CN108206044A - 一种测试固态硬盘饱和写入性能的方法和装置 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种测试固态硬盘饱和写入性能的方法和装置，应用于服务器，所述服务器通过连接线连接到固态硬盘的物理接口，方法包括：配置测试参数和采集参数；根据配置的测试参数对固态硬盘进行饱和写入；在对固态硬盘进行饱和写入的过程中，根据配置的采集参数采集固态硬盘的饱和写入性能；根据预设时间内采集到的性能数据，确定固态硬盘的饱和写入性能。

Description

一种测试固态硬盘饱和写入性能的方法和装置
技术领域
本发明涉及信息技术领域，特别涉及一种测试固态硬盘饱和写入性能的方法和装置。
背景技术
固态硬盘(Solid State Drives)，简称固盘，是用固态电子存储芯片阵列而制成的硬盘，由控制单元和存储单元(FLASH芯片、DRAM芯片)组成。
固态硬盘在接口的规范和定义、功能及使用方法上与普通硬盘的完全相同，在产品外形和尺寸上也完全与普通硬盘一致。被广泛应用于军事、车载、工控、视频监控、网络监控、网络终端、电力、医疗、航空、导航设备等领域。
发明内容
有鉴于此，本发明的目的在于提供一种测试固态硬盘饱和写入性能的方法和装置，能够测试得到固态硬盘的饱和写入性能。
为了达到上述目的，本发明提供了了如下技术方案：
一种测试固态硬盘饱和写入性能的方法，应用于服务器，所述服务器通过连接线连接到固态硬盘的物理接口，该方法包括：
配置测试参数和采集参数；
根据配置的测试参数对固态硬盘进行饱和写入；
在对固态硬盘进行饱和写入的过程中，根据配置的采集参数采集固态硬盘的饱和写入性能；
根据预设时间内采集到的性能数据，确定固态硬盘的饱和写入性能。
一种测试固态硬盘饱和写入性能的装置，应用于服务器，所述服务器通过连接线连接到固态硬盘的物理接口，该装置包括：
配置单元，用于配置测试参数和采集参数；
写入单元、用于根据配置单元配置的测试参数对固态硬盘进行饱和写入；
采集单元，用于在写入单元对固态硬盘进行饱和写入的过程中，根据配置单元配置的采集参数采集固态硬盘的饱和写入性能；
计算单元，用于根据采集单元预设时间内采集到的性能数据，确定固态硬盘的饱和写入性能。
由上面的技术方案可知，本发明中，通过对固态硬盘进行持续的写入操作，在写入固态硬盘的过程中采集固态硬盘的饱和写入性能，并根据多次采集到的性能数据确定固态硬盘的饱和写入性能。
附图说明
图1是本发明实施例测试固态硬盘的饱和写入性能的设备连接方式示意图；
图2是本发明实施例测试固态硬盘饱和写入性能的方法流程图；
图3是本发明实施例测试固态硬盘饱和写入性能的装置的结果示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，下面结合附图并据实施例，对本发明的技术方案进行详细说明。
本发明中，为了测试固态硬盘的饱和写入性能，将一台服务器通过连接线连接到固态硬盘的物理接口上，根据固态硬盘的类型不同，物理接口也不相同，具体有SATA、SAS、PCIe、M.2等，相应的连接线也不相同；另外，还将服务器连接到一结果显示模块上，结果显示模块用于显示固态硬盘的饱和写入性能的测试结果；具体连接方式如图1所示，其中，服务器与固态硬盘之间的连接线由固态硬盘的物理接口类型确定，固态硬盘可以内置于服务器中，也可以外置于服务器，服务器和结果显示模块之间可以使用VGA连接线相连。
下面基于图1所述的连接图，对本发明测试固态硬盘饱和写入性能的方法进行详细说明。
参见图2，图2是本发明实施例测试固态硬盘饱和写入性能的方法流程图，如图2所示，该方法应用于服务器，主要包括以下步骤：
步骤201、配置测试参数和采集参数。
测试参数用于固态硬盘的饱和写入性能测试，具体可以包括写入块大小(例如4k)和写入数据量(例如固态硬盘容量的四倍)等参数。
