CN108225199A - 数字无线测隙规 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种数字无线测隙规。具体而言，一种测隙规，包括多个测隙叶片和光学传感器。该多个测隙叶片中的各个围绕轴线在测量位置和非测量位置之间旋转。该多个测隙叶片中的各个包括：测量部分，其构造成插入待测量的间隙；以及近侧端部，其具有其上的相应测隙叶片的厚度指示。光学传感器从一个或多个测隙叶片中的各个的相应厚度指示来光学地确定展开在测量位置中的多个测隙叶片中的一个或多个。

Description

数字无线测隙规

技术领域

本文公开的主题涉及用于测量间隙或间隔的规，且更特别地涉及用于测量、记录和/或传输间隙或间隔数据的数字测隙规。

背景技术

测隙规在许多工业场景中广泛使用。例如，测隙规可用于联接的旋转设备中，诸如燃气、蒸汽、风力和水力涡轮系统，以精确地测量间隙或间隔。间隙或间隔的测量准确性可特别重要。例如，燃气涡轮系统和其他工业场景中的常规维护、振动减轻和过程优化可严重依赖此间隙或间隔的测量准确性。测隙规通常是手持装置，其具有若干堆叠的伸长测隙叶片(具有多种厚度)。测隙叶片中的一个或多个可延伸到测量位置中且用于测量间隙或间隔的厚度。测量然后通常由测隙规的用户确定和记录。典型测隙规的手动性质为测量、记录和传递间隙信息中的人为误差留有余地，且不允许快速电子访问当前和趋势间隙数据。此外，人为误差可在测量错误间隙或间隔时出现，而对下一工作步骤可能产生昂贵的结果。

发明内容

本文公开的某些实施例的概述在下文阐述。应当理解的是，这些方面仅呈现成为读者提供这些某些实施例的简要概述，且这些方面不意在限制该公开的范围。实际上，该公开可包含多种方面，其可不在下面阐述。

在第一实施例中，一种测隙规，包括多个测隙叶片和光学传感器系统。该多个测隙叶片中的各个围绕轴线在测量位置和非测量位置之间旋转。该多个测隙叶片中的各个包括：远侧端部，其构造成插入待测量的间隙；以及近侧端部，其具有其上的相应测隙叶片的厚度指示。光学传感器从该一个或多个测隙叶片中的各个的相应厚度指示光学地确定展开在测量位置中的该多个测隙叶片中的一个或多个。

在第二实施例中，一种有形非暂时性且计算机可读介质包含存储在其上的指令。当在处理器上执行时，指令构造成引起处理器从光学传感器接收信号，其指示展开在测量位置中的测隙规的一个或多个测隙叶片。指令还引起处理器至少部分地基于信号来确定该一个或多个测隙叶片的总体厚度。此外，指令引起处理器来引起经由电子显示器的总体厚度的显示。

在第三实施例中，一种构造成测量间隙的厚度的测隙规，包括壳体和多个测隙叶片。该多个测隙叶片构造成围绕轴线在测量位置和封装位置之间旋转。该多个测隙叶片中的各个测隙叶片包括相测隙叶片的厚度的光学指示。测隙规包括：光学传感器，其构造成探测厚度的光学指示；和定向传感器，其构造成探测测隙规的定向。测隙规包括显示器，其构造成显示该多个测隙叶片处于测量位置中的测隙叶片的总体厚度。

技术方案1. 一种测隙规，包括：

多个测隙叶片，其中，多个测隙叶片的各个测隙叶片围绕轴线在测量位置和非测量位置之间旋转，且所述多个测隙叶片中的各个包括：

测量部分，其构造成插入待测量的间隙中；和

近侧端部，在其上具有所述多个测隙叶片中的相应测隙叶片的厚度指示；以及

光学传感器，其从所述一个或多个测隙叶片的相应厚度指示来光学地确定展开在所述测量位置中的所述多个测隙叶片中的一个或多个测隙叶片。

技术方案2. 根据技术方案1所述的测隙规，其特征在于，光学地确定展开的所述多个测隙叶片中的一个或多个测隙叶片包括，确定所述多个测隙叶片中的哪个保留在封装位置中，以间接地确定所述多个测隙叶片中的哪个已经被展开。

