CN108460753A - 双能量ct图像处理方法、装置以及设备 - Google Patents

双能量ct图像处理方法、装置以及设备 Download PDF

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CN108460753A CN201810003995.5A CN201810003995A CN108460753A CN 108460753 A CN108460753 A CN 108460753A CN 201810003995 A CN201810003995 A CN 201810003995A CN 108460753 A CN108460753 A CN 108460753A
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马锐兵
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Abstract

本申请提供一种双能量CT图像处理方法及装置,该方法包括:对被检组织进行双能量CT扫描,得到被检组织的切面成像序列,切面成像序列中,每一切面的切面成像包括切面的高能量图像和低能量图像;针对切面成像序列中,对每一切面的切面成像进行如下处理:根据切面成像中的高能量图像,得出每一个像素点在高能量下的CT值CTH;以及根据切面成像中的低能量图像,得出每一个像素点在低能量下的CT值CTL;根据CTH与CTL计算得出偏差值CTD,偏差值CTD用于表示像素点在高低能量下CT值之间的差异度;根据每一个像素点的CTD与对应的颜色值,生成切面的可视化图像;输出处理得到的所述可视化图像。应用该方法,可以提高对被检组织进行物质区分和鉴别的效率。

Description

双能量CT图像处理方法、装置以及设备
技术领域
本申请涉及CT图像后处理技术领域,尤其涉及一种双能量CT图像处理方法、装置以及设备。
背景技术
双能量CT扫描技术利用不同物质在不同管电压下衰减系数不同,具有分析被检组织的组成成分的功能。通常可以对被检组织进行双能量CT扫描,得到双能量CT图像,对该双能量CT图像进行图像处理,用户根据处理结果可以对被检组织进行物质的区分和鉴别。
相关技术中,可以根据双能量CT图像计算得出被检组织中的每一像素点在高能量下的CT值CTH与低能量下的CT值CTL,之后,根据CTH和CTL生成CT值二维图,在该CT值二维图中,横轴表示物质在高能量下的CT值,纵轴表示物质在低能量下的CT值,从而,被检组织中的每一像素点在该CT值二维图上都有一个特定的坐标位置,之后,用户可以根据不同的物质在高低能量下衰减程度不同这一原理,通过分析每一像素点的坐标位置所对应的斜率,以对被检组织进行物质的区分和鉴别。
由此可见,相关技术中通过上述CT值二维图对被检组织进行物质的区分和鉴别时,需要进一步地进行计算分析,才可以实现对被检组织进行物质的区分和鉴别。因此,相关技术中对被检组织进行物质的区分和鉴别的过程效率较低。
发明内容
有鉴于此,本申请提供一种双能量CT图像处理方法、装置以及设备,以提高对被检组织进行物质区分和鉴别的效率。
具体地,本申请是通过如下技术方案实现的:
根据本申请实施例的第一方面,提供一种双能量CT图像处理方法,所述方法包括:
对被检组织进行双能量CT扫描,得到所述被检组织的切面成像序列,所述切面成像序列中,每一切面的切面成像包括所述切面的高能量图像和低能量图像;
针对所述切面成像序列中,对每一切面的切面成像进行如下处理:
根据所述切面成像中的高能量图像,得出每一个像素点在高能量下的CT值CTH;以及根据所述切面成像中的低能量图像,得出每一个像素点在低能量下的CT值CTL
根据所述CTH与CTL计算得出偏差值CTD,所述偏差值CTD用于表示像素点在高低能量下CT值之间的差异度;
根据所述每一个像素点的CTD与对应的颜色值,生成所述切面的可视化图像;
输出处理得到的所述可视化图像。
根据本申请实施例的第二方面,提供一种双能量CT图像处理装置,所述装置包括:
