具体来说，在所述研磨底座15面向所述底座槽口2的一侧设有用于锁死固定所述研磨底座15的槽门卡1，当需要从所述箱体12中取出所述研磨槽16和所述研磨底座18时，控制所述槽门卡1开启，所述槽门卡1解除对所述研磨底座15的锁死。当将所述研磨槽16和所述研磨底座18装入所述箱体12后，控制所述槽门卡1关闭，使所述槽门卡1实现对所述研磨底座15的锁死。
具体来说，所述研磨球13和所述研磨槽16均采用玛瑙制成，玛瑙耐压强度高、耐酸碱，研磨后不会有任何乳钵本体物质混入被研磨物中。
具体来说，所述箱体12为采用非透光玻璃材质制作的密闭中空容器，采用非透光玻璃是考虑到某些样品受到光照易分解的特性，从而保证样品研磨过程中的稳定性。
具体来说，所述研磨底座15内设有烘干装置，所述烘干装置与所述智能驱动执行机构8中的烘干控制机构电性连接，可以对样品或者清洗后的研磨槽16进行烘干。
具体来说，所述主控机构4包括显示屏和控制按钮。所述数据测量采集模块5将实时获取的样品以及样品所处环境信息，进行数据分析处理后，反馈到所述主控机构4进行控制和显示。也即，所述主控机构4的主要作用是，对所述数据测量采集模块5的数据进行收集、处理和显示，以及对所述智能驱动执行机构8传达指令信息，此外，所述主控机构4还可对装置进行初始设置和管理操作。
所述数据测量采集模块5获取数据信息的方式如下：设定总测量时间为t，则将t均分为多个小的时间段t1，t2，t3......tm，分别获取各个时间段t1，t2，t3......tm内的测量值，经过计算处理后，把得到的数据信息反馈给系统，从而确保了装置的稳定性。
所述智能驱动执行机构8的执行，是在所述主控机构4接收到所述数据测量采集模块5的数据信息后，与设置的初始阈值进行对比，然后根据反馈的信息进行驱动操作。例如：当空气温度传感器获取的测量温度T超过设定的临界阈值温度T0时，驱动变温控制机构工作，直到测量温度低于设定的临界阈值温度后，变温控制机构停止工作。当空气湿度测量值N1、空气O2浓度测量值M1、空气CO2浓度测量值R1中任意一项高于设定的空气湿度阈值N0、空气O2浓度阈值M0、空气CO2浓度阈值R0时，则通过换气控制机构自动启动换气装置工作，在所述抽气泵的作用下向所述箱体12内充入氮气，直到空气湿度、空气O2浓度、空气CO2浓度三者都低于设定的阈值后，关闭所述抽气泵，停止充入氮气。当样品的粒径大小与设定的临界阈值d0的差值不在范围dL～dH时，自动驱动所述研磨机构进行研磨操作，在符合要求时，停止研磨操作。当样品湿度测量值S超过设定的阈值S0时，通过所述烘干控制机构驱动烘干装置开启工作，直到满足测量值S小于等于设定的阈值S0时，烘干装置停止工作。这种驱动操作方式，保障了样品属性和均匀性，从而研磨出高质量、高品质的样品。
进行样品粒度均匀度的判别过程为：设定总测量时间为t，将t均分为多个时刻t1，t2，t3......tn，并分别采集各个时刻t1，t2，t3......tn时的样品粒径，分别为d1，d2，d3......dn，在固定时间tn内求取粒径的最大方差K，如果最大方差K大于设定的临界阈值K0，则所述研磨机构继续研磨操作，直到最大方差K低于设定的临界阈值K0，则所述研磨机构停止工作，此时样品粒度的均匀度保持大致一致，从而保障了样品的均匀性。
本发明实施例所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置的整体工作过程分为清洗-研磨-清洗。其中，清洗过程首先在所述研磨底座15内放入少许酒精，然后将所述研磨底座15装入所述箱体12内，在所述主控机构4的主控板上点击开始控制按钮，选择清洗选项并确定清洗时间T1，确认以后装置自动锁死所述槽门卡1，所述伸缩杆6降到指定高度H1，进行清洗工作，清洗T1时间后结束，所述伸缩杆6升起H0高度，所述固定杆3复位。装置自动打开所述湿度传感器、温度传感器和烘干装置。通过所述湿度传感器返回的数据确定所述烘干装置的停止时间T2。当所述箱体12内的温度T和最高承受温度Th超出阈值范围时，所述变温控制机构开始工作，直到温度回到阈值范围内。当所述显示屏显示所有机构停止工作后，打开所述槽门卡1，取出所述研磨底座15，完成清洗。
清洗工作结束后，在所述研磨底座15内放入样品，进行研磨工作。在所述主控机构4的主控板上选择研磨选项确定后，装置自动锁死所述槽门卡1，打开所述数据测量采集模块5。首先检测所述箱体12内的空气湿度N1、空气O2浓度M1、空气CO2浓度R1，所述智能驱动执行机构8通过所述主控机构4反馈的信息进行相关机构的驱动，打开所述换气装置充入氮气，直到空气湿度、空气O2浓度和空气CO2浓度三者都低于阈值，然后关闭所述进气口14和所述排气孔7。将所述伸缩杆6下降到高度H1，开启所述样品信息测量机构，开始研磨。所述数据测量采集模块5未接收到到所述固定杆3上的红外传感装置的发射端9传回的信息时，表明所述数据测量采集模块5与所述发射端9不在一个垂直平面，此时，所述样品信息测量机构可获取样品的理化信息。研磨过程中，如果相关指标超过设定的临界阈值时，执行对应的动作以及进行相关报警提示，例如：研磨转速u与设定的临界阈值u0差值超出范围u1～u2时，进行减速动作，直到差值介于范围u1～u2。