技术方案3. 根据技术方案1所述的测隙规，其特征在于，所述厚度指示包括构造成阻挡光的障碍。

技术方案4. 根据技术方案3所述的测隙规，其特征在于，所述光学传感器包括：

发射器，其构造成发射光；和

探测器，其构造成探测从所述发射器发射的光，除非所述多个测隙叶片中的测隙叶片的障碍阻挡从所述探测器发射的光。

技术方案5. 根据技术方案3所述的测隙规，其特征在于，所述厚度指示包括布置在可能的孔地点的栅格中的多个孔，且所述障碍对应于在可能的孔地点不存在孔的地点。

技术方案6. 根据技术方案5所述的测隙规，其特征在于，所述光学传感器包括构造成发射光的多个发射器，且其中，所述多个发射器中的各个发射器位于这样的位置中，该位置构造成将光传输至所述可能的孔地点中的一个可能的孔地点。

技术方案7. 根据技术方案5所述的测隙规，其特征在于，所述多个测隙叶片中的各个测隙叶片具有在所述栅格内与所述多个测隙叶片中的其他测隙叶片的障碍不同的可能的地点处的障碍。

技术方案8. 根据技术方案1所述的测隙规包括处理器，其构造成确定所述一个或多个测隙叶片的总体厚度。

技术方案9. 根据技术方案1所述的测隙规包括陀螺仪，其构造成确定所述测隙规的定向。

技术方案10. 根据技术方案9所述的测隙规包括显示器，其构造成显示所述一个或多个测隙叶片的总体厚度，其中，所述显示器构造成在所述定向不匹配对应于预期测量地点的预期定向时显示警告。

技术方案11. 根据技术方案1所述的测隙规，其特征在于，各个厚度指示包括条形码或快速响应(QR)或RFID码，其指示所述多个测隙叶片中的相应测隙叶片的厚度。

技术方案12. 一种有形非暂时性且计算机可读介质，具有存储在其上的指令，所述指令在由处理器运行时构造成引起所述处理器：

从光学传感器接收信号，其指示展开在测量位置中的测隙规的一个或多个测隙叶片；

至少部分地基于所述信号来确定所述一个或多个测隙叶片的总体厚度；以及

引起经由电子显示器而显示所述总体厚度。

技术方案13. 根据技术方案12所述的有形非暂时性且计算机可读介质，其特征在于，所述指令构造成引起所述处理器将所述总体厚度经由无线连接而传输至远程装置。

技术方案14. 根据技术方案13所述的有形非暂时性且计算机可读介质，其特征在于，所述无线连接包括802.11无线连接、802.15.4无线连接、蓝牙无线连接、蓝牙低能量(BLE)、或其任何组合。

技术方案15. 根据技术方案12所述的有形非暂时性且计算机可读介质，其特征在于，确定所述一个或多个测隙叶片的总体厚度包括，至少部分地基于来自所述光学传感器的信号，在存储器中的查找表中查找所述总体厚度。

技术方案16. 根据技术方案12所述的有形非暂时性且计算机可读介质，其特征在于，确定所述总体厚度包括，解码来自光学地扫描的条形码或快速响应(QR)或RFID码的信号，以获得所述总体厚度。

技术方案17. 一种测隙规，其构造成测量间隙的厚度，其中，所述测隙规包括：

壳体；

多个测隙叶片，其构造成围绕轴线在测量位置和所述壳体内的封装位置之间旋转，其中，所述多个测隙叶片中的各个测隙叶片包括相应测隙叶片的光学厚度指示；

光学传感器，其构造成探测所述光学厚度指示；

定向传感器，其构造成探测所述测隙规的定向；以及

显示器，其构造成显示所述多个测隙叶片处于所述测量位置中的测隙叶片的总体厚度。

技术方案18. 根据技术方案17所述的测隙规，其特征在于，所述光学传感器包括：

发射器，其构造成发射光；和

探测器，其构造成在所述多个测隙叶片中的相应测隙叶片处于所述测量位置时探测光，其中，所述相应测隙叶片的厚度指示包括障碍，其构造成在所述相应测隙叶片处于所述封装位置时阻挡从所述探测器发射的光。

