CN108267105A - 一种活动式探洞测深装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种活动式探洞测深装置,包括测深支架、检测孔、测深装置、测深控制器;所述测深装置配合固定在所述测深支架上;在所述测深支架的底面,对应所述测深装置检测方向的位置,配合设置所述检测孔,使所述测深装置能够通过所述检测孔检测到所述测深支架下方的探洞;所述测深装置包括升降装置、测深部件;所述测深部件是编码器;通过测量升降装置的行程,测量出探洞的深度。

Description

一种活动式探洞测深装置
技术领域
本发明涉及电子及机械设备领域,尤其是一种活动式探洞测深装置。
背景技术
有些施工中,制作了很多探洞,但探洞回填往往不及时、甚至不回填;既有管理因素、经济因素,也与缺乏探洞清理设备有一定的关系。
在进行探洞回填时,获得探洞的直径、深度后,根据探洞的直径、深度能够计算出探洞的体积,进一步可以计算出探洞回填需要的物料的体积。施工时,不同的探洞的深度有差异,为了获得较好的回填效果,需要测量出探洞的深度。
发明内容
技术问题:
针对现有技术存在的缺陷,本发明提出一种活动式探洞测深装置,能够测量出探洞的深度。
技术方案:
为实现上述目的,本发明提出一种活动式探洞测深装置,包括测深支架、检测孔、测深装置、测深控制器;
所述测深支架包括底面;
在所述测深支架的底面,对应所述测深装置检测方向的位置,配合设置所述检测孔,使所述测深装置能够通过所述检测孔检测到所述测深支架下方的探洞;
所述测深装置配合固定在所述测深支架上;
所述测深控制器与所述测深支架配合固定;
所述测深控制器是计算机控制器或线路控制装置;
所述测深控制器与外部控制器和/或电源配合连接;
所述测深控制器与所述测深装置配合连接;
所述测深装置包括升降装置、测深部件;
所述升降装置配合固定在所述测深支架的立面上;所述升降装置的运动方向,垂直于所述测深支架的底面;
所述升降装置包括:升降装置驱动机构、升降装置传动机构、升降装置引导部件、升降装置活动部件;
所述升降装置驱动机构、所述升降装置传动机构、所述升降装置引导部件、所述升降装置活动部件配合设置;
所述升降装置驱动机构通过所述升降装置传动机构带动所述升降装置活动部件在所述升降装置引导部件上运动;
所述测深部件包括测深检测装置;
所述测深检测装置与所述升降装置配合固定。
进一步的,所述测深检测装置是编码器。
进一步的,所述测深检测装置是光栅尺。
进一步的,所述活动式探洞测深装置还包括进洞检测装置、进洞检测部件;所述进洞检测装置与所述测深支架配合固定设置;所述进洞检测部件与所述升降装置活动部件配合固定设置;
所述进洞检测装置与测深控制器配合连接;
所述进洞检测部件到达所述进洞检测装置位置时,所述进洞检测装置向外部发送检测到信号。
所述进洞检测装置包括限位开关或微动开关或接近开关之一。
进一步的,所述进洞检测部件为凸起或凹陷,凸起的高度(凹陷的深度)使其进入或离开所述进洞检测装置的检测区域时,能够引起所述进洞检测装置检测信号的编号。
进一步的,所述进洞检测部件和/或所述进洞检测装置能够调整上下位置。
进一步的,所述测深检测装置通过通信线路或模拟信号或脉冲信号向外部传输测量结果。
进一步的,还包括接触检测装置;所述测深探测部件的前端固定设置所述接触检测装置,用于检测接触探洞底部;所述接触检测装置与所述测深控制器配合连接。
技术效果:
本发明提出的活动式探洞测深装置,提供了一种活动式探洞测深装置,能够测量出探洞的深度。
附图说明
图1是本发明的活动式探洞测深装置的一种实施例的结构示意图:
151.测深支架,152.检测孔,153.测距仪,154.测深控制器,155.连接线。
图2是本发明的活动式探洞测深装置的另一种实施例的结构示意图:
151.测深支架,152.检测孔,154.测深控制器,155.连接线,156.升降装置驱动机构,157.升降装置传动机构,160.升降装置引导部件,161.升降装置活动部件,162.编码器,163.测深探测部件。
图3是本发明的活动式探洞测深装置的另一种实施例的结构示意图:
151.测深支架,152.检测孔,154.测深控制器,155.连接线,156.升降装置驱动机构,157.升降装置传动机构,160.升降装置引导部件,161.升降装置活动部件,162.编码器,163.测深探测部件,164.限位开关。
图4是本发明的活动式探洞测深装置的另一种实施例的结构示意图:
151.测深支架,152.检测孔,154.测深控制器,155.连接线,156.升降装置驱动机构,157.升降装置传动机构,160.升降装置引导部件,161.升降装置活动部件,162.编码器,163.测深探测部件,164.限位开关,165.接近开关,166.进洞检测部件。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步的详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
实施用例一
