CN108508081A - 涡流探伤方法以及涡流探伤装置 - Google Patents

涡流探伤方法以及涡流探伤装置 Download PDF

Info

Publication number
CN108508081A
CN108508081A CN201810084866.3A CN201810084866A CN108508081A CN 108508081 A CN108508081 A CN 108508081A CN 201810084866 A CN201810084866 A CN 201810084866A CN 108508081 A CN108508081 A CN 108508081A
Authority
CN
China
Prior art keywords
eddy current
signal
current inspection
lift
eddy
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
CN201810084866.3A
Other languages
English (en)
Inventor
角川滋
西水亮
铃木丰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Power Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd filed Critical Mitsubishi Hitachi Power Systems Ltd
Publication of CN108508081A publication Critical patent/CN108508081A/zh
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • G01N27/9046Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • G01N27/9046Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
    • G01N27/9053Compensating for probe to workpiece spacing
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • G01N27/904Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents with two or more sensors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • G01N27/9073Recording measured data

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Abstract

提供能分离并判别伤信号和提离信号的涡流探伤方法及涡流探伤装置。具有:提离信号测量工序,对具备线圈的涡流探伤探针施以提离并测量对比试验体中的提离信号;相位记录工序,记录根据对比试验体中的提离信号得到的利萨茹图形的相位;涡流探伤信号测量工序,使用涡流探伤探针测量被检查体中的涡流探伤信号;判断工序,在涡流探伤信号测量工序中涡流探伤探针在全部线圈检测涡流探伤信号,且在全部线圈中根据在涡流探伤信号测量工序检测到的涡流探伤信号得到的利萨茹图形的相位与相位记录工序记录的相位一致的情况下,判断涡流探伤信号测量工序中检测到的涡流探伤信号为提离信号。