扫描单元,用于对被检组织进行双能量CT扫描,得到所述被检组织的切面成像序列,所述切面成像序列中,对每一切面的切面成像包括所述切面的高能量图像和低能量图像;
图像处理单元,用于针对所述切面成像序列中,每一切面的切面成像进行如下处理:
根据所述切面成像中的高能量图像,得出每一个像素点在高能量下的CT值CTH;以及根据所述切面成像中的低能量图像,得出每一个像素点在低能量下的CT值CTL
根据所述CTH与CTL计算得出偏差值CTD,所述偏差值CTD用于表示像素点在高低能量下CT值之间的差异度;
根据所述切面成像中每一个像素点的CTD与对应的颜色值,生成所述切面的可视化图像;
输出单元,用于输出处理得到的所述可视化图像。
根据本申请实施例的第三方面,提供一种图像处理设备,包括:内部总线,以及通过内部总线连接的存储器、处理器;其中,
所述存储器,用于存储双能量CT图像处理的控制逻辑对应的机器可读指令;
所述处理器,用于读取所述存储器上的所述机器可读指令,并执行所述指令以实现如下操作:
对被检组织进行双能量CT扫描,得到所述被检组织的切面成像序列,所述切面成像序列中,每一切面的切面成像包括所述切面的高能量图像和低能量图像;
针对所述切面成像序列中,对每一切面的切面成像进行如下处理:
根据所述切面成像中的高能量图像,得出每一个像素点在高能量下的CT值CTH;以及根据所述切面成像中的低能量图像,得出每一个像素点在低能量下的CT值CTL
根据所述CTH与CTL计算得出偏差值CTD,所述偏差值CTD用于表示像素点在高低能量下CT值之间的差异度;
根据所述每一个像素点的CTD与对应的颜色值,生成所述切面的可视化图像;
输出处理得到的所述可视化图像。
应用本申请提供的双能量CT图像处理实施例,针对对被检组织进行双能量CT扫描,得到的切面成像序列中,每一切面的切面成像,得到切面成像中每一像素点在高能量下的CT值CTH,以及低能量下的CT值CTL,继而计算得出每一像素点的CTD,该CTD用于表示像素点在高低能量下CT值之间的差异度,后续,再依据CTD与像素点对应的颜色,生成每一切面的可视化图像,并输出该可视化图像。由于在该可视化图像中,可以直观地显示出CTD,也即直观地表示出物质在高低能量下的衰减程度;同时也可以直观地显示出CTD与组织区域的对应关系,因此,根据该可视化图像,可以直观地对被检组织进行物质的区分和鉴别,提高对被检组织进行物质的区分和鉴别的效率。
附图说明
图1为相关技术中CT值二维图的一种示例;
图2为本申请双能量CT图像处理方法的一个实施例流程图;
图3为生成可视化图像过程的一个实施例流程图;
图4为本申请CT值差异度二维坐标系的一种示例;
图5为生成可视化图像过程的另一个实施例流程图;
图6为第一同色渐变图的一种示例;
图7为第一颜色查找表的一种示例;
图8为差异度伪彩化显示图像的一种示例;
图9为本申请双能量CT图像处理装置的一个实施例框图;
图10为本申请图像处理设备的一个实施例示意图。
具体实施方式
这里将详细地对示例性实施例进行说明,其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时,除非另有表示,不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反,它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。
在本申请使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的,而非旨在限制本申请。在本申请和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式,除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解,本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。