如图1所示,是本发明的一种活动式探洞测深装置的一种实施例的结构示意图,包括测深支架151、检测孔152、测距仪153、测深控制器154、连接线155。
所述测深支架151包括底面,用于固定所述活动式探洞测深装置的其他部件;
在所述测深支架151的底面,对应所述测深装置检测方向的位置,配合设置所述检测孔152,使所述测距仪153能够通过所述检测孔152检测到所述测深支架151下方的探洞;所述检测孔152的边沿是封闭式或开放式,优选的是封闭式;
所述测距仪153配合固定在所述测深支架151上;
所述测深控制器154配合固定所述测深支架151上;
所述测深控制器154是计算机控制器,是现有技术;
所述连接线155是连接活动式探洞测深装置内部各部件及外部设备的线路的总和;
所述测深控制器154通过连接线155与外部控制器和/或电源配合连接;
所述测深控制器154通过所述连接线155与所述测距仪153配合连接。
所述测深装置包括测距仪153;所述测距仪153包括超声波测距仪153或激光测距仪153或红外测距仪153或电磁波测距仪153之一,优选的为激光测距仪153。
所述测距仪153通过通信线路或模拟信号向外部传输测量结果,优选的通过模拟信号向外部传输测量结果;
测深控制器154接收测距仪153传输的测量结果。
测深控制器154通过通信线路或模拟信号向外部传输测量结果。
所有用电设备通过测深控制器154连接的电源装置供电;所述电源装置,是发电机和/或蓄电池供电系统和/或发电机与蓄电池联合供电系统;优选的是蓄电池供电系统。
使用时,激光测距仪153垂直于探洞方向,测量出距离,减去激光测距仪153距离地面的距离,获得探洞的深度。
实施用例二
如图2所示,是本发明的一种活动式探洞测深装置的另一种实施例的结构示意图,包括测深支架151、检测孔152、测深控制器154、连接线155、升降装置驱动机构156、升降装置传动机构157、升降装置引导部件160、升降装置活动部件161、编码器162、测深探测部件163。
实施用例二与实施用例一的不同在于,实施用例一的测深装置为测距仪153,实施用例二的测深装置为升降装置、测深探测部件163、测深检测装置;实施用例二的测深支架151还包括立面;
所述升降装置配合固定在所述测深支架151的立面上;所述升降装置的运动方向,垂直于所述测深支架151的底面;
所述升降装置包括:升降装置驱动机构156、升降装置传动机构157、升降装置引导部件160、升降装置活动部件161;
所述升降装置驱动机构156、所述升降装置传动机构157、所述升降装置引导部件160、所述升降装置活动部件161配合设置;
所述升降装置驱动机构156通过所述升降装置传动机构157带动所述升降装置活动部件161在所述升降装置引导部件160上运动;
所述升降装置是丝杆导轨式、牵引式、齿条式等结构,优选的是丝杆导轨式;
所述升降装置的动力及驱动机构与其配合设置;丝杆导轨式升降装置驱动机构156为与丝杆配合连接的电机,丝杆为其升降装置传动机构157,导轨为升降装置引导部件160;所述升降装置是现有技术。
所述测深探测部件163配合固定在升降装置活动部件161上,随着升降装置活动部件161的下降,深入到探洞内;所述测深探测部件163为刚性物体,前端为圆形或圆盘,直径大于3毫米,优选的,前端为圆盘,圆盘的直径为30毫米;工作时,测深探测部件163深入到探洞内。
所述测深检测装置163是编码器162或光栅尺,优选的是编码器162。
所述测深检测装置163配合固定在所述升降装置驱动机构156和/或升降装置传动机构157和/或升降装置活动部件161和/或测深支架151上。
编码器162或光栅尺与升降装置配合安装是现有技术。
编码器162或光栅尺与测深控制器154的配合连接是现有技术,编码器162或光栅尺与测深控制器154之间的连接线,是直接连接,或通过连接线155连接,优选的通过连接线155连接。
所述测深检测装置163通过通信线路或模拟信号或脉冲信号向外部传输测量结果。编码器162或光栅尺通过通信线路或模拟信号或脉冲信号向外部传输测量结果,优选的使用脉冲信号向外部传输测量结果。
工作时,人工判断所述测深探测部件163是否进入探洞,是否到达探洞底部;所述测深探测部件163进入探洞通过眼睛判断;所述测深探测部件163到达探洞底部,听声音或看升降装置下降受阻判断。
测深控制器154接收到进洞检测装置发送的进洞信号时,记录此时的位置,作为探洞顶部位置。
测深控制器154升降装置活动部件161到达探洞底部时的位置,作为探洞底部位置。
测深控制器154记录升降装置活动部件161进入探洞和到达探洞底部时的位置,计算两个位置之差的绝对值,获得探洞的深度。
实施用例三
如图3所示,是本发明的一种活动式探洞测深装置的另一种实施例的结构示意图,包括测深支架151、检测孔152、测深控制器154、连接线155、升降装置驱动机构156、升降装置传动机构157、升降装置引导部件160、升降装置活动部件161、编码器162、测深探测部件163、限位开关164。