Description

涡流探伤方法以及涡流探伤装置
技术领域
本发明涉及涡流探伤方法和涡流探伤装置。
背景技术
涡流探伤是使涡流探伤探针(以下也简称为“探针”)与导电性被检查体密合并进行扫描,通过探针的线圈所产生的交流磁场使被检查体产生涡流,根据起因于损伤所致的涡流紊乱的线圈的阻抗变化来评价被检查体有无损伤的方法。在通过涡流探伤检查被检查体的狭窄部的情况下,探针很难稳定地进行扫描,产生提离,即探针离开被检查体表面(检查面),发生依赖于探针与被检查体的距离(提离量)的提离信号。提离信号属于干扰,因此为了高精度测量损伤所致的涡流探伤信号(伤信号),需要抑制提离,从测量到的信号中识别提离信号。
专利文献1中公开了即使在使用柔性探针检测曲面的情况下,也能高精度评价提离量的涡流探伤方法。专利文献1中记载的涡流探伤方法中,比较在检查面设置涡流探针之前的信号最大值V0与设置时间点的信号值V1的大小关系,并基于该大小关系,使用使涡流探针与检查面密合时产生的检测信号值、提离的特性、信号值V0、信号值V1的任一个,根据提离特性求出提离值。
在进行涡流探伤时,如果产生涡流探伤探针离开被检查体表面的提离,则检测到作为干扰的提离信号,应该检测的伤信号有时被误认或不能检测。即使想抑制提离,其也常常产生,因此期待分离并判别伤信号与提离信号的方法。在专利文献1记载的方法那样的现有技术中,通过比较信号的大小关系来求出提离值。但是,提离信号的相位根据提离模式(探针从检查面离开的方式)而不同,因此不考虑信号的相位而仅仅比较大小关系,则存在难以准确分离并判别伤信号和提离信号的课题。
专利文献1:日本特开2012-141238号公报
发明内容
本发明的目的在于提供能分离并判别伤信号和提离信号的涡流探伤方法以及涡流探伤装置。
本发明提供的涡流探伤方法中,以由于提离而产生的涡流探伤信号为提离信号,该涡流探伤方法具有:提离信号测量工序,使用具备一个或者多个线圈的涡流探伤探针,对所述涡流探伤探针施以提离,对模拟被检查体的对比试验体实施涡流探伤,测量所述对比试验体中的提离信号;相位记录工序,记录根据所述对比试验体中的提离信号得到的利萨茹图形的相位;涡流探伤信号测量工序,使用所述涡流探伤探针对所述被检查体实施涡流探伤,测量所述被检查体中的涡流探伤信号;以及判断工序,在所述涡流探伤信号测量工序中,所述涡流探伤探针在全部的所述线圈中检测所述涡流探伤信号,并且在全部的所述线圈中,根据所述涡流探伤信号测量工序中检测到的所述涡流探伤信号得到的利萨茹图形的相位与所述相位记录工序中记录的所述相位一致的情况下,判断所述涡流探伤信号测量工序中检测到的所述涡流探伤信号为提离信号。
根据本发明,能够提供可分离并判别伤信号和提离信号的涡流探伤方法以及涡流探伤装置。
附图说明
图1是本发明实施例1提供的采用涡流探伤方法分离并判别伤信号和提离信号的方法的流程图。
图2是对被检查体进行探伤的涡流探伤探针的示例图。
图3是表示涡流探伤探针可能产生的提离的模式的图。
图4A是通过涡流探伤对被检查体进行检查时根据探针检测到的伤信号得到的利萨茹图形的示例图。
图4B是通过涡流探伤对被检查体进行检查时根据探针检测到的提离信号得到的利萨茹图形的示例图。
图5是表示对探针施以平行模式的提离、对4通道检测线圈赋予0.5mm的提离距离情况下的4通道利萨茹图形的图。
图6是表示对探针施以平行模式的提离、对4通道检测线圈赋予0.2mm和0.5mm的提离距离情况下的1~8通道利萨茹图形的相位的图。
图7是表示对探针施以宽度方向倾斜模式的提离、对4通道检测线圈赋予0.2mm的提离距离情况下的4通道利萨茹图形的图。
图8是表示对探针施以宽度方向倾斜模式的提离、对4通道检测线圈赋予0.2mm和0.5mm的提离距离情况下的1~8通道利萨茹图形的相位的图。
图9是表示对探针施以长度方向倾斜模式的提离、对4通道检测线圈赋予0.2mm的提离距离情况下的4通道利萨茹图形的图。
图10是表示对探针施以长度方向倾斜模式的提离、对4通道检测线圈赋予0.2mm和0.5mm的提离距离情况下的1~8通道利萨茹图形的相位的图。