同时转动造成的温度a与设定的临界阈值a0差值超出范围a1～a2时，开启所述变温控制机构工作，温度降到指定范围之内后所述变温控制机构自动停止工作。研磨过程期间，所述显示屏上分别代表速度、温度等相关参数信息的指示灯会有提示，在阈值范围内时，指示灯不亮。在所述研磨机构转动时记录正转圈数f，在正转圈数f大于设定的临界阈值f0时开始反转，防止内部连接线缠绕过紧。当空气中的O2浓度、CO2浓度和湿度超过设定的临界阈值后，打开所述换气装置充入氮气，直到回到阈值以内时，自动关闭换气装置和所述进气口14。最终检测到样品的粒径大小d与设定的临界阈值d0差值在范围d1～d2内，且满足样品粒度均匀度要求后，停止研磨操作，所述伸缩杆6上升到高度H2，然后所述研磨机构再旋转圈数X0，使得粘附在所述研磨球13上的粉末掉落，所述伸缩杆6复位至初始高度H0。当所述显示屏显示装置停止工作后，打开所述槽门卡1，取出所述研磨底座15，样品研磨操作结束。当样品研磨结束后再次进行清洗工作。
本发明实施例所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置的控制流程如下：首先完成装置初始化，确认所述槽门卡1是否锁死，再判断所述主控机构4的控制按钮是研磨按钮还是清洗按钮，如果是清洗按钮，则进行清洗操作，如果是研磨按钮，则进行研磨操作。执行研磨操作时，先打开所述数据测量采集模块5，所述智能驱动执行机构8会控制所述换气装置工作充入氮气，在所述箱体12内的湿度、O2浓度、CO2浓度均满足阈值要求后，关闭所述进气口14和所述排气口7，将所述伸缩杆6下放到高度H1，按标准速度启动所述研磨球13进行研磨，当检测相关参数不满足要求时，启动相应的机构，并执行相应的动作。当所述研磨机构的正转圈数f1小于阈值f0时，继续正转研磨，直到f1大于等于f0，停止正转研磨，检测样品粒径大小，当样品粒径大小与设定的临界阈值差值不在d1～d2范围内时，反转研磨开始，当反转圈数f2小于f0时，继续反转研磨，直到f2大于等于f0，停止反转研磨，再检测粒径大小，当样品粒径大小与设定的临界阈值差值不在d1～d2范围内时，循环上述的研磨，直到样品粒径大小在d1～d2范围内，然后进行样品粒度均匀度的判断，不符合要求，继续循环上述研磨操作，直至符合要求后，所述伸缩杆6复位到H0高度，所述固定杆3动作复位到初始位置，打开所述槽门卡1，结束研磨工作。本装置通过对样品信息和环境进行实时检测，达到了监控样品状态的目的，减少了其他因素对样品的影响。
综上所述，本发明实施例所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，使得研磨的样品在制作过程中减少影响因素的干扰，为后续样品压片的制备和测量实验提供源头保障。同时在箱体一侧安装控制系统，可实时观测箱内的环境信息以及样品信息，按照调控策略，对箱内的某些标准参数值进行控制，最终得到样品最佳研磨结果。
在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
在本发明的描述中，除非另有说明，“若干”的含义是一个或多个；“多个”的含义是两个或两个以上；术语“上”、“下”、“左”、“右”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的机或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。
Claims (10)
1.一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：包括箱体、设置在所述箱体中的研磨机构、以及分别设置在所述箱体上的数据测量采集机构、智能驱动执行机构和主控机构；其中所述研磨机构包括自动伸缩杆、与所述自动伸缩杆垂直连接的固定杆、分别与所述固定杆的两端对应连接的两个研磨球以及设置在所述研磨球下方的研磨槽，所述固定杆与所述自动伸缩杆转动连接；所述数据测量采集机构包括环境信息测量机构和样品信息测量机构；所述智能驱动执行机构包括变温控制机构、换气控制机构、报警控制机构和烘干控制机构；所述数据测量采集机构与所述主控机构电性连接，所述主控机构与所述智能驱动执行机构电性连接。
2.根据权利要求1所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：所述研磨球通过悬挂连接组件与所述固定杆相连；所述悬挂连接组件包括悬吊杆、水平杆、两个竖直杆以及连接轴，其中所述悬吊杆的上端与所述固定杆相连，所述悬吊杆的下端与所述水平杆相连，所述水平杆的两端分别对应连接两个所述竖直杆，两个所述竖直杆分别与所述连接轴的两端对应连接，所述研磨球转动安装在所述连接轴上。
3.根据权利要求1所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：所述研磨机构还包括红外传感装置，所述红外传感装置包括两个发射端和一个接收端，两个所述发射端对称设置在所述固定杆的两端，所述接收端设置于所述数据测量采集机构中。