采集参数用于固态硬盘的饱和写入性能采集，具体包括采集频率(例如1秒/次)等参数。
步骤202、根据配置的测试参数对固态硬盘进行饱和写入。
根据配置的测试参数对固态硬盘进行饱和写入的方法为：将所述写入块大小作为一次写入固态硬盘的数据量，持续对固态硬盘进行写入操作，直至写入固态硬盘的数据量达到所述写入数据量。
步骤203、在对固态硬盘进行饱和写入的过程中，根据配置的采集参数采集固态硬盘的饱和写入性能。
根据配置的采集参数采集固态硬盘的饱和写入性能的方法为：以所述采集频率采集固态硬盘的饱和写入性能。
步骤204、根据预设时间内采集到的性能数据，确定固态硬盘的饱和写入性能。
根据预设时间内采集到的性能数据，确定固态硬盘的饱和写入性能的方法为：计算所有采集到的性能数据的均方差，将均方差计算结果作为固态硬盘的饱和写入性能。
本实施例中，在确定固态硬盘的饱和写入性能之后，还进一步根据固态硬盘的饱和写入性能确定固态硬盘写入是否正常，其中，如果固态硬盘的饱和写入性能小于预设阈值，则确定固态硬盘写入正常，此时，可以将固态硬盘的饱和写入性能及固态硬盘写入正常的判断结果通过VGA连接线输出到结果显示模块进行显示，否则，确定固态硬盘写入异常，此时，可以将固态硬盘的饱和写入性能及固态硬盘写入异常的判断结果通过VGA连接线输出到结果显示模块进行显示。从而可以是用户及时了解固态硬盘的饱和写入性能及正常与否。
以上对本发明测试固态硬盘饱和写入性能的方法进行了详细说明，本发明还提供了一种测试固态硬盘饱和写入性能的装置，以下结合图3进行详细说明。
参见图3，图3是本发明实施例测试固态硬盘饱和写入性能的装置的结构示意图，该装置应用于服务器，该服务器通过连接线连接到固态硬盘的物理接口，该装置包括：
配置单元301，用于配置测试参数和采集参数；
写入单元302、用于根据配置单元301配置的测试参数对固态硬盘进行饱和写入；
采集单元303，用于在写入单元302对固态硬盘进行饱和写入的过程中，根据配置单元301配置的采集参数采集固态硬盘的饱和写入性能；
计算单元304，用于根据采集单元303预设时间内采集到的性能数据，确定固态硬盘的饱和写入性能。
图3所示装置中，
所述测试参数包括：写入块大小和写入数据量；
所述写入单元302，根据配置单元301配置的测试参数对固态硬盘进行饱和写入时，用于：将所述写入块大小作为一次写入固态硬盘的数据量，持续对固态硬盘进行写入操作，直至写入固态硬盘的数据量达到所述写入数据量。
图3所示装置中，
所述采集参数包括：采集频率；
所述采集单元303，根据配置单元301配置的采集参数采集固态硬盘的饱和写入性能时，用于：以所述采集频率采集固态硬盘的饱和写入性能。
图3所示装置中，
所述计算单元304，根据预设时间内采集到的性能数据，确定固态硬盘的饱和写入性能时，用于：计算所有采集到的性能数据的均方差，将均方差计算结果作为固态硬盘的饱和写入性能。
图3所示装置中，还包括输出单元305；
所述服务器使用VGA连接线连接外置的结果显示模块；
所述输出单元305，用于计算单元304确定固态硬盘的饱和写入性能之后，如果固态硬盘的饱和写入性能小于预设阈值，则确定固态硬盘写入正常，将固态硬盘的饱和写入性能及固态硬盘写入正常的判断结果通过VGA连接线输出到结果显示模块进行显示，否则，确定固态硬盘写入异常，将固态硬盘的饱和写入性能及固态硬盘写入异常的判断结果通过VGA连接线输出到结果显示模块进行显示。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。

Claims (10)

1.一种测试固态硬盘饱和写入性能的方法，应用于服务器，其特征在于，所述服务器通过连接线连接到固态硬盘的物理接口，该方法包括：
配置测试参数和采集参数；
根据配置的测试参数对固态硬盘进行饱和写入；