图11是探针在宽度方向倾斜模式下的提离的示例图。
图12是探针在平行模式下的提离的示例图。
图13是探针在长度方向倾斜模式下的提离的示例图。
图14是本发明实施例2提供的采用涡流探伤方法分离并判别伤信号和提离信号的方法的流程图。
图15是表示本发明实施例3提供的涡流探伤装置的图。
附图标记说明
8:被检查体,9:检测线圈部,10:涡流探伤探针,11:扫描方向,12:检查面,13:平行模式,14:宽度方向倾斜模式,15:长度方向倾斜模式,18:根据伤信号得到的利萨茹图形,19:根据提离信号得到的利萨茹图形,20:根据伤信号得到的利萨茹图形的相位,21:由提离信号得到的利萨茹图形的相位,28:接触面,40:计算机,41:存储器,43:运算装置,44:监视器。
具体实施方式
本发明提供的涡流探伤方法和涡流探伤装置在对被检查体进行探伤时,即使产生涡流探伤探针离开作为被检查体表面的检查面的提离,由于能够分离并判别被检查体的损伤所致的涡流探伤信号(伤信号)和由于提离产生的涡流探伤信号(提离信号),因此能可靠地检测伤信号。被检查体只要是导电体即可,例如是蒸汽轮机的转子的转盘(尤其是可动叶片进行卡合的槽那样的狭窄部)。
首先,叙述本发明实施例提供的涡流探伤方法中使用的利萨茹图形。本发明着眼于根据提离信号得到的利萨茹图形的相位与根据伤信号得到的利萨茹图形的相位不同这一点。提离信号的相位表现为根据提离信号得到的利萨茹图形的相位,伤信号的相位表现为根据伤信号得到的利萨茹图形的相位。
图2是对被检查体进行探伤的涡流探伤探针的示例图。作为被检查体8的导电体具备涡流探伤探针10扫描的检查面(涡流探伤面)12。涡流探伤探针10(以下也简称为“探针10”)具备检测线圈部9。检测线圈部9具备产生交流磁场并检测涡流探伤信号的一个或多个检测线圈,这些线圈排成一列。图2中,检测线圈部9具备8个检测线圈,探针10具有8个通道(ch)。探针10非柔性(柔软构造),而是具有由树脂等进行加固的坚硬不弯曲的构造。因此,检测线圈部9的检测线圈实现了一体化,全部与探针10的动作同时地进行大致同样动作,与被检查体密合或离开被检查体。对被检查体8进行探伤时,使探针10与被检查体8的检查面12密合,沿着扫描方向11扫描探针10。
如果被检查体8无损伤,则通过探针10产生的交流磁场在被检查体8产生的涡流与探针10的位置无关而成为同样分布,因此,探针10不检测涡流探伤信号。而如果被检查体8存在损伤,则被检查体8中产生的涡流成为畸变分布,因此探针10检测涡流探伤信号(伤信号)。探针10不仅检测伤信号,还由于探针10离开检查面12的提离的原因而检测涡流探伤信号(提离信号)。根据探针10从检查面12的离开方式不同,提离具有若干不同模式。
图3是表示涡流探伤探针可能产生的提离的模式的图。如图2、3所示,探针10为在检测线圈部9的线圈排列方向较长的长方体形状。与被检查体8的检查面12(图2)接触的探针10的面称为“接触面”。接触面为长方形,长边方向称为“长度方向”,短边方向称为“宽度方向”。另外,与探针10的接触面垂直的方向称为“厚度方向”。
探针10的提离具有平行模式13、宽度方向倾斜模式14以及长度方向倾斜模式15这三种模式。平行模式13是探针10的接触面相对于检查面12平行,探针10从检查面12离开的提离。宽度方向倾斜模式14是探针10的接触面相对于检查面12在宽度方向倾斜(以长度方向为轴旋转),探针10从检查面12离开的提离。长度方向倾斜模式15是探针10的接触面相对于检查面12在长度方向倾斜(以宽度方向为轴旋转),探针10从检查面12离开的提离。
图11是探针10在宽度方向倾斜模式14下的提离的示例图。图11的左图表示探针10未产生提离的状态,右图表示由于振动等原因使得探针10产生宽度方向倾斜模式14的提离的状态。在宽度方向倾斜模式14下,探针10的接触面28相对于检查面12在宽度方向倾斜,从检查面12离开。
图12是探针10在平行模式13下的提离的示例图。探针10插入被检查体8的狭窄部(例如,蒸汽轮机的可动叶片进行卡合的转子的转盘的槽部)。图12的左图表示探针10未产生提离的状态,右图表示由于振动等原因使得探针10产生平行模式13的提离的状态。平行模式13下,探针10的接触面28相对于检查面12平行,从检查面12离开。
