CN108398451A - 电子探针不规则样品载物台 - Google Patents
电子探针不规则样品载物台 Download PDFInfo
- Publication number
- CN108398451A CN108398451A CN201810333036.XA CN201810333036A CN108398451A CN 108398451 A CN108398451 A CN 108398451A CN 201810333036 A CN201810333036 A CN 201810333036A CN 108398451 A CN108398451 A CN 108398451A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- sample
- support element
- metal spring
- fastener
- fixed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 115
- 230000001788 irregular Effects 0.000 title claims abstract description 22
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims abstract description 27
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims abstract description 27
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 21
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 12
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000011160 research Methods 0.000 description 4
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 238000004453 electron probe microanalysis Methods 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000011065 in-situ storage Methods 0.000 description 1
- 229910052500 inorganic mineral Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000011707 mineral Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000004451 qualitative analysis Methods 0.000 description 1
- 238000004445 quantitative analysis Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/225—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material using electron or ion
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/2204—Specimen supports therefor; Sample conveying means therefore
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
本发明公开了电子探针不规则样品载物台，包括底座、支撑件、紧固件和金属弹簧，所述金属弹簧的内径与样品的尺寸相适配，将金属弹簧放置在底座上，所述金属弹簧的外侧对称设置有支撑件，所述支撑件通过紧固件固定在底座上，所述支撑件的高度满足支撑件上部与电子探针的探头间的距离为标准工作距离，所述支撑件的上部转动连接有固定板，将样品放置在金属弹簧中，此时样品和挤压的金属弹簧的高度之和与支撑件的高度相适配，使样品的表面与支撑件上部相平，且样品的底端悬空，转动固定板将样品的上端固定。本发明解决了放置不规则样品和大体积样品的难题。
Description
技术领域
本发明涉及矿物测试领域，特别涉及一种电子探针不规则样品载物台。
背景技术
电子探针微区分析技术是一种无损微区原位主量元素定性定量分析方法，由于它的操作简单，实验结果的解释直截了当，分析过程中不损坏样品，可以进行原位微区分析，测试精度高等优点，在地质、材料等许多领域被广泛应用，是样品成分分析的重要工具。
电子探针对测试样品的要求十分严格，现有的载物台要求测试样品在形状上保证样品的测试表面与底面是相互平行的平面。但对于一些已经加工制作完成的不规则样品(如珠宝样品)，由于样品的价值或加工工艺等其他原因往往不可能为了分析需求再对其进行加工磨平底面，因此无法进行实验测试。如果测试中使用橡皮泥、双面胶等粘性物对不规则样品进行固定，会影响电子探针样品仓里的真空度，无法进行测试甚至会导致仪器故障、损坏。因此目前还没有一种比较好的载物台或者固定方法来放置不规则样品。