应当理解,尽管在本申请可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种信息,但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如,在不脱离本申请范围的情况下,第一信息也可以被称为第二信息,类似地,第二信息也可以被称为第一信息。取决于语境,如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。
相关技术中提出了CT值二维图的概念,如图1所示,为相关技术中CT值二维图的一种示例。在图1所示例的CT值二维图中,横轴表示物质在高能量下的CT值,记为CTH;纵轴表示物质在低能量下的CT值,记为CTL
在对被检组织进行双能量CT扫描,得到被检组织的每一切面在高、低能量下的切面成像后,可以根据切面成像中的高能量图像,得到切面成像中每一个像素点的CTH,并根据切面成像中的低能量图像,得到切面成像中每一个像素点的CTL,根据所计算得出的CTH与CTL,即可在图1所示例的CT值二维图中确定像素点对应的坐标点,例如图1中的坐标点(120,70)。
本领域技术人员可以理解的是,不同物质在高低能量下衰减程度不同这一原理,反映到图1所示例的CT值二维图中,即表现为像素点对应的坐标点与原点O之间连线的斜率不同,从而,通过对每一像素点的坐标点进行斜率计算,即可实现根据斜率对不同像素点上的物质进行区分和鉴别,也即对被检组织进行物质的区分和鉴别。
由上述描述可知,在通过图1所示例的CT值二维图对被检组织进行物质的区分和鉴别时,需要进一步进行斜率计算,因此,相关技术中,对被检组织进行物质的区分和鉴别的过程效率较低。
为了解决相关技术中对被检组织进行物质的区分和鉴别的过程效率较低的问题,本申请提供一种双能量CT图像处理方法。在本申请所提供的双能量CT图像处理方法中,首先根据双能量CT图像得到被检组织在高、低能量下的CT值,继而计算得出被检组织在高低能量下CT值之间的差异度,后续,根据该差异度生成被检组织的可视化图像,在该可视化图像中,一方面,可以直观地显示出上述差异度,也即直观地表示出物质在高低能量下的衰减程度;另一方面,可以直观地显示出CT值差值与组织区域的对应关系,从而,根据该可视化图像,可以直观地对被检组织进行物质的区分和鉴别。并且,相较于相关技术中,需要进一步进行斜率计算,才可以对被检组织进行物质的区分和鉴别而言,提高了对被检组织进行物质区分和鉴别的效率。
如下,列举下述实施例对本申请提供的双能量CT图像处理方法进行描述。
请参见图2,为本申请双能量CT图像处理方法的一个实施例流程图,该方法包括以下步骤:
步骤201:对被检组织进行双能量CT扫描,得到被检组织的切面成像序列,该切面成像序列中,每一切面的切面成像包括切面的高能量图像和低能量图像。
本申请中,可以对被检组织进行双能量CT扫描,得到被检组织在高、低能量下的成像序列,为了描述方便,本申请中将被检组织在高、低能量下的成像序列统称为切面成像序列。那么,在该切面成像序列中,每一切面的切面成像包括该切面的高能量图像和低能量图像。
步骤202:针对切面成像序列中,对每一切面的切面成像进行处理,生成切面的可视化图像。
在本申请实施例中,以对其中一个切面的切面成像进行处理为例:
首先,根据切面成像中的高能量图像,得出切面成像中每一个像素点在高能量下的CT值,记为CTH,并根据切面成像中的低能量图像,得出切面成像中每一个像素点在低能量下的CT值,记为CTL,继而,可以根据像素点的CTH与CTL,计算得出像素点在高低能量下CT值之间的差异度,为了描述方便,将该CT值之间的差异度称为偏差值,记为CTD
上述偏差值具体可以为CTH与CTL之间差值的绝对值、CTH与CTL的比值、CTH与CTL的平方差值等等,本申请对比并不作限制。
后续,则可以基于上述CTD与像素点对应的颜色值生成切面的可视化图像。
具体的,在一个可选的实现方式中,可以对图1所示例的CT值二维图进行改进,基于改进后的CT值二维图生成可视化图像,为了描述方便,本申请中将改进后的CT值二维图称为CT值差异度二维坐标系,如图3所示,为基于CT值差异度二维坐标系生成可视化图像过程的一个实施例流程图,包括以下步骤:
步骤301:建立CT值差异度二维坐标系,该CT值差异度二维坐标系的其中一个坐标轴表示像素点的CTD,另一个坐标轴表示像素点的CTH或CTL