技术方案19. 根据技术方案17所述的测隙规，其特征在于，所述定向传感器包括陀螺仪。

技术方案20. 根据技术方案17所述的测隙规，其特征在于，所述显示器构造成在所述定向不匹配预期定向时显示警告。

附图说明

本公开的这些和其他特征、方面和优点在参照附图阅读以下详细描述时将变得更好理解，在附图中相似的标号贯穿附图表示相似的部分，其中：

图1是测隙规的实施例的顶视图，测隙规具有在各个相应叶片上的厚度的光学指示。

图2是图1的测隙规的厚度探测系统的实施例的截面视图。

图3是经由无线连接从图1的测隙规传输间隙测量数据的示意图。

图4是用于测量联接间隙的图1的测隙规的透视图。

图5是确定和传输间隙测量数据的方法的流程图，图1的测隙规的实施例的存储器中的指令可引起测隙规的处理器执行该方法。

零件清单

10 测隙规

12 壳体

14 测隙叶片(多个)

16 测隙叶片的远侧端部

18 测隙叶片的近侧端部

20 旋转以测量位置

22 厚度指示

24 光学传感器

26 定向传感器

28 处理器

30 存储器

31 接收器

32 传输器

34 电子显示器

36 厚度探测系统

38 轴线

40 径向轴线

42 铰链

50 发射器(多个)

52 探测器(多个)

54 光

56 可能的孔位置/栅格的开孔

58 栅格的遗漏孔/障碍

70 无线传输

72 远程计算装置

74 云平台

80 联接件

82 联接间隙

84 测量叶片(多个)

86 位置

100 方法

102 从光学传感器接收信号

104 确定总体厚度

106 引起显示总体厚度

108 引起传输总体厚度。

具体实施方式

将在下文描述一个或多个具体实施例。为了提供这些实施例的简要描述，并非实际实施方式的所有特征都在说明书中的描述。应了解的是，在任何此实际实施方式的开发中，如在任何工程或设计项目中的那样，必须进行许多针对实施方式的决定以实现开发者的具体目标，诸如符合系统相关以及商业相关的约束，这可从一个实施方式到另一个实施方式变化。此外，应了解的是，这种开发努力可为复杂且耗时的，但对于那些受益于本公开的普通技术人员而言，将不过是设计、加工和制造的例行工作。

在介绍本公开的各种实施例的元件时，冠词“一个”、“一种”、“该”和“所述”意在表示存在一个或多个该元件。用语“包括”、“包含”和“具有”意在为包括性的且表示除了列出的元件之外还可有额外元件。

如下文详细论述的那样，公开的实施例提供测隙规，其用于在各种环境(例如，燃气涡轮系统)中的间隙、间隔、空间等。应理解的是，测隙规可用于需要间隙和/或间隔的任何场景中。公开的实施例包括测隙叶片，测隙叶片具有厚度指示，其可由测隙规的光学传感器读取或确定。测隙规可构造成在一个或多个测隙叶片用于测量时确定测量的间隙或间隔的总体厚度。测隙规可构造成经由定向传感器来辨别测隙规的定向，定向传感器可指示关于可能测量的间隙的位置或地点。测隙规可构造成显示间隙测量数据且/或将间隙无线地传输至一个或多个远程计算装置。此外，测量数据可传输至云存储或计算平台(例如，iCloud、Predix)来由任何用户访问。