实施用例三与实施用例二的不同在于,实施用例三还包括接触检测装置;所述接触检测装置包括限位开关164或微动开关或接近开关之一,优选是为限位开关164。所述限位开关164的检测端朝下设置,便于检测与探洞底部的接触。
所述测深探测部件163的前端固定设置限位开关164,用于检测接触探洞底部;所述限位开关164与测深控制器154配合连接。
升降装置下降时,测深控制器154接收到限位开关164接触到探洞底部的信号后,停止升降装置的下降,记录此时升降装置活动部件161的位置。
实施用例四
如图4所示,是本发明的一种活动式探洞测深装置的另一种实施例的结构示意图,包括测深支架151、检测孔152、测深控制器154、连接线155、升降装置驱动机构156、升降装置传动机构157、升降装置引导部件160、升降装置活动部件161、编码器162、测深探测部件163、限位开关164、接近开关165、进洞检测部件166。
实施用例四与实施用例二、三的不同在于,实施用例四还包括进洞检测装置(接近开关165)、进洞检测部件166;所述接近开关165与所述测深支架配合固定设置;所述进洞检测部件166与所述升降装置活动部件配合固定设置;
所述接近开关165与测深控制器154配合连接;
所述接近开关165包括限位开关或微动开关或接近开关165之一,优选的是接近开关165。
所述进洞检测部件166是固定在所述升降装置活动部件161上的金属部件,或是所述升降装置活动部件161上某个部位。
在升降装置活动部件161上,配合设置一个信号标记(称作进洞检测部件166);进洞检测部件166为金属凸起或凹陷,凸起的高度(凹陷的深度)大于接近开关165的量程,使活动式探洞测深装置的活动不仅进入探洞时,接近开关165检测到进洞检测部件166,向外部发送信号;优选的设置金属凸起;
可选的,信号标记能够调整上下位置;信号标记能够调整上下位置,优选的,信号标记能够调整上下位置。
测深控制器154收到接近开关165发送的信号后,记录此时升降装置活动部件161的位置,作为探洞口的位置。
本发明提供了一种活动式探洞测深装置,能够测量出探洞的深度。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种活动式探洞测深装置,其特征在于:包括测深支架、检测孔、测深装置、测深控制器;
所述测深支架包括底面;
在所述测深支架的底面,对应所述测深装置检测方向的位置,配合设置所述检测孔,使所述测深装置能够通过所述检测孔检测到所述测深支架下方的探洞;
所述测深装置配合固定在所述测深支架上;
所述测深控制器与所述测深支架配合固定;
所述测深控制器是计算机控制器;
所述测深控制器与外部控制器和/或电源配合连接;
所述测深控制器与所述测深装置配合连接;
所述测深装置包括升降装置、测深部件;
所述升降装置配合固定在所述测深支架的立面上;所述升降装置的运动方向,垂直于所述测深支架的底面;
所述升降装置包括:升降装置驱动机构、升降装置传动机构、升降装置引导部件、升降装置活动部件;
所述升降装置驱动机构、所述升降装置传动机构、所述升降装置引导部件、所述升降装置活动部件配合设置;
所述升降装置驱动机构通过所述升降装置传动机构带动所述升降装置活动部件在所述升降装置引导部件上运动;
所述测深部件包括测深检测装置;
所述测深检测装置与所述升降装置配合固定。
2.根据权利要求1所述的活动式探洞测深装置,其特征在于:所述测深检测装置是编码器。
3.根据权利要求1所述的活动式探洞测深装置,其特征在于:所述测深检测装置是光栅尺。
4.根据权利要求1-3之一所述的活动式探洞测深装置,其特征在于:还包括进洞检测装置、进洞检测部件;所述进洞检测装置与所述测深支架配合固定设置;所述进洞检测部件与所述升降装置活动部件配合固定设置;
所述进洞检测装置与测深控制器配合连接;
所述进洞检测部件到达所述进洞检测装置位置时,所述进洞检测装置向外部发送检测到信号。
5.根据权利要求4所述的活动式探洞测深装置,其特征在于:所述进洞检测装置包括限位开关或微动开关或接近开关之一。
6.根据权利要求5所述的活动式探洞测深装置,其特征在于:所述进洞检测部件为凸起或凹陷,凸起的高度(凹陷的深度)使其进入或离开所述进洞检测装置的检测区域时,能够引起所述进洞检测装置检测信号的编号。
7.根据权利要求6所述的活动式探洞测深装置,其特征在于:所述进洞检测部件和/或所述进洞检测装置能够调整上下位置。
8.根据权利要求1-3之一所述的活动式探洞测深装置,其特征在于:还包括接触检测装置;
所述测深探测部件的前端固定设置所述接触检测装置,用于检测接触探洞底部;所述接触检测装置与所述测深控制器配合连接。
9.根据权利要求4所述的活动式探洞测深装置,其特征在于:还包括接触检测装置;
所述测深探测部件的前端固定设置所述接触检测装置,用于检测接触探洞底部;所述接触检测装置与所述测深控制器配合连接。
10.根据权利要求9所述的活动式探洞测深装置,其特征在于:所述接触检测装置包括限位开关或微动开关或接近开关之一。
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