图13是探针10在长度方向倾斜模式15下的提离的示例图。探针10插入被检查体8的狭窄部。图13的左图表示探针10未产生提离的状态,右图表示由于振动等原因使得探针10产生长度方向倾斜模式15的提离的状态。在长度方向倾斜模式15下,探针10的接触面28相对于检查面12在长度方向倾斜,从检查面12离开。
探针10经树脂等加固,因此实质上不产生畸变、弯曲,检测线圈部9的检测线圈实现了一体化,与探针10的动作同时全部进行大致同样的动作。因此,即使探针10产生宽度方向倾斜模式14、平行模式13以及长度方向倾斜模式15的提离,也不会发生探针10的一部分检测线圈与被检查体8密合,而是所有检测线圈(即全部通道)离开被检查体8的检查面12。如果探针10产生提离,则所有检测线圈离开被检查体8的检查面12,因此在全部通道中检测到提离信号。
图4A、4B是通过涡流探伤对被检查体8进行检查时,根据探针10检测到的涡流探伤信号(电压波形)得到的利萨茹图形的示例图。图4A表示根据伤信号得到的利萨茹图形18的例子,图4B表示根据提离信号得到的利萨茹图形19的例子。利萨茹图形18、19是取探针10的检测线圈的电压的实数部分为x轴、取虚数部分为y轴而表示的波形。而且,由于在涡流探伤时施加交流电压,因此检测线圈的电压(探针10检测到的电压)也为交流。
在描绘利萨茹图形时,实数部分(x成分)和虚数部分(y成分)的初始相位可任取。在图4A、4B以及以下所说明的实施例中,为了易于理解,为了使根据伤信号得到的利萨茹图形18的相位20为90度(deg)(即,只具有y成分)而设定初始相位(图4A)。
如图4B所示,根据提离信号得到的利萨茹图形19的相位21与根据伤信号得到的利萨茹图形18的相位20不一致,在提离的模式下具有特有值。因此,进行涡流探伤时,为了从探针10检测到的信号中分离并判别伤信号和提离信号,从探针10检测到的信号得到或者测定利萨茹图形的相位是重要的。
如图3和图11~13所示,探针10的提离具有三种不同模式。这三种模式下,根据提离信号得到的利萨茹图形19的相位21互不相同(后述的图6、8、10)。因此,简单地进行信号值大小比较难以确定提离信号。本发明中,着眼于根据探针10检测到的信号得到的利萨茹图形的相位,分离并判别伤信号和提离信号。
以下,说明本发明实施例提供的涡流探伤方法和涡流探伤装置。
实施例1
图1是本发明实施例1提供的采用涡流探伤方法分离和判别伤信号和提离信号的方法的流程图。
在S1,使用探针10对对比试验体实施涡流探伤,来测量对比试验体中的提离信号。针对探针10的全部通道(检测线圈部9的全部检测线圈)测量提离信号。对比试验体是模拟实际被检查体8的试验用被检查体。而且,对比试验体和被检查体8可以具有磁性,例如由铁那样的强磁性体构成,也可以不具有磁性,例如由铜那样的反磁性体构成。
通过使用工具、装置对探针10施以离开对比试验体的提离后对对比试验体实施涡流探伤来测量提离信号。对探针10施以三种模式的提离,即平行模式13的提离、宽度方向倾斜模式14的提离以及长度方向倾斜模式15的提离。关于宽度方向倾斜模式14的提离,针对两个倾斜方向(以长度方向为轴的两个旋转方向)测量提离信号。关于长度方向倾斜模式15的提离,针对两个倾斜方向(以宽度方向为轴的两个旋转方向)测量提离信号。即,对探针10施以五种提离,针对该五种提离分别测量提离信号。
各通道中,针对五种提离分别赋予多个提离距离,分别测量提离信号。提离距离是检测线圈与对比试验体之间的距离。测量提离信号的多个提离距离能够根据被检查体8和探针10的特性,在实际可能发生的提离距离的范围内任意确定。
在S2,将根据在S1测量的各通道的提离信号得到的利萨茹图形的相位记录在数据表中。
在S3中,使用探针10对实际的被检查体8实施涡流探伤,测量被检查体8中的涡流探伤信号。针对探针10的全部通道(检测线圈部9的全部检测线圈)来测量涡流探伤信号。