4.根据权利要求3所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：所述研磨机构还包括设置在所述固定杆上的转速传感器。
5.根据权利要求1所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：所述自动伸缩杆包括固定部以及能够沿所述固定部进行伸缩运动的伸缩部，其中所述固定部与所述箱体的顶部连接固定，所述固定杆与所述伸缩部相连。
6.根据权利要求1所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：所述环境信息测量机构至少包括空气湿度传感器、空气温度传感器、空气O2传感器、空气CO2传感器和光照强度传感器。
7.根据权利要求1所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：所述样品信息测量机构至少包括样品水分传感器和样品粒径传感器。
8.根据权利要求1所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：所述箱体上设有进气口和排气口，所述进气口与氮气输送管道相连，所述氮气输送管道上设有抽气泵。
9.根据权利要求1所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：所述研磨槽的底部设有研磨底座，所述研磨底座与所述研磨槽固定连接；所述箱体的侧壁上设有供所述研磨槽和所述研磨底座穿过的底座槽口；所述研磨底座面向所述底座槽口的一侧设有用于锁死固定所述研磨底座的槽门卡。
10.根据权利要求1所述的用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置，其特征在于：所述主控机构包括显示屏和控制按钮。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201810629782.3A CN108535210B (zh) | 2018-06-19 | 2018-06-19 | 一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN108535210A true CN108535210A (zh) | 2018-09-14 |
| CN108535210B CN108535210B (zh) | 2023-12-05 |
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ID=63471089
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201810629782.3A Active CN108535210B (zh) | 2018-06-19 | 2018-06-19 | 一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN108535210B (zh) |
Citations (22)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5167372A (en) * | 1991-10-02 | 1992-12-01 | Poggie Joseph L | Apparatus and process for reducing size and moisture content of materials |
| US20090101740A1 (en) * | 2005-07-21 | 2009-04-23 | Jiangsu Kehang Environment Engineering Technology | Control method for superfine powder grinding industrial waste slag in an energy-saving and environmental-friendly type of closed cycle with high yield and the apparatus for the same |
| CN101523565A (zh) * | 2006-10-06 | 2009-09-02 | 株式会社荏原制作所 | 加工终点检测方法、研磨方法及研磨装置 |
| CN101844103A (zh) * | 2010-05-28 | 2010-09-29 | 常德市磊鑫矿业科技有限公司 | 高目度重钙粉体湿法研磨中流量、湿度、频率的控制方法 |
| CN202983781U (zh) * | 2012-12-24 | 2013-06-12 | 郑福君 | 孔状双球研磨棒 |
| CN203695195U (zh) * | 2013-12-23 | 2014-07-09 | 杭州牡丹面粉有限公司 | 一种面粉磨粉阶段的湿度控制系统 |