现在转到附图，图1是测隙规10的实施例的侧视图。测隙规10可包括：多个测隙叶片14，其构造成测量间隙或间隔；和壳体12，其构造成封装不延伸到测量位置中的测隙叶片14。展开在测量位置的测隙叶片14可通过首先确定哪个测隙叶片14没有展开来间接地确定。该测隙叶片14可为平坦、柔性、伸长的长度，各自具有多种厚度且以允许精确测量间隙的逻辑布置。在测隙规10的实施例中提供的测隙叶片14的数目、形状、长度和具体厚度可基于各种因素而改变，诸如待使用测隙规10测量的间隙或间隔的地点或类型。例如，为了测量燃气和蒸汽涡轮系统的转子的联接间隙，测隙规10可包括任何数目的(例如，十三)测隙叶片14，其为特定长度(例如，140mm长)而具有变化厚度的测隙叶片14。在一些实施例中，测隙叶片14的厚度可包括0.40mm、0.50mm、0.60mm、0.61mm、0.62mm、0.63mm、0.64mm、0.65mm、0.70mm、0.66mm、0.67mm、0.68mm、0.69mm。然而，任何组合的测隙叶片14厚度可选择成用于特定测量领域(例如，燃气涡轮)中的大体或特定用途。例如，测隙叶片14厚度可选择成使得此时仅需要2个叶片以用于联接件平行性测量。在一些实施例中，测隙叶片14可在分级厚度布置中堆叠。在一些实施例中，测隙叶片14可以以特殊方式堆叠，以优化测量的准确性。在一些实施例中，最厚的测隙叶片14可位于朝向测隙规10的中间，由于较大厚度造成降低的灵活性。测隙叶片14可具有变化的厚度。在一些实施例中，至少一些测隙叶片14可具有相同厚度。在其他实施例中，各个测隙叶片14具有不同厚度。测隙叶片14之间的厚度变化可增量一致，或可按增量变化。在各测隙叶片14之间的厚度增量(例如，0.01mm)可允许测量的较大准确性。如之前所述，测隙规10的测隙叶片14可包括任何数目的测隙叶片14和任何长度的测隙叶片14。在一些实施例中，测隙叶片14可采用适合于进一步处于外间隙内的地点处的测量的长度。在一些实施例中，测隙叶片14可反映不同测量范围的组合，以便延伸可用一个仪器测量的间隙的范围。

各个测隙叶片14可具有：远侧端部16，其构造成插入间隙中；和近侧端部18。额外或备选地，测隙叶片14的任何部分(例如，一侧)可插入待测量的间隙中。近侧端部18包括厚度指示22。厚度指示22可为若干类型的指示器中的任一者。在所示的实施例中，测隙叶片14的厚度指示22可为一系列孔，其形成栅格。在该构造中，在各个测隙叶片14上可存在栅格中的空间或部分遗漏或填充，以指示相应测隙叶片14的厚度。厚度指示22可为任何其他类型的指示器，诸如条形码、快速响应(QR)码、一系列凸起或脊、或译成二进制信息的任何其他形式。测隙叶片14的厚度指示22可构造成由测隙规10的光学传感器24光学地扫描。光学传感器24可定位在测隙规10的壳体12中，可与测隙叶片14的厚度指示22组合而可包括为测隙规10的厚度探测系统36的一部分。厚度探测系统36(如下文参照图2所论述的那样)可构造成使用光学传感器24光学地扫描测隙叶片14的厚度指示22，以确定测隙规10的哪一个或多个测隙叶片14处于测量位置中，以指示间隙的厚度。定向码(例如，R、L和T)可在显示器上示出，直到该值发送至装置或云存储或Predix。

测隙规10可包括定向传感器26(例如，陀螺仪)，其可构造成当一个或多个测隙叶片14处于测量位置中时探测测隙规10的定向。在一些实施例中，定向传感器26可位于测隙规10的壳体12中的任何地点处。使用探测的定向，测隙规10可确保测隙规10处于对应于当前进行测量的测量定向中。换句话说，测隙规10可确保测量在适当的地点和以适当的方式进行。

测隙规10可包括处理器28、存储器30、接收器31和传输器32，且构造成经由电子显示器34显示间隙厚度，且使用无线连接将厚度数据和/或定向数据传输到远程计算装置。存储器30可包括有形非暂时性且计算机可读介质，诸如只读存储器(ROM)或随机存取存储器(RAM)。存储器30包含可在处理器28上运行的指令。当执行时，指令引起处理器28从光学传感器24接收信号，其可指示可在测量或延伸位置中的测隙规10的一个或多个测隙叶片14。指令可引起处理器28确定处于测量位置中的该一个或多个测隙叶片14的总体厚度。处理器28至少部分地基于从光学传感器24接收的信号来进行该确定，该信号指示在测量位置中延伸的(例如，不在封装位置中的)该一个或多个测隙叶片14。确定可处于测量位置中的该一个或多个测隙叶片14的总体厚度，可包括，至少部分地基于来自光学传感器24的信号，在存储在存储器30中的查找表中查找总体厚度。存储器30还可用于存储测量。存储器30还可为可扩展的和/或可替代的。例如，存储器30可包括存储器条(例如，闪存驱动器)，其可移除地插入测隙规10中。接收器31将允许测隙规10的处理器28经由显示器34产生和显示消息至用户，显示器34上有下一测量点、地点、定向、预期值以及协助操作者使用测隙规的其他相关信息。在某些实施例中，处理器28可构造成确定封装的测隙叶片14是否处于这样的位置中(例如，完全在壳体内)，使得各个测隙叶片14的厚度指示22的相应可能的孔地点(多个)56对准成用于适当测量。确保封装的测隙叶片14完全处于封闭位置中的对于处理器28的一种方式是，壳体12的宽度和形状定轮廓至处于封装位置的测隙叶片14的宽度和/或形状。如果确定不处于测量位置的一个或多个测隙叶片14不完全处于封装位置，则处理器28可构造成经由显示器34引起显示错误消息。处理器28可通过寄存在传感器处接收的光不超过阀值(例如，少于传输到孔地点的亮度的90%)来确定一个或多个测隙叶片14不完全处于测量位置。