在本申请实施例中,为了直观地体现出物质在不同能量下的衰减程度,提出一种新的CT值二维图,为了描述方便,将该新的CT值二维图称为CT值差异度二维坐标系,与图1所示例的CT值二维图不同的是,该CT值差异度二维坐标系的其中一个坐标轴表示像素点的CTD,另一个轴则表示像素点的CTH或CTL。如图4所示,为本申请CT值差异度二维坐标系的一种示例,在图4中,以CTD为CTL与CTH之间差值的绝对值为例。
需要说明的是,在图4中,纵轴表示像素点的CTH,横轴表示像素点的CTD,仅是为使本领域技术人员更清楚地理解本申请提出的CT值差异度二维坐标系而作出的一种示例,不应被理解为用于限制本申请提出的CT值差异度二维坐标系的手段,例如,在实际应用中,也可以将CT值差异度二维坐标系的纵轴设置为用于表示像素点的CTD,横轴设置为用于表示像素点的CTL或CTH
步骤302:针对切面成像中的每一个像素点,根据像素点的CTD与CTH,或CTD与CTL确定像素点在CT值差异度二维坐标系中对应的坐标点。
以图4所示例的CT值差异度二维坐标系为例,可以针对切面成像中的每一个像素点,根据该像素点的CTD与CTH确定其在图4所示例的CT值差异度二维坐标系中对应的坐标点。
举例来说,假设像素点的CTH为120HU,CTL为70HU,假设像素点的CTD表示像素点在高低能量下CT值之间差值的绝对值,那么,可以得出像素点的CTD为50HU,那么该像素点在图4所示例的CT值差异度二维坐标系中对应的坐标点即为(50,120)。
步骤303:针对切面成像中的每一个像素点,将像素点在CT值差异度二维坐标系中对应的坐标点的像素值设为像素点对应的颜色值,得到切面的CT值差异度二维图。
在本申请实施例中,以一个切面成像为例,用户可以在该切面成像上划分两个以上感兴趣区域,并为每一感兴趣区域设置不同的颜色值,那么,感兴趣区域中的每一个像素点所对应的颜色值则为该像素点所属感兴趣区域的颜色值。
在本申请实施例中,针对切面成像中的每一个像素点,将该像素点在CT值差异度二维坐标系中对应的坐标点的像素值设置为该像素点对应的颜色值,以得到CT值差异度二维图。例如,以上述坐标点(50,120)举例来说,假设该坐标点所对应像素点的颜色值为(255,0,0)(红色的颜色值),那么,则可以在图4所示例的CT值差异度二维坐标系中,将坐标点(50,120)的像素值设置为(255,0,0),以使得该坐标点的颜色显示为红色。
由此可见,根据图3所示实施例所得到的CT值差异度二维图,可以通过不同的颜色直观地对应于切面成像上的不同感兴趣区域,也即被检组织中的不同区域,并且,像素点在CT值差异度二维坐标系中对应的坐标位置可以直观地反映出像素点所对应物质在高低能量下衰减程度的差异,以及该物质在单能量(高能量或低能量)下的CT值。由此可见,CT值差异度二维图可以直观地表示出被检组织的物质区分与物质组成,从而依据该CT值差异度二维图可以提高对被检组织进行物质区分和鉴别的效率。
至此,完成图3所示实施例的描述。
在另一个可选的实现方式中,可以针对切面成像中每一像素点,根据像素点的CTD确定像素点对应的颜色值,之后,在切面成像中,将该像素点的像素值设置为像素点对应的颜色值,从而生成切面的可视化图像。如图5所示,为生成可视化图像过程的另一个实施例流程图,包括以下步骤:
步骤501:根据切面成像中所有像素点的CTD与第一同色渐变图,生成第一颜色查找表,第一颜色查找表包括CTD与差异度颜色值之间的对应关系。
步骤502:根据所切面成像中所有像素点的CTH与第二同色渐变图,生成第二颜色查找表,第二颜色查找表包括CTH与高能颜色值之间的对应关系。
如下,对步骤501与步骤502进行说明:
首先说明,本申请实施例中,为了描述方便,将步骤501中的同色渐变图称为第一同色渐变图,将步骤502中的同色渐变图称为第二同色渐变图,这里所说的“同色渐变”是指,同一颜色渐变,例如第一同色渐变图表示红色渐变,在该第一同色渐变图中,从上到下,红色的颜色深度逐渐变浅。例如,如图6所示,为第一同色渐变图的一种示例。