| CN104713596A (zh) * | 2015-01-07 | 2015-06-17 | 北京科技大学 | 一种太赫兹实验环境的智能监测系统及监测方法 |
| CN105345016A (zh) * | 2015-12-08 | 2016-02-24 | 南京中锗科技有限责任公司 | 一种镁合金粉碎系统及方法 |
| CN105404228A (zh) * | 2015-12-24 | 2016-03-16 | 北京农业智能装备技术研究中心 | 一种太赫兹实验系统及方法 |
| CN205379939U (zh) * | 2016-03-11 | 2016-07-13 | 东莞艾宝纳米科技有限公司 | 一种智能纳米材料研磨器 |
| US20160271751A1 (en) * | 2015-03-18 | 2016-09-22 | Hefei Boe Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Method and device for controlling grinding of flexible substrate |
| CN106238165A (zh) * | 2016-09-23 | 2016-12-21 | 广州市中潭空气净化科技有限公司 | 一种带有检测功能的实验室用研磨机 |
| CN106289917A (zh) * | 2016-10-31 | 2017-01-04 | 华中科技大学 | 一种用于太赫兹时域光谱系统的油画颜料样品的制备方法 |
| CN106769641A (zh) * | 2016-12-16 | 2017-05-31 | 华北理工大学 | 含co煤真空破碎检测装置 |
| CN106984403A (zh) * | 2017-05-21 | 2017-07-28 | 苏州亮磊知识产权运营有限公司 | 一种用于处理城市垃圾的粉碎装置及其粉碎方法 |
| CN107225033A (zh) * | 2017-06-20 | 2017-10-03 | 无锡市跨克微营养素有限公司 | 粉末料烘干箱专用平压移动式粉末打散碾磨装置 |
| CN206597768U (zh) * | 2017-02-16 | 2017-10-31 | 丁粮锋 | 农作物废弃物再利用处理设备 |
| CN206746677U (zh) * | 2017-02-22 | 2017-12-15 | 云南大庄园食品有限公司 | 一种具有温湿度检测功能的核桃加工用磨浆机 |
| JP2018027885A (ja) * | 2016-08-18 | 2018-02-22 | 耀南 葉 | テラヘルツ複合材料及びその製造方法 |
| CN107999209A (zh) * | 2017-12-01 | 2018-05-08 | 陕西科健维生物科技有限公司 | 一种分子生物学实验样品研磨器 |
| CN108160219A (zh) * | 2018-01-08 | 2018-06-15 | 宁德市安升环保科技有限公司 | 一种新型生物医药研磨设备 |
| CN208255051U (zh) * | 2018-06-19 | 2018-12-18 | 北京农业信息技术研究中心 | 一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置 |
-
2018
- 2018-06-19 CN CN201810629782.3A patent/CN108535210B/zh active Active
Patent Citations (22)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5167372A (en) * | 1991-10-02 | 1992-12-01 | Poggie Joseph L | Apparatus and process for reducing size and moisture content of materials |
| US20090101740A1 (en) * | 2005-07-21 | 2009-04-23 | Jiangsu Kehang Environment Engineering Technology | Control method for superfine powder grinding industrial waste slag in an energy-saving and environmental-friendly type of closed cycle with high yield and the apparatus for the same |
| CN101523565A (zh) * | 2006-10-06 | 2009-09-02 | 株式会社荏原制作所 | 加工终点检测方法、研磨方法及研磨装置 |