在S4中,判定在S3对被检查体8的涡流探伤中探针10是否检测到涡流探伤信号。探针10在全部通道中没有检测到涡流探伤信号的情况下,由于未检测到伤信号和提离信号,因此被检查体8没有损伤,是健全物体(S8),判断在S3的涡流探伤中未产生提离。探针10在至少一个通道中检测到涡流探伤信号的情况下,进入S5。
在S5中,判定在S3中对被检查体8的涡流探伤中探针10是否在全部通道中检测到涡流探伤信号。未检测涡流探伤信号的通道只要有一个,则在S3中检测到的涡流探伤信号就是伤信号,判断为被检查体8存在损伤(S9)。即,探针具备多个通道(检测线圈),在S3中对被检查体8的涡流探伤中存在检测到涡流探伤信号的通道和未检测到涡流探伤信号的通道的情况下,判断在S3中检测到的涡流探伤信号为伤信号。探针10在全部通道中检测到涡流探伤信号的情况下,进入S6。
在S6中,针对探针10的全部通道,将根据通过对被检查体8的涡流探伤检测到的涡流探伤信号得到的利萨茹图形的相位(被检查体8中的根据涡流探伤信号得到的利萨茹图形的相位)与在S2中记录于数据表中的相位(对比试验体中的根据提离信号得到的利萨茹图形的相位)进行比较。即,针对探针10的全部通道调查记录在数据表中的对比试验体的提离信号的相位中是否具有与被检查体8的涡流探伤信号的相位一致的相位。
在S7中,如果在探针10的全部通道中,根据通过对被检查体8的涡流探伤而检测到的涡流探伤信号得到的利萨茹图形的相位与在S2中记录于数据表中的相位一致(即,如果对比试验体的提离信号的相位中具有与通过对被检查体8的涡流探伤而检测到的涡流探伤信号的相位一致的相位),则判断在S3中检测到的被检查体8中的涡流探伤信号为提离信号(S10)。如果在探针10的至少一个通道中,根据通过对被检查体8的涡流探伤而检测到的涡流探伤信号得到的利萨茹图形的相位与在S2中记录于数据表中的任一个相位都不一致,则判断在S3中检测到的涡流探伤信号是伤信号,被检查体8存在损伤(S11)。
图5至图10中表示根据图1的S1测量到的对比试验体中的提离信号得到的利萨茹图形的例子和在S2中记录的利萨茹图形的相位的例子。在根据涡流探伤信号(提离信号)描绘利萨茹图形时,如图4A的利萨茹图形18那样,以根据伤信号得到的利萨茹图形的相位成为90deg的方式对测量设备进行初始化,。而且,如图2所示,探针10的检测线圈部9的检测线圈从长度方向的一端部起从1通道至8通道依次等间隔配置。
图5是表示对探针10施以平行模式13的提离、对4通道检测线圈赋予0.5mm的提离距离情况下的4通道利萨茹图形的图。提离信号的强度为1.16V,相位是70deg。
图6是表示对探针10施以平行模式13的提离、对4通道检测线圈赋予0.2mm和0.5mm的提离距离情况下的1~8通道利萨茹图形的相位的图。如前所述,如果探针10产生平行模式13的提离,则全部检测线圈离开对比试验体,全部检测线圈检测到提离信号。因此,如图6所示,对全部通道能得到提离信号的相位特性。
图7是表示对探针10施以宽度方向倾斜模式14的提离、对4通道检测线圈赋予0.2mm的提离距离情况下的4通道利萨茹图形的图。提离信号的强度为3.94V,相位为56deg。
图8是表示对探针10施以宽度方向倾斜模式14的提离、对4通道检测线圈赋予0.2mm和0.5mm的提离距离情况下的1~8通道利萨茹图形的相位的图。如前所述,如果探针10产生宽度方向倾斜模式14的提离,则全部检测线圈离开对比试验体,全部检测线圈检测提离信号。因此,如图8所示,针对全部通道能得到提离信号的相位特性。
图9是表示对探针10施以长度方向倾斜模式15的提离、对4通道检测线圈赋予0.2mm的提离距离情况下的4通道利萨茹图形的图。提离信号的强度为1.2V,相位为53deg。
图10是表示对探针10施以长度方向倾斜模式15的提离、对4通道检测线圈赋予0.2mm和0.5mm的提离距离情况下的1~8通道利萨茹图形的相位的图。如前所述,如果探针10产生长度方向倾斜模式15的提离,则全部检测线圈离开对比试验体,全部检测线圈检测提离信号。因此,如图10所示,针对全部通道能得到提离信号的相位特性。