在对固态硬盘进行饱和写入的过程中，根据配置的采集参数采集固态硬盘的饱和写入性能；
根据预设时间内采集到的性能数据，确定固态硬盘的饱和写入性能。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于；
所述测试参数包括：写入块大小和写入数据量；
根据配置的测试参数对固态硬盘进行饱和写入的方法为：将所述写入块大小作为一次写入固态硬盘的数据量，持续对固态硬盘进行写入操作，直至写入固态硬盘的数据量达到所述写入数据量。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于；
所述采集参数包括：采集频率；
根据配置的采集参数采集固态硬盘的饱和写入性能的方法为：以所述采集频率采集固态硬盘的饱和写入性能。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
根据预设时间内采集到的性能数据，确定固态硬盘的饱和写入性能的方法为：计算所有采集到的性能数据的均方差，将均方差计算结果作为固态硬盘的饱和写入性能。
5.根据权利要求1-4任一权项所述的方法，其特征在于，
所述服务器使用VGA连接线连接外置的结果显示模块；
确定固态硬盘的饱和写入性能之后，进一步包括：如果固态硬盘的饱和写入性能小于预设阈值，则确定固态硬盘写入正常，将固态硬盘的饱和写入性能及固态硬盘写入正常的判断结果通过VGA连接线输出到结果显示模块进行显示，否则，确定固态硬盘写入异常，将固态硬盘的饱和写入性能及固态硬盘写入异常的判断结果通过VGA连接线输出到结果显示模块进行显示。
6.一种测试固态硬盘饱和写入性能的装置，应用于服务器，其特征在于，所述服务器通过连接线连接到固态硬盘的物理接口，该装置包括：
配置单元，用于配置测试参数和采集参数；
写入单元、用于根据配置单元配置的测试参数对固态硬盘进行饱和写入；
采集单元，用于在写入单元对固态硬盘进行饱和写入的过程中，根据配置单元配置的采集参数采集固态硬盘的饱和写入性能；
计算单元，用于根据采集单元预设时间内采集到的性能数据，确定固态硬盘的饱和写入性能。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于；
所述测试参数包括：写入块大小和写入数据量；
所述写入单元，根据配置的测试参数对固态硬盘进行饱和写入时，用于：将所述写入块大小作为一次写入固态硬盘的数据量，持续对固态硬盘进行写入操作，直至写入固态硬盘的数据量达到所述写入数据量。
8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于；
所述采集参数包括：采集频率；
所述采集单元，根据配置的采集参数采集固态硬盘的饱和写入性能时，用于：以所述采集频率采集固态硬盘的饱和写入性能。
9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，
所述计算单元，根据预设时间内采集到的性能数据，确定固态硬盘的饱和写入性能时，用于：计算所有采集到的性能数据的均方差，将均方差计算结果作为固态硬盘的饱和写入性能。
10.根据权利要求1-4任一权项所述的装置，其特征在于，该装置还包括输出单元；
所述服务器使用VGA连接线连接外置的结果显示模块；
所述输出单元，用于计算单元确定固态硬盘的饱和写入性能之后，如果固态硬盘的饱和写入性能小于预设阈值，则确定固态硬盘写入正常，将固态硬盘的饱和写入性能及固态硬盘写入正常的判断结果通过VGA连接线输出到结果显示模块进行显示，否则，确定固态硬盘写入异常，将固态硬盘的饱和写入性能及固态硬盘写入异常的判断结果通过VGA连接线输出到结果显示模块进行显示。
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