此外，传统载物台对于样品的大小也有约束，由于其放置样品的底座形状是固定的，因此对样品的大小及形状有严格要求，无法放置特殊尺寸的样品，从而造成无法进行实验测试。
发明内容
有鉴于此，本发明的实施例提供了一种可以对不规则样品进行良好固定，不会对仪器真空度等造成影响；同时可以放置大体积样品，方法简单而有效，制作工艺也并不复杂的电子探针不规则样品载物台。
本发明的实施例提供电子探针不规则样品载物台，包括底座、支撑件、紧固件和金属弹簧，所述金属弹簧的内径与样品的尺寸相适配，将金属弹簧放置在底座上，所述金属弹簧的外侧对称设置有支撑件，所述支撑件通过紧固件固定在底座上，所述支撑件的高度满足支撑件上部与电子探针的探头间的距离为标准工作距离，所述支撑件的上部转动连接有固定板，将样品放置在金属弹簧中，此时样品和挤压的金属弹簧的高度之和与支撑件的高度相适配，使样品的表面与支撑件上部相平，且样品的底端悬空，转动固定板将样品的上端固定。
进一步，所述支撑件是中空柱，所述支撑件的内壁设有内螺纹，所述紧固件的外壁设有与内螺纹相适配的外螺纹，所述底座上开有与紧固件的下端相适配的螺纹底孔，所述螺纹底孔在底座上均匀分布，将支撑件放置在底座上，所述支撑件在底座上的位置根据样品的大小进行选择，再通过将紧固件插入支撑件中，并转动至紧固件的下端固定在对应的螺纹底孔中，即将支撑件固定。
进一步，所述金属弹簧的内径和强度根据样品的大小和重量进行选择。
进一步，所述固定板包括转动部和固定部，且一体成型，所述转动部套在支撑件上部，所述转动部上有一凹槽，所述紧固件的上端卡在转动部的凹槽内，所述固定部呈V形，样品需要固定时，转动所述转动部，使固定部的V形尖端相对，进而将样品固定，样品不需要固定时，转动所述转动部，使固定部的V形尖端相远离。
与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：本发明应用于电子探针样品载物台放置测试样品，可适用于多种型号的电子探针；提高了电子探针测样效率，可以对不规则样品进行良好固定，不会对仪器真空度等造成影响；同时，解决了放置不规则样品和大体积样品的难题；方法简单而有效，制作工艺也并不复杂，十分有利于各领域的一些不规则但不能进行二次加工、破坏的样品进行电子探针精确主量分析，有利于其进一步进行科学研究，为进行科研工作提供了良好的前提条件，为分析测试带来极大便利，具有良好的应用前景。
附图说明
图1是本发明电子探针不规则样品载物台的一示意图。
图2是图1中支撑件和固定板的一示意图。
图3是紧固件的一示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地描述。
请参考图1，本发明的实施例提供了电子探针不规则样品载物台，包括底座1、支撑件2、紧固件3和金属弹簧4。
请参考图3，紧固件3是一螺钉，紧固件3的外壁设有外螺纹31，紧固件3的上端是圆头32。
请参考图2，支撑件2是中空柱，支撑件2的高度满足支撑件2上部与电子探针的探头间的距离为标准工作距离，所述支撑件2的内壁设有内螺纹21，内螺纹21与外螺纹31相适配。
支撑件2的上部转动连接有固定板5，固定板5包括转动部51和固定部52，且一体成型，所述转动部51套在支撑件2上部，所述转动部51上有一凹槽511，所述紧固件3的圆头32卡在转动部51的凹槽511内，所述固定部52呈V形。
底座1上开有螺纹底孔(图中未示出)，所述螺纹底孔在底座1上均匀分布，螺纹底孔与紧固件3的下端相适配。
金属弹簧4的内径、强度与样品的重量尺寸相适配，所述样品放置在金属弹簧4的中间时，样品的底端能保持悬空状态。
工作过程：通过紧固件3将支撑件2与底座1上不同的螺纹底孔相连固定来适应样品的尺寸。根据样品的尺寸和重量选择合适强度和内径的金属弹簧4，使将样品放入金属弹簧4时，样品和挤压的金属弹簧4的高度之和与支撑件2的高度相适配，使样品的表面与支撑件2上部相平，且样品的底端悬空。
将金属弹簧4放置在底座1上，并在金属弹簧4的外侧对称放置支撑件2支撑件2在底座1上的位置根据样品的大小进行选择，然后将紧固件3插入支撑件2内将支撑件2固定，紧固件3的高度高于支撑件2，转动紧固件3，通过内螺纹21与外螺纹31的配合，紧固件3向下移动至紧固件3的下端进入位于底座1上对应的螺纹底孔，并通过紧固件3下端的外螺纹31和螺纹底孔的配合实现固定，转动固定板5，使固定部52的V形尖端相远离，将样品放置在金属弹簧4中，样品底端悬空，转动固定板5，使固定部52的V形尖端相对，进而将样品固定。
固定部52呈V形，且将尖端用于固定，既能达到固定效果，又能对样品的影响降至最低。
本发明应用于电子探针样品载物台放置测试样品，可适用于多种型号的电子探针；提高了电子探针测样效率，可以对不规则样品进行良好固定，不会对仪器真空度等造成影响；同时，解决了放置不规则样品和大体积样品的难题；方法简单而有效，制作工艺也并不复杂，十分有利于各领域的一些不规则但不能进行二次加工、破坏的样品进行电子探针精确主量分析，有利于其进一步进行科学研究，为进行科研工作提供了良好的前提条件，为分析测试带来极大便利，具有良好的应用前景。
在本文中，所涉及的前、后、上、下等方位词是以附图中零部件位于图中以及零部件相互之间的位置来定义的，只是为了表达技术方案的清楚及方便。应当理解，所述方位词的使用不应限制本申请请求保护的范围。