如以上说明的那样,如果探针10产生了平行模式13、宽度方向倾斜模式14以及长度方向倾斜模式15这三种模式的提离之一,则提离信号能通过检测线圈部9的全部检测线圈检测到。提离信号的相位不同于伤信号的相位(90deg),根据检测线圈(通道)不同也不同。本实施例提供的涡流探伤方法利用这样的提离信号的相位特性能分离和判别伤信号和提离信号。
实施例2
图14是本发明实施例2提供的采用涡流探伤方法分离和判别伤信号和提离信号的方法的流程图。本实施例中,对比试验体和被检查体8具有磁性,例如由铁那样的强磁性体构成。图14中所示的流程图中,在S1之前执行S20,这一点不同于实施例1的图1中所示的流程图,而其他与图1中所示流程图相同。在S20中,使对比试验体和被检查体8脱磁。
被检查体8具有磁性的情况下,以往例如通过磁粉探伤试验(MT,MagneticParticle法)来评价被检查体8有无损伤。在磁粉探伤试验中,使被检查体8磁化,使磁粉附着于经磁化的被检查体8之后,目测磁粉形态来发现被检查体8的损伤,之后使被检查体8脱磁,从脱磁后的被检查体8去除磁粉。
在本实施例提供的涡流探伤方法中,在被检查体8具有磁性的情况下,能使对比试验体也具有磁性,能得到如图4A、4B所示那样的利萨茹图形,因此使用图14的流程图中所示的方法,能分离和判别伤信号和提离信号。另外,不再需要以往使用的磁粉探伤试验中所必要的被检查体8的磁化、磁粉向经磁化的被检查体8的附着以及从脱磁后的被检查体8去除磁粉的工序。因此,本实施例提供的涡流探伤方法能比以往更简便地评价具有磁性的被检查体8有无损伤。
实施例3
图15是表示本发明实施例3提供的涡流探伤装置的图。本实施例提供的涡流探伤装置具备计算机40,用于执行实施例1或者实施例2中记载的涡流探伤方法。计算机40具备作为记录装置的存储器41和运算装置43,与涡流探伤探针10和作为显示部的监视器44连接。存储器41保存有用于执行实施例1的图1和实施例2的图14所示流程图的S2、S4~S7的处理的程序。存储器41还能保存用于执行其他处理的程序。运算装置43执行存储器41保存的程序。监视器44能显示探针10的测量值、根据涡流探伤信号得到的利萨茹图形等由计算机40输入输出的数据。
存储器41在图1和图14的S2中,针对探针10的全部通道(检测线圈部9的全部检测线圈)保存根据在S1中对对比试验体实施的涡流探伤的提离信号得到的利萨茹图形的相位。而且,存储器41针对探针10的全部通道保存根据图1和图14的S3中测量到的被检查体8中的涡流探伤信号而得到的利萨茹图形的相位。
运算装置43执行图1和图14的S2的处理。即,针对探针10的全部通道将根据在S1中对对比试验体实施的涡流探伤的提离信号而得到的利萨茹图形的相位保存在存储器41中。
另外,运算装置43执行图1和图14的S4和S5的处理。即,运算装置43执行通过在S3中对被检查体8的涡流探伤,探针10是否检测到涡流探伤信号的判定以及探针10是否在全部通道中检测到涡流探伤信号的判定。
另外,运算装置43执行图1和图14的S6和S7的处理。即,运算装置43针对探针10的全部通道比较根据被检查体8中的涡流探伤信号而得到的利萨茹图形的相位与根据对对比试验体实施的涡流探伤的提离信号而得到的利萨茹图形的相位,如果在探针10的全部通道中这些相位一致,则判断在S3中检测到的被检查体8中的涡流探伤信号为提离信号。运算装置43在判断出涡流探伤信号为提离信号的情况下,通过从运算装置43向监视器44输出信号,在监视器44显示表示涡流探伤信号为提离信号的主旨,或者可以将涡流探伤信号作为提离信号输出到监视器44。
本实施例中简单说明了涡流探伤装置的结构。通过使用具备存储器41和运算装置43的计算机40,本实施例提供的涡流探伤装置能分离和判别伤信号和提离信号。
而且,本发明不限定为上述实施例,而是能进行各种变形。例如,上述实施例是为了易于理解地说明本发明而详细说明的实施例,本发明不限定为一定具备所说明的全部结构的方式。另外,能将某一实施例的结构的一部分置换为其他实施例的结构。另外,也能在某一实施例的结构的基础上追加其他实施例的结构。另外,关于各实施例的结构的一部分,能删除或者追加、置换其他结构。