由于测隙叶片14的厚度指示22可包括构造成光学地扫描的任何类型的指示器(诸如，孔的栅格、条形码、快速响应(QR)和射频识别(RFID)码、或一系列凸起或脊)，处于测量位置中的测隙叶片14的总体厚度的确定可包括解码来自光学地扫描的条形码或快速响应(QR)和RFID码的信号。存储在存储器30中的指令可引起处理器28引起经由电子显示器34来显示在测量位置中延伸的该一个或多个测隙叶片14的确定的总体厚度。额外或备选地，处理器28可确定，经由定向传感器26确定的定向是否匹配预期测量定向。当确定的定向不匹配预期的测量定向，处理器28可引起电子显示器34显示定向不正确的指示。例如，指示器，诸如感叹号、X、或任何其他符号可用于指示定向不如预期，或显示的值可闪烁。

指令还可引起处理器28引起总体厚度和/或定向数据经由无线连接传输至远程计算装置。无线连接可为802.11无线连接、802.15.4无线连接、蓝牙无线连接、蓝牙低能量(BLE)无线连接、或其任何组合。

壳体12在一个端部处可包括铰链42，其构造成将多个测隙叶片14可旋转地联接至壳体12。铰链42允许各个测隙叶片14围绕公共轴线38在非测量(例如，封装位置)和测量(例如，延伸位置)之间独立旋转。以此方式，一个或多个测隙叶片14可旋转到壳体12外的测量位置中。如果多个测隙叶片14延伸到测量位置中，则其相应厚度可组合以提供间隙的精确测量。在一些实施例中，测隙规10在壳体12内可包括闸或制动器，其构造成将非测量测隙叶片14阻挡到壳体12内。

图2是测隙规10的厚度探测系统36的截面视图。厚度探测系统36可构造成探测和确定可处于测量位置中的该一个或多个测隙叶片14的厚度。如之前所述，厚度探测系统36可包括测隙叶片14的厚度指示22以及光学传感器24。光学传感器24可包括：一个或多个发射器50，其构造成发射光54；以及一个或多个探测器52，其构造成探测光54。在一些实施例中，一个发射器50可构造成发射可经过处于封闭位置中的测隙叶片14的厚度指示22的任何可能的孔地点56的光54。在一些实施例中，光学传感器24可包括多个发射器50，其中各个位于这样的位置中，其构造成发射光54至厚度指示22的孔的栅格的可能的孔地点56中的一个。该一个或多个探测器52可构造成探测可经过可处于测隙规10的壳体12中的非测量或封装位置中的测隙叶片14的可能的孔地点56的任何光54。当光不经过可能的孔地点56时，处理器28确定对应的测隙叶片14可认为是处于封装位置中。当光穿过可能的孔地点56被接收时，处理器28可确定可处于测量位置的该一个或多个测隙叶片14的总体厚度。处理器28可构造成确定具体测隙叶片14处于测量位置中，即使由该一个或多个发射器50传输的仅一定百分比的光54由探测器52穿过可能的孔地点56探测。以此方式，如果发射的光54的小于100%(例如，大于90%)的具体百分比穿过可能的孔地点56被探测时，处理器可确定相应的测隙叶片14处于测量位置中且在确定总体厚度时包括测隙叶片14的相应宽度。