在不冲突的情况下，本文中上述实施例及实施例中的特征可以相互结合。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (4)
1.电子探针不规则样品载物台，其特征在于，包括底座、支撑件、紧固件和金属弹簧，所述金属弹簧的内径与样品的尺寸相适配，将金属弹簧放置在底座上，所述金属弹簧的外侧对称设置有支撑件，所述支撑件通过紧固件固定在底座上，所述支撑件的高度满足支撑件上部与电子探针的探头间的距离为标准工作距离，所述支撑件的上部转动连接有固定板，将样品放置在金属弹簧中，此时样品和挤压的金属弹簧的高度之和与支撑件的高度相适配，使样品的表面与支撑件上部相平，且样品的底端悬空，转动固定板将样品的上端固定。
2.根据权利要求1所述的电子探针不规则样品载物台，其特征在于，所述支撑件是中空柱，所述支撑件的内壁设有内螺纹，所述紧固件的外壁设有与内螺纹相适配的外螺纹，所述底座上开有与紧固件的下端相适配的螺纹底孔，所述螺纹底孔在底座上均匀分布，将支撑件放置在底座上，所述支撑件在底座上的位置根据样品的大小进行选择，再通过将紧固件插入支撑件中，并转动至紧固件的下端固定在对应的螺纹底孔中，即将支撑件固定。
3.根据权利要求1所述的电子探针不规则样品载物台，其特征在于，所述金属弹簧的内径和强度根据样品的大小和重量进行选择。
4.根据权利要求1所述的电子探针不规则样品载物台，其特征在于，所述固定板包括转动部和固定部，且一体成型，所述转动部套在支撑件上部，所述转动部上有一凹槽，所述紧固件的上端卡在转动部的凹槽内，所述固定部呈V形，样品需要固定时，转动所述转动部，使固定部的V形尖端相对，进而将样品固定，样品不需要固定时，转动所述转动部，使固定部的V形尖端相远离。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201810333036.XA CN108398451A (zh) | 2018-04-13 | 2018-04-13 | 电子探针不规则样品载物台 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201810333036.XA CN108398451A (zh) | 2018-04-13 | 2018-04-13 | 电子探针不规则样品载物台 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN108398451A true CN108398451A (zh) | 2018-08-14 |
Family
ID=63100154
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201810333036.XA Pending CN108398451A (zh) | 2018-04-13 | 2018-04-13 | 电子探针不规则样品载物台 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN108398451A (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109580911A (zh) * | 2018-12-03 | 2019-04-05 | 长春黄金研究院有限公司 | 一种不规则样品载物台 |
| CN112611772A (zh) * | 2020-12-02 | 2021-04-06 | 沪东中华造船(集团)有限公司 | 一种新型xrd石棉样品检测承载台 |
Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR1388778A (fr) * | 1963-11-28 | 1965-02-12 | Euratom | Porte-échantillons pour analyses au microanalyseur à sonde électronique |
| JPH08254488A (ja) * | 1995-03-17 | 1996-10-01 | Nec Corp | 二重収束型二次イオン質量分析装置用試料ホルダー |
| CN201653939U (zh) * | 2010-03-23 | 2010-11-24 | 上海梅山钢铁股份有限公司 | 一种x衍射用多尺寸固体块状样品分析台 |
| CN202495417U (zh) * | 2012-03-31 | 2012-10-17 | 上海华力微电子有限公司 | 应用于扫描电子显微镜的样品座 |
| JP2013061306A (ja) * | 2011-09-15 | 2013-04-04 | Rigaku Corp | 蛍光ｘ線分析用試料ホルダ |
| CN105527307A (zh) * | 2015-12-31 | 2016-04-27 | 大冶特殊钢股份有限公司 | 一种适用于金属质量分析仪试样的样品架 |
| CN205861581U (zh) * | 2016-07-05 | 2017-01-04 | 陕西法士特汽车传动集团有限责任公司 | 一种可调节电子探针用样品座 |
| CN206497043U (zh) * | 2017-02-20 | 2017-09-15 | 华中科技大学 | 用于激光诱导击穿光谱分析仪的高度自适应样品夹持装置 |