Claims (7)

1.一种涡流探伤方法,其特征在于,
将由于提离而产生的涡流探伤信号作为提离信号,
该涡流探伤方法具有:
提离信号测量工序,使用具备一个或者多个线圈的涡流探伤探针,对所述涡流探伤探针施以提离,对模拟被检查体的对比试验体实施涡流探伤,测量所述对比试验体中的提离信号;
相位记录工序,记录根据所述对比试验体中的提离信号得到的利萨茹图形的相位;
涡流探伤信号测量工序,使用所述涡流探伤探针对所述被检查体实施涡流探伤,测量所述被检查体中的涡流探伤信号;以及
判断工序,在所述涡流探伤信号测量工序中,所述涡流探伤探针在全部的所述线圈中检测所述涡流探伤信号,并且在全部所述线圈中,根据所述涡流探伤信号测量工序中检测到的所述涡流探伤信号得到的利萨茹图形的相位与所述相位记录工序中记录的所述相位一致的情况下,判断所述涡流探伤信号测量工序中检测到的所述涡流探伤信号为提离信号。
2.根据权利要求1所述的涡流探伤方法,其特征在于,
将所述被检查体的损伤所致的涡流探伤信号作为伤信号,
所述涡流探伤探针具备多个所述线圈,
所述涡流探伤信号测量工序中存在检测到所述涡流探伤信号的所述线圈和未检测到所述涡流探伤信号的所述线圈的情况下,在所述判断工序中判断所述涡流探伤信号测量工序中检测到的所述涡流探伤信号为伤信号。
3.根据权利要求1所述的涡流探伤方法,其特征在于,
将所述被检查体的损伤所致的涡流探伤信号作为伤信号,
所述涡流探伤探针具备多个所述线圈,
至少在一个所述线圈中,根据所述涡流探伤信号测量工序中检测到的所述涡流探伤信号得到的利萨茹图形的相位与所述相位记录工序中记录的所述相位不一致的情况下,在所述判断工序中判断所述涡流探伤信号测量工序中检测到的所述涡流探伤信号为伤信号。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的涡流探伤方法,其特征在于,
所述对比试验体以及所述被检查体具有磁性。
5.一种涡流探伤装置,其特征在于,
用于执行权利要求1~3中任一项所述的涡流探伤方法,
与所述涡流探伤探针连接,
该涡流探伤装置具备:
存储器,其保存根据所述对比试验体中的提离信号得到的利萨茹图形的所述相位;以及
运算装置,其执行所述相位记录工序和所述判断工序。
6.根据权利要求5所述的涡流探伤装置,其特征在于,
所述对比试验体以及所述被检查体具有磁性。
7.一种涡流探伤装置,与具备一个或者多个线圈的涡流探伤探针和显示部连接,其特征在于,
该涡流探伤装置具备:
记录装置,其记录根据所述涡流探伤探针检测到的提离信号得到的利萨茹图形的相位;以及
运算装置,其比较根据所述涡流探伤探针检测到的涡流探伤信号得到的利萨茹图形的相位与所述记录装置中记录的利萨茹图形的相位,在所述涡流探伤探针的全部所述线圈中这些相位一致的情况下,将所述涡流探伤信号作为提离信号输出到所述显示部。
CN201810084866.3A 2017-02-27 2018-01-29 涡流探伤方法以及涡流探伤装置 Withdrawn CN108508081A (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017034332A JP2018141645A (ja) 2017-02-27 2017-02-27 渦電流探傷方法及び渦電流探傷装置
JP2017-034332 2017-02-27