在所示实施例中，厚度指示22可包括在各个测隙叶片14上的地点(例如，近侧端部18)处的孔的栅格。在孔的栅格内，各个测隙叶片14在各个测隙叶片14上可具有一个或多个遗漏孔位置或障碍58(即，栅格的可能的孔地点，其为实心、填充的和/或未冲孔的)。该栅格地点可由处理器映射至厚度。以此方式，各个测隙叶片14可具有不同遗漏孔位置58或多个位置。当光学传感器24的一个或多个发射器50发射光54，各个非测量或封装的测隙叶片14的栅格中的遗漏孔位置58可阻挡发射的光54达到探测器52。当所有测隙叶片14处于非测量或封装位置时，所有测隙叶片14的遗漏孔位置或多个位置58可阻挡从该一个或多个发射器50发射的光54由该一个或多个探测器52或光学传感器24探测。当一个或多个测隙叶片14处于测量位置中且不封装在测隙规10的壳体12中，则从该一个或多个发射器50发射的光54可在处于测量位置中的测隙叶片14的遗漏孔位置或多个位置58处经过封装的测隙叶片14的剩余可能的孔地点56。该一个或多个探测器52可探测经过的任何光54。探测的光的位置指示处于测量位置中的一个或多个测隙叶片14的厚度。

如所述，厚度指示22可如所示实施例中的那样为孔的栅格。额外或备选地，厚度指示22可为任何其他类型的指示器，诸如条形码、快速响应(QR)或RFID码、或一系列凸起和脊，其可构造成由测隙规10的光学传感器24光学地扫描，以造成独特的二进制值。

图3是从测隙规10传输间隙测量数据的示意图。测隙规10可包括传输器32，其构造成无线传输70确定的间隙厚度。传输器32可将间隙测量数据无线地传输至远程计算装置72。计算装置72可为移动装置、路由器或任何其他类型的计算装置。计算装置72可然后将测量数据转移至云平台74。云平台74可包括数据存储(诸如iCloud)或数据计算软件(诸如Predix应用)。从云平台，来自之前测量的趋势数据可远程地下载，且可指示当前间隙测量趋势、错误以及变化何时出现。计算装置还可为本地机器，诸如个人计算机、膝上型计算机、或执行相同功能性(包括至云的传输能力)的计算和存储装置的其他组合。

计算装置(例如，计算装置72)可生成、接收、和/或显示测隙规10的测试单(例如，电子测试单)。测试单可指示待进行间隙测量的地点。在一些实施例中，当进行测量时，测隙规10的传输器32可将间隙测量数据无线地传输至计算装置72(通过其接收测试单)。然而，测隙规10的传输器32可将间隙测量数据传输至构造成接收测量数据的任何计算装置72。在一些实施例中，接收和/或显示测试单的计算装置可将测量定向传输至测隙规10，以确保测隙规10在进行测量时处于适当位置中。处理器28可然后确保测量以适当定向进行。如之前所述，在一些实施例中，测隙规10还可包含接收器31以接收回信号，诸如下一测量的地点或在相同地点处记录的之前信息。此信息可然后用于探测趋势或确保测量的一致品质。

可经由无线连接来执行从测隙规10的传输器32至计算装置72的无线传输70。如之前所述，用于无线传输72的无线连接可为802.11无线连接、802.15.4无线连接、蓝牙无线连接、蓝牙低能量(BLE)无线连接、或其任何组合。

图4示出可用于测量联接件80的联接间隙82的测隙规10的实施例。联接件80和联接间隙82可在工业场景中找到，诸如燃气和蒸汽涡轮系统。测隙规10可用于测量任何其他间隙或间隔。在所示实施例中，测隙规10可用于在联接件80的顶部的位置处测量联接间隙82。以此方式，测隙规10的测量测隙叶片或多个叶片84可以以竖直位置插入联接间隙82中。测隙规10的用户可在计算装置72(诸如手机或平板计算机)上接收测试单。电子测试单可指示待测量的地点(诸如联接间隙82)，以及联接间隙82上的预期进行测量之处的位置。在一些实施例中，计算装置72可将此信息发送至测隙规10。联接间隙82上的预期进行测量之处的位置可为联接件80的顶部(如所示实施例中的那样)，其中测量测隙叶片或多个叶片84处于竖直位置中、或围绕联接件80的任何其他位置。联接间隙82上的预期进行测量之处的位置可为沿联接件80的侧面处于所示实施例的位置86中。当在该位置86处测量时，测量测隙叶片(多个)84可以以水平位置插入联接间隙82中。