在本申请实施例中,针对每一切面成像,可以首先确定切面成像中所有像素的CTD中的最大值与最小值,以该最大值和最小值分别标定图6所示例的第一同色渐变图的上下两个端点,本领域技术人员可以理解的是,在该第一同色渐变图中,上下两个端点对应的CTD值确定了,那么该第一同色渐变图中,每一颜色对应的CTD值也就确定了,从而通过该种处理,可以得到包括CTD与颜色值之间的对应关系的颜色查找表,在此说明,为了描述方便,将该颜色查找表称为第一颜色查找表,将该颜色值称为差异度颜色值。例如,如图7所示,为第一颜色查找表的一种示例。
相应的,第二同色渐变图可以与上述第一同色渐变图的颜色不同,例如,第二同色渐变图可以表示黄色渐变。具体根据切面成像中所有像素点的CTH与CTL,以及第二同色渐变图生成第二颜色查找表的过程,可以参见上述所描述的生成第一颜色查找表的相关描述,本申请对此不再详述。
步骤503:针对切面成像中的每一个像素点,根据像素点的CTD查找第一颜色查找表,得到与像素点的CTD对应的目标差异度颜色值。
步骤504:针对切面成像中的每一个像素点,根据像素点的CTH查找第二颜色查找表,得到与像素点的CTH对应的目标高能颜色值。
如下,对步骤503与步骤504进行说明:
在本申请实施例中,可以针对每一个像素点,根据像素点的CTD查找图7所示例的第一颜色查找表,以查找到与该像素点的CTD对应的差异度颜色值,为了描述方便,将所查找到的差异度颜色值称为目标差异度颜色值。
相应的,可以针对每一个像素点,根据像素点的CTH查找上述第二颜色查找表,以查找到与该该像素点的CTH对应的高能颜色值,为了描述方便,将所查找到的高能颜色值称为目标高能颜色值。
步骤505:根据目标差异度颜色值与目标高能颜色值确定像素点对应的颜色值。
在本申请实施例中,可以将目标差异度颜色值与目标高能颜色值按照各自的权重进行融合,将融合后的颜色确定为像素点对应的颜色值。
在一个优选的实现方式中,目标差异度颜色值与目标高能颜色值的权重可以相同。
步骤506:针对切面成像中的每一个像素点,将像素点的像素值设为所述像素点对应的颜色值,得到切面的差异度伪彩化显示图像。
在本申请实施例中,针对切面成像中的每一个像素点,将像素点的像素值设为该像素点对应的颜色值,以得到切面的差异度伪彩化显示图像。如图8所示,为差异度伪彩化显示图像的一种示例。
如下,举例对图8所示例的差异度伪彩化显示图像进行说明:
假设第一同色渐变图表示红色渐变,第二同色渐变图表示黄色渐变,按照如上基于权重的融合方式,融合后的颜色将显示为橙色渐变,那么,在图8所示例的差异度伪彩化显示图像中,主要颜色将为橙色,不同像素点之间的区别在于融合后颜色中红色色值和黄色色值不同。其中,红色色值越高,融合后颜色越偏向为橙红色,也即CTD越大;黄色色值越高,融合后颜色越偏向为橙黄色,也即CTH越大。
由此可见,在图5所示实施例得到的差异度伪彩化显示图像中,不同的颜色即可表示不同的物质,并且,通过颜色区别,还可以直观地反映出不同物质在单能量(高能量或低能量)下CT值之间的区别,以及直观地反映出不同物质在高低能量下衰减程度之间的区别,由此可见,差异度伪彩化显示图像可以直观地反映出被检组织的物质区分与物质组成,从而依据该差异度伪彩化显示图像可以提高对被检组织进行物质区分和鉴别的效率。
至此完成图5所示实施例的描述。
步骤203:输出处理得到的可视化图像。
本申请中,可以输出切面的可视化图像,以辅助用户对被检组织进行物质的区分和鉴别。
在一个可选的实现方式中,可以预先在图像处理设备的系统中预置默认序列号,那么,图像处理设备可以在显示界面上显示该默认序列号所对应的切面的可视化图像。
在另一个可选的实现方式中,可以由用户输入指定序列号,那么,图像处理设备可以接收到用户输入的指定序列号,从而在显示界面上显示该指定序列号所对应的切面的可视化图像。
应用本申请提供的双能量CT图像处理实施例,针对对被检组织进行双能量CT扫描,得到的切面成像序列中,每一切面的切面成像,得到切面成像中每一像素点在高能量下的CT值CTH,以及低能量下的CT值CTL,继而计算得出每一像素点的CTD,该CTD用于表示像素点在高低能量下CT值之间的差异度,后续,再依据CTD与像素点对应的颜色,生成每一切面的可视化图像,并输出该可视化图像。由于在该可视化图像中,可以直观地显示出CTD,也即直观地表示出物质在高低能量下的衰减程度;同时也可以直观地显示出CTD与组织区域的对应关系,因此,根据该可视化图像,可以直观地对被检组织进行物质的区分和鉴别,提高对被检组织进行物质的区分和鉴别的效率。