-
2018
- 2018-04-13 CN CN201810333036.XA patent/CN108398451A/zh active Pending
Patent Citations (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR1388778A (fr) * | 1963-11-28 | 1965-02-12 | Euratom | Porte-échantillons pour analyses au microanalyseur à sonde électronique |
| JPH08254488A (ja) * | 1995-03-17 | 1996-10-01 | Nec Corp | 二重収束型二次イオン質量分析装置用試料ホルダー |
| CN201653939U (zh) * | 2010-03-23 | 2010-11-24 | 上海梅山钢铁股份有限公司 | 一种x衍射用多尺寸固体块状样品分析台 |
| JP2013061306A (ja) * | 2011-09-15 | 2013-04-04 | Rigaku Corp | 蛍光ｘ線分析用試料ホルダ |
| CN202495417U (zh) * | 2012-03-31 | 2012-10-17 | 上海华力微电子有限公司 | 应用于扫描电子显微镜的样品座 |
| CN105527307A (zh) * | 2015-12-31 | 2016-04-27 | 大冶特殊钢股份有限公司 | 一种适用于金属质量分析仪试样的样品架 |
| CN205861581U (zh) * | 2016-07-05 | 2017-01-04 | 陕西法士特汽车传动集团有限责任公司 | 一种可调节电子探针用样品座 |
| CN206497043U (zh) * | 2017-02-20 | 2017-09-15 | 华中科技大学 | 用于激光诱导击穿光谱分析仪的高度自适应样品夹持装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN109580911A (zh) * | 2018-12-03 | 2019-04-05 | 长春黄金研究院有限公司 | 一种不规则样品载物台 |
| CN112611772A (zh) * | 2020-12-02 | 2021-04-06 | 沪东中华造船(集团)有限公司 | 一种新型xrd石棉样品检测承载台 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN108398451A (zh) | 电子探针不规则样品载物台 | |
| US6698105B2 (en) | Tool and method for measuring depth of countersunk portion of a hole | |
| CN107064104A (zh) | 一种便携式微型拉曼光谱仪非接触一体化采样装置 | |
| CN208255103U (zh) | 电子探针不规则样品载物台 | |
| US20080184583A1 (en) | Micrometer-based measuring system and method of using same | |
| CN107036504A (zh) | 一种壁厚测量装置及测量方法 | |
| KR20180071035A (ko) | 연신율 측정장치 | |
| CN105527307B (zh) | 一种适用于金属质量分析仪试样的样品架 | |
| CN208721319U (zh) | 一种质心测量装置 | |
| CN208476151U (zh) | 一种螺纹孔检测量规 | |
| CN208269777U (zh) | 减薄测量台及其系统 | |
| CN209399897U (zh) | 宝石元件球面凹槽中细微孔长度的测量针 | |
| CN202532120U (zh) | 支撑架 | |
| CN105136102B (zh) | 金属材料变形量试验箱及其检测方法 | |
| CN210441775U (zh) | 一种位置度检测装置 | |
| CN206291842U (zh) | 一种冲击试样侧向膨胀量测试工装 | |
| CN209085483U (zh) | 锥面跳动量规 | |
| CN209877933U (zh) | 一种球头内锥孔粗糙度测量装置 | |
| CN208432199U (zh) | 一种新型孔径检测治具、孔径测量高度规 | |
| CN207832411U (zh) | 一种回弹仪的弹簧组件的检测装置 | |
| DE595480C (de) | Toleranzmessgeraet | |
| CN215524486U (zh) | 一种平面度检具 | |
| TWI398620B (zh) | 量測裝置及量測方法 | |
| CN109443299B (zh) | 一种球头内锥孔粗糙度测量装置 | |
| CN218524075U (zh) | 一种安瓿测量装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20180814 |