在一些实施例中，测隙规10可包括定向传感器26，诸如陀螺仪。定向传感器26可能能够在进行测量时辨别测隙规10的定位，指示围绕测量的联接间隙82的地点。以此方式，测隙规10的定向传感器26可辨别测量测隙叶片84是否定向成使得，测量是从联接间隙82的顶部处的地点(如在所示实施例中)，或在联接间隙82的侧面上的地点(诸如位置86)进行。测试单可指示可预期围绕联接间隙82测量的地点。测隙规10的定向传感器26可辨别测隙规10的定向是否匹配指示为在测试单上待测量的地点。进行测量时测隙规10的定向可取决于该一个或多个测隙叶片14在延伸到测量位置中时的位置。测隙叶片14可延伸到相对于测隙规10的壳体12的任何位置。为了使定向传感器26在进行测量时准确地辨别测隙规10的定向，该一个或多个测量测隙叶片84可从测隙规10的壳体12延伸到特定角。特定角可在测试单上指示，或其可以任何其他方式说明。例如，该角可在进行测量之前使用由测隙规10的用户输入而设定，或在测隙规10在现场使用之前设定为用户偏好。额外或备选地，可进入校准模式，其中测隙规10经由电子显示器34或计算装置72请求竖直测试和水平测试以确定对应于特定用户的角。

测隙规10的定向传感器26可提醒用户处理器是否辨别出测隙规10的定向不匹配于在测试单中说明的定向和/或地点。该提醒可在计算装置72上的测试单上显示，和/或在测隙规10的电子显示器34上显示，从而发信号通知测隙规10可需要重新定位以便在预期地点测量联接间隙82。在一些实施例中，测隙规10可包括音频提醒，诸如扬声器蜂鸣器、压电扬声器/蜂鸣器、或其他适合的音频生成器，以指示测量的定向和测试单中指示的定向的不匹配。该音频或视觉提醒可在处理器确定已经出现不匹配时生成。额外或备选地，当进行测量时，围绕联接间隙82或待测量的任何其他间隙或间隔的测量的地点可由传感器32无线地传输70至远程计算装置72。定向信息可然后进一步传输至云平台74。云平台74可包括数据存储或数据计算平台，诸如iCloud或Predix。从云平台74，来自之前测量的趋势数据可远程地下载，且可指示当前间隙测量、间隙测量地点、以及变化可何时出现。

图5是确定和传输间隙测量数据的方法100的流程图，处理器至少部分地基于存储在测隙规10的存储器30中的指令来执行该方法。在一些实施例中，测隙规10的存储器30中的指令可引起测隙规10的存储器30从光学传感器24接收信号(框102)。该信号可指示一个或多个测隙叶片14在测量位置中延伸。例如，该信号可指示在栅格上的何位置已探测到经过处于封装位置中的测隙叶片14的光。测隙规10的存储器30中的指令还可引起测隙规10的处理器28确定在测量位置中延伸的该一个或多个测隙叶片14的总体厚度(框104)。如之前所述，测隙叶片14的厚度指示22可包括形成栅格的一系列孔(在各种可能的孔地点处有障碍或遗漏孔)、条形码、快速响应(QR)或RFID码、或一系列凸起和脊、或可构造成由测隙规10的光学传感器24光学地扫描的任何类型的指示器。确定总体厚度可至少部分地基于从测隙规10的光学传感器24接收的信号。确定总体厚度可包括，基于信号中的指示器，在测隙规10的存储器30中的查找表中查找总体厚度。例如，处理器28可将各个探测到的光地点映射至厚度，从而直接执行算术而将厚度加到一起。备选地，处理器28可将光地点的组合映射至特定厚度，以放弃未来的算术计算。备选地，确定在测量位置中延伸的一个或多个测隙叶片14的厚度可包括，解码来自光学地扫描的条形码或快速响应(QR)或RFID码的信号。