至此完成图2所示实施例的描述。
与前述双能量CT图像处理方法的实施例相对应,本申请还提供了双能量CT图像处理装置的实施例。
请参考图9,为本申请双能量CT图像处理装置的一个实施例框图,该装置可以包括:扫描单元91、图像处理单元92、输出单元93。
其中,扫描单元91,可以用于对被检组织进行双能量CT扫描,得到所述被检组织的切面成像序列,所述切面成像序列中,每一切面的切面成像包括所述切面的高能量图像和低能量图像;
图像处理单元92,可以用于针对所述切面成像序列中,对每一切面的切面成像进行如下处理:
根据所述切面成像中的高能量图像,得出每一个像素点在高能量下的CT值CTH;以及根据所述切面成像中的低能量图像,得出每一个像素点在低能量下的CT值CTL
根据所述CTH与CTL计算得出偏差值CTD,所述偏差值CTD用于表示像素点在高低能量下CT值之间的差异度;
根据所述每一个像素点的CTD与对应的颜色值,生成所述切面的可视化图像;
输出单元93,可以用于输出处理得到的所述可视化图像。
在一实施例中,所述图像处理单元92可以包括(图9中并未示出):
坐标系建立子单元,用于建立CT值差异度二维坐标系,所述CT值差异度二维坐标系的其中一个坐标轴表示像素点的CTD,另一个坐标轴表示像素点的CTH或CTL
坐标点确定子单元,用于针对所述切面成像中的每一个像素点,根据所述像素点的CTD与CTH,或CTD与CTL确定所述像素点在所述CT值差异度二维坐标系中对应的坐标点;
第一图像生成子单元,用于针对所述切面成像中感兴趣区域的每一个像素点,将所述像素点在所述CT值差异度二维坐标系中对应的坐标点的像素值设为所述像素点对应的颜色值,得到所述切面的CT值差异度二维图。
在一实施例中,所述像素点对应的颜色值为所述像素点所属感兴趣区域的颜色值;
所述每一切面的切面成像中包括两个以上感兴趣区域,并且不同感兴趣区域的颜色值不同。
在一实施例中,所述图像处理单元92可以包括(图9中并未示出):
第一颜色表生成子单元,用于根据所述切面成像中所有像素点的CTD与第一同色渐变图,生成第一颜色查找表,所述第一颜色查找表包括CTD与差异度颜色值之间的对应关系;
第二颜色表生成子单元,用于根据所述切面成像中所有像素点的CTH与第二同色渐变图,生成第二颜色查找表,所述第二颜色查找表包括CTH与高能颜色值之间的对应关系;
第一查找子单元,用于针对所述切面成像中的每一个像素点,根据所述像素点的CTD查找所述第一颜色查找表,得到与所述像素点的CTD对应的目标差异度颜色值;
第二查找子单元,用于针对所述切面成像中的每一个像素点,根据所述像素点的CTH查找所述第二颜色查找表,得到与所述像素点的CTH对应的目标高能颜色值;
颜色确定子单元,用于根据所述目标差异度颜色值与所述目标高能颜色值确定所述像素点对应的颜色值;
第二图像生成子单元,用于针对所述切面成像中的每一个像素点,将所述像素点的像素值设为所述像素点对应的颜色值,得到所述切面的差异度伪彩化显示图像。
在一实施例中,所述颜色确定子单元具体用于:
将所述目标差异度颜色值与所述目标高能颜色值按照相同的权重进行融合,得到所述像素点对应的颜色值。
请参考图10,为本申请图像处理设备的一个实施例示意图,该图像处理设备可以包括:内部总线101,通过内部总线101连接的存储器102、处理器103。
其中,所述存储器102,可以用于存储双能量CT图像处理的控制逻辑对应的机器可读指令;
所述处理器103,可以用于读取所述存储器上的所述机器可读指令,并执行所述指令以实现如下操作:
对被检组织进行双能量CT扫描,得到所述被检组织的切面成像序列,所述切面成像序列中,每一切面的切面成像包括所述切面的高能量图像和低能量图像;
针对所述切面成像序列中,对每一切面的切面成像进行如下处理:
根据所述切面成像中的高能量图像,得出每一个像素点在高能量下的CT值CTH;以及根据所述切面成像中的低能量图像,得出每一个像素点在低能量下的CT值CTL