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN108508081A true CN108508081A (zh) 2018-09-07

Family

ID=61094320

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810084866.3A Withdrawn CN108508081A (zh) 2017-02-27 2018-01-29 涡流探伤方法以及涡流探伤装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20180246065A1 (zh)
EP (1) EP3367090A1 (zh)
JP (1) JP2018141645A (zh)
CN (1) CN108508081A (zh)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010117370A (ja) * 2010-02-22 2010-05-27 Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd 渦電流検査装置
CN101793869A (zh) * 2008-12-24 2010-08-04 码科泰克株式会社 涡流探伤方法和涡流探伤装置
CN103076390A (zh) * 2012-12-27 2013-05-01 佛山市斯派利管业科技有限公司 应用于涡流探伤的定位方法、装置及涡流探伤仪
CN103234449A (zh) * 2013-05-09 2013-08-07 清华大学 有效减小提离波动影响的导体膜厚度测量方法及装置
JP2013205382A (ja) * 2012-03-29 2013-10-07 Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd 渦電流探傷装置の校正確認方法及び渦電流探傷装置
US20160356743A1 (en) * 2015-06-03 2016-12-08 Hitachi-Ge Nuclear Energy, Ltd. Eddy Current Inspection Device

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5476588B2 (ja) 2011-01-05 2014-04-23 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 渦電流探傷方法

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101793869A (zh) * 2008-12-24 2010-08-04 码科泰克株式会社 涡流探伤方法和涡流探伤装置
JP2010117370A (ja) * 2010-02-22 2010-05-27 Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd 渦電流検査装置
JP2013205382A (ja) * 2012-03-29 2013-10-07 Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd 渦電流探傷装置の校正確認方法及び渦電流探傷装置
CN103076390A (zh) * 2012-12-27 2013-05-01 佛山市斯派利管业科技有限公司 应用于涡流探伤的定位方法、装置及涡流探伤仪
CN103234449A (zh) * 2013-05-09 2013-08-07 清华大学 有效减小提离波动影响的导体膜厚度测量方法及装置
US20160356743A1 (en) * 2015-06-03 2016-12-08 Hitachi-Ge Nuclear Energy, Ltd. Eddy Current Inspection Device

Also Published As

Publication number Publication date
JP2018141645A (ja) 2018-09-13
EP3367090A1 (en) 2018-08-29
US20180246065A1 (en) 2018-08-30

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Bernieri et al. Crack depth estimation by using a multi-frequency ECT method
Postolache et al. GMR array uniform eddy current probe for defect detection in conductive specimens
Betta et al. GMR-based ECT instrument for detection and characterization of crack on a planar specimen: A hand-held solution
Huang et al. An opening profile recognition method for magnetic flux leakage signals of defect
Betta et al. A novel TMR based triaxial eddy current test probe for any orientation crack detection
US20090192730A1 (en) Damage Detection Apparatus, Damage Detection Method and Recording Medium
BRPI0912722B1 (pt) Método de ensaio magnético e aparelhagem de ensaio magnético
Hamia et al. Eddy-current nondestructive testing using an improved GMR magnetometer and a single wire as inducer: A FEM performance analysis
Rocha et al. Evaluation of subsurface defects using diffusion of motion-induced eddy currents
Ramos et al. Using the skin effect to estimate cracks depths in mettalic structures
Aguila-Muñoz et al. A magnetic perturbation GMR-based probe for the nondestructive evaluation of surface cracks in ferromagnetic steels
Postolache et al. A novel uniform eddy current probe with GMR for non destructive testing applications
Bernieri et al. A measurement system based on magnetic sensors for nondestructive testing
US20160216333A1 (en) System and method for induction motor rotor bar magnetic field analysis
Zhang et al. Mechanism study for directivity of TR probe when applying Eddy current testing to ferro-magnetic structural materials
CN108508081A (zh) 涡流探伤方法以及涡流探伤装置
CN105319444B (zh) 一种导电材料电导率均匀程度评估方法
CN112629728A (zh) 基于涡流的铝合金残余应力测试装置及其测试方法
Bernieri et al. Multi-frequency ECT method for defect depth estimation
Kondej et al. The amplitude-frequency measurement in non-destructive testing using the eddy current method
Chomsuwan et al. Bare PCB inspection system with SV-GMR sensor eddy-current testing probe
Lin et al. Pulsed eddy current sensor for cascade electrical conductivity and thickness estimation in nonferrous metal plates
Gao et al. GMR-based eddy current probe for weld seam inspection and its non-scanning detection study
Sen et al. Study and analysis of two GMR-based eddy-current probes for defect-detection
JPS62273447A (ja) 材料劣化度測定方法及びその装置

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
WW01 Invention patent application withdrawn after publication
WW01 Invention patent application withdrawn after publication

Application publication date: 20180907