测隙规10的存储器30中的指令还可引起测隙规10的处理器28来引起经由电子显示器34显示确定的总体厚度(框106)。电子显示器34可用于显示处于测量位置中的该一个或多个测隙叶片14的总体厚度。电子显示器34还可用于显示关于测隙规10的定向信息，诸如提醒用户何时测量定向不匹配预期定向。测隙规10的存储器30中存储的指令还可引起测隙规10的处理器28引起处于测量位置的一个或多个测隙叶片14的确定的总体厚度和/或来自定向传感器26的定向信息经由传输器32在无线连接上的无线传输70(框108)。确定的总体厚度和/或定向信息可传输至远程计算装置72。用于无线传输70的无线连接可为802.11无线连接、802.15.4无线连接、蓝牙无线连接、蓝牙低能量(BLE)无线连接、或其任何组合。

公开的实施例的技术效果包括允许快速和准确的间隙测量。测隙规构造成经由光学传感器光学地扫描厚度指示，从而在测量中允许相对于手动确定较高的准确性。测隙规的存储器和处理器还允许确定和计算测量的间隙的增加的准确性。测隙规的定向传感器构造成当进行测量时辨别测隙规的位置，且提醒用户该位置是否不匹配预期位置，从而允许测量地点的增加的准确性。此外，测隙规构造成将间隙测量、定向、和/或地点信息无线地传输至任何远程装置。无线传输能力允许远程访问当前和趋势数据。

此书面描述使用示例来公开本文论述的观念，包括最佳模式，并且还充分公开以允许任何本领域的技术人员实践本发明，包括制造和使用任何装置或系统以及执行任何包含的方法。本公开可申请专利的范围由权利要求限定，且可包括本领域的技术人员想到的其他示例。如果这些其他示例具有不与权利要求的字面语言不同的结构元件，或者如果它们包括与权利要求的字面语言无实质差异的等同结构元件，则意在使这些其他示例处于权利要求的范围内。

Claims (10)

1.一种测隙规，包括：

多个测隙叶片，其中，多个测隙叶片的各个测隙叶片围绕轴线在测量位置和非测量位置之间旋转，且所述多个测隙叶片中的各个包括：

测量部分，其构造成插入待测量的间隙中；和

近侧端部，在其上具有所述多个测隙叶片中的相应测隙叶片的厚度指示；以及

光学传感器，其从一个或多个测隙叶片的相应厚度指示来光学地确定展开在所述测量位置中的所述多个测隙叶片中的所述一个或多个测隙叶片。

2.根据权利要求1所述的测隙规，其特征在于，光学地确定展开的所述多个测隙叶片中的一个或多个测隙叶片包括，确定所述多个测隙叶片中的哪个保留在封装位置中，以间接地确定所述多个测隙叶片中的哪个已经被展开。

3.根据权利要求1所述的测隙规，其特征在于，所述厚度指示包括构造成阻挡光的障碍。

4.根据权利要求3所述的测隙规，其特征在于，所述光学传感器包括：

发射器，其构造成发射光；和

探测器，其构造成探测从所述发射器发射的光，除非所述多个测隙叶片中的测隙叶片的障碍阻挡从所述探测器发射的光。

5.根据权利要求3所述的测隙规，其特征在于，所述厚度指示包括布置在可能的孔地点的栅格中的多个孔，且所述障碍对应于在可能的孔地点不存在孔的地点。

6.根据权利要求5所述的测隙规，其特征在于，所述光学传感器包括构造成发射光的多个发射器，且其中，所述多个发射器中的各个发射器位于这样的位置中，该位置构造成将光传输至所述可能的孔地点中的一个可能的孔地点。

7.根据权利要求5所述的测隙规，其特征在于，所述多个测隙叶片中的各个测隙叶片具有在所述栅格内与所述多个测隙叶片中的其他测隙叶片的障碍不同的可能的地点处的障碍。

8.根据权利要求1所述的测隙规包括处理器，其构造成确定所述一个或多个测隙叶片的总体厚度。

9.根据权利要求1所述的测隙规包括陀螺仪，其构造成确定所述测隙规的定向。

10.根据权利要求9所述的测隙规包括显示器，其构造成显示所述一个或多个测隙叶片的总体厚度，其中，所述显示器构造成在所述定向不匹配对应于预期测量地点的预期定向时显示警告。