| CN101844103A (zh) * | 2010-05-28 | 2010-09-29 | 常德市磊鑫矿业科技有限公司 | 高目度重钙粉体湿法研磨中流量、湿度、频率的控制方法 |
| CN202983781U (zh) * | 2012-12-24 | 2013-06-12 | 郑福君 | 孔状双球研磨棒 |
| CN203695195U (zh) * | 2013-12-23 | 2014-07-09 | 杭州牡丹面粉有限公司 | 一种面粉磨粉阶段的湿度控制系统 |
| CN104713596A (zh) * | 2015-01-07 | 2015-06-17 | 北京科技大学 | 一种太赫兹实验环境的智能监测系统及监测方法 |
| US20160271751A1 (en) * | 2015-03-18 | 2016-09-22 | Hefei Boe Optoelectronics Technology Co., Ltd. | Method and device for controlling grinding of flexible substrate |
| CN105345016A (zh) * | 2015-12-08 | 2016-02-24 | 南京中锗科技有限责任公司 | 一种镁合金粉碎系统及方法 |
| CN105404228A (zh) * | 2015-12-24 | 2016-03-16 | 北京农业智能装备技术研究中心 | 一种太赫兹实验系统及方法 |
| CN205379939U (zh) * | 2016-03-11 | 2016-07-13 | 东莞艾宝纳米科技有限公司 | 一种智能纳米材料研磨器 |
| JP2018027885A (ja) * | 2016-08-18 | 2018-02-22 | 耀南 葉 | テラヘルツ複合材料及びその製造方法 |
| CN106238165A (zh) * | 2016-09-23 | 2016-12-21 | 广州市中潭空气净化科技有限公司 | 一种带有检测功能的实验室用研磨机 |
| CN106289917A (zh) * | 2016-10-31 | 2017-01-04 | 华中科技大学 | 一种用于太赫兹时域光谱系统的油画颜料样品的制备方法 |
| CN106769641A (zh) * | 2016-12-16 | 2017-05-31 | 华北理工大学 | 含co煤真空破碎检测装置 |
| CN206597768U (zh) * | 2017-02-16 | 2017-10-31 | 丁粮锋 | 农作物废弃物再利用处理设备 |
| CN206746677U (zh) * | 2017-02-22 | 2017-12-15 | 云南大庄园食品有限公司 | 一种具有温湿度检测功能的核桃加工用磨浆机 |
| CN106984403A (zh) * | 2017-05-21 | 2017-07-28 | 苏州亮磊知识产权运营有限公司 | 一种用于处理城市垃圾的粉碎装置及其粉碎方法 |
| CN107225033A (zh) * | 2017-06-20 | 2017-10-03 | 无锡市跨克微营养素有限公司 | 粉末料烘干箱专用平压移动式粉末打散碾磨装置 |
| CN107999209A (zh) * | 2017-12-01 | 2018-05-08 | 陕西科健维生物科技有限公司 | 一种分子生物学实验样品研磨器 |
| CN108160219A (zh) * | 2018-01-08 | 2018-06-15 | 宁德市安升环保科技有限公司 | 一种新型生物医药研磨设备 |
| CN208255051U (zh) * | 2018-06-19 | 2018-12-18 | 北京农业信息技术研究中心 | 一种用于太赫兹光谱测量的样品研磨装置 |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| YONG DU 等: "Using terahertz time-domain spectroscopical technique to monitor cocrystal formation between piracetam and 2, 5-dihydroxybenzoic acid", SPECTROCHIMICA ACTA PART A:MOLECULAR AND BIOMOLECULAR SPECTROSCOPY, pages 192 - 195 * |
| 郭秀芬: "陶瓷传感器及应用", 压电与声光, no. 03, pages 48 - 59 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN108535210B (zh) | 2023-12-05 |
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| GR01 | Patent grant | ||
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