根据所述CTH与CTL计算得出偏差值CTD,所述偏差值CTD用于表示像素点在高低能量下CT值之间的差异度;
根据所述每一个像素点的CTD与对应的颜色值,生成所述切面的可视化图像;
输出处理得到的所述可视化图像。
上述装置中各个单元的功能和作用的实现过程具体详见上述方法中对应步骤的实现过程,在此不再赘述。
对于装置实施例而言,由于其基本对应于方法实施例,所以相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本申请方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下,即可以理解并实施。
以上所述仅为本申请的较佳实施例而已,并不用以限制本申请,凡在本申请的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请保护的范围之内。

Claims (11)

1.一种双能量CT图像处理方法,其特征在于,所述方法包括:
对被检组织进行双能量CT扫描,得到所述被检组织的切面成像序列,所述切面成像序列中,每一切面的切面成像包括所述切面的高能量图像和低能量图像;
针对所述切面成像序列中,对每一切面的切面成像进行如下处理:
根据所述切面成像中的高能量图像,得出每一个像素点在高能量下的CT值CTH;以及根据所述切面成像中的低能量图像,得出每一个像素点在低能量下的CT值CTL
根据所述CTH与CTL计算得出偏差值CTD,所述偏差值CTD用于表示像素点在高低能量下CT值之间的差异度;
根据所述每一个像素点的CTD与对应的颜色值,生成所述切面的可视化图像;
输出处理得到的所述可视化图像。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述切面成像中每一个像素点的CTD与对应的颜色值,生成所述切面的可视化图像,包括:
建立CT值差异度二维坐标系,所述CT值差异度二维坐标系的其中一个坐标轴表示像素点的CTD,另一个坐标轴表示像素点的CTH或CTL
针对所述切面成像中的每一个像素点,根据所述像素点的CTD与CTH,或CTD与CTL确定所述像素点在所述CT值差异度二维坐标系中对应的坐标点;
针对所述切面成像中感兴趣区域的每一个像素点,将所述像素点在所述CT值差异度二维坐标系中对应的坐标点的像素值设为所述像素点对应的颜色值,得到所述切面的CT值差异度二维图。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述像素点对应的颜色值为所述像素点所属感兴趣区域的颜色值;
所述每一切面的切面成像中包括两个以上感兴趣区域,并且不同感兴趣区域的颜色值不同。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述切面成像中每一个像素点的CTD与对应的颜色值,生成所述切面的可视化图像,包括:
根据所述切面成像中所有像素点的CTD与第一同色渐变图,生成第一颜色查找表,所述第一颜色查找表包括CTD与差异度颜色值之间的对应关系;
根据所述切面成像中所有像素点的CTH与第二同色渐变图,生成第二颜色查找表,所述第二颜色查找表包括CTH与高能颜色值之间的对应关系;
针对所述切面成像中的每一个像素点,根据所述像素点的CTD查找所述第一颜色查找表,得到与所述像素点的CTD对应的目标差异度颜色值;
针对所述切面成像中的每一个像素点,根据所述像素点的CTH查找所述第二颜色查找表,得到与所述像素点的CTH对应的目标高能颜色值;
根据所述目标差异度颜色值与所述目标高能颜色值确定所述像素点对应的颜色值;
针对所述切面成像中的每一个像素点,将所述像素点的像素值设为所述像素点对应的颜色值,得到所述切面的差异度伪彩化显示图像。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述目标差异度颜色值与所述目标高能颜色值确定所述像素点对应的颜色值,包括:
将所述目标差异度颜色值与所述目标高能颜色值按照相同的权重进行融合,得到所述像素点对应的颜色值。
6.一种双能量CT图像处理装置,其特征在于,所述装置包括:
扫描单元,用于对被检组织进行双能量CT扫描,得到所述被检组织的切面成像序列,所述切面成像序列中,每一切面的切面成像包括所述切面的高能量图像和低能量图像;
图像处理单元,用于针对所述切面成像序列中,对每一切面的切面成像进行如下处理:
根据所述切面成像中的高能量图像,得出每一个像素点在高能量下的CT值CTH;以及根据所述切面成像中的低能量图像,得出每一个像素点在低能量下的CT值CTL
根据所述CTH与CTL计算得出偏差值CTD,所述偏差值CTD用于表示像素点在高低能量下CT值之间的差异度;
根据所述每一个像素点的CTD与对应的颜色值,生成所述切面的可视化图像;
输出单元,用于输出处理得到的所述可视化图像。
7.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述图像处理单元包括:
坐标系建立子单元,用于建立CT值差异度二维坐标系,所述CT值差异度二维坐标系的其中一个坐标轴表示像素点的CTD,另一个坐标轴表示像素点的CTH或CTL
坐标点确定子单元,用于针对所述切面成像中的每一个像素点,根据所述像素点的CTD与CTH,或CTD与CTL确定所述像素点在所述CT值差异度二维坐标系中对应的坐标点;
第一图像生成子单元,用于针对所述切面成像中感兴趣区域的每一个像素点,将所述像素点在所述CT值差异度二维坐标系中对应的坐标点的像素值设为所述像素点对应的颜色值,得到所述切面的CT值差异度二维图。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述像素点对应的颜色值为所述像素点所属感兴趣区域的颜色值;
所述每一切面的切面成像中包括两个以上感兴趣区域,并且不同感兴趣区域的颜色值不同。
9.根据权利要求6所述的装置,其特征在于,所述图像处理单元包括:
第一颜色表生成子单元,用于根据所述切面成像中所有像素点的CTD与第一同色渐变图,生成第一颜色查找表,所述第一颜色查找表包括CTD与差异度颜色值之间的对应关系;
第二颜色表生成子单元,用于根据所述切面成像中所有像素点的CTH与第二同色渐变图,生成第二颜色查找表,所述第二颜色查找表包括CTH与高能颜色值之间的对应关系;
第一查找子单元,用于针对所述切面成像中的每一个像素点,根据所述像素点的CTD查找所述第一颜色查找表,得到与所述像素点的CTD对应的目标差异度颜色值;
第二查找子单元,用于针对所述切面成像中的每一个像素点,根据所述像素点的CTH查找所述第二颜色查找表,得到与所述像素点的CTH对应的目标高能颜色值;
颜色确定子单元,用于根据所述目标差异度颜色值与所述目标高能颜色值确定所述像素点对应的颜色值;
第二图像生成子单元,用于针对所述切面成像中的每一个像素点,将所述像素点的像素值设为所述像素点对应的颜色值,得到所述切面的差异度伪彩化显示图像。
10.根据权利要求9所述的装置,其特征在于,所述颜色确定子单元具体用于:
将所述目标差异度颜色值与所述目标高能颜色值按照相同的权重进行融合,得到所述像素点对应的颜色值。
11.一种图像处理设备,其特征在于,包括:内部总线,以及通过内部总线连接的存储器、处理器;其中,
所述存储器,用于存储双能量CT图像处理的控制逻辑对应的机器可读指令;
所述处理器,用于读取所述存储器上的所述机器可读指令,并执行所述指令以实现如下操作:
对被检组织进行双能量CT扫描,得到所述被检组织的切面成像序列,所述切面成像序列中,每一切面的切面成像包括所述切面的高能量图像和低能量图像;
针对所述切面成像序列中,对每一切面的切面成像进行如下处理:
根据所述切面成像中的高能量图像,得出每一个像素点在高能量下的CT值CTH;以及根据所述切面成像中的低能量图像,得出每一个像素点在低能量下的CT值CTL
根据所述CTH与CTL计算得出偏差值CTD,所述偏差值CTD用于表示像素点在高低能量下CT值之间的差异度;
根据所述每一个像素点的CTD与对应的颜色值,生成所述切面的可视化图像;
输出处理得到的所述可